Исследование или анализ материалов с помощью оптических средств, т.е. с использованием инфракрасных, видимых или ультрафиолетовых лучей: ..свойства, влияющие на поляризацию – G01N 21/21

МПКРаздел GG01G01NG01N 21/00G01N 21/21
Раздел G ФИЗИКА
G01 Измерение
G01N Исследование или анализ материалов путем определения их химических или физических свойств
G01N 21/00 Исследование или анализ материалов с помощью оптических средств, т.е. с использованием инфракрасных, видимых или ультрафиолетовых лучей
G01N 21/21 ..свойства, влияющие на поляризацию

Патенты в данной категории

СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ОРИЕНТАЦИИ КРИСТАЛЛОГРАФИЧЕСКИХ ОСЕЙ В АНИЗОТРОПНОМ ЭЛЕКТРООПТИЧЕСКОМ КРИСТАЛЛЕ КЛАССА 3m

Изобретение относится к области оптического приборостроения и касается способа определения ориентации кристаллографических осей в анизотропном электрооптическом кристалле класса 3m. Способ осуществляется с помощью оптической системы, содержащей источник излучения, поляризатор, исследуемый кристалл, скрещенный с поляризатором анализатор, экран и источник постоянного электрического поля. Через оптическую систему пропускают расходящееся монохроматическое излучение и на экране получают первую картину в виде темного «мальтийского креста». После чего к исследуемому кристаллу прикладывают постоянное электрическое поле и получают вторую картину в виде двух ветвей гиперболы. Затем синхронно поворачивают скрещенные анализатор и поляризатор до получения на экране третьей картины в виде темного креста, а затем в виде двух темных ветвей гиперболы. Расположение осей определяют в зависимости от угла между проекцией линии, соединяющей вершины ветвей гиперболы, и вертикалью входной грани кристалла. Технический результат заключается в обеспечении возможности определения взаимного расположения всех кристаллографических осей без использования дорогостоящего оборудования. 1 ил., 1 табл.

2528609
патент выдан:
опубликован: 20.09.2014
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ОТКЛОНЕНИЯ УГЛА НАКЛОНА ПЛОСКОСТИ ПОЛЯРИЗАЦИИ ОПТИЧЕСКОГО ИЗЛУЧЕНИЯ

Изобретение относится к области оптической локации объектов и касается измерений изменений параметров поляризации оптического излучения при прохождении оптически активного вещества. Сущность изобретения заключается в делении монохроматического линейно-поляризованного излучения на два равных потока, один из которых пропускают в прямом и обратном направлениях через измерительную кювету при наличии и отсутствии оптически активного вещества, гомодинном детектировании двух потоков и определении отклонения угла наклона плоскости поляризации оптически активным веществом по отношению амплитуд переменных составляющих фототоков в отсутствие и при наличии оптически активного вещества в измерительной кювете. Изобретение обеспечивает возможность определения влияния оптически активного вещества на поляризационные характеристики отраженного от объекта сигнала. 1 ил.

2527654
патент выдан:
опубликован: 10.09.2014
СПОСОБ БЕСКОНТАКТНОЙ ПОЛИПОЛЯРИЗАЦИОННОЙ ИДЕНТИФИКАЦИИ И ОПРЕДЕЛЕНИЯ СОСТАВА И КАЧЕСТВА ШЕРСТИ И РАСТИТЕЛЬНЫХ ВОЛОКОН

Изобретение относится к области оптико-физических исследований состава естественных материалов, таких как шерсть и растительные волокна (лен, хлопок, шелк и др.), и может быть использован в текстильной промышленности, в зоотехнике, при археологических исследованиях, при определении качества сырья и изготовленной из него продукции. Размещают исследуемый объект в оптической системе, включающей оптически связанные между собой анализатор, поляризатор и объектив. Исследуемый объект в проходящем свете становится источником вторичного излучения. Излучение от исследуемого объекта и излучение, прошедшее сквозь исследуемый объект, направляют на матрицу ПЗС-камеры, с помощью которой получают полиполяризационную картину исследуемого объекта и сравнивают ее с имеющимися эталонными изображениями, что позволяет однозначно идентифицировать исследуемый объект. Вывод о составе и качестве исследуемого объекта делают после исследования полученной полиполяризационной картины объекта по ряду дополнительных показателей. Изобретение обеспечивает возможность визуально и с высокой степенью достоверности определить структурный состав исследуемого объекта для целей его идентификации и объективного определения его качества. 5 з.п. ф-лы, 9 ил.

2524553
патент выдан:
опубликован: 27.07.2014
СПОСОБ НЕИНВАЗИВНОГО ИЗМЕРЕНИЯ КОНЦЕНТРАЦИИ ГЛЮКОЗЫ В КРОВИ И УСТРОЙСТВО ДЛЯ ЕГО ОСУЩЕСТВЛЕНИЯ

Группа изобретений относится к медицине. При осуществлении способа облучают лазерным лучом зоны максимального скопления кровеносных сосудов. Принимают и аппаратурно преобразовывают посредством выделения ориентации вектора поляризации и интенсивности обратнорассеянное излучение. Рассчитывают по ним концентрацию глюкозы в крови. При этом интенсивность и поляризацию обратнорассеянного светового поля регистрируют двумя каналами, расположенными симметрично относительно лазерного луча. Предварительно настраивают анализаторы приемных каналов под углами ±45° относительно плоскости пропускания поляризатора. Одновременно с этим регистрируют динамику микроциркуляции крови в исследуемом участке кожи. Измерения проводят непосредственно с поверхности кожи. Устройство содержит источник оптического когерентного излучения, поляризатор, два анализатора, два фотодетектора, регистрирующие интенсивность светового потока, прошедшего через анализаторы, и микрообъектив. При этом устройство содержит фотодетектор для регистрации микроциркуляции крови, диафрагму с микроотверстием, усилители и блок обработки выходного сигнала. Группа изобретений позволяет повысить точность измерения и создать конструкцию, позволяющую использовать ее в качестве основы мобильного датчика индивидуального пользования. 2 н.п. ф-лы, 2 ил.

2515410
патент выдан:
опубликован: 10.05.2014
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ОПТИЧЕСКИХ ПАРАМЕТРОВ КРИСТАЛЛИЧЕСКОГО ВЕЩЕСТВА

Изобретение относится к способам определения физических свойств в твердых прозрачных средах природного происхождения и может быть использовано при решении задач анализа качества таких материалов. Сущность изобретения заключается в том, что исследуемый материал освещают когерентным источником через дифракционный оптический элемент, из исследуемого материала вырезают плоскопараллельную пластину и вращают ее, снимают полученные изображения и сравнивают с эталонными, после чего производят измерение параметров наблюдаемых искажений симметрии, по которым определяют оптические параметры. Кроме того, вращение осуществляют от -45° до 45°, а измерение производят через каждые 5°. Изобретение позволяет повысить точность контроля. 1 з.п. ф-лы, 2 ил.

2494373
патент выдан:
опубликован: 27.09.2013
СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ СОСТОЯНИЯ ПОЛЯРИЗАЦИИ СВЕТОВОГО ЛУЧА

Измерение относится к области оптико-физических измерений, а именно к эллипсометрии и поляриметрии. Способ измерения состояния поляризации светового луча включает последовательное пропускание исходного светового луча через непрерывно или пошагово вращаемый первый компенсатор (1), через непрерывно или пошагово вращаемый второй компенсатор (2) и через линейный поляризатор (3). Измеряют интенсивность прошедшего через линейный поляризатор (3) светового луча в зависимости от ориентации быстрых осей первого и второго компенсаторов (1) и (2) по меньшей мере, при одном положении оси линейного поляризатора (3). Определяют состояние поляризации светового луча, характеризуемого 4 параметрами Стокса, по результатам Фурье-анализа угловой зависимости интенсивности прошедшего через линейный поляризатор (3) светового луча. Изобретение обеспечивает расширение рабочего спектрального диапазона. 11 з.п. ф-лы, 4 ил.

2474810
патент выдан:
опубликован: 10.02.2013
ОПТИКО-ЭЛЕКТРОННОЕ УСТРОЙСТВО ДЛЯ КОНТРОЛЯ ПОЛОЖЕНИЯ ОПТИЧЕСКОЙ ОСИ КОРУНДОВЫХ СФЕРИЧЕСКИХ ПОДПЯТНИКОВ В СОСТАВЕ МАЯТНИКОВ ГАЗОВЫХ ЦЕНТРИФУГ

Изобретение может использоваться для неразрушающего контроля положения оптической оси корундовых подпятников без демонтажа маятников. Оптикоэлектронное устройство содержит осветитель, микрообъектив с фокусным расстоянием 4.2 мм и объектив с фокусным расстоянием 12.8 мм для формирования изображения коноскопической картины на фотоприемнике, светоделительный кубик, персональный компьютер, поляризаторы. В качестве осветителя используется белый светодиод и однолинзовый коллектор. В качестве фотоприемника используется телекамера для получения изображения коноскопической картины на экране монитора или телевизора. Светоделительный кубик используется для ввода светового потока от осветителя и создания на подпятнике необходимого уровня освещенности. Персональный компьютер с установленным программным обеспечением предназначен для оцифровки изображения, записи видеоряда и одиночных изображений, формирования отчета осмотров. Поляризаторы установлены между осветителем и светоделительным кубиком и объективом и телекамерой для формирования коноскопической картины. Технический результат - обеспечение контроля положения оптической оси корундовых подпятников с возможностью записи видеоряда и одиночных изображений для формирования отчета осмотров. 1 ил.

2473072
патент выдан:
опубликован: 20.01.2013
СПОСОБ БЕСКОНТАКТНОГО ПОЛИПОЛЯРИЗАЦИОННОГО ИССЛЕДОВАНИЯ МИНЕРАЛОВ И ОРГАНИЧЕСКИХ СТРУКТУР С РАЗЛИЧНЫМИ КОЭФФИЦИЕНТАМИ ПРОПУСКАНИЯ

Изобретение относится к области оптико-физических исследований состава естественных и искусственных минералов, а также органических структур с различными коэффициентами пропускания. Способ заключается в том, что осуществляют подготовку исследуемого объекта до тех пор, пока его толщина вдоль оптической оси становится достаточной для того, чтобы его коэффициент пропускания был больше нуля, а в оптическую систему включают оптически связанные между собой анализатор и поляризатор, между которыми размещают исследуемый объект. Воздействуют на объект излучением от первичного источника, при этом поворотом анализатора осуществляют снижение интенсивности паразитного излучения первичного источника, миновавшего исследуемый объект, после чего наблюдают полученную оптимальную картину исследуемого объекта. Сравнивают полученное таким образом изображение исследуемого объекта с эталонным изображением и делают вывод о составе и свойствах исследуемого объекта и их отличиях. Изобретение позволяет визуально и с высокой степенью достоверности определить структурный состав исследуемого объекта для целей его идентификации. 3 ил.

2466379
патент выдан:
опубликован: 10.11.2012
ОПТИЧЕСКИЙ СПОСОБ КОНТРОЛЯ КРУТКИ НИТЕЙ

Изобретение относится к области оптических измерений и может быть использовано для оперативного контроля величины крутки нитей в процессе производства. Способ заключается в том, что освещение исследуемой нити производят плоскополяризованным светом, плоскость поляризации которого вращают вокруг оси светового пучка с частотой , и вычисляют коэффициент изотропии светорассеяния по формуле где - амплитуда меняющейся с частотой 2 переменной составляющей светового потока, рассеянного в обратном направлении в телесном угле, ориентированном в плоскости, совпадающей с направлением нити; - амплитуда меняющейся с той же частотой переменной составляющей светового потока, рассеянного в том же телесном угле и под тем же углом к направлению падения света, но расположенным в перпендикулярной плоскости, а о величине крутки нитей судят по известной зависимости коэффициента изотропии от величины крутки. Изобретение обеспечивает увеличение чувствительности за счет выделения из светового потока, идущего от освещенной части исследуемой нити, и последующего измерения только плоскополяризованной его части. 3 ил.

2463579
патент выдан:
опубликован: 10.10.2012
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ТОЛЩИНЫ ТОНКОЙ ПРОЗРАЧНОЙ ПЛЕНКИ

Изобретение относится к области оптико-физических измерений, основанных на эллипсометрии, и предназначено для определения толщины тонких прозрачных пленок. Способ заключается в измерении эллипсометрических параметров и с последующим фиксированием результатов измерения в плоскости в виде кривой, при этом у предварительно спрессованного металлического порошка определяют эллипсометрические параметры и , результаты измерений которых наносят на плоскость, в которой расположены кривые, содержащие фиксированные результаты измерения эллипсометрических параметров и порошка соответствующего металла, предварительно спрессованного, с заранее заданными оптическими параметрами, полученные с использованием ряда значений заданных оптических параметров упомянутого порошка, задаваемых изменением величины объемной доли активного металла с определенным шагом. Изобретение позволяет определять оксидной пленки, образующейся на поверхности порошка металла, а также объемную долю активного металла. 4 ил.

2463554
патент выдан:
опубликован: 10.10.2012
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ПОЛОЖЕНИЯ ОПТИЧЕСКОЙ ОСИ ФАЗОВОЙ АНИЗОТРОПНОЙ КРИСТАЛЛИЧЕСКОЙ ПЛАСТИНКИ /4

Изобретение относится к области поляризационных измерений и предназначено для определения параметров кристаллических пластинок, изготовленных из одноосных кристаллов. Способ осуществляют с помощью оптической системы, содержащей установленные перпендикулярно ее оси системы поляризатор, исследуемую фазовую анизотропную кристаллическую пластинку /4, фазовый компенсатор, анализатор, скрещенный с поляризатором. Между исследуемой пластинкой и фазовым компенсатором устанавливают рассеиватель. Путем поворота исследуемой кристаллической пластинки вокруг оси оптической системы получают коноскопическую картину в виде светлого «мальтийского креста». Положение оптической оси в плоскости входной грани исследуемой фазовой анизотропной кристаллической пластинки /4 определяют по ее параллельности с линией, соединяющей две черные точки в коноскопической картине. Изобретение позволяет достаточно быстро определить точное положение оптической оси в плоскости входной грани фазовой анизотропной кристаллической пластинки /4 при массовом тестировании фазовых кристаллических пластинок произвольной толщины. 1 ил., 2 табл.

2442972
патент выдан:
опубликован: 20.02.2012
СПОСОБ КОНТРОЛЯ ОПТИЧЕСКОЙ АНИЗОТРОПИИ СВЕТОРАССЕЯНИЯ ПЛОСКИХ ВОЛОКНИСТЫХ МАТЕРИАЛОВ

Изобретение относится к способам контроля углового распределения волокон в плоских волокнистых материалах и связанных с этим распределением технологических параметров и может быть использовано при решении вопросов повышения качества таких материалов. Исследуемый материал освещают плоскополяризованным светом и измеряют световые потоки, рассеянные материалом в обратном направлении в двух одинаковых телесных углах, ориентированных во взаимно перпендикулярных плоскостях под равными углами к падающему пучку, при этом плоскость поляризации светового пучка вращают вокруг оси светового пучка. Изобретение позволяет повысить точность определения углового распределения волокон. 3 ил.

2437078
патент выдан:
опубликован: 20.12.2011
УСТРОЙСТВО ДЛЯ РЕГИСТРАЦИИ ВРАЩАТЕЛЬНОГО ЭЛЕКТРОДИНАМИЧЕСКОГО ЭФФЕКТА

Устройство содержит первую кольцевую оптическую систему из полупрозрачного и глухих отражателей, внутри которой размещены первая исследуемая оптически прозрачная среда и первый оптический квантовый усилитель. При этом первая среда связана с источником электрических колебаний, создающих в ней вращающееся электрическое поле, ортогональное направлению распространения в среде светового излучения. В устройстве установлены газовый лазер непрерывного действия с плоско поляризованным излучением, вторая кольцевая оптическая система со второй исследуемой оптически прозрачной средой и вторым оптическим квантовым усилителем. Вход второй кольцевой системы связан с излучением лазера и оптическими колебаниями с выхода первой кольцевой системы, оптические колебания с выхода которой, а также с выхода второй кольцевой системы через первый и второй телескопы совмещены на фотоприемной матрице. Выходы матрицы подключены к блоку визуализации образующейся на фотоприемной матрице с последовательной выборкой интерферограммы и к спектроанализатору. Источник электрических колебаний включает высокочастотный генератор с регулируемой частотой и синус-косинусный преобразователь, выходы которого подсоединены к пластинам квадрупольных конденсаторов, внутри которых размещены исследуемые среды. Схема соединений источника электрических колебаний с квадрупольными конденсаторами обеспечивает вращение вектора электрического поля в исследуемых средах во взаимно противоположных направлениях по отношению к волновым векторам оптического излучения. Технический результат заключается в увеличении точности производимых измерений и расширении функциональных возможностей. 2 з.п. ф-лы, 3 ил.

2428678
патент выдан:
опубликован: 10.09.2011
СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ АНИЗОТРОПИИ ЭЛЕМЕНТА, СОДЕРЖАЩЕГО, ПО МЕНЬШЕЙ МЕРЕ, ОДИН ДЕЛЯЩИЙСЯ МАТЕРИАЛ, И СООТВЕТСТВУЮЩАЯ УСТАНОВКА

Изобретение может быть использовано для контроля частиц ядерного топлива для высокотемпературных ядерных реакторов. Способ включает направление пучка света на поверхность (17) элемента (1), содержащего делящийся материал, пропускание пучка света, отраженного поверхностью, в поляризационный анализатор (27) с изменяемым направлением анализа, направление пучка из поляризационного анализатора (27) в устройство (31) получения цифровых изображений, получение, по меньшей мере, одного цифрового изображения (31) поверхности (17) элемента (1) и обработку полученного цифрового изображения с целью измерения анизотропии. Изобретение позволяет повысить надежность измерений. 2 н. и 3 з.п. ф-лы, 9 ил.

2419778
патент выдан:
опубликован: 27.05.2011
УСТРОЙСТВО ДЛЯ ОПТИКОЭЛЕКТРОННОГО БЕСКОНТАКТНОГО ИССЛЕДОВАНИЯ МИНЕРАЛОВ И ОРГАНИЧЕСКИХ СТРУКТУР

Устройство содержит размещенные на оптической оси источник излучения, поляризатор, порошок исследуемого объекта с размером частиц от 10 до 35 мкм, анализатор, аподизационную диафрагму и ПЗС-камеру. Аподизационная диафрагма выполнена в виде двух одинаковых дисков с центральными отверстиями в виде ассиметричных фигур в плане, по меньшей мере один из которых установлен с возможностью вращения вокруг их общей оптической оси. Между анализатором и ПЗС-камерой размещают вводимое зеркало, посредством которого излучение от дополнительного источника света через дополнительный объектив направляют на исследуемый объект, который размещают от дополнительного объектива на расстоянии, определяемом по формуле Ньютона. Излучение от исследуемого объекта в отраженном свете и излучение, прошедшее через порошок исследуемого объекта, направляют на матрицу ПЗС-камеры. Технический результат заключается в увеличении точности измерений. 1 з.п. ф-лы, 1 ил.

2402753
патент выдан:
опубликован: 27.10.2010
ЭЛЛИПСОМЕТР

Изобретение относится к технике оптико-физических измерений, а именно к эллипсометрии, и может быть использовано при неразрушающем контроле оптических параметров поверхности и тонких слоев пленок. Эллипсометр содержит поляризатор, подставку для исследуемого образца и фоторегистратор. Поляризатор выполнен в виде полупроводникового одномодового лазера с вертикальным резонатором со стабилизированной поляризацией исходящего пучка. Фоторегистратор выполнен в виде четырехплощадного поляризационно-чувствительного фотоприемника, выполненного из фоточувствительных полупроводниковых нанопроволок, расположенных на площадке (подложке) параллельными отрезками, причем площадки ориентированы следующим образом: одна площадка параллельно оси поляризации лазера, вторая - перпендикулярно оси поляризации, и две площадки под углами +45° и -45°. Ориентацию площадки определяют по направлению фоточувствительных полупроводниковых нанопроволок. Изобретение позволяет создать сверхминиатюрный (размером порядка 10×30×50 мм 3) и дешевый эллипсометр, несложный в изготовлении и эксплуатации. 1 з.п. ф-лы, 2 ил.

2384835
патент выдан:
опубликован: 20.03.2010
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ КАЧЕСТВА КРИСТАЛЛОВ ИСЛАНДСКОГО ШПАТА

Способ определения качества кристаллов исландского шпата для изготовления поляризаторов включает измерение спектра оптической плотности кристалла в диапазоне длин волн от 220 до 400 нм в плоскополяризованном свете. Электрический вектор плоскополяризованного света параллелен оптической оси кристалла. Хотя бы две противоположные грани кристалла, параллельные его оптической оси, отполированы, а оптическая ось кристалла перпендикулярна падающему излучению. Определяют положения максимумов полос поглощения и соответствующие им значения оптической плотности, и определяют категорию качества кристаллосырья следующим образом: 1 категория - не выше 0,31 см-1, 2 категория - не выше 0,35 см-1, 3 категория - не выше 0,45 см-1. Технический результат - более точный контроль светопоглощения кристаллосырья для изготовления поляризаторов. 1 табл., 5 ил.

2374629
патент выдан:
опубликован: 27.11.2009
ЭЛЛИПСОМЕТРИЧЕСКИЙ КОМПЛЕКС ДЛЯ ВЫСОКОТЕМПЕРАТУРНЫХ ИССЛЕДОВАНИЙ

Изобретение предназначено для оптико-физических измерений. Комплекс включает узел оптических измерений, систему нагрева исследуемых образцов, систему контроля температуры и вычислительный блок. Узел оптических измерений на базе быстродействующего эллипсометра снабжен микрообъективом для фокусировки зондирующего излучения на исследуемый образец, диафрагмой и светофильтром, предотвращающими попадание паразитного излучения в измерительный тракт. В системе нагрева подводящие контакты к нагревателю изготовлены из графита, с поверхностью, смазываемой жидким галлием. Система нагрева может быть укомплектована изолирующим от внешней атмосферы кожухом с возможностью осуществления проточного режима инертного газа. Аналогово-измерительная часть управляющего вычислительного блока выполнена в виде четырех каналов считывания сигнала с узла оптических измерений. Каждый канал снабжен регулятором коэффициента усиления, подключенным ко входу аналого-цифрового преобразователя. Микроконтроллерная система содержит подсистемы накопления данных, подсистемы предикативной регулировки коэффициента усиления, подсистему измерения температуры и подсистему передачи данных в персональный компьютер. Техническим результатом является повышение точности измерений. 6 з.п. ф-лы, 2 ил.

2353919
патент выдан:
опубликован: 27.04.2009
ЭЛЛИПСОМЕТР

Эллипсометр предназначен для оптико-физических измерений. В плече анализатора эллипсометра выполнен единый измерительный канал с функциями фазового и амплитудного каналов, с равным пропусканием поляризованных световых компонент. Канал содержит формирователь квазипараллельных световых пучков, компенсатор и поляризационный расщепитель пучков на поляризованные световые компоненты. Линейно поляризованный пучок, выходя из плеча поляризатора с подачей на исследуемый образец, отражаясь от него эллиптически поляризованным, поступает на формирователь квазипараллельных световых пучков в виде двойной диафрагмы. Диафрагма вырезает световые пучки, поступающие на компенсатор из двух фазосдвигающих пластин с отверстиями. Один из квазипараллельных пучков благодаря отверстиям проходит компенсатор без фазового сдвига, а другой - с фазовым сдвигом. Затем поляризационный расщепитель в виде двулучепреломляющей призмы расщепляет оба пучка на ортогонально поляризованные световые компоненты, регистрируемые фоторегистратором. За счет сокращения оптических элементов, вносящих погрешности, повышена точность измерений. 12 з.п. ф-лы, 3 ил.

2351917
патент выдан:
опубликован: 10.04.2009
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ЭЛЛИПСОМЕТРИЧЕСКИХ ПАРАМЕТРОВ

Изобретение относится к области исследования и анализа материалов с помощью оптических средств и может быть использовано для определения фазового состава твердофазной смеси в случае необходимости выявления одного из соединений или определения состава смеси, а также для оценки наличия примесей в веществе. Способ включает помещение образца на подложку, расположенную на предметном столике эллипсометра, освещение поверхности образца под заданным углом поляризованным световым лучом, определение относительных изменений амплитуды и фазы линейно-поляризованной монохроматической световой волны в нескольких точках образца. Осуществляют 30-100 измерений эллипсометрических параметров путем сдвига образца относительно направления падения светового луча, затем вычисляют условные показатели преломления ( ) и коэффициенты поглощения k( ) образца в каждой точке, выстраивают полученные значения ( ) и k( ) в ряд по возрастанию, разбивают ряд на равные интервалы с шагом Н и определяют частоту , отвечающую количеству значений ( ), попавших в каждый интервал, после чего строят эллипсограмму в координатах ( )- и сравнивают с эллипсограмами соответствующих чистых веществ. Техническим результатом является расширение области использования. 4 ил.

2350928
патент выдан:
опубликован: 27.03.2009
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ КОНЦЕНТРАЦИЙ КОМПОНЕНТОВ ПУЛЬСИРУЮЩЕЙ МУТНОЙ СРЕДЫ

Изобретение относится к области оптических измерений и может быть использовано для определения концентраций компонентов пульсирующих мутных сред, в том числе компонентов крови в живых организмах. Способ определения концентраций компонентов пульсирующей мутной среды заключается в подаче оптического излучения на исследуемую мутную среду и регистрации в течение времени, при котором происходит не менее одной пульсации среды, оптического сигнала, вышедшего из исследуемой среды. Излучение, падающее на пульсирующую мутную среду, формируют линейно-поляризованным, и регистрируют поляризованную составляющую излучения, прошедшего исследуемую среду. По изменениям параметров этой составляющей излучения, обусловленным пульсацией исследуемой среды, судят о концентрациях компонентов исследуемой среды. Технический результат заключается в неинвазивном (без повреждения кожных покровов) определении концентраций компонентов крови, например гемоглобина и глюкозы. 4 з.п. ф-лы, 2 ил.

2349254
патент выдан:
опубликован: 20.03.2009
СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ КОНЦЕНТРАЦИИ ОПТИЧЕСКИ АКТИВНЫХ ВЕЩЕСТВ В МУТНЫХ РАСТВОРАХ И УСТРОЙСТВО ДЛЯ ЕГО ОСУЩЕСТВЛЕНИЯ

Изобретение относится к области технической физики, а точнее, к поляриметрам и сахариметрам. Способ измерения концентрации заключается в том, что кювету с оптически активным веществом помещают между линейными поляризаторами, плоскости пропускания которых отличаются на угол ±45°. Один из поляризаторов простой, а другой пропускает два пучка света с взаимно ортогональными плоскостями поляризации с интенсивностями J1 и J2. Сначала контролируют разность интенсивностей света J1-J2 и поворачивают простой поляризатор от исходного =0 на угол = , равный углу поворота плоскости поляризации находящимся в кювете веществом, при котором разность J1 -J2 становится равной нулю, оставляют в этом положении простой поляризатор, удаляют из пучка света кювету с исследуемым раствором, а затем по отношению разности к сумме интенсивностей пучков света J1 и J 2 определяют угол поворота простого поляризатора = , умножают этот результат на коэффициент М, учитывающий длину кюветы L и удельное вращение вещества. Устройство для реализации способа содержит источник света, кювету с исследуемым веществом, установленную между линейными поляризаторами, плоскости пропускания которых отличаются на угол ±45°, один из которых выполнен в виде призмы Волластона, пропускающей два пучка света, два фотоприемника, два усилителя, формирователи разности и суммы сигналов U 1 и U2, блок определения отношений разности к сумме этих сигналов. Формирователь разности сигналов через контакты включателя, установленного в месте установки кюветы, и через электронный ключ подсоединен к усилителю, синхронному детектору, пороговому устройству с двумя индикаторами. Простой поляризатор установлен в оправе, связанной с механизмом угловых перемещений. Между источником света и простым поляризатором установлен циркулярный поляризатор. Техническим результатом является исключение ошибок измерений, вызванных эффектом деполяризации света при рассеянии мутными растворами. 2 с.п. ф-лы, 6 ил.

2325630
патент выдан:
опубликован: 27.05.2008
ЭЛЛИПСОМЕТР

Заявленное изобретение относится к эллипсометрам. Эллипсометр содержит осветитель, поляризатор, два измерительных, фазовый и амплитудный, оптически не связанных между собой, параллельных канала, причем указанные элементы оптически связаны с возможностью подачи светового пучка от осветителя к поляризатору, от поляризатора - на исследуемый образец и далее на измерительные каналы, снабжен размещенным в первом, фазовом, измерительном канале светоотделяющим элементом, отрезающим в фазовый канал часть отраженного поверхностью образца светового пучка и выполняющим при этом одновременно функцию ахроматического фазосдвигающего элемента. Светоотделяющий элемент выполнен в виде пятигранной призмы, грани призмы выполнены с возможностью падения света перпендикулярно относительно входной грани, последовательного отражения его от трех других граней с выполнением на каждой условия полного внутреннего отражения и выхода перпендикулярно выходной грани с обеспечением суммарного фазового сдвига равного 90° для середины спектрального интервала (600 нм); светоотделяющий элемент выполнен из оптического кварцевого стекла. Технический результат заключается в повышении точности измерений и расширении спектрального диапазона проведения измерений. 24 з.п. ф-лы, 2 ил.

2302623
патент выдан:
опубликован: 10.07.2007
СПОСОБ НЕИНВАЗИВНОГО ИЗМЕРЕНИЯ КОНЦЕНТРАЦИИ ОПТИЧЕСКИ АКТИВНЫХ ВЕЩЕСТВ, НАХОДЯЩИХСЯ В КРОВИ

Изобретение относится к медицинской диагностике, может быть использовано для определения таких веществ в крови, как глюкоза, фруктоза, никотин и др. при облучении лазерным излучением кровеносных сосудов. Способ неинвазивного измерения концентраций оптически активных веществ в крови осуществляют путем облучения лазерным лучом зоны максимального скопления кровеносных сосудов на слизистой оболочке, приема и аппаратурного преобразования, посредством выделения ориентации вектора поляризации и интенсивности отраженного излучения и расчета по ним концентрации вещества в крови. Для облучения используют лазерный луч с «нулевой поляризацией» и длиной волны в диапазоне 0,5 мкм - 2,1 мкм. Предварительно настраивают анализатор-поляроид на точки локального поглощения лазерного излучения в слизистой ткани определяемых веществ, фиксируют изменения ориентации вектора поляризации отраженного излучения в точках локального поглощения лазерного излучения по углу его поворота и судят о концентрации вещества по величине угла поворота вектора поляризации. Использование изобретения позволяет повысить точность измерения и расширить число определяемых веществ. 10 з.п. ф-лы, 12 ил.

2295915
патент выдан:
опубликован: 27.03.2007
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ЗНАКА ВРАЩЕНИЯ ПЛОСКОСТИ ПОЛЯРИЗАЦИИ ИЗЛУЧЕНИЯ В ОПТИЧЕСКИ АКТИВНОМ КРИСТАЛЛЕ

Способ относится к области оптического приборостроения, в частности к вращателям оптического излучения, используемым для кодирования и декодирования оптических изображений и сигналов, и приборам для измерения оптических характеристик в зависимости от положения плоскости поляризации излучения. Способ заключается в пропускании циркулярно поляризованного излучения через исследуемую кристаллическую пластинку и получении коноскопической картины в виде двойной спирали. При закручивании ветвей спиралей при наблюдении навстречу лучу по часовой стрелке делают вывод, что исследуемая кристаллическая пластинка вращает плоскость поляризации излучения вправо. При закручивании ветвей спиралей против часовой стрелки делают вывод, что исследуемая кристаллическая пластинка вращает плоскость поляризации излучения влево. Технический результат заключается в определении с большой степенью вероятности знака вращения плоскости поляризации излучения в исследуемой оптически активной кристаллической пластинке любой толщины. 1 табл., 2 ил.

2288460
патент выдан:
опубликован: 27.11.2006
СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ИЗМЕНЕНИЙ АЗИМУТА ПЛОСКОСТИ ПОЛЯРИЗАЦИИ ОПТИЧЕСКОГО ИЗЛУЧЕНИЯ

Изобретение относится к области технической физики и касается способов измерения азимута плоскости поляризации оптического излучения, вызываемых изменением поляризационных свойств поляризующих элементов либо воздействием на азимут поляризации оптически активным веществом. Сущность изобретения заключается в делении монохроматического линейно-поляризованного излучения на два равных потока, один из которых пропускают через измерительную кювету при наличии и отсутствии оптически активного вещества, смешивании его со вторым потоком, детектировании суммарного излучения, определении изменения азимута плоскости поляризации как отношения амплитуд переменных составляющих фототоков. Техническим результатом является сокращение времени и повышение точности измерений. 1 ил.

2276348
патент выдан:
опубликован: 10.05.2006
УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ "КРАСНОГО СМЕЩЕНИЯ" ПЛОСКОПОЛЯРИЗОВАННОГО КОГЕРЕНТНОГО ИЗЛУЧЕНИЯ

Устройство содержит лазер непрерывного действия, установленные в интерферометр Фабри-Перо три идентичные ячейки с исследуемым веществом - гетеродинную и две сигнальных, причем последние установлены в квадруполях, возбуждаемых от высокочастотного генератора синус-косинусного напряжения с вращением поперечных электрических полей в противоположных направлениях, а после интерферометра Фабри-Перо в их оптических цепях установлены скрещенные к лазерному излучению поляроиды, а также оптический приемник двух сигнальных и гетеродинного пучков, электрически соединенный с анализатором спектра. Технический результат - усиление эффекта обнаружения "красного смещения" и повышение точности производимых измерений. 1 з.п. ф-лы, 4 ил.

2276347
патент выдан:
опубликован: 10.05.2006
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ УГЛОВОЙ АПЕРТУРНОЙ ХАРАКТЕРИСТИКИ ОПТИЧЕСКОЙ АКТИВНОСТИ КРИСТАЛЛА

Изобретение относится к области оптического приборостроения, в частности к приборам на основе оптической активности кристаллов: вращателям оптического излучения, используемым для кодирования и декодирования оптических изображений и сигналов; приборам для измерения оптических характеристик в зависимости от положения плоскости поляризации излучения. Технический результат заключается в повышении точности определения апертурного угла и понижении погрешности измерений за счет исключения влияния двупреломления на интенсивность прошедшего излучения. Способ определения угловой апертурной характеристики оптической активности кристалла заключается в пропускании монохроматического излучения по оси оптической системы, содержащей поляризатор, оптически активный кристалл, одна из кристаллографических осей которого лежит в горизонтальной плоскости, и анализатор с осью пропускания, перпендикулярной оси пропускания поляризатора, в повороте кристалла вокруг оси, перпендикулярной оси системы, лежащей в горизонтальной плоскости, измерении зависимости интенсивности прошедшего излучения от угла поворота кристалла и выборе апертурного угла оптической активности по угловой ширине центрального максимума между минимумами интенсивности прошедшего излучения. При установке кристалла его оптическую ось располагают вдоль оси оптической системы, а ось пропускания поляризатора устанавливают перпендикулярно горизонтальной плоскости. 2 ил.

2271531
патент выдан:
опубликован: 10.03.2006
СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ВЫСОТЫ СТУПЕНЕК В ПРОИЗВОЛЬНЫХ МНОГОСЛОЙНЫХ СТРУКТУРАХ

Изобретение относится к оптической контрольно-измерительной технике и может быть использовано для измерения высоты ступенек, полученных любым способом в однородном материале или в произвольной многослойной структуре. Сущность изобретения заключается в измерении эллипсометрических параметров отдельно для пучков света, отраженных от областей по обе стороны от ступеньки (с использованием для ступенек в многослойных структурах дополнительных измерений в другой, отличной от воздуха, среде), и для суммарного пучка, полученного путем совмещения вышеуказанных двух пучков при совпадении фронтов этих пучков после введения в них контролируемого изменения в амплитуду и фазу, с последующим вычислением с их помощью высоты ступеньки по специальному алгоритму. Техническим результатом является расширение номенклатуры ступенек, величину которых можно контролировать с помощью стандартных эллипсометров. 2 ил.

2270437
патент выдан:
опубликован: 20.02.2006
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ДИЭЛЕКТРИЧЕСКОЙ ПРОНИЦАЕМОСТИ ТВЕРДЫХ ТЕЛ В ИНФРАКРАСНОМ ДИАПАЗОНЕ СПЕКТРА

Изобретение относится к области оптики конденсированных сред и может быть использовано для определения оптических постоянных твердых тел. Способ определения диэлектрической проницаемости твердых тел в инфракрасном диапазоне спектра включает разделение пучка падающего монохроматического излучения на реперный и измерительный пучки, возбуждение падающим излучением поверхностной электромагнитной волны (ПЭВ) на плоской поверхности образца, пробег ПЭВ двух различных макроскопических расстояний, регистрацию интенсивности излучения в области пересечения реперного и измерительного пучков при выбранных расстояниях пробега ПЭВ, расчет комплексного показателя преломления ПЭВ по результатам измерений и диэлектрической проницаемости материала образца путем решения дисперсионного уравнения ПЭВ для волноведущей структуры, содержащей поверхность образца. При этом падающее излучение разделяют на два пучка до его взаимодействия с образцом. ПЭВ преобразуют в объемную волну в пределах плоской поверхности образца направляющей ПЭВ, а регистрацию интенсивности излучения в области пересечения пучков осуществляют только в одной точке. После прохождения измерительным пучком в виде ПЭВ каждого из двух выбранных расстояний поверхности образца дополнительно регистрируют интенсивность его излучения. Техническим результатом является повышение точности и упрощение процедуры измерений. 1 ил.

2263923
патент выдан:
опубликован: 10.11.2005
Наверх