Радиационная пирометрия: .с помощью способов, не указанных в предыдущих рубриках – G01J 5/50

МПКРаздел GG01G01JG01J 5/00G01J 5/50
Раздел G ФИЗИКА
G01 Измерение
G01J Измерение интенсивности, скорости или спектрального состава, поляризации, фазы или импульсных характеристик инфракрасных, видимых или ультрафиолетовых лучей; колориметрия; радиационная пирометрия
G01J 5/00 Радиационная пирометрия
G01J 5/50 .с помощью способов, не указанных в предыдущих рубриках 

Патенты в данной категории

ПИРОМЕТРИЧЕСКИЙ СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ РАСПРЕДЕЛЕНИЯ ТЕМПЕРАТУРЫ НА ПОВЕРХНОСТИ ОБЪЕКТА

Изобретение относится к области оптической пирометрии и касается способа измерения распределения температуры на поверхности объекта. Способ включает формирование на выбранной частоте цифрового изображения объекта за счет испускаемого объектом теплового излучения и получение дополнительного цифрового изображения того же объекта, освещенного рассеянным излучением. По двум полученным изображениям и освещенности поверхности объекта вычисляют коэффициенты отражения рассеянного излучения в направлении объектива видеокамеры в точках измерения температуры на выбранной частоте и по полученным коэффициентам и первому изображению вычисляют распределение температуры. Технический результат заключается в упрощении способа измерений и обеспечении возможности измерения температуры без получения предварительных сведений о свойствах объекта. 2 з.п. ф-лы, 1 ил.

2515086
патент выдан:
опубликован: 10.05.2014
ПИРОМЕТР

Изобретение относится к технике измерения физической температуры объекта по его тепловому радиоизлучению. Технический результат заключается в повышении точности измерений за счет исключения влияния на результаты измерений излучательной способности поверхности объекта, коэффициента пропускания атмосферы и угла приема. Устройство основано на модуляционной пирометрии. Изобретение включает периодическое облучение объекта шумовым излучением с широким диапазоном частот и прием в первый интервал времени в первом канале теплового излучения объекта и во втором канале излучения, формируемого источником опорного излучения, прием во второй интервал времени, равный первому интервалу, в первом и втором каналах излучения эталона. Облучение объекта шумовым излучением осуществляют одновременно с приемом в первом канале радиоизлучения объекта и заканчивают в момент завершения приема в первом канале излучения эталона. Принятое излучение преобразуют в электрические сигналы, которые совместно с параметрами шумового сигнала используют для определения физической температуры объекта. 5 з.п. ф-лы, 3 ил.

2437068
патент выдан:
опубликован: 20.12.2011
СПОСОБ ДИСТАНЦИОННОГО ИЗМЕРЕНИЯ ТЕМПЕРАТУРНОГО ПОЛЯ

Изобретение относится к оптико-электронному приборостроению, в частности к ИК термографии (или тепловидению). Способ дистанционного измерения температурного поля объектов основан на использовании измерительного тепловизора и предусматривает выбор одной или нескольких реперных площадок на поверхности исследуемого объекта, измерение температуры этих площадок контактным методом, передачу результатов на измерительный тепловизор для определения отношения «амплитуда пикселя - величина температуры» для конкретных условий выполнения сеанса измерений. Корректирование по этим отношениям первоначальной градуировочной характеристики измерительного тепловизора. Преобразование по соответствующим откорректированным градуировочным характеристикам амплитуд пикселей цифрового изображения в значения температуры, которые используют при дистанционном измерении температуры в режиме реального времени в контрольных точках из числа реперных площадок. Определение температурных полей выполняют преобразованием всех зарегистрированных пикселей цифрового изображения в значения температуры с последующим сглаживанием полученных значений с учетом температуры соответствующих реперных площадок. Технический результат - повышение точности дистанционных измерений температурного поля аэрокосмических объектов в условиях космодрома или испытательного полигона при низких дополнительных аппаратурных затратах.

2424496
патент выдан:
опубликован: 20.07.2011
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ КОЭФФИЦИЕНТОВ ИЗЛУЧАТЕЛЬНОЙ СПОСОБНОСТИ ВНУТРЕННИХ ПОВЕРХНОСТЕЙ НЕОДНОРОДНО НАГРЕТОЙ ПОЛОСТИ И УСТРОЙСТВО ДЛЯ ЕГО ОСУЩЕСТВЛЕНИЯ

Изобретения относятся к измерительной технике. В способе измеряют распределение температуры на поверхностях исследуемой полости, измеряют интенсивность излучения в заданном спектральном диапазоне в точке каждой исследуемой поверхности, вычисляют взаимную облученность поверхностей с учетом реального распределения температуры на поверхностях и наличия излучающе-поглощающего газа в исследуемой полости и определяют числовые коэффициенты при членах в нелинейных уравнениях. Затем вычисляют коэффициенты излучения внутренних поверхностей неоднородно нагретой исследуемой полости. Измеряют с помощью предлагаемого устройства для измерения излучения от внутренних поверхностей неоднородно нагретой полости интенсивность излучения в точке каждой исследуемой поверхности. В качестве прибора для измерения интенсивности излучения используют спектрометр или радиометр с фильтром для соответствующего спектрального диапазона с предварительной градуировкой устройства и измерительного прибора с помощью модели абсолютно черного тела при различной температуре. Технический результат - повышение точности. 2 с.п. ф-лы, 1 ил.

2247339
патент выдан:
опубликован: 27.02.2005
СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ТЕМПЕРАТУРЫ ЛАЗЕРНОЙ ПЛАЗМЫ

Изобретение относится к физике плазмы, а именно к способам измерения электронной температуры плазмы, создаваемой лазерным излучением на мишенях из проводников. При воздействии лазерного излучения на поверхность твердой мишени, установленной в вакууме, происходит образование плазмы, из которой вследствие более высокой подвижности уходят электроны. В результате на границе плазмы с вакуумом образуется своеобразный плазменный конденсатор. При этом как плазма, так и мишень в начальный момент времени приобретают определенный потенциал V0 относительно заземленных стенок вакуумной камеры. Таким образом, мишень, использующаяся как источник плазмы, одновременно выполняет функцию зонда, который не вносит никаких возмущений в плазму. Технический результат изобретения: повышение экспрессности измерения электронной температуры лазерной плазмы. 2 ил.
2178156
патент выдан:
опубликован: 10.01.2002
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ СПЕКТРАЛЬНОЙ ИЗЛУЧАТЕЛЬНОЙ СПОСОБНОСТИ (ЕГО ВАРИАНТЫ)

Изобретение относится к области пирометрии и может быть использовано для определения коэффициентов излучательной способности и температур тел. Способ заключается в том, что на двух длинах волн собственного излучения поверхности измеряют разности обратных значений яркостных температур при двух значениях истинной температуры и отношения коэффициентов направленного спектрального отражения (,T) для тех же двух значений температуры для каждой из длин волн . Из полученных соотношений определяют искомые коэффициенты излучательной способности (,T) для двух температур и обеих длин волн. В варианте изобретения: для трех значений неизвестных температур на каждой из двух длин волн измеряются отношения спектральных яркостей для двух пар температур (Т1, Т2) и (Т2, Т3), возведенные в степени с показателями, численно равными соответствующим длинам волн. На тех же длинах волн измеряются отношения (,T) для тех же пар температур. Из полученных соотношений определяется истинное значение (,T). Техническим результатом изобретения является бесконтактное определение коэффициентов (,T) поверхности, в том числе излучение которой не подчиняются закону Ламберта on line. В варианте изобретения исключается необходимость в градуировке пирометра. 2 с.п. ф-лы, 2 ил.
2162210
патент выдан:
опубликован: 20.01.2001
ПРИЕМНИК ЛАЗЕРНОГО ИЗЛУЧЕНИЯ

Приемник лазерного излучения предназначен для измерения энергии импульсного оптического излучения, в том числе и лазерного. Сущность: приемник лазерного излучения содержит установленные последовательно в механическом контакте прозрачную для принимаемого излучения пластину-поглотитель, промежуточный элемент с фланцем и акустический датчик, на обеих поверхностях которого выполнены электроды, причем промежуточный элемент выполнен в виде усеченного конуса, основание которого превосходит поперечные размеры пластины, а верхнее сечение выполнено равным сечению акустического датчика, при этом толщина промежуточного элемента выбрана из соотношения (D-d)/h2<0,4, где D поперечный размер основания усеченного конуса промежуточного элемента; d поперечный размер сечения акустического датчика; h2 толщина промежуточного элемента. 1 ил.
2046305
патент выдан:
опубликован: 20.10.1995
КОСВЕННЫЙ СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ФОРМЫ ОДИНОЧНЫХ СВЕРХКОРОТКИХ СВЕТОВЫХ ИМПУЛЬСОВ

Косвенный способ определения формы одиночных сверхкоротких световых импульсов предназначен для использования в системах контроля дальномеров. Сущность: формируют первый и второй оптические сигналы расщеплением исходного сверхкороткого импульса, первый из которых обращают во времени, сводя первый и второй оптические сигналы в нелинейном кристалле, на котором получают излучение генерации второй гармоники, при этом из первого и второго оптических сигналов формируют сигналы спектрона исходного оптического импульса, а регистрируют динамическую спектрограмму сигнала излучения второй гармоники, по которой судят о форме одиночного сверхкороткого светового импульса. 1 ил.
2039950
патент выдан:
опубликован: 20.07.1995
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ПРЕДЕЛА ОПТИЧЕСКОЙ ПРОЧНОСТИ МАТЕРИАЛА

Сущность: способ определения предела оптической прочности материала заключается в том, что образцы материала подвергают воздействию лазерного излучения многократно, при каждом фиксированном значении напряженности E электрического поля, начиная с больших значений E, измеряют время от начала каждого воздействия до электрического пробоя образца, строят зависимость lg=f(E) по которой определяют искомый предел оптической прочности материала как точку пересечения оси абсцисс асимптотой графика lg=f(E) при . 2 ил.
2034245
патент выдан:
опубликован: 30.04.1995
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ШИРИНЫ СПЕКТРАЛЬНОЙ ЛИНИИ ЛАЗЕРНОГО ИЗЛУЧЕНИЯ

Использование: изобретение относится к измерительной технике. Сущность: для измерения ширины спектральной линии лазерного излучения направляют его на устройство обращения волнового фронта с изменяемым объемом рабочего вещества протяженностью l lкогер. (где lкогер. - длина когерентности излучения). Измеряют интенсивность обращенного излучения, постепенно изменяя объем рабочего вещества. При изменении интенсивности обращенного излучения прекращают изменять объем рабочего вещества и измеряют длину z этого участка, которая будет равна эффективной длине взаимодействия (длине когерентности) и связана с шириной V спектральной линии соотношением: z = lкогер. = c/(nV) где с - скорость света в вакууме, n - показатель преломления рабочего вещества. 2 ил.
2018794
патент выдан:
опубликован: 30.08.1994
СПОСОБ ПЕРЕДАЧИ РАЗМЕРА ЕДИНИЦЫ СРЕДНЕЙ МОЩНОСТИ ИЛИ ЭНЕРГИИ ЛАЗЕРНОГО ИЗЛУЧЕНИЯ И УСТРОЙСТВО ДЛЯ ЕГО ОСУЩЕСТВЛЕНИЯ

Использование: способ передачи размера единицы средней мощности или энергии предназначен для калибровки эталонов, поверочных установок и средств измерения мощности и энергия лазерного излучения. Сущность: способ заключается в том, что из входного лазерного излучения формируются два пучка с известным соотношением средних мощностей (энергией), один из которых направляют на эталонное (образцовое) средство измерений, а другой - на аттестуемое (поверяемое) средство измерений. Сравнивая с учетом соотношения средних мощностей (энергий) одновременные показания обоих средств измерений, определяют основную погрешность аттестуемого (поверяемого) средства измерений. Устройство для реализации способа содержит соосно последовательно размещенные лазерный излучатель, затвор, поляризационный делитель, содержащий линейный поляризатор и двухлучевой поляризационный элемент, причем линейный поляризатор выполнен с возможностью вращения вокруг оси лазерного излучателя. 2 с.п.ф-лы, 1 ил.
2017085
патент выдан:
опубликован: 30.07.1994
СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ИНТЕНСИВНОСТИ СВЕТА

Сущность: способ измерения интенсивности света, заключающийся в использовании фоторезистора, состоит в том, что для повышения точности измерений полупроводниковый резистор помещают в магнитное поле, чувствительную поверхность полупроводникового резистора располагают параллельно потоку вектора магнитной индукции магнитного поля и перпендикулярно направлению потока через полупроводниковый фоторезистор, при этом вектор измеряемого светового потока, тока через полупроводниковый резистор и магнитной индукции образуют правую тройку взаимно ортогональных векторов, а полупроводниковый фоторезистор выбирают с проводимостью, близкой к собственной. 1 ил.
2007695
патент выдан:
опубликован: 15.02.1994
Наверх