Исследование поверхностных или граничных свойств, например смачивающей способности, исследование диффузионных эффектов, анализ материалов путем определения их поверхностных, граничных и диффузионных эффектов, исследование или анализ поверхностных структур в атомном диапазоне: ..с использованием сканирующей туннельной микроскопии (STM) – G01N 13/12
Патенты в данной категории
| СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ НАНОРЕЛЬЕФА ПОДЛОЖКИ
Использование для определения нанорельефа подложки, выполненной из диэлектрического или полупроводникового материала. Сущность: основной зонд устанавливают под углом 55°-65° к подложке, вводят дополнительный зонд, который также устанавливают под углом 55°-65° к подложке и под углом 60°-70° к основному зонду. Основной и дополнительный зонды закрепляют на независимых дополнительных пьезоприводах, связанных с основным. Регулируют расстояние между остриями основного и дополнительного зонда до получения туннельного зазора, а измерение тока осуществляют в зондовой цепи между основным и дополнительными зондами. 1 ил. |
2280853 патент выдан: опубликован: 27.07.2006 |
|
| СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ОБЛАСТЕЙ С НАРУШЕННОЙ КРИСТАЛЛИЧЕСКОЙ СТРУКТУРОЙ В МАТЕРИАЛАХ С МЕТАЛЛИЧЕСКОЙ ПРОВОДИМОСТЬЮ
Изобретение относится к области измерительной техники, в частности к способам определения областей с нарушенной кристаллической структурой в материалах с металлической проводимостью. Сущность изобретения заключается в том, что для определения областей с нарушенной кристаллической структурой в материалах с металлическим типом проводимости используют метод туннельной спектроскопии. Снимают вольтамперные характеристики (ВАХ) на отсканированной области поверхности исследуемого образца и по ВАХ, обладающим характерными максимумами, судят о наличии нарушения кристаллической структуры в материале. В результате исключается разрушение структуры поверхности образца или микроскопические изменения границ между доменами напряжений. 2 з.п. ф-лы, 1 табл., 6 ил.
|
2239814 патент выдан: опубликован: 10.11.2004 |
|
| СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ РЕЛЬЕФА ПОВЕРХНОСТИ СКАНИРУЮЩИМ ЗОНДОВЫМ МИКРОСКОПОМ Изобретение относится к электронно-измерительной технике и предназначено для использования в зондовом сканирующем устройстве. Сущность: способ заключается в использовании особенностей поверхности в качестве опорных точек при выполнении перемещений. Перемещения осуществляются от одной особенности к другой, расположенной по соседству. В результате образуется связанная цепочка, в которой особенности размещены относительно друг друга. Поиск, обнаружение и вычисление координат положения особенности выполняет программа распознавания. Сканируя небольшую область вокруг каждой особенности, а затем раскладывая полученные фрагменты поверхности по соответствующим позициям, определенным при распознавании, можно реконструировать реальный рельеф поверхности. Наличие информации о координатах положения особенностей вместе с механизмом привязки позволяет осуществлять прецизионное позиционирование зонда. Технический результат: повышение точности и линейности измерения рельефа поверхности, улучшение разрешающей способности прибора, а также осуществление прецизионного позиционирования зонда. 2 з.п.ф-лы, 8 ил. | 2175761 патент выдан: опубликован: 10.11.2001 |
|