Вспомогательные средства, служащие для облегчения или улучшения применения методов или устройств сканирующего зонда, например дисплеи или устройства обработки данных: .устройства или способы манипулирования образцами – G01Q 30/20

МПКРаздел GG01G01QG01Q 30/00G01Q 30/20
Раздел G ФИЗИКА
G01 Измерение
G01Q Техника сканирующего зонда или устройства; различные применения техники сканирующего зонда, например микроскопия сканирующего зонда (SPM)
G01Q 30/00 Вспомогательные средства, служащие для облегчения или улучшения применения методов или устройств сканирующего зонда, например дисплеи или устройства обработки данных
G01Q 30/20 .устройства или способы манипулирования образцами

Патенты в данной категории

УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИССЛЕДОВАНИЯ МАТЕРИАЛОВ В ДЕФОРМИРОВАННЫХ СОСТОЯНИЯХ МЕТОДОМ АТОМНО-СИЛОВОГО МИКРОСКОПА

Изобретение относится к исследованиям материалов с помощью атомно-силового микроскопа и может быть использовано при исследовании различных материалов в деформированных состояниях. Устройство представляет собой встроенный в микроскоп механизм, двигающий зажимы с закрепленным образцом в противоположные стороны и содержащий общее металлическое основание, закрепленное на каретке держателя образца микроскопа, на котором с двух сторон закреплены две параллельные направляющие, по которым, при вращении ручки винта, двигаются подвижные зажимы. Подвод и отвод сканирующего зонда происходит автоматически с помощью позиционера микроскопа. Технический результат - упрощение исследования материалов, обеспечение сохранности зондов. 2 ил.

2521267
патент выдан:
опубликован: 27.06.2014
Наверх