Спектрометры элементарных частиц или разделительные трубки: ..динамические спектрометры – H01J 49/34

МПКРаздел HH01H01JH01J 49/00H01J 49/34
Раздел H ЭЛЕКТРИЧЕСТВО
H01 Основные элементы электрического оборудования
H01J Электрические газоразрядные и вакуумные электронные приборы и газоразрядные осветительные лампы
H01J 49/00 Спектрометры элементарных частиц или разделительные трубки
H01J 49/34 ..динамические спектрометры

Патенты в данной категории

СПОСОБ АНАЛИЗА ИОНОВ ПО УДЕЛЬНЫМ ЗАРЯДАМ В ГИПЕРБОЛОИДНОМ МАСС-СПЕКТРОМЕТРЕ ТИПА "ТРЕХМЕРНАЯ ЛОВУШКА" С ВВОДОМ АНАЛИЗИРУЕМЫХ ИОНОВ ИЗВНЕ

Способ анализа ионов по удельным зарядам в гиперболоидном масс-спектрометре типа "трехмерная ионная ловушка" с вводом анализируемых ионов извне относится к гиперболоидной масс-спектроскопии и может быть использован при создании приборов с высоким разрешением и чувствительностью. Способ заключается в том, что ионы вводят в рабочий объем анализатора, захватывают полем, сортируют по удельным зарядам, после чего выводят на вход детектора ионов, причем захват ионов осуществляют селективно путем установления таких значений амплитуды и(или) формы, и(или) частоты питающего ВЧ напряжения, при которых рабочая точка анализируемых ионов на диаграмме стабильности по крайней мере одной из координат находится на изо- 0 линии, соответствующей значению 0=0, где 0 - параметр стабильности. 3 ил.

2269179
патент выдан:
опубликован: 27.01.2006
Наверх