Особые виды SPM (Микроскопии Сканирующего Зонда) или устройства для них, обязательные компоненты для них: ..микроскопия сил трения – G01Q 60/26

Изобретение относится к способу препарирования тонких пленок висмута на слюде - мусковит - для выявления межкристаллитных границ методом атомно-силовой микроскопии. Способ включает предварительное декорирование поверхности с помощью оксидирования. При этом предварительная обработка поверхности производится декорированием, в качестве декорирующего агента используется кислород. Достигаемый при этом технический результат заключается в обеспечении возможности выявления межкристаллитных границ и определения размеров кристаллитов субмикронных пленок. 2 ил.