Разрядные приборы с устройствами для ввода объектов или материалов, подлежащих воздействию разряда, например с целью их исследования или обработки: ...диафрагмы, экраны, связанные с электронно- или ионно-оптическими устройствами, компенсация возмущающих полей – H01J 37/09
Раздел H ЭЛЕКТРИЧЕСТВО
H01 Основные элементы электрического оборудования
H01J Электрические газоразрядные и вакуумные электронные приборы и газоразрядные осветительные лампы
H01J 37/00 Разрядные приборы с устройствами для ввода объектов или материалов, подлежащих воздействию разряда, например с целью их исследования или обработки
H01J 37/09 ...диафрагмы; экраны, связанные с электронно- или ионно-оптическими устройствами; компенсация возмущающих полей
Патенты в данной категории
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ХАРАКТЕРИСТИК ИОННО-ОПТИЧЕСКИХ СИСТЕМ
Изобретение позволяет повысить чувствительность, точность и информативность способа за счет прямого измерения кардинальных элементов и аберрационных характеристик ионно-оптических систем (ИОС). Сущность изобретения. Через исследуемую ИОС пропускают зондирующий пучок долгоживущих возбужденных ионов, испускающих оптические излучения с диаметром d поперечного сечения, более чем на порядок меньшим диаметра D апертуры ИОС. Перед входом в ИОС пучок периодически смещают параллельно оптической оси (ОС) ИОС в пределах аппертуры на фиксированные расстояния r* (см) по закону ![]() ![]() ![]() ![]() |
2010391 патент выдан: опубликован: 30.03.1994 |
|