Устройства для определения электрических свойств, устройства для определения местоположения электрических повреждений, устройства для электрических испытаний, характеризующихся объектом, подлежащим испытанию, не предусмотренным в других подклассах: ....аппаратное обеспечение тестера, т.е. схемы обработки выходных данных – G01R 31/319

Изобретение относится к генерации комбинаций тестовых данных для интегральных схем. Сущность: интегральная схема CDMA включает демодулятор для корреляции входных данных с одним из набора кодов и генератор комбинаций тестовых данных для расширения входных тестовых данных одним из набора кодов для формирования расширенных тестовых данных и предоставления расширенных тестовых данных демодулятору. Набор кодов может быть объединен с входными тестовыми данными для генерации набора расширенных тестовых данных, которые затем подаются в различные компоненты микросхемы CDMA для тестирования различных компонент. В одном варианте каждый код из набора кодов содержит скремблирующий код и расширяющий код. 3 н. и 20 з.п. ф-лы, 3 ил.