устройство для активного контроля линейных перемещений объекта

Классы МПК:G01B11/00 Приспособления к измерительным устройствам, отличающиеся оптическими средствами измерения
Патентообладатель(и):Якутов Сергей Фёдорович (RU)
Приоритеты:
подача заявки:
2011-02-17
публикация патента:

Изобретение может быть использовано для автоматического контроля линейных перемещений различных механизмов и узлов, в том числе станков с ЧПУ, узлов роботов и манипуляторов, измерительных наконечников. Устройство содержит блок обработки (1), лазер (2), излучающий одномодовый луч (3), оптоэлектронный преобразователь (4), отражатель (7). На пластину (5) оптоэлектронного преобразователя с двух сторон нанесена прозрачная пленка (6) из графена, соединенная с блоком обработки. Оптоэлектронный преобразователь (4) установлен на объект (8) перпендикулярно оптической оси лазера. Толщина пластины b определяется по формуле b=(устройство для активного контроля линейных перемещений объекта, патент № 2485440 n+0,25устройство для активного контроля линейных перемещений объекта, патент № 2485440 )±0,1устройство для активного контроля линейных перемещений объекта, патент № 2485440 , где устройство для активного контроля линейных перемещений объекта, патент № 2485440 - длина волны лазера; n - количество волн; ±0,1устройство для активного контроля линейных перемещений объекта, патент № 2485440 - допуск на толщину пластины. Технический результат - уменьшение габаритных размеров, уменьшение температурной погрешности при получении метрологической информации. 1 ил. устройство для активного контроля линейных перемещений объекта, патент № 2485440

устройство для активного контроля линейных перемещений объекта, патент № 2485440

Формула изобретения

Устройство для активного контроля линейных перемещений объекта, содержащее блок обработки и последовательно установленные лазер, оптический элемент в виде оптоэлектронного преобразователя, на пластину которого с двух сторон нанесена прозрачная пленка из графена, соединенная с блоком обработки, и отражатель, при этом оптический элемент установлен на объект перпендикулярно оптической оси лазера, причем толщина пластины b определяется по формуле

b=(устройство для активного контроля линейных перемещений объекта, патент № 2485440 n+0,25устройство для активного контроля линейных перемещений объекта, патент № 2485440 )±0,1устройство для активного контроля линейных перемещений объекта, патент № 2485440 ,

где устройство для активного контроля линейных перемещений объекта, патент № 2485440 - длина волны лазера;

n - количество волн;

±0,1устройство для активного контроля линейных перемещений объекта, патент № 2485440 - допуск на толщину пластины.

Описание изобретения к патенту

Изобретение относится к станкостроению и предназначено для автоматического контроля линейных перемещений различных механизмов и узлов (контроль за перемещением по линейным осям станков с ЧПУ, контроль перемещения узлов роботов и манипуляторов, контроль перемещения измерительных наконечников в приборах активного контроля).

Известно устройство для активного контроля линейных перемещений (Миронов А.В. Устройство для измерения перемещений (Патент РФ на изобретение № 2060455 по заявке 93027036). Устройство для измерения перемещений содержит последовательно установленные лазер, оптический элемент в виде пластины и отражатель, предназначенный для крепления на объекте, два фотоприемника и соединенный с ними блок обработки, диафрагму, установленную в резонаторе, совмещенную с оптической осью и выполненную в виде точки, одна из поверхностей пластины выполнена в виде винтовой поверхности с шагом h, равным

устройство для активного контроля линейных перемещений объекта, патент № 2485440

где устройство для активного контроля линейных перемещений объекта, патент № 2485440 - длина волны излучения лазера, мкм;

n - показатель преломления материала пластины;

k - натуральное число.

Оптическая пластина ориентирована так, что ее продольная ось совмещена с оптической осью, а фотоприемники установлены так, что их светочувствительные площадки лежат в смежных секторах с вершинами, расположенными на оптической оси, и углами при вершине, равными устройство для активного контроля линейных перемещений объекта, патент № 2485440 (аналог).

Основным недостатком аналога является сложность конструкции, недостаточный диапазон измерений линейных перемещений, большие габаритные размеры, что исключает возможность применения данного устройства в малогабаритных узлах и механизмах. Имеющиеся недостатки обусловлены тем, что данное устройство содержит большое количество элементов.

Известно также устройство для активного контроля линейных перемещений объекта, содержащее блок обработки, последовательно установленные лазер, оптический элемент в виде пластины и отражатель, причем оптический элемент выполнен в виде оптоэлектронного преобразователя, на пластину которого нанесена прозрачная токопроводящая пленка (электроды), соединенная с блоком обработки, а толщина фоточувствительного слоя может быть равна половине длины волны или увеличена на несколько длин волн, при этом оптический элемент установлен на объект перпендикулярно оптической оси лазера (JP 2000088514 А, 31.03.2000 - прототип).

Основными недостатками прототипа являются большие габаритные размеры оптоэлектронного преобразователя по сравнению с заявленным, что исключает возможность применения данного устройства в малогабаритных узлах и механизмах, подверженность температурным погрешностям из-за теплового расширения фоточувствительного слоя. Имеющиеся недостатки обусловлены тем, что в данном устройстве светочувствительный слой по определению имеет толщину, которая может быть равна половине длины волны или увеличена на несколько длин волн, из чего следует, что толщина светочувствительного слоя прототипа нестабильна и подвержена температурным колебаниям.

Техническим результатом изобретения является уменьшение габаритных размеров, что позволит использовать его практически в различных типах механизмов, в том числе и в малогабаритных (наномеханизмы), а также уменьшение температурной погрешности при получении метрологической информации.

Указанный технический результат достигается тем, что устройство для активного контроля линейных перемещений объекта содержит блок обработки и последовательно установленные лазер, оптический элемент в виде оптоэлектронного преобразователя, на пластину которого с двух сторон нанесена прозрачная пленка из графена, соединенная с блоком обработки, и отражатель, при этом оптический элемент установлен на объект перпендикулярно оптической оси лазера, причем толщина пластины b определяется по формуле

b=(устройство для активного контроля линейных перемещений объекта, патент № 2485440 n+0.25устройство для активного контроля линейных перемещений объекта, патент № 2485440 )±0.1устройство для активного контроля линейных перемещений объекта, патент № 2485440 , где

устройство для активного контроля линейных перемещений объекта, патент № 2485440 - длина волны лазера;

n - количество волн;

±0.1устройство для активного контроля линейных перемещений объекта, патент № 2485440 - допуск на толщину пластины.

На фиг.1 представлена принципиальная схема заявляемого устройства.

Устройство содержит блок обработки 1, лазер 2, излучающий одномодовый луч 3, оптоэлектронный преобразователь 4, выполненный в форме оптической пластины 5, на которую с двух сторон нанесена прозрачная токопроводящая пленка 6 из графена, и отражатель 7. Оптоэлектронный преобразователь 4 устанавливается на объект 8, перемещения которого мы измеряем, перпендикулярно оптической оси 9 лазера.

Измерение линейных перемещений объекта 8 происходит следующим образом. Из неподвижно закрепленного источника лазерного излучателя 2 выходит луч 3, отражается от отражателя 7 и возвращается обратно.

Происходит наложение прямого и отраженного лучей, в результате чего возникает стоячая волна. Вдоль этой волны перемещается объект 8, на котором закреплен оптоэлектронный преобразователь 4, который фиксирует гребни и впадины стоячей волны. Зная длину волны лазера и количество пройденных волн, при помощи узла отсчета 1 получаем величину линейного перемещения с точностью, равной четверти длины волны.

Класс G01B11/00 Приспособления к измерительным устройствам, отличающиеся оптическими средствами измерения

способ определения остаточной сферичности отражающей поверхности -  патент 2528272 (10.09.2014)
устройство для изучения геометрических несовершенств резервуаров муаровым методом с двумя опорами -  патент 2528122 (10.09.2014)
устройство для диагностики состояния внутренней поверхности труб -  патент 2528033 (10.09.2014)
способ измерения толщин нанометровых слоев многослойного покрытия, проводимого в процессе его напыления -  патент 2527670 (10.09.2014)
способ анализа фазовой информации, носитель информации и устройство формирования рентгеновских изображений -  патент 2526892 (27.08.2014)
способ геодезических измерений инженерных объектов и устройство для его осуществления -  патент 2523751 (20.07.2014)
способ измерения двугранных углов зеркально-призменных элементов и устройство для его осуществления -  патент 2523736 (20.07.2014)
способ и устройство для измерения геометрии профиля сферически изогнутых, в частности, цилиндрических тел -  патент 2523092 (20.07.2014)
способ фотограмметрического измерения размеров и контроля формы тела, ограниченного набором связанных между собой поверхностей -  патент 2522809 (20.07.2014)
способ пассивной локализации ребер прямоугольного металлического параллелепипеда в инфракрасном излучении -  патент 2522775 (20.07.2014)
Наверх