Спектрометрия, спектрофотометрия, монохроматоры, измерение цвета: ..абсорбционная спектрометрия, двулучевая спектрометрия, мерцающая спектрометрия, отражательная спектрометрия – G01J 3/42

Изобретение относится к области оптического приборостроения и касается спектрометра на основе поверхностного плазмонного резонанса. Спектрометр содержит последовательно расположенные на одной оптической оси источник излучения света с непрерывным спектром, коллиматор, поляризатор, цилиндрическую линзу или цилиндрическое зеркало, устройство нарушенного полного внутреннего отражения с отражающим элементом, диспергирующее устройство, фокусирующий объектив и светочувствительную фотоматрицу, установленную в фокусе объектива. Технический результат заключается в обеспечении возможности получения спектра поверхностного плазменного резонанса в непрерывном оптическом диапазоне длин волн в режиме реального времени и в повышении чувствительности устройства. 5 з.п. ф-лы, 6 ил.

Изобретение относится к аналитическому приборостроению и может быть использовано для определения содержания химических элементов в пробах различных типов методом атомно-абсорбционной спектрометрии. Спектрометр содержит оптически связанные источник излучения с длиной волны, соответствующей резонансному поглощению определяемого элемента, поляризатор, оптомодулятор, фазовую пластину и атомизатор, расположенный в постоянном магнитном поле, оптически связанные монохроматор и приемник излучения, систему регистрации и обработки сигнала, электрически связанную с приемником излучения и синхронизованную с оптомодулятором, а также устройство преобразования излучения, оптически сопряженное с атомизатором и монохроматором, выполненное в виде оптически сопряженных второго поляризатора и жгута световодов с переменным профилем, причем входному торцу жгута световодов придана форма, совпадающая с профилем сечения пучка излучения, а выходному торцу придана вытянутая форма и он совмещен с входной щелью монохроматора. Изобретение обеспечивает повышение светосилы спектрометра и сокращение времени анализа. 2 з.п. ф-лы, 3 ил.

Изобретение относится к технике спектрального анализа и может найти применение при эмиссионных и атомно-абсорбционных измерениях в спектроанализаторах с дифракционными решетками и многоэлементными фотоприемниками. Устройство для спектрального анализа содержит источник излучения, входную щель, дифракционную решетку, в фокальной плоскости которой установлен многоэлементный фотоприемник, выходом подключенный к первому входу блока регистрации и обработки информации. В устройство введен второй многоэлементного фотоприемник, установленный в плоскости зеркально отраженного изображения входной щели с возможностью регистрации лучей как реперной, так и определяемой спектральных линий, выход которого соединен со вторым входом блока регистрации и обработки информации. Технический результат заключается в обеспечении возможности повышения точности и оперативности определения длин волн спектральных линий, а также в обеспечении возможности сокращения времени измерений. 3 ил.

Изобретение относится к инфракрасной спектроскопии поверхностей металлов и полупроводников. Спектрометр содержит перестраиваемый по частоте источник p-поляризованного монохроматического излучения, элемент преобразования излучения источника в поверхностные плазмоны (ПП), твердотельный проводящий образец с плоскогранной поверхностью, фотодетектор, устройство обработки информации и непрозрачный экран, установленный перпендикулярно треку ПП, причем край экрана, обращенный к плоской поверхности образца, размещен на расстоянии от 5 до 20 (где - длина волны излучения в окружающей образец среде) от этой поверхности. Фотодетектор размещен в поле ПП на подвижной платформе, перемещаемой параллельно поверхности вдоль трека ПП, и подключен к устройству обработки информации. Изобретение направлено на упрощение конструкции и сокращение времени измерений. 2 ил.

Устройство содержит источник лазерного излучения, твердотельный образец с плоской поверхностью, направляющей ПЭВ, состоящий из двух частей, имеющих сопряженные поверхности, зафиксированный относительно первой части по ходу излучения элемент преобразования излучения в ПЭВ, приемник излучения. Приемник излучения размещен в плоскости падения излучения у края образца и подключен к измерительному прибору. Вторая часть образца выполнена съемной и в виде полуцилиндра, основание которого сопряжено с торцом первой части образца и ориентировано перпендикулярно треку ПЭВ. Ребро второй части образца, образованное ее основанием и цилиндрической поверхностью, находится на уровне направляющей поверхности первой части. Радиус R цилиндрической поверхности удовлетворяет условию 100 <R<L/ , где - длина волны излучения в вакууме, L - длина распространения ПЭВ. Обе части образца и приемник размещены на подвижной платформе, способной перемещаться параллельно направляющей поверхности образца. Технический результат - повышение точности измерений. 1 ил.

Изобретение относится к способу определения золота в отходах производства элементов электронной техники методом атомно-абсорбционной спектрометрии (ААС). Способ включает приготовление и введение анализируемой пробы в виде раствора с помощью пневматической распылительной системы через гибкий капилляр в пламя горелки атомно-абсорбционного спектрометра с последующей математической обработкой сигналов абсорбции для определения концентрации анализируемого элемента. Причем способ характеризуется тем, что перед внесением очередной пробы внутренние полости распылительной системы, горелки и щели горелки очищают пропусканием насыщенного водного раствора смеси йодида калия и элементарного йода (KJ+J₂), затем анализируемую пробу вводят в высокотемпературное пламя ацетилен-динитрооксид для проведения процесса атомизации с одновременным введением в анализируемую пробу и градуировочные растворы легколетучих, термически неустойчивых соединений - испаряющих добавок в виде солей щелочных металлов или солей аммония, обладающих низкой по сравнению с золотом температурой парообразования. Использование настоящего способа позволяет повысить воспроизводимость и правильность анализа за счет повышения точностных характеристик градуировочной функции, снизить эффект памяти от предыдущей пробы. 2 пр., 3 табл., 2 ил.

Изобретение относится к электротермическому атомизатору для определения благородных металлов. Атомизатор содержит испаритель в виде металлической спирали и источник электропитания. При этом металлическая спираль выполнена из нихрома, а испаритель подключен к источнику электропитания с возможностью изменения электрической мощности, подаваемой на испаритель. Изобретение позволяет уменьшить нестабильность аналитических характеристик при проведении спектрального анализа, предел обнаружения при котором не уступает другим конструкциям атомизаторов или превосходит их, упростить конструкцию атомизатора, а также повысить безопасность проведения спектрального анализа. 1 з.п. ф-лы, 5 ил.

Изобретение относится к спектральным газоразрядным лампам для атомной абсорбции и предназначено для использования в спектрометрах абсорбционного типа. Сущность изобретения заключается в том, что в спектральной лампе для атомной абсорбции, содержащей несоосный с катодом штыревой анод и полый катод, помещенный в заполненной инертным газом стеклянной колбе, катод длиной L и наружным диаметром D выполнен из оксидированного (окисленного) алюминия и размещен в стеклянной колбе, через стенку которой в полость катода на глубину, равную 1/5D, входит разрядная трубка протяженностью 6/5L с диаметром d, меньшим внутреннего диаметра катода, с двумя разнесенными по длине разрядной трубки отводами и закрытая с противоположной стороны окном из увиолевого стекла, причем анод расположен в стеклянном отводе, ближайшем к увиолевому стеклу на расстоянии 1/3L от него, а источник паров металла, спектр которого необходимо получить, расположен в другом отводе на расстоянии 1/2L от выходного окна. Технический результат - увеличение срока службы спектральных ламп. 2 ил.

Изобретение относится к оптическим методам исследования тонких слоев на поверхности металлов и полупроводников, а именно к инфракрасной (ИК) спектроскопии диэлектрической проницаемости. Способ диэлектрической спектроскопии включает воздействие на слой зондирующим излучением, для которого материал тела имеет известную диэлектрическую проницаемость с отрицательной действительной частью, преобразование излучения в поверхностную электромагнитную волну (ПЭВ), измерение интенсивности поля ПЭВ после пробега ею различных макроскопических расстояний, определение комплексного показателя преломления ПЭВ по результатам измерений и известной толщине слоя, расчет диэлектрической проницаемости материала слоя путем решения дисперсионного уравнения ПЭВ для волноведущей структуры, содержащей поверхность и слой. Излучение выбирают имеющим сплошной или дискретный спектр, преобразуют его в набор ПЭВ, частоты которых равны частотам компонент излучения. Изобретение позволяет расширить частотный диапазон и сократить время измерений. 2 ил.

Заявленное изобретение относится к способу определения коэффициента затухания ПЭВ ИК-диапазона за время одного импульса излучения. При этом при реализации способа возбуждают контролируемый пучок параллельных лучей ПЭВ на плоской поверхности образца падающим монохроматическим излучением. Измеряют интенсивности поля ПЭВ. При этом контролируемый пучок лучей ПЭВ разделяют на два пучка параллельных лучей и измеряют интенсивности полученных пучков после пробега ими различных расстояний x₁ и x ₂ по несовпадающим трекам. А затем рассчитывают величину коэффициента затухания по формуле:

,

где I₁ и I₂ - интенсивности пучков после пробега ими расстояний x₁ и х₂ , где x₂>x₁. Заявленное изобретение направлено на повышение точности измерений и обеспечение возможности визуального контроля исследуемой поверхности и свободного доступа к ней в процессе измерений. 1 ил.

Изобретение относится к измерительной технике. В устройстве, содержащем источник лазерного излучения, твердотельный образец с плоской поверхностью, направляющей поверхностные электромагнитные волны (ПЭВ), элемент преобразования объемного излучения в ПЭВ и фотодетектор, образец выполнен в виде двух частей, имеющих лежащие в одной плоскости сопряженные поверхности и прилегающих друг к другу боковыми гранями, края которых на пересечении с волноведущей поверхностью совмещены и ориентированы наклонно к треку ПЭВ. Элемент преобразования неподвижен относительно фиксированной первой части образца по ходу излучения. Вторая часть образца способна перемещаться параллельно волноведущей поверхности, а фотодетектор установлен с возможностью передвижения вдоль линии пересечения плоскости падения излучения и поверхности, направляющей ПЭВ. Технический результат - повышение точности измерений. 1 ил.

Изобретение относится к измерительной технике. Устройство содержит источник лазерного излучения, твердотельный образец с плоской поверхностью, направляющей поверхностные электромагнитные волны (ПЭВ), элемент преобразования объемного излучения в ПЭВ и фотодетектор, размещенный у края поверхности в плоскости падения излучения и подключенный к измерительному прибору. При этом образец выполнен в виде двух частей, имеющих сопряженные плоские поверхности, лежащие в одной плоскости, элемент преобразования зафиксирован относительно плоской поверхности первой части по ходу излучения, фотодетектор установлен с возможностью передвижения вдоль линии пересечения плоскости падения излучения и плоской поверхности образца, а вторая часть образца является съемной. Технический результат - сокращение времени и повышение точности измерений. 1 ил.

Изобретение относится к спектрометрии. Спектрометр содержит перестраиваемый по частоте источник монохроматического излучения с отличной от нуля р-составляющей, а также регулируемый поглотитель излучения реперного пучка. Исследуемая поверхность образца выполнена двухгранной, причем элемент преобразования объемного излучения в поверхностный плазмон (ПП) размещен на одной, а элемент преобразования ПП в объемное излучение - на другой грани этой поверхности, ребро же, образованное обеими гранями, скруглено и имеет радиус закругления, не менее чем на порядок превышающий длину волны излучения. Элементом преобразования ПП в объемное излучение служит дополнительное плоское зеркало, примыкающее боковой гранью к поверхности образца, ориентированное наклонно к ней, сопряженное со вторым лучеразделителем и перемещаемое вместе с ним вдоль поверхности образца. Техническим результатом изобретения является повышение точности определения комплексного показателя преломления ПП. 2 ил., 1 табл.

Изобретение относится к области измерительной техники. Спектрофотометр содержит установленные в корпусе атомизатор, осветительное устройство, измерительный блок, устройство управления, группа выходов которого соединена с газораспределительным блоком и входами блока питания. Блок питания снабжен дополнительным входом, подключенным к дополнительному выходу устройства управления, а корпус выполнен в виде изолированных друг от друга элементов. Атомизатор содержит камеру смешения, насадку горелки, распылитель. Между наружной и внутренней поверхностями камеры смешения выполнены полости, в которых установлены крепежные элементы. Осветительное устройство содержит источник излучения линейчатого спектра, источник излучения сплошного спектра и устройство формирования потока излучения, которое выполнено в виде оптических элементов и устройств корректировки положения оптических осей источников излучения. Технический результат - повышение достоверности результатов измерений. 3 н. и 14 з.п. ф-лы, 6 ил.