способ радиографического контроля

Классы МПК:G01N23/18 обнаружение локальных дефектов или вкраплений
Автор(ы):, ,
Патентообладатель(и):Открытое акционерное общество "Ижорские заводы" (RU)
Приоритеты:
подача заявки:
2006-05-04
публикация патента:

Использование: для радиографического контроля изделий. Сущность изобретения заключается в том, что на контролируемое изделие устанавливают образцы-имитаторы с канавками и отверстиями одинаковой глубины способ радиографического контроля, патент № 2315979 dэт.д, но различной ширины (диаметра) способ радиографического контроля, патент № 2315979 способ радиографического контроля, патент № 2315979 при этом

способ радиографического контроля, патент № 2315979 способ радиографического контроля, патент № 2315979 способ радиографического контроля, патент № 2315979 способ радиографического контроля, патент № 2315979 способ радиографического контроля, патент № 2315979 способ радиографического контроля, патент № 2315979 способ радиографического контроля, патент № 2315979 способ радиографического контроля, патент № 2315979

длина канавок способ радиографического контроля, патент № 2315979 канавки и отверстия попарно соответствуют по ширине и диаметру, замеряют по полученному снимку длину l р.д и ширину и bр.д выявленных реальных дефектов и определяют с помощью фотометрирования для эталонных и реальных дефектов с шириной изображения не менее требуемой чувствительности контроля k, мм, величины способ радиографического контроля, патент № 2315979 где способ радиографического контроля, патент № 2315979 D - контраст изображения дефекта, способ радиографического контроля, патент № 2315979 D - коэффициент контрастности радиографической пленки, после этого подбирают значение способ радиографического контроля, патент № 2315979 эталонного дефекта, соответствующего по ширине b и длине l рассматриваемому реальному дефекту, затем определяют величину способ радиографического контроля, патент № 2315979 dр.д, используя выражение способ радиографического контроля, патент № 2315979 где k3=1 - для пустотелых дефектов и k3=способ радиографического контроля, патент № 2315979 /(способ радиографического контроля, патент № 2315979 -способ радиографического контроля, патент № 2315979 д)способ радиографического контроля, патент № 2315979 способ радиографического контроля, патент № 2315979 /(способ радиографического контроля, патент № 2315979 -способ радиографического контроля, патент № 2315979 д) - для дефектов с заполнением(шлак); способ радиографического контроля, патент № 2315979 , способ радиографического контроля, патент № 2315979 д; способ радиографического контроля, патент № 2315979 , способ радиографического контроля, патент № 2315979 д - соответственно линейные коэффициенты ослабления излучения и плотности для основного металла и вещества заполнения дефекта, после чего делают вывод о допустимости или недопустимости выявленного реального дефекта на основании полученных значений lр.д, bр.д , способ радиографического контроля, патент № 2315979 dр.д, сравниваемых с соответствующими нормативными значениями. Технический результат: повышение надежности и точности определения размеров выявляемых на радиографических снимках дефектов контролируемых изделий. 1 табл., 6 ил. способ радиографического контроля, патент № 2315979

способ радиографического контроля, патент № 2315979 способ радиографического контроля, патент № 2315979 способ радиографического контроля, патент № 2315979 способ радиографического контроля, патент № 2315979 способ радиографического контроля, патент № 2315979 способ радиографического контроля, патент № 2315979

Формула изобретения

Способ радиографического контроля, включающий радиографирование на один снимок эталонных и реальных дефектов и фотометрирование полученных изображений, отличающийся тем, что на контролируемое изделие устанавливают образцы-имитаторы с канавками и отверстиями одинаковой глубины способ радиографического контроля, патент № 2315979 dэт.д, но различной ширины (диаметра) способ радиографического контроля, патент № 2315979 при этом длина канавок lэт.д канспособ радиографического контроля, патент № 2315979 10 мм и канавки и отверстия попарно соответствуют по ширине (диаметру), замеряют по полученному снимку длину l р.д и ширину bр.д выявленных реальных дефектов и определяют с помощью фотометрирования для эталонных и реальных дефектов с шириной изображения не менее требуемой чувствительности контроля k, (мм) величины способ радиографического контроля, патент № 2315979 где способ радиографического контроля, патент № 2315979 D - контраст изображения дефекта, способ радиографического контроля, патент № 2315979 D - коэффициент контрастности радиографической пленки, после этого подбирают значение способ радиографического контроля, патент № 2315979 эталонного дефекта, соответствующего по ширине b и длине l рассматриваемому реальному дефекту, для чего при b р.дспособ радиографического контроля, патент № 2315979 bэ.д и lр.д. способ радиографического контроля, патент № 2315979 lэт.д замеренные значения способ радиографического контроля, патент № 2315979 интерполируют по ширине (диаметру) способ радиографического контроля, патент № 2315979 отдельно для канавок и отдельно для отверстий, а полученные интерполированием по b значения способ радиографического контроля, патент № 2315979 интерполируют по l, учитывая условие способ радиографического контроля, патент № 2315979 затем определяют величину способ радиографического контроля, патент № 2315979 используя выражение способ радиографического контроля, патент № 2315979 где k3=1 - для пустотелых дефектов и k3=способ радиографического контроля, патент № 2315979 /(способ радиографического контроля, патент № 2315979 -способ радиографического контроля, патент № 2315979 д)способ радиографического контроля, патент № 2315979 способ радиографического контроля, патент № 2315979 /(способ радиографического контроля, патент № 2315979 -способ радиографического контроля, патент № 2315979 д) - для дефектов с заполнением (шлак); способ радиографического контроля, патент № 2315979 , способ радиографического контроля, патент № 2315979 д; способ радиографического контроля, патент № 2315979 , способ радиографического контроля, патент № 2315979 д - соответственно линейные коэффициенты ослабления излучения и плотности для основного металла и вещества заполнения дефекта, при этом для радиографических пленок, у которых способ радиографического контроля, патент № 2315979 Dспособ радиографического контроля, патент № 2315979 kD, где k=const, вместо величин способ радиографического контроля, патент № 2315979 D/способ радиографического контроля, патент № 2315979 D используют величины способ радиографического контроля, патент № 2315979 D/Dф, где Dф , - оптическая плотность фона снимка, после чего делают вывод о допустимости или недопустимости выявленного реального дефекта на основании полученных значений lр.д, bр.д, способ радиографического контроля, патент № 2315979 сравниваемых с соответствующими нормативными значениями, при этом дефекты с шириной изображения bр.д <k классифицируются как недопустимые по размеру способ радиографического контроля, патент № 2315979 без проведения оценки по снимку этого дефекта.

Описание изобретения к патенту

Изобретение относится к области дефектоскопии и может быть использовано при радиографическом контроле сварных соединений, наплавок и основного металла изделий.

Известен способ радиографического контроля, предусматривающий использование эталонов с канавками различной глубины для оценки по снимку чувствительности контроля (см. ГОСТ 7512-82).

Способом, наиболее близким по своей технической сути заявляемому, является способ радиографического контроля кольцевых сварных соединений трубопроводов, включающий оценку по снимку величины вогнутости и выпуклости корня сварного шва путем визуального или фотометрического сравнения оптических плотностей изображений вогнутости (выпуклости) и канавки (выступа) образца-имитатора, установленного на контролируемое сварное соединение (см. ПНАЭ Г-7-017-89 Приложение 2).

Задачей, на решение которой направлено заявляемое изобретение, является повышение надежности и точности определения размеров выявляемых на радиографических снимках дефектов контролируемых изделий.

Поставленная задача решается за счет того, что в способе радиографического контроля, включающем радиографирование на один снимок эталонных и реальных дефектов и фотометрирование полученных изображений, выполняют следующие операции:

1) на контролируемое изделие устанавливают образцы-имитаторы с канавками и отверстиями одинаковой глубины способ радиографического контроля, патент № 2315979 dэт.д, но различной ширины (диаметра) способ радиографического контроля, патент № 2315979 bэт.д кан при этом длина канавок lэт.д канспособ радиографического контроля, патент № 2315979 10 мм и канавки и отверстия попарно соответствуют по ширине (диаметру);

2) замеряют по снимку длину l р.д и ширину bр.д выявленных реальных дефектов;

3) определяют с помощью фотометрирования для эталонных и реальных дефектов с шириной изображения не менее требуемой чувствительности контроля k, мм, величины способ радиографического контроля, патент № 2315979 где способ радиографического контроля, патент № 2315979 D - контраст изображения дефекта, способ радиографического контроля, патент № 2315979 D - коэффициент контрастности радиографической пленки;

4) подбирают значение способ радиографического контроля, патент № 2315979 эталонного дефекта, соответствующего по ширине b и длине l рассматриваемому реальному дефекту, для чего при b р.дспособ радиографического контроля, патент № 2315979 bэ.д и lр.д. способ радиографического контроля, патент № 2315979 lэт.д замеренные значения способ радиографического контроля, патент № 2315979 интерполируют по ширине (диаметру) способ радиографического контроля, патент № 2315979 отдельно для канавок и отдельно для отверстий, а полученные интерполированием по b значения способ радиографического контроля, патент № 2315979 интерполируют по l, учитывая условие способ радиографического контроля, патент № 2315979

5) определяют величину способ радиографического контроля, патент № 2315979 dр.д, используя выражение способ радиографического контроля, патент № 2315979 где k3=1 - для пустотелых дефектов и k3=способ радиографического контроля, патент № 2315979 /(способ радиографического контроля, патент № 2315979 -способ радиографического контроля, патент № 2315979 д)способ радиографического контроля, патент № 2315979 способ радиографического контроля, патент № 2315979 /(способ радиографического контроля, патент № 2315979 -способ радиографического контроля, патент № 2315979 д) - для дефектов с заполнением (шлак);

способ радиографического контроля, патент № 2315979 , способ радиографического контроля, патент № 2315979 д; способ радиографического контроля, патент № 2315979 , способ радиографического контроля, патент № 2315979 д - соответственно линейные коэффициенты ослабления излучения и плотности для основного металла и вещества заполнения дефекта, при этом для радиографических пленок, у которых способ радиографического контроля, патент № 2315979 Dспособ радиографического контроля, патент № 2315979 kD, где k=const, вместо величин способ радиографического контроля, патент № 2315979 D/способ радиографического контроля, патент № 2315979 D используют величины способ радиографического контроля, патент № 2315979 D/Dф, где Dф , - оптическая плотность фона снимка;

6) делают вывод о допустимости или недопустимости выявленного реального дефекта на основании полученных значений lр.д, bр.д, способ радиографического контроля, патент № 2315979 dр.д, сравниваемых с нормативными значениями lнорм, bнорм , способ радиографического контроля, патент № 2315979 dнорм, при этом для дефекта с шириной изображения bр.д<k оценка по снимку размера способ радиографического контроля, патент № 2315979 dр.д не проводится и дефект по параметру способ радиографического контроля, патент № 2315979 d классифицируется как недопустимый.

Сущность изобретения поясняется рисунками, таблицами, графиками.

На фиг.1 показана схема просвечивания сварного соединения - а и схематичное изображение радиографического снимка с выявленными дефектами - б.

На фиг.2 представлен эскиз образцов-имитаторов для оценки размера дефекта в направлении просвечивания.

На фиг.3 представлена таблица рекомендуемых размеров образцов-имитаторов.

На фиг.4 представлены зависимости величины отношения отверстие/канавка контраста способ радиографического контроля, патент № 2315979 D/способ радиографического контроля, патент № 2315979 D канавок и отверстий одинаковой ширины bкан=способ радиографического контроля, патент № 2315979 отв и одинаковой глубины способ радиографического контроля, патент № 2315979 dкан=способ радиографического контроля, патент № 2315979 dотв от поперечного размера эталонного дефекта (a, б) и зависимости контраста способ радиографического контроля, патент № 2315979 D/способ радиографического контроля, патент № 2315979 D изображения прямоугольной канавки шириной b от длины l канавки - (в, г): и - эталоны со стороны источника, п - эталоны со стороны пленки; а, б: 1 - U p.т=200 кВ, d=20 мм; 2 - Ir192, d=20 мм; 3 - Up.т=400 кВ, d=60 мм; 4 - Co 60, d=100 мм; 5 - 8 МэВ, d=200 мм;

На фиг.5 представлены зависимости способ радиографического контроля, патент № 2315979 D/способ радиографического контроля, патент № 2315979 D=f(b-1) для прямоугольной канавки (эталон со стороны источника излучения):

1 - Up.т=100 кВ, d=3 мм, способ радиографического контроля, патент № 2315979 d=1 мм;

2 - Up.т=200 кВ, d=20 мм, способ радиографического контроля, патент № 2315979 d=5 мм;

3 - Up.т=400 кВ, d=80 мм, способ радиографического контроля, патент № 2315979 d=10 мм;

На фиг.6 представлены зависимости коэффициента контрастности (6а) и контраста изображения дефекта (цилиндрическое отверстие способ радиографического контроля, патент № 2315979 =5 мм и глубиной способ радиографического контроля, патент № 2315979 d=2 мм) (6б) от оптической плотности снимка (фона) для радиографических пленок типа D4 и D7.

Пример конкретного использования заявляемого способа радиографического контроля.

Заявляемым способом радиографического контроля проводился контроль сварного соединения толщиной d=30 мм - см. фиг.1. Параметры просвечивания соответствовали требованиям ГОСТ 7512-82. Просвечивание проводилось рентгеновским аппаратом МГ-420 при напряжении на рентгеновской трубке Uр.т=300 кВ с фокусного расстояния 800 мм на радиографическую пленку типа D4. Чувствительность контроля k=способ радиографического контроля, патент № 2315979 пр.эт min=0,4 мм. На сварное соединение со стороны источника излучения устанавливались образцы-имитаторы с канавками и отверстиями глубиной способ радиографического контроля, патент № 2315979 d=2 мм - эталоны №2 - см. фиг.2 и фиг.3. На полученном снимке были выявлены дефекты (см. фиг.1б): непровары - 1, 2, 3, пора - 4 и шлаковое включение 5.

С целью определения допустимости выявленных дефектов измерялись по снимку (масштабная линейка, мерительная лупа) длина lр.д и ширина bр.д реальных дефектов и фотометрически (денситометр "Хеллинг-301") оценивался их размер в направлении просвечивания способ радиографического контроля, патент № 2315979 dр.д.

Нормативные максимально допустимые размеры дефектов:

Непровары - способ радиографического контроля, патент № 2315979 dH норм=10%d, lH норм=30 мм;

поры, шлак - способ радиографического контроля, патент № 2315979 dП.Ш. норм=10%d, способ радиографического контроля, патент № 2315979 П норм=3 мм, lШ норм=15 мм

(ширина bН,П,Ш не регламентируется).

Замеренные линейные размеры дефектов составили:

дефект 1 (непровар): bH1=3,2 мм, l H1=11 мм;

дефект 2 (непровар): bH2 =0,7 мм, lH2=12 мм;

дефект 3 (непровар): bH3=(0,2-0,3) мм, lH3 =10 мм;

дефект 4 (пора): способ радиографического контроля, патент № 2315979 П4=1,5 мм;

дефект 5 (шлак): bШ5=4,2 мм, lШ5=6 мм.

При фотометрической оценке размера способ радиографического контроля, патент № 2315979 dН,П,Ш учитывалась зависимость контраста способ радиографического контроля, патент № 2315979 D/способ радиографического контроля, патент № 2315979 D от длины дефекта (см. фиг.4) наряду с зависимостью способ радиографического контроля, патент № 2315979 D/способ радиографического контроля, патент № 2315979 D от ширины b дефекта в условиях малой геометрической нерезкости uг (см. фиг.5). При этом принимался во внимание экспериментально установленный факт, что зависимость способ радиографического контроля, патент № 2315979 D/способ радиографического контроля, патент № 2315979 D=f(l) имеет место при соотношении l/bспособ радиографического контроля, патент № 2315979 3 и не наблюдается при l/b>3 и lспособ радиографического контроля, патент № 2315979 10 мм (указанная зависимость связана с влиянием нерезкости рассеяния up>>uг ).

В рассматриваемом примере использовалась радиографическая пленка типа D4, для которой в рабочем диапазоне оптической плотности D=1-4 коэффициент контрастности способ радиографического контроля, патент № 2315979 Dспособ радиографического контроля, патент № 2315979 kD, где k=const, что позволяет вместо сравнения величин способ радиографического контроля, патент № 2315979 D/способ радиографического контроля, патент № 2315979 D эталонных и реальных дефектов сравнивать фотометрически замеряемые величины способ радиографического контроля, патент № 2315979 D/Dф (см. фиг.6).

Замеренные значения способ радиографического контроля, патент № 2315979 D/Dф реальных дефектов составили:

дефект 1 (непровар): 0,090;

дефект 2 (непровар): 0,090;

дефект 3 (непровар): способ радиографического контроля, патент № 2315979 D/Dф не определялось;

дефект 4 (пора): 0,095;

дефект 5 (шлак): 0,060.

Замеренные значения способ радиографического контроля, патент № 2315979 D/Dф эталонных дефектов глубиной способ радиографического контроля, патент № 2315979 d=2 мм составили:

- отверстия: способ радиографического контроля, патент № 2315979 =0,5 мм - 0,025; способ радиографического контроля, патент № 2315979 =1 мм - 0,040; способ радиографического контроля, патент № 2315979 =2 мм - 0,060; способ радиографического контроля, патент № 2315979 =5 мм - 0,075;

- канавки: b=0,5 мм - 0,040; b=1 мм - 0,055; b=2 мм - 0,070; b=5 мм - 0,080.

Соответствующие ширине bр.д реальных дефектов значения способ радиографического контроля, патент № 2315979 D/Dф эталонных дефектов определяются линейным интерпорированием по b(способ радиографического контроля, патент № 2315979 ):

- отверстия: способ радиографического контроля, патент № 2315979 =0,7 мм - 0,031; способ радиографического контроля, патент № 2315979 =1,5 мм - 0,050; способ радиографического контроля, патент № 2315979 =3,2 мм - 0,066; способ радиографического контроля, патент № 2315979 =4,2 мм - 0,071;

- канавки: b=0,7 мм - 0,046; b=1,5 мм - 0,077; b=3,2 мм - 0,074; b=4,2 мм - 0,077.

Соответствующие ширине bр.д и длине lр.д реальных дефектов значения (способ радиографического контроля, патент № 2315979 D/Dф]эт.д о определяются следующим образом:

- длина дефектов 1 и 2 - lр.д>10 мм, что обуславливает возможность их сравнения с эталонными канавками длиной l эт.д>10 мм без интерполирования по l значений контраста (длина канавок эталона №2 - 20 мм) и, следовательно, (способ радиографического контроля, патент № 2315979 D/Dф)эт.д o(H1)=0,074, (способ радиографического контроля, патент № 2315979 D/Dф)эт.д o(H2)=0,046;

- пора 4 с диаметром изображения способ радиографического контроля, патент № 2315979 П=1,5 мм сравнивается с эталонным отверстием способ радиографического контроля, патент № 2315979 эт.д=1,5 мм и, соответственно, (способ радиографического контроля, патент № 2315979 D/Dф) эт.д о(П4)=0,050;

- длина дефекта 5 - lШ5=6 мм<10 мм и менее 3b=12,6 мм, что обуславливает необходимость интерполировать по l значения способ радиографического контроля, патент № 2315979 D/Dф отверстий и канавок шириной (диаметром) b(способ радиографического контроля, патент № 2315979 )=4,2 мм, соответственно, после интерполяции способ радиографического контроля, патент № 2315979

Полагая, что дефекты 1, 2, 3, 4 (непровары, пора) являются пустотелыми, т.е. коэффициент k 3 Н,П=1, а шлаковое включение (дефект 5) в стали (способ радиографического контроля, патент № 2315979 ст=7,8 г/см3 ) заполнено шлаком плотностью способ радиографического контроля, патент № 2315979 ш=2,3 г/см3 , т.е. k3 Шспособ радиографического контроля, патент № 2315979 способ радиографического контроля, патент № 2315979 ст/(способ радиографического контроля, патент № 2315979 ст-способ радиографического контроля, патент № 2315979 ш)=(7,8/(7,8-2,3)способ радиографического контроля, патент № 2315979 1,4, и используя выражение

способ радиографического контроля, патент № 2315979 dр.д=k3[(способ радиографического контроля, патент № 2315979 D/способ радиографического контроля, патент № 2315979 D)р.д/(способ радиографического контроля, патент № 2315979 D/способ радиографического контроля, патент № 2315979 D)эт.д o]способ радиографического контроля, патент № 2315979 dэт.д=k3[(способ радиографического контроля, патент № 2315979 D/Dф)р.д/(способ радиографического контроля, патент № 2315979 D/Dф)эт.д o]способ радиографического контроля, патент № 2315979 dэт.д,

получим следующие значения размера дефекта в направлении просвечивания способ радиографического контроля, патент № 2315979 dр.д:

дефект 1 (непровар): (0,090/0,074)×2способ радиографического контроля, патент № 2315979 2,4 мм;

дефект 2 (непровар): (0,090/0,046)×2способ радиографического контроля, патент № 2315979 4,0 мм;

дефект 3 (непровар): не определялся;

дефект 4 (пора): (0,095/0,050)×2способ радиографического контроля, патент № 2315979 3,8 мм;

дефект 5 (шлак): (0,060/0,073)×1,4×2способ радиографического контроля, патент № 2315979 2,2 мм.

Согласно указанным выше нормативам (способ радиографического контроля, патент № 2315979 dН,П,Ш норм =10%d=3 мм) дефекты 1 и 5 являются допустимыми, дефекты 2 и 4 - недопустимыми. Размер способ радиографического контроля, патент № 2315979 dр.д дефекта 3 (непровара) не определялся вследствие малой ширины изображения b<k (при b<k происходит перекрытие геометрических нерезкостей с противоположных краев изображения дефекта и снижение способ радиографического контроля, патент № 2315979 D) и, соответственно, дефект 3 классифицируется как недопустимый по размеру способ радиографического контроля, патент № 2315979 d.

При оценке размера способ радиографического контроля, патент № 2315979 dр.д без учета различия в ширине сравниваемых реальных и эталонных дефектов, что имеет место в применяемом в практике радиографического контроля методе дефектометров (сравнение оптической плотности изображений реальных дефектов и канавок различной глубины, но одинаковой ширины стандартного эталона), возможны значительные погрешности, например, при оценке глубины непровара 2 по эталонной канавке, используемой для оценки глубины непровара 1 (bканспособ радиографического контроля, патент № 2315979 4 мм), не допустимый по параметру способ радиографического контроля, патент № 2315979 d дефект 2 был бы классифицирован как допустимый (способ радиографического контроля, патент № 2315979 D/Dф Н1=способ радиографического контроля, патент № 2315979 D/Dф Н2=0,090), т.к. его оценочный размер был бы способ радиографического контроля, патент № 2315979 dН2=способ радиографического контроля, патент № 2315979 dН1способ радиографического контроля, патент № 2315979 2,4 мм.

В то же время даже сравнение эталонных и реальных дефектов одинаковой ширины, но без учета различия в их длине, также может приводить к существенной погрешности в оценке размера способ радиографического контроля, патент № 2315979 dр.д. Например, при оценке способ радиографического контроля, патент № 2315979 dП4 вертикально (по сечению) вытянутой поры 4 с диаметром изображения способ радиографического контроля, патент № 2315979 =1,5 мм путем сравнения с эталонной канавкой (l канспособ радиографического контроля, патент № 2315979 10 мм) той же ширины (bкан=1,5 мм) ее оценочный размер будет способ радиографического контроля, патент № 2315979 dП4=(0,095/0,077)×2способ радиографического контроля, патент № 2315979 2,5 мм, т.е. недопустимая по размеру способ радиографического контроля, патент № 2315979 d пора будет классифицирована как допустимая.

Таким образом, предложенное использование при радиографическом контроле образцов-имитаторов одновременно с канавками и отверстиями одинаковой глубины, но различной и при этом попарно соответствующей ширины (диаметра) и соответствующий учет влияния на контраст изображения сравниваемых эталонных и реальных дефектов как ширины, так и длины дефекта позволяет повысить точность определения по снимку размера в направлении просвечивания дефектов сварки и надежность оценки качества сварных изделий.

Класс G01N23/18 обнаружение локальных дефектов или вкраплений

установка для рентгеновского контроля сварных швов цилиндрических изделий -  патент 2529754 (27.09.2014)
способ неразрушающего рентгеновского контроля трубопроводов и устройство для его реализации -  патент 2496106 (20.10.2013)
способ радиационной дефектоскопии круговых сварных швов трубчатых элементов (варианты) и устройство для реализации способа -  патент 2493557 (20.09.2013)
способ радиационной дефектоскопии -  патент 2486496 (27.06.2013)
система управления перемещением устройства диагностики трубопровода (удт) -  патент 2451286 (20.05.2012)
способ изготовления контрольного образца лопатки из композитных материалов -  патент 2450922 (20.05.2012)
способ оценки глубины залегания дефекта -  патент 2438120 (27.12.2011)
способ радиационного контроля изделий -  патент 2437082 (20.12.2011)
способ определения глубины залегания дефекта -  патент 2437081 (20.12.2011)
способ радиографирования изделий -  патент 2437080 (20.12.2011)
Наверх