Контроль правильности работы запоминающих устройств, испытание запоминающих устройств во время режима ожидания или автономного режима работы: ..граничные испытания, например проверка скорости, напряжения или тока – G11C 29/50

Изобретение относится к компьютерной технике и может быть использовано для адаптации ширин импульсов словарной шины в запоминающих системах. Технический результат заключается в увеличении характеристик производительности, потребляемой мощности и стабильности работы запоминающих ячеек. Раскрыты системы, схемы и способы для адаптации ширин импульсов словарной шины (WL), используемых в запоминающих системах. Один вариант осуществления изобретения направлен на устройство, содержащее запоминающую систему. Устройство содержит: запоминающее устройство, работающее согласно импульсу словарной шины (WL) с ассоциированной шириной импульса WL; модуль встроенного самотестирования (BIST), который взаимодействует с запоминающим устройством, причем BIST-модуль выполнен с возможностью проводить самотестирование внутренней функциональности запоминающего устройства и предоставлять сигнал, указывающий то, прошло или не прошло запоминающее устройство самотестирование; схему адаптивного управления WL, которая взаимодействует с BIST-модулем и запоминающим устройством, причем схема адаптивного управления WL выполнена с возможностью регулировать ширину импульса WL запоминающего устройства на основе сигнала, предоставленного посредством BIST-модуля. 4 н. и 34 з.п. ф-лы, 5 ил.