Устройства, отличающиеся оптическими средствами измерения: .измерительные микроскопы – G01B 9/04
Патенты в данной категории
| СПОСОБ ФОРМИРОВАНИЯ ИЗОБРАЖЕНИЯ МИКРООБЪЕКТА (ВАРИАНТЫ) И УСТРОЙСТВО ДЛЯ ЕГО ОСУЩЕСТВЛЕНИЯ (ВАРИАНТЫ)
Изобретение относится к микроскопии. Согласно способу формирование изображения микрообъекта реализуют при помощи конфокального сканирующего микроскопа. При этом в процессе фокусировки излучения на плоскость исследования и в процессе фокусировки излучения на приемной щелевой диафрагме обеспечивают изменение размеров дифракционного максимума изображения каждой точки в плоскости фокусировки, сужая его в одном направлении по отношению к другим направлениям. Производят дополнительное сканирование исследуемого микрообъекта в нескольких различных направлениях, одновременно регистрируя координаты перемещения исследуемого микрообъекта и фотоэлектрические сигналы. Ориентацию направления сужения дифракционного максимума и щелевых диафрагм оставляют неизменной относительно направления сканирования. Производят совместную электронную обработку фотоэлектрических сигналов, зарегистрированных в первичном и дополнительных направлениях сканирования, и соответствующих им координат перемещения исследуемого микрообъекта. Технический результат - улучшение детализации (повышение разрешения) изображения исследуемого микрообъекта. 4 н. и 16 з.п. ф-лы, 4 ил. |
2525152 патент выдан: опубликован: 10.08.2014 |
|
| БЕСКОНТАКТНЫЙ СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ЛИНЕЙНЫХ РАЗМЕРОВ, ИЗНОСА И УСТРОЙСТВО ДЛЯ ЕГО ОСУЩЕСТВЛЕНИЯ
Измерения производят путем последовательной фокусировки микроскопа на объекты, лежащие в разных плоскостях по оси микроскопа. В направлении нормали к поверхности столика определяют положение оптической системы относительно столика по показаниям отдельного отсчетного устройства при произвольно выбранном начале отсчета. Для этого используют жестко и однозначно связанные в указанном направлении со столиком и оптической системой измерительные базы. Перемещая образец относительно оптической системы в плоскости стола, последовательно производят фокусировку и снятие показаний во всех заданных точках первой исследуемой поверхности, после чего удаляют образец. Не изменяя настройки отсчетного устройства, производят фокусировку и снятие показаний в заданных точках следующей поверхности другого образца. Соответственно размеры образца или его износ, или разность размеров образцов определяют как разность показаний отсчетного устройства в соответствующих точках поверхностей. Технический результат - расширение сферы использования бесконтактных методов, применяемых для измерений высоты неровностей, на измерения износа и образца, как целого. 2 с. и 6 з.п. ф-лы, 3 ил.
|
2252394 патент выдан: опубликован: 20.05.2005 |
|
| МИКРОСКОП СРАВНЕНИЯ (ВАРИАНТЫ) Изобретение относится к оптическому приборостроению и может быть использовано при сравнительном анализе объектов, в частности для идентификационных исследований в области криминалистики. Микроскоп содержит две ветви сравнения 1 и 6, блок 25 совмещения полей изображений, включающий разделительную призму 30 со светоделительной гранью 33, выполненной из трех участков с полупрозрачной 34, зеркально отражающей 35 и прозрачной 36 для света поверхностями, и блок 9 наблюдения и регистрации, включающий объектив 10, дополнительное устройство 11 изменения увеличения, переключающее зеркало 15, визуальный 16, телевизионный 19 и фотографический 22 каналы. Приведены варианты исполнения микроскопа и устройства 11. Технический результат: создание микроскопа сравнения, обеспечивающего идентичность взаимного расположения фрагментов изображений исследуемых объектов при смене увеличения микроскопа. 2 с. и 3 з.п. ф-лы. 4 ил. | 2190246 патент выдан: опубликован: 27.09.2002 |
|
| СПОСОБ ОПТИЧЕСКОЙ ТОМОГРАФИИ ТРЕХМЕРНЫХ МИКРООБЪЕКТОВ И МИКРОСКОП ДЛЯ ЕГО ОСУЩЕСТВЛЕНИЯ Томографию микрообъекта осуществляют с помощью микроскопа, содержащего источник света, устройство сканирования изображения источника света, светоделитель, опорный и предметный каналы, отображающий канал и блок томографической обработки. Предметный и опорный каналы образованы соответствующим микрообъективом и зеркалом, расположенным в его задней фокальной плоскости. Зеркало предметного канала является предметным стеклом. Передние фокальные плоскости окуляра и микрообъективов совпадают. Сканируют изображение источника света в передней фокальной плоскости микрообъектива предметного канала. Формируют изображение источника света в передней фокальной плоскости микрообъектива опорного канала. Отраженный от микрообъекта или прошедший микрообъект и затем отраженный обратно пучок света вновь направляют на микрообъектив. Совмещают полученные изображения микрообъекта с опорным пучком света. По полученным интерференционным картинам измеряют амплитудно-фазовые характеристики изображений микрообъекта и определяют трехмерное пространственное распределение показателя преломления и/или коэффициента поглощения микрообъекта. Обеспечивается получение количественных данных о трехмерном пространственном распределении показателя преломления и/или коэффициента поглощения, а также повышение чувствительности измерений. 2 с. и 13 з.п.ф-лы, 6 ил. | 2145109 патент выдан: опубликован: 27.01.2000 |
|
| СПОСОБ УСТРАНЕНИЯ ОШИБКИ УВЕЛИЧЕНИЯ ОТСЧЕТНОГО МИКРОСКОПА Использование: изобретение относится к приборостроению и машиностроению и может быть использовано при юстировке оптико-механических приборов, в частности измерительных микроскопов. Сущность изобретения: в соответствии с зависимостью изменения увеличения микроскопа от изменения расстояния между объективом и минутной шкалой составляют таблицу, отсетный микроскоп устанавливают в индикаторное приспособление и, наблюдая за положением стрелки индикатора, перемещают объектив вдоль оси, а по конкретному табличному значению устанавливают его необходимое положение. 1 ил., 1 табл. | 2024822 патент выдан: опубликован: 15.12.1994 |
|