Рентгеновские или гамма-микроскопы – G21K 7/00
Патенты в данной категории
| СПОСОБ АНАЛИЗА ФАЗОВОЙ ИНФОРМАЦИИ, НОСИТЕЛЬ ИНФОРМАЦИИ И УСТРОЙСТВО ФОРМИРОВАНИЯ РЕНТГЕНОВСКИХ ИЗОБРАЖЕНИЙ
Способ анализа для получения фазовой информации путем анализа периодической структуры муара содержит этапы: подвергания периодической структуры муара оконному преобразованию Фурье с помощью оконной функции; отделения информации о первом спектре, содержащем фазовую информацию, от информации о втором спектре, наложенной на информацию о первом спектре для получения фазовой информации с использованием аппроксимации каждой из форм первого и второго спектров в форму предварительно заданной функции. Устройство содержит дифракционную решетку для дифрагирования рентгеновских лучей от источника рентгеновского излучения, поглощающую решетку для экранирования части дифрагированных рентгеновских лучей, детектор для обнаружения муара и калькулятор, который извлекает фазовую информацию на основе муара в соответствии со способом анализа. Технический результат - улучшение разрешения при анализе фазовой информации за счет исключения взаимного влияния перекрытия спектров. 3 н. и 9 з.п. ф-лы, 15 ил. |
2526892 выдан: опубликован: 27.08.2014 |
|
| РЕНТГЕНОВСКИЙ МИКРОСКОП НАНОРАЗРЕШЕНИЯ
Использование: для рентгеновской и электронной микроскопии. Сущность: заключается в том, что рентгеновский микроскоп наноразрешения на разборной трубке содержит электронную пушку с системой электронных линз, отклоняющие системы, мишень из тонкого слоя металла на прозрачной для рентгена подложке, координатно-чувствительный рентгеновский детектор, при этом в объективной линзе дополнительно имеется изолированный электрод, на который подается положительный вытягивающий потенциал, а в пространстве между двумя последними линзами размещен детектор вторичных электронов, состоящий из отклоняющей сетки, сцинтиллятора и фотоэлектронного умножителя. Технический результат: повышение разрешения рентгеновского микроскопа, повышение производительности, и обеспечение дополнительной возможности исследования объектов во вторичных и отраженных электронах с высоким разрешением. 1 ил. |
2452052 выдан: опубликован: 27.05.2012 |
|
| МОНОХРОМНЫЙ МИКРОСКОП СВЕРХВЫСОКОГО РАЗРЕШЕНИЯ
Микроскоп содержит в качестве фокусирующего элемента зонную пластинку, при этом микрообъект освещается монохроматическим излучением. Высокое линейное разрешение достигается за счет использования зонной пластинки с относительным отверстием больше единицы. В микроскопе может использоваться модифицированная зонная пластинка с непрозрачной центральной частью, составляющей не менее 50% всей площади пластинки. Технический результат - получение высокого разрешения. 6 з.п. ф-лы, 3 ил. |
2441291 выдан: опубликован: 27.01.2012 |
|
| ПОЛУЧЕНИЕ РЕНТГЕНОВСКОГО ИЗОБРАЖЕНИЯ С ВЫСОКИМ РАЗРЕШЕНИЕМ ОЧЕНЬ МАЛЫХ ОБЪЕКТОВ Изобретение предназначено для использования в области рентгеновской микроскопии. Ячейка для образца содержит образующую камеру для образца конструкцию. На последней расположена масса возбуждаемого падающим пучком для генерации рентгеновского излучения вещества. Рентгеновский микроскоп или микрозонд имеет средство для формирования сфокусированного пучка электронов и ячейку для образца. Последняя выполнена с возможностью удерживания держателем в положении, при котором пучок электронов фокусируется на массе возбуждаемого вещества с помощью ячейки для образца. Происходит обеспечение падающего пучка для возбуждения вещества для формирования рентгеновского излучения. Рентгеновский микроскоп содержит детектор. Последний размещен вне ячейки образца. Способ получения увеличенного рентгеновского изображения одной или более внутренних границ или других деталей образца заключается в помещении образца в ячейку для образца. Установка для получения микроскопического рентгеновского изображения содержит ячейку для образца, детектор. Последний размещен вне ячейки для образца для обнаружения рентгеновского излучения. Обеспечивается получение микрофокусного источника рентгеновского излучения. 4 с. и 34 з.п.ф-лы. 12 ил., 1 табл. | 2224311 выдан: опубликован: 20.02.2004 |
|
| РЕНТГЕНОВСКИЙ ОБЪЕКТИВ Изобретение относится к области рентгеновской оптики и может быть использовано, например, в рентгеновской микроскопии, в системах проекционной рентгеновской литографии и т.п. При создании изобретения решалась задача получения изображений в мягком рентгеновском излучении с высоким пространственным разрешением. Техническим результатом изобретения является получение в рентгеновских лучах изображения тест-объекта, содержащего элементы размером менее 0,2 мкм. В соответствии с изобретением технический результат достигается тем, что в рентгеновском объективе, содержащем оправу с закрепленными в ней двумя зеркалами разного диаметра со сферической отражающей поверхностью, оправа выполнена с возможностью изменения положения зеркал относительно друг друга, до совмещения из центров кривизны, а задняя поверхность зеркала меньшего диаметра выполнена сферической. Технический результат достигается наиболее полно, если центры кривизны сферических поверхностей зеркала меньшего диаметра совпадают. 1 з.п. ф-лы, 1 ил. | 2122757 выдан: опубликован: 27.11.1998 |
|
| СКАНИРУЮЩИЙ РЕНТГЕНОВСКИЙ МИКРОСКОП С ЛИНЕЙЧАТЫМ РАСТРОМ Использование: просвечивание объектов, содержащих субмикронные неоднородности. Сущность изобретения: сканирующий рентгеновский микроскоп с линейчатым растром содержит источник электронов, устройство фокусировки и отклонения электронного луча, тонкопленочную мишень, направляющую рентгеновское излучение структуру, систему детектирования рентгеновского излучения, Новым в микроскопе является то, что направляющая рентгеновское излучение структура выполнена последовательным нанесением пропускающих и отражающих слоев на подложку и расположена в плоскости, параллельной плоскости мишени. 4 ил. | 2014651 выдан: опубликован: 15.06.1994 |