Спектрометры элементарных частиц или разделительные трубки: ...с использованием двойной фокусировки – H01J 49/32
Патенты в данной категории
| СПОСОБ ВРЕМЯПРОЛЕТНОГО РАЗДЕЛЕНИЯ ИОНОВ ПО МАССАМ И УСТРОЙСТВО ДЛЯ ЕГО ОСУЩЕСТВЛЕНИЯ
Изобретение относится к области масс-анализа заряженных частиц в линейных электрических ВЧ полях и может быть использовано для улучшения конструкторско-технологических и коммерческих характеристик радиочастотных времяпролетных масс-спектрометров. Технический результат - усовершенствование конструкции радиочастотных масс-анализаторов ионов и устройств их ВЧ питания. Способ основан на добавлении к переменному электрическому полю медленно изменяющейся экспоненциальной составляющей, под действием которой колебания ионов в направлении, перпендикулярном оси дрейфа, становятся однополярными. В этом случае в качестве радиочастотного времяпролетного масс-анализатора можно использовать электродную систему монопольного типа. Рабочая область анализатора, протяженная вдоль оси дрейфа, образуется уголковым заземленным электродом и потенциальным электродом, состоящим из двух частей - одной с гиперболическим профилем и другой в виде плоской дискретной поверхности. ВЧ питание анализатора однофазное. Ввод и вывод ионов осуществляется через щель и отверстие в плоскости у=0 в уголковом электроде, пространственное разделение которых обеспечивается углами влета заряженных частиц в плоскости OYZ порядка 1-3°. Способ позволяет упростить конструкцию и уменьшить габариты радиочастотных времяпролетных масс-анализаторов, усовершенствовать систему их ВЧ питания и может использоваться для создания времяпролетных масс-спектрометров с высокими аналитическими и потребительскими свойствами. 12 н.п. ф-лы, 1 ил. |
2444083 патент выдан: опубликован: 27.02.2012 |
|
МАГНИТНЫЙ МАСС-СПЕКТРОМЕТР С ДВОЙНОЙ ФОКУСИРОВКОЙ
Изобретение относится к области спектрометрии, а точнее к статистическим масс-спектрометрам, и может быть использовано при создании портативных приборов для изучения химического и изотопного состава газообразных жидких и твердых веществ. Техническим результатом является увеличение достоверности, экспрессивности и точности масс-спектрометрических измерений за счет создания прибора, позволяющего проводить одновременную регистрацию частиц в широком диапазоне масс, число которых ограничено лишь его разрешающей способностью, при сохранении габаритов, веса и разрешающей способности прибора. Малогабаритный магнитный масс-спектрометр содержит источник ионов, цилиндрический конденсатор, секторный магнит, размеры которого соотносятся с диапазоном измеряемых масс, состоящий из двух полюсников, обращенных друг к другу параллельными плоскостями, образующими плоское и перпендикулярное к главной оптической оси входное окно, выходное окно, а также детектор. Выходное окно секторного магнита выполнено в виде части круговой цилиндрической поверхности с радиусом r и осью, расположенной со стороны магнита, перпендикулярно плоскостям полюсников, упомянутая цилиндрическая поверхность пересекает главную оптическую ось магнита, имеющую радиус Rm, соответствующий наибольшей измеряемой массе, на ее угловой длине  m, отсчитываемой от плоскости входного окна магнита. Величина отношения r к Rm удовлетворяет соотношению (Rm/R0)tg(3m/2)  r/Rm 1, где R0 - средний радиус цилиндрического конденсатора,  /3 m /4. 2 ил., 1 табл.
|
2176836 патент выдан: опубликован: 10.12.2001 |
|
| ЭНЕРГОМАСС-СПЕКТРОМЕТР ВТОРИЧНЫХ ИОНОВ Использование: энергомасс-спектрометр вторичных ионов относится к приборам для диагностики поверхности ионными пучками, предназначен для определения химического и элементного состава поверхностных слоев металлов и полупроводников. Сущность изобретения: в устройстве предлагается оригинальное решение организации двух ионно - оптических каналов, в котором одни и те же элементы ионно - оптической системы задействованы под разные измерения на входе и выходе 180°-ного энергоанализатора, дополнительно установлены 90°-ные дефлекторы, а также две электростатические линзы. Благодаря этому расширяются аналитические возможности энергомасс-спектрометрии, сокращается время анализа и повышается достоверность. Конструкция может найти применение для целей энергетического и массового анализа ионных пучков. 5 ил. | 2020645 патент выдан: опубликован: 30.09.1994 |
|