Устройства для определения электрических свойств, устройства для определения местоположения электрических повреждений, устройства для электрических испытаний, характеризующихся объектом, подлежащим испытанию, не предусмотренным в других подклассах: .....со сравнением фактической и эталонной реакций – G01R 31/3193

Изобретение относится к системам для калибровки интегральной схемы к электронному компоненту. Сущность: электронное устройство содержит электронный компонент и интегральную схему. Итегральная схема сконфигурирована с возможностью генерации системного тактового сигнала и внешнего тактового сигнала, имеющего программируемую задержку относительно системного тактового сигнала. Интегральная схема имеет возможность определения диапазона задержки между системным тактовым сигналом и внешним тактовым сигналом, в котором интегральная схема и электронный компонент могут осуществлять связь, и программирования внешнего тактового сигнала одним из совокупности заданных значений задержки на основании диапазона задержки. 4 н. и 31 з.п. ф-лы, 9 ил.