устройство для измерения неровностей листовых вязкоупругих материалов

Классы МПК:G01B5/00 Приспособления к измерительным устройствам, отличающимся механическими средствами измерения
Автор(ы):, , ,
Патентообладатель(и):Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Московский государственный университет дизайна и технологии" (RU)
Приоритеты:
подача заявки:
2011-05-23
публикация патента:

Изобретение относится к измерительной технике, в частности к устройствам для измерения профиля поверхностей низкомодульных вязкоупругих листовых материалов легкой промышленности, а именно искусственных и натуральных кож, нетканых материалов и пр. Заявленное устройство для измерения неровностей листовых вязкоупругих материалов содержит основание, базирующий элемент, установленный с возможностью поворота относительно своей оси, выполненный в виде тела со сферической поверхностью, узел прижима контролируемого материала к базирующему элементу, выполненный с возможностью перемещения и фиксации в плоскости, перпендикулярной оси поворота базирующего элемента, и отсчетный узел, при этом базирующий элемент состоит из двух частей: нижней части, находящейся на валу, и прикрепленным к ней поворотным столиком с лимбом угла поворота, и верхней части со сферической поверхностью, которая совместно с узлом прижима исследуемого материала и поворотным столиком представляет собой единую конструкцию, выполненную с возможностью поворота в плоскости, перпендикулярной оси базирующего элемента. Технический результат заключается в том, что устройство позволяет определить неровности поверхности низкомодульных вязкоупругих листовых материалов в деформированном состоянии под любым углом в диапазоне от 0 до 180°, сократить время определения искомых параметров. Устройство также дает возможность изучить скрытые дефекты анизотропных искусственных материалов, зависящие от направления и проявляющиеся в деформированном состоянии. 1 ил. устройство для измерения неровностей листовых вязкоупругих материалов, патент № 2464527

устройство для измерения неровностей листовых вязкоупругих материалов, патент № 2464527

Формула изобретения

Устройство для измерения неровностей листовых вязкоупругих материалов, содержащее основание, базирующий элемент, установленный с возможностью поворота относительно своей оси, выполненный в виде тела со сферической поверхностью, узел прижима контролируемого материала к базирующему элементу, выполненный с возможностью перемещения и фиксации в плоскости, перпендикулярной оси поворота базирующего элемента, и отсчетный узел, отличающееся тем, что базирующий элемент состоит из двух частей: нижней части, находящейся на валу, с прикрепленным к ней поворотным столиком с лимбом угла поворота, и верхней части со сферической поверхностью, которая совместно с узлом прижима исследуемого материала и поворотным столиком представляет собой единую конструкцию, выполненную с возможностью поворота в плоскости, перпендикулярной оси базирующего элемента.

Описание изобретения к патенту

Изобретение относится к измерительной технике, в частности к устройствам для измерения профиля поверхностей низкомодульных вязкоупругих листовых материалов легкой промышленности, а именно искусственных и натуральных кож, нетканых материалов и пр.

Известно устройство А.С. СССР № 1033845, G01В 5/28 для измерения неровностей листовых вязкоупругих материалов, содержащее основание, базирующий элемент, выполненный в виде тела со сферической поверхностью, установленный с возможностью поворота относительно своей оси, узел прижима контролируемого материала к базирующему элементу, выполненный с возможностью перемещения и фиксации в плоскости, перпендикулярной оси поворота базирующего элемента, и отсчетный узел.

Недостатками известного устройства являются длительность испытаний и невозможность исследовать неровности поверхности материала в разных направлениях без замены образца.

Технической задачей изобретения является расширение функциональных возможностей устройства для измерения профилей поверхностей анизотропных листовых материалов под любым углом в диапазоне от 0 до 180° без замены образца и сокращение времени испытаний.

Технический результат достигается тем, что базирующий элемент состоит из двух частей: нижней части, находящейся на валу, и прикрепленным к ней поворотным столиком с лимбом угла поворота, и верхней части со сферической поверхностью, которая совместно с узлом прижима исследуемого материала и поворотным столиком представляет собой единую конструкцию, выполненную с возможностью поворота в плоскости, перпендикулярной оси базирующего элемента.

Устройство состоит из базирующего элемента (1, 2), который в свою очередь состоит из верхней части 1 со сферической поверхностью и нижней части 2, установленной на валу 3, и прикрепленным к ней поворотным столиком 4 с лимбом угла поворота, узла прижима, содержащего направляющие 5 и кольцевой зажим 6 для крепления образца материала 16 с помощью болтов 13 и гаек 14. Вал 3, находящийся на опорных стойках 15, связан посредством редуктора 7 с электродвигателем 8. На основании прибора 9 закреплена стойка 10 с подвижным кронштейном 11 и датчиком перемещения 12, которые представляют собой отсчетный узел.

Устройство работает следующим образом.

Круглый образец материала 16 помещают между пластинами кольцевого зажима 6, скрепление пластин производится с помощью болтов 13. Затем перемещают кольцевой зажим 6 с образцом материала вдоль направляющих 5 и фиксируют его посредствам закручивания барашковых гаек 14 по направляющим, тем самым происходит деформирование образца. Далее поворачивают образец материала с узлом прижима (5, 6) и верхней частью базирующего элемента 1 при помощи поворотного столика 4 на заданный угол, соответствующий исследуемому направлению. Опускают кронштейн 11 до соприкосновения щупа датчика 12 с поверхностью образца материала, включают электродвигатель 8, проводят трассирование материала под щупом датчика. После окончания измерения по данной выбранной траектории выводят щуп датчика из контакта с материалом, включают реверсивный ход электродвигателя для перемещения базирующего элемента в начальное положение. Затем поворачивают образец материала на заданный угол с помощью поворотного столика и вновь приводят контакт щупа датчика с материалом, включают электродвигатель. При этом происходит измерение неровности поверхности под необходимыми углами. Измерение неровности поверхности может фиксироваться на диаграммной ленте вторичного контрольно-самопишущего прибора (КСП-4) или ПЭВМ.

Таким образом, устройство позволяет определить неровности поверхности низкомодульных искусственных материалов в деформированном состоянии под любым углом в диапазоне от 0 до 180°, значительно облегчить проведение испытаний и сократить время определения искомых параметров. Устройство дает возможность изучить скрытые дефекты анизотропных искусственных материалов, зависящие от направления и проявляющиеся в деформированном состоянии, а также определить их взаимосвязь с технологическими параметрами получения листовых вязкоупругих материалов, что в конечном итоге отразится на повышении качества выпускаемой продукции.

Класс G01B5/00 Приспособления к измерительным устройствам, отличающимся механическими средствами измерения

универсальный набор концевых мер -  патент 2529662 (27.09.2014)
способ подготовки шихты порошковой проволоки и устройство для определения угла естественного откоса порошковых материалов -  патент 2528564 (20.09.2014)
способ измерения деформации валов -  патент 2528557 (20.09.2014)
способ монтажа зонального блока в отсеке судна -  патент 2527251 (27.08.2014)
способ измерения отклонений расположения плоскостей относительно центра наружной сферической поверхности -  патент 2523761 (20.07.2014)
устройство для определения углового положения поворотной направляющей лопатки компрессора -  патент 2518721 (10.06.2014)
способ параметризации локальных углублений на цилиндрических телах и устройство для его осуществления -  патент 2517149 (27.05.2014)
способ определения координат точек поверхности в трехмерной системе координат -  патент 2515200 (10.05.2014)
устройство для измерения длины гибких длинномерных материалов -  патент 2515192 (10.05.2014)
способ определения площадей -  патент 2511205 (10.04.2014)
Наверх