Исследование или анализ материалов радиационными методами, не отнесенными к группе ,21/00 или ,22/00, например с помощью рентгеновского излучения, нейтронного излучения: ..измерением фотоэлектрического эффекта, например оже-электронов – G01N 23/227

МПК Раздел G G01 G01N G01N 23/00 G01N 23/227

Раздел G ФИЗИКА

G01 Измерение

G01N Исследование или анализ материалов путем определения их химических или физических свойств

G01N 23/00 Исследование или анализ материалов радиационными методами, не отнесенными к группе 21/00 или 22/00, например с помощью рентгеновского излучения, нейтронного излучения

G01N 23/227 ..измерением фотоэлектрического эффекта, например оже-электронов

Патенты в данной категории

	СПОСОБ КОЛИЧЕСТВЕННОГО ОПРЕДЕЛЕНИЯ ХИМИЧЕСКОГО СОСТАВА ВЕЩЕСТВА И ЭНЕРГИЙ СВЯЗИ ОСТОВНЫХ ЭЛЕКТРОНОВ Изобретение относится к области анализа материалов с помощью рентгеновского излучения и может быть использовано для неразрушающего анализа химического состава многокомпонентных материалов и определения энергии связи остовного уровня атома, находящегося в определенном химическом состоянии. Для этого в известном способе, включающем измерение линии фотоэлектронного спектра по меньшей мере одного элемента, разложение ее по известному набору элементарных составляющих, соответствующих различным химическим фазам, и известной последовательности энергий связи остовного электрона выбранного элемента в этих фазах, минимизацию функционала ошибок между измеренной линией спектра и суммарной расчетной огибающей набора элементарных составляющих с выбором их амплитуд и ширины в качестве свободных параметров и определение искомого состава по относительному вкладу этих составляющих в разлагаемую линию спектра с учетом стехиометрии химических фаз согласно формуле изобретения, вышеупомянутые операции производят для каждой линии двух или более выбранных элементов, дополнительно выбирая в качестве свободных параметров энергии связи элементов в химич. фазах и, сравнивая полученные для всех линий спектра результаты между собой, варьируют свободными параметрами до совпадения результатов с учетом заданной ошибки. Техническим результатом изобретения является возможность без использования эталонов определять с высокой точностью не только химический состав сложных соединений, но и энергий связи элементов. 6 ил., 2 табл.	2170421 патент выдан: опубликован: 10.07.2001
	СПОСОБ РЕГИСТРАЦИИ ПОРОГОВЫХ УРОВНЕЙ ФОТОЭФФЕКТА И УСТРОЙСТВО ДЛЯ ЕГО ОСУЩЕСТВЛЕНИЯ Способ и устройство регистрации пороговых уровней фотоэффекта относятся к области электродинамики. Сущность изобретения заключается в том, что в известном одноканальном способе регистрации нелинейных свойств фотоэффекта ослабляемый до порогового уровня луч света от источника разделяют, например, полупрозрачным зеркалом на два, которые направляют на фотокатоды двух фотоэлектронных приемников, один из которых (проверочный) фиксирует пороговый уровень, а второй (контрольный) сохраняет линейную зависимость выходного сигнала за пределами порогового уровня в проверочном фотоприемнике и позволяет более точно и количественно определить границу порогового уровня фотоэффекта. Для обеспечения такого соотношения силы света один из лучей дополнительно ослабляют сменным нейтральным поглотителем с известным коэффициентом поглощения, а перед катодами фотоэлектронных приемников свет пропускают через диафрагмы, обеспечивающие одинаковый размер исходного светового пятна на обоих фотокатодах, регистрацию выходных сигналов и обеспечение питания напряжения осуществляют двухканальными или двумя отдельными с синхронным включением и выключением приборами. 2 с. и 1 з.п. ф-лы, 2 табл., 1 ил.	2099694 патент выдан: опубликован: 20.12.1997
	УСТРОЙСТВО ДЛЯ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ЗАВИСИМОСТИ РАБОТЫ ВЫХОДА ЭЛЕКТРОНА МЕТАЛЛОВ И СПЛАВОВ ОТ ТЕМПЕРАТУРЫ Использование: для определения физико-химических свойств металлов и сплавов, в частности для определения зависимости работы выхода электрода (РВЭ) металлов и сплавов от температуры в широкой области температур и составов. Сущность изобретения: металлы M₁ и M₂ после термовакуумной обработки помещаются в резервуары 1 и 2, и заправочные бункеры отпаиваются по линиям A-A и B-B. Затем и само устройство отпаивается от вакуумного откачного поста и устанавливается внутри воздушного термостата, позволяющего фиксировать прибор в любом положении в пространстве. Для измерения РВЭ компонента M₁ устройство поворачивают по ходу стрелки часов на угол 90 и отливают часть металла в мерный отсек 4. При возвращении устройства в исходное положение металл из мерного отсека 4 по трубке 14 стекает вниз и выкапывается в верхней стакан 7, заливая нижние концы катода 11 и стеклянного кармана 12 с термопарой 13. Мерный отсек 4 обеспечивает постоянство объема жидкого расплава 8, поступающего в верхний стакан 7, т. е. постоянство уровня расплава, а следовательно, и постоянство глубины погружения термопары. Для измерения РВЭ сплава часть жидкого металла M₂ из резервуара 2 поворотом прибора "на себя" на некоторый угол в плоскости, перпендикулярной плоскости листа, отливают в U-образный дозатор 3, объем которого проградуирован относительно меток. Зафиксировав уровень металла в U-образной трубке, поворотом устройства "от себя" за плоскость листа известное количество металла M₂ добавляют к металлу M₁ т. е. образуется сплав известного состава. Перенос сплава в верхний стакан 7 для измерения РВЭ осуществляется так же, как и для металла M₁ . 3 ил.	2008659 патент выдан: опубликован: 28.02.1994