Разрядные приборы с устройствами для ввода объектов или материалов, подлежащих воздействию разряда, например с целью их исследования или обработки: ...диафрагмы, экраны, связанные с электронно- или ионно-оптическими устройствами, компенсация возмущающих полей – H01J 37/09

МПКРаздел HH01H01JH01J 37/00H01J 37/09
Раздел H ЭЛЕКТРИЧЕСТВО
H01 Основные элементы электрического оборудования
H01J Электрические газоразрядные и вакуумные электронные приборы и газоразрядные осветительные лампы
H01J 37/00 Разрядные приборы с устройствами для ввода объектов или материалов, подлежащих воздействию разряда, например с целью их исследования или обработки
H01J 37/09 ...диафрагмы; экраны, связанные с электронно- или ионно-оптическими устройствами; компенсация возмущающих полей

Патенты в данной категории

СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ХАРАКТЕРИСТИК ИОННО-ОПТИЧЕСКИХ СИСТЕМ

Изобретение позволяет повысить чувствительность, точность и информативность способа за счет прямого измерения кардинальных элементов и аберрационных характеристик ионно-оптических систем (ИОС). Сущность изобретения. Через исследуемую ИОС пропускают зондирующий пучок долгоживущих возбужденных ионов, испускающих оптические излучения с диаметром d поперечного сечения, более чем на порядок меньшим диаметра D апертуры ИОС. Перед входом в ИОС пучок периодически смещают параллельно оптической оси (ОС) ИОС в пределах аппертуры на фиксированные расстояния r* (см) по закону см, где (t-k) - функция Дирака; t - текущее время, с; - время нахождения пучка на фиксированном расстоянии r* от ОС ИОС; k-целое число. При одновременной регистрации визуализированных траекторий зондирующего пучка получают в точках их пересечения взаимоположения кардинальных элементов. 2 ил.
2010391
патент выдан:
опубликован: 30.03.1994
Наверх