Спектрометры элементарных частиц или разделительные трубки: ...с использованием бомбардировки частицами, например ионизационные камеры – H01J 49/14

МПКРаздел HH01H01JH01J 49/00H01J 49/14
Раздел H ЭЛЕКТРИЧЕСТВО
H01 Основные элементы электрического оборудования
H01J Электрические газоразрядные и вакуумные электронные приборы и газоразрядные осветительные лампы
H01J 49/00 Спектрометры элементарных частиц или разделительные трубки
H01J 49/14 ...с использованием бомбардировки частицами, например ионизационные камеры

Патенты в данной категории

ИСТОЧНИК ИОНОВ МАСС-СПЕКТРОМЕТРА ДЛЯ ИЗОТОПНОГО АНАЛИЗА

Использование: в области аналитического приборостроения, в частности в масс-спектрометрии, и при анализе молекулярного и изотопного состава веществ, ионизованных методом электронного удара, в аналитической химии, молекулярной и атомной физике, геологии и геохронологии, медицине, экологии и других областях хозяйственной деятельности. Устройство содержит ионизационную камеру с отверстиями для ввода и вывода электронного пучка, электронно-оптическую и ионно-оптическую системы и систему формирования пучка молекул пробы, состоящую из устройства ввода пробы и двух криоловушек, выполненных каждая в виде двух коаксиальных сосудов, внутренний из которых предназначен для заполнения жидким азотом, а полость между сосудами – для вакуумирования. Указанные ловушки снабжены корзинами с сорбентом, соединенными каналами с вакуумируемой полостью, внутри которой установлены тепловые экраны. Вакуумируемая полость криоловушек отделена от вакуумного объема источника ионов герметичной перегородкой, при этом на внутренние поверхности вакуумируемой полости криоловушек и экранов нанесены покрытия с низким коэффициентом "черноты" (высокой отражательной способностью) при температуре, близкой к температуре жидкого азота. Технический результат: увеличение продолжительности непрерывной работы источника ионов, предотвращение его загрязнения анализируемым продуктом и тем самым повышение достоверности и точности масс-спектрометрического анализа. 1 з.п. ф-лы, 2 ил.

2237945
патент выдан:
опубликован: 10.10.2004
СПОСОБ ИОНИЗАЦИИ АНАЛИЗИРУЕМЫХ ВЕЩЕСТВ В ИОНИЗАЦИОННОЙ КАМЕРЕ АНАЛИЗАТОРА СОСТАВА И УСТРОЙСТВО ДЛЯ ЕГО ОСУЩЕСТВЛЕНИЯ

Изобретение относится к области аналитического приборостроения. Техническим результатом является повышение эксплуатационной долговечности ионизационной камеры. Камера состоит из двух отсеков, в одном создается вакуум и устанавливается источник электронов, а другой представляет собой реакционную камеру спектрометра ионной подвижности. В вакуумированном отсеке в аноде в результате бомбардировки электронами создаются кванты рентгеновского излучения, которые могут проникать через перегородку между двумя отсеками. Перегородка между двумя отсеками непроницаема для электронов, излучаемых источником, и молекул газа. В одном или нескольких конверсионных слоях в реакционном отделении рентгеновские лучи преобразуются в низкоэнергетические кванты и (или) фотоэлектроны, которые могут с высокой степенью эффективности ионизировать составляющие воздуха. 2 с. и 16 з.п. ф-лы, 4 ил., 6 табл.
2208874
патент выдан:
опубликован: 20.07.2003
ИОНИЗАЦИОННАЯ КАМЕРА ДЛЯ АНАЛИЗАТОРОВ СОСТАВА

Изобретение относится к области аналитического приборостроения. Техническим результатом является повышение надежности работы. Камера состоит из двух отсеков, в одном из которых, вакуумированном, установлен нерадиоактивный источник электронов, а в другом, реакционном, установлен электрод, соединенный с положительным полюсом источника ускоряющего напряжения. Толщина перегородки между двумя отсеками меньше длины поглощения квантов тормозного рентгеновского излучения, возникающего под действием электронов, испускаемых нерадиоактивным источником электронов, но больше длины пробега самих электронов. В предпочтительном варианте выполнения изобретения в качестве материала перегородки выбран диэлектрический материал, у которого зависимость коэффициента вторичной электронной эмиссии от напряжения, ускоряющего электроны, испускаемые нерадиоактивным источником электронов, имеет участок, в пределах которого коэффициент вторичной эмиссии превышает единицу. 4 з.п. ф-лы, 3 ил.
2208873
патент выдан:
опубликован: 20.07.2003
Наверх