способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство для его осуществления

Классы МПК:H01J49/00 Спектрометры элементарных частиц или разделительные трубки
Автор(ы):, , , , ,
Патентообладатель(и):Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Иркутский государственный технический университет" (ФГБОУ ВПО "ИрГТУ") (RU)
Приоритеты:
подача заявки:
2010-08-04
публикация патента:

Изобретение относится к способам и устройствам, обеспечивающим анализ потоков заряженных частиц по энергиям и массам с помощью электромагнитных полей, и может быть использовано при изучении поверхностей твердых тел, для определения элементного или изотопного состава плазмы рабочего вещества. Технический результат изобретения - расширение функциональных возможностей энерго-масс-анализаторов заряженных частиц - достигается тем, что анализ по энергиям и массам ведут в совмещенных радиальных электрическом поле энергоанализатора Юза-Рожанского и магнитном поле фильтра Вина и поперечном к ним продольном электрическом поле фильтра Вина, энергоанализатор Юза-Рожанского и фильтр Вина совмещены в одной конструкции, при этом фильтр Вина выполнен цилиндрическим. Детектор ионов и расстояние между цилиндрическими пластинами определяются условиями фокусировки целевых ионов. 2 н.п. ф-лы, 4 ил. способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310

способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310

Формула изобретения

1. Способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам, включающий анализ по энергиям в электрическом поле цилиндрического конденсатора - в энергоанализаторе Юза-Рожанского, анализ по массам в скрещенных электрическом и магнитном полях фильтра Вина, отличающийся тем, что анализ по энергиям и массам ведут в совмещенном радиальном электрическом поле энергоанализатора Юза-Рожанского и радиальном магнитном поле фильтра Вина и поперечном к ним продольном электрическом поле фильтра Вина, при этом детектор ионов располагают в точке поворота траектории на угол

способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 =способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 /способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 ,

где способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 - параметр, определяющий угол, при котором целевые ионы фокусируются на равновесной траектории, 1/рад,

а цилиндрические электроды энергоанализатора Юза-Рожанского располагают с расстоянием между ними, определяемым формулой

способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310

где способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 - параметр, определяющий угол, при котором нецелевые ионы максимально уходят от равновесной траектории, 1/рад.

2. Устройство для анализа заряженных частиц по энергиям и массам, содержащее энергоанализатор Юза-Рожанского и фильтр Вина, отличающееся тем, что фильтр Вина выполнен цилиндрическим, энергоанализатор Юза-Рожанского и фильтр Вина расположены так, что магнитные полюса фильтра Вина охватывают цилиндрические электроды энергоанализатора Юза-Рожанского, а пластины фильтра Вина, создающие электрическое поле, выполнены в виде плоских круглых электродов, размещенных по обе стороны относительно энергоанализатора Юза-Рожанского и магнитной системы фильтра Вина, при этом детектор ионов расположен в точке поворота траектории на угол

способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 =способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 /способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 ,

где способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 - параметр, определяющий угол, при котором целевые ионы фокусируются на равновесной траектории, 1/рад,

а цилиндрические электроды энергоанализатора Юза-Рожанского выполнены с расстоянием между ними, равным

способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310

где способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 - параметр, определяющий угол, при котором нецелевые ионы максимально уходят от равновесной траектории, 1/рад.

Описание изобретения к патенту

Изобретение относится к способам и устройствам для анализа ионов по энергиям и массам с использованием электрических и магнитных полей и может быть использовано для определения элементного или изотопного состава, например, плазмы рабочего вещества и при изучении поверхностей твердых тел.

Изобретение относится к перспективному направлению развития науки и технологий «Нанотехнологии и наноматериалы».

Основными областями применения анализаторов заряженных частиц по энергиям и массам - энерго-масс-анализаторов - являются: изучение поверхности твердых тел, исследование структуры вещества и процессов взаимодействия при столкновениях частиц в газах и плазме, плазменные задачи геофизики и физики космического пространства.

Известны способ анализа заряженных частиц по массам и устройство для его осуществления [Guenter F. Voss. Mass spectrometer and related ionizer and methods // Патент US 6815674. - МПК H01J 49/28. - Опубл. 09.11.2004].

Известный способ включает:

1) создание в рабочей области взаимно перпендикулярных электрического и магнитного полей, причем электрическое поле не обязательно является однородным;

2) ионизацию рабочей (анализируемой) газовой пробы электронным ударом;

3) разделение ионизованных частиц в соответствии с отношением массы к заряду, благодаря движению в электрическом и магнитном полях, перпендикулярных друг другу;

4) регистрацию ионов на детекторе.

Признаками известного способа, совпадающими с существенными признаками заявляемого способа, являются:

1) создание в рабочей области взаимно перпендикулярных электрического и магнитного полей;

2) разделение ионизованных частиц в соответствии с отношением массы к заряду, благодаря движению в электрическом и магнитном полях;

3) регистрацию ионов на детекторе.

Недостатками известного способа являются:

1) невозможность анализа пучков заряженных частиц, имеющих начальный разброс по энергиям - в процессе анализа по массе (при заданной величине заряда иона) не предусмотрено выделение моноэнергетичного пучка частиц;

2) невозможность анализа пучков заряженных частиц, имеющих начальный разброс по углам, - отсутствие фокусировки.

Известно устройство масс-анализа [Guenter F. Voss. Mass spectrometer and related ionizer and methods // Патент US 6815674. - МПК H01J 49/28. - Опубл. 09.11.2004].

Устройство содержит:

1) ионизатор;

2) плоские параллельные электроды для создания анализирующего электрического поля;

3) систему создания анализирующего магнитного поля, направление которого перпендикулярно направлению анализирующего электрического поля;

4) детектор.

Признаками известного устройства, совпадающими с существенными признаками заявляемого устройства, являются:

1) параллельные электроды для создания анализирующего электрического поля;

2) система создания анализирующего магнитного поля, направление которого перпендикулярно направлению анализирующего электрического поля;

3) детектор.

Недостатками известного устройства являются:

1) устройство не обеспечивает возможность анализа пучков заряженных частиц, имеющих начальный разброс по энергиям;

2) устройство не обеспечивает анализ пучков заряженных частиц, имеющих начальный разброс по углам, - в нем отсутствует пространственная фокусировка частиц;

3) в связи с отсутствием фокусировки устройство обладает низкой светосилой (чувствительностью).

Известен способ и устройство для масс-анализа [Александров М.Л., Галль Л.Н., Савченко В.Д. Способ энергомасс-спектрального анализа состава веществ и устройство для его осуществления // Патент SU № 1178257. - МПК Н01J 49/30. - Опубл. 27.01.1996].

Известный способ реализуется следующим образом:

1) ионный пучок разлагают в спектр по энергии в поперечном относительно направления движения частиц электрическом поле электростатического анализатора;

2) на разложенный в спектр по энергиям ионный пучок воздействуют однородным поперечным относительно направления движения частиц магнитным полем магнитного анализатора;

3) детектирование пучка осуществляют пространственно протяженным детектором в двух взаимно перпендикулярных направлениях.

Признаками известного способа, совпадающими с существенными признаками заявляемого способа, являются:

1) на ионный пучок воздействуют поперечным относительно направления движения частиц электрическим полем электростатического анализатора;

2) на ионный пучок воздействуют поперечным относительно направления движения частиц и электрического поля электростатического анализатора магнитным полем магнитного анализатора;

3) осуществляют детектирование пучка на пространственно-протяженном детекторе в двух взаимно перпендикулярных направлениях.

Недостатками известного способа являются:

1) небольшой диапазон энергий способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 W исходного пучка ионов; для анализирующих полей с цилиндрической симметрией (на основной траектории радиусом R) при энергии настройки, равной W, способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 Wспособ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 W(S2/R)<<W, где S2 - ширина выходной щели энергоанализатора;

2) увеличение ширины спектра по энергии исходного пучка ионов приводит к необходимости увеличения области создания однородного магнитного поля магнитного анализатора, что ведет к росту неоднородности магнитного поля на границе анализатора и его габаритов.

Устройство по патенту [Александров М.Л., Галль Л.Н., Савченко В.Д. Способ энергомасс-спектрального анализа состава веществ и устройство для его осуществления // Патент SU № 1178257. - МПК H01J 49/30. - Опубл. 27.01.1996] содержит последовательно расположенные источник ионов с фокусирующими линзами, электростатический тороидальный и магнитный с однородным полем анализаторы и пространственно-протяженный детектор частиц с устройством считывания информации.

Признаками известного устройства, совпадающими с существенными признаками заявляемого устройства, являются:

1) электростатический энергоанализатор;

2) магнитный анализатор;

3) детектор с устройством считывания.

Недостатками известного устройства являются:

1) последовательное включение электростатического энергоанализатора и магнитного анализатора увеличивает габариты устройства и уменьшает его светосилу (чувствительность), в том числе, и из-за наличия электромагнитных полей рассеяния на границах анализаторов;

2) наличие пространственно-протяженного детектора частиц усложняет систему считывания информации.

Прототипом заявляемого способа и устройства является способ и устройство по патенту [Романюк Н.И., Папп Ф.Ф., Чернышова И.В., Шпеник О.Б. Способ анализа пучка заряженных частиц по энергиям и устройство для его осуществления (циклоидальный анализатор) // Патент SU № 1756973. - МПК H01J 49/48. - Опубл. 23.08.1992].

Способ анализа по прототипу включает:

1) создание поперечного (радиального) относительно направления движения пучка заряженных частиц электрического поля, эквипотенциальные поверхности которого являются цилиндрическими поверхностями;

2) создание однородного магнитного поля, поперечного относительно направления движения пучка заряженных частиц и направления электрического поля;

3) введение пучка заряженных частиц в область действия скрещенных радиального электрического и продольного (направленного вдоль цилиндрических пластин конденсатора, создающего электрическое поле) магнитного полей;

4) разделение пучка заряженных частиц, имеющих заданную массу, по энергиям под действием скрещенных радиального электрического и продольного магнитного полей;

5) регистрация частиц на детекторе, расположенном за выходной диафрагмой.

Признаками известного способа, совпадающими с существенными признаками заявляемого способа, являются:

1) создание поперечного (радиального) относительно направления движения пучка заряженных частиц электрического поля, эквипотенциальные поверхности которого являются цилиндрическими поверхностями;

2) создание магнитного поля, поперечного относительно направления движения пучка заряженных частиц и направления радиального электрического поля;

3) введение пучка заряженных частиц в область действия скрещенных радиального электрического и магнитного полей;

4) регистрация частиц на детекторе, расположенном за выходной диафрагмой. Недостатками способа по прототипу являются:

1) невозможность анализа по энергиям пучков заряженных частиц разных масс;

2) невозможность анализа по массам пучков частиц, имеющих различные энергии.

Устройство по прототипу [Романюк Н.И., Папп Ф.Ф., Чернышова И.В., Шпеник О.Б. Способ анализа пучка заряженных частиц по энергиям и устройство для его осуществления (циклоидальный анализатор) // Патент SU № 1756973. - МПК H01J 49/48. - Опубл. 23.08.1992] включает:

1) электроды для создания поперечного направлению движения пучка заряженных частиц электрического поля, которые выполнены в виде пары коаксиальных цилиндров;

2) систему создания магнитного поля, выполненную так, что направление создаваемого ею однородного магнитного поля перпендикулярно как направлению движения пучка заряженных частиц, так и направлению электрического (радиального) поля - направлено вдоль цилиндрических электродов;

3) входную и выходную диафрагмы, расположенные в области между цилиндрическими электродами.

Признаками известного устройства, совпадающими с существенными признаками заявляемого устройства, являются:

1) электроды для создания поперечного направлению движения пучка заряженных частиц электрического поля, которые выполнены в виде пары коаксиальных цилиндров;

2) система создания магнитного поля, выполненная так, что направление создаваемого ею магнитного поля перпендикулярно направлению движения пучка заряженных частиц;

3) входная и выходная диафрагмы, расположенные в области между цилиндрическими электродами.

Недостатком устройства по прототипу является отсутствие пространственной фокусировки пучка анализируемых заряженных частиц, что уменьшает светосилу (чувствительность) анализатора.

При создании способа анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройства для его осуществления, объединенных единым изобретательским замыслом, ставилась задача создать в результате такие способ и устройство, в которых остались бы все положительные качества способа и устройства по прототипу и была обеспечена возможность анализа потоков ионов как по массам, так и по энергиям, при анализе по массам - возможность работы с немоноэнергетичными пучками ионов, имеющими начальный угловой разброс по скоростям, увеличилась бы светосила прибора и уменьшились его габариты.

Технический результат достигается тем, что в способе анализа заряженных частиц по энергиям и массам, включающем анализ по энергиям в электрическом поле цилиндрического конденсатора - энергоанализаторе Юза-Рожанского, анализ по массам в скрещенных электрическом и магнитном полях фильтра Вина, согласно изобретению анализ по энергиям и массам ведут в совмещенных радиальных электрическом поле энергоанализатоpa Юза-Рожанского и магнитном поле фильтра Вина и поперечном к ним продольном электрическом поле фильтра Вина, при этом угол поворота анализируемых ионов не равен способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 /20,5 (около 127°), как в известном энергоанализаторе Юза-Рожанского, а определяется условиями фокусировки заряженных частиц под действием новой совокупности трех электромагнитных полей.

Технический результат достигается тем, что в устройстве для анализа заряженных частиц по энергиям и массам, содержащем энергоанализатор Юза-Рожанского и фильтр Вина, согласно изобретению фильтр Вина выполнен цилиндрическим, энергоанализатор Юза-Рожанского и фильтр Вина расположены так, что магнитные полюса фильтра Вина охватывают цилиндрические пластины энергоанализатора Юза-Рожанского, а пластины фильтра Вина, создающие электрическое поле, выполнены в виде плоских круглых электродов, размещенных по обе стороны относительно энергоанализатора Юза-Рожанского и магнитной системы фильтра Вина, при этом детектор ионов расположен в точке поворота траектории на угол

способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 =способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 /способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 ,

где способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 - параметр, определяющий угол, при котором целевые ионы фокусируются на равновесной траектории, 1/рад,

а цилиндрические электроды выполнены с расстоянием между ними, равным

способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310

где способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 - параметр, определяющий угол, при котором нецелевые ионы максимально уходят от равновесной траектории, 1/рад.

Преимуществами заявляемого энерго-масс-анализатора по сравнению с прототипом являются возможность анализа пучков ионов как по энергиям, так и массам и при анализе по массам - работа с немоноэнергетичными потоками заряженных частиц, имеющими начальный угловой разброс по скоростям, большая светосила энерго-масс-анализатора, которые обеспечены тем, что анализ по энергиям и массам ведут в совмещенных радиальных электрическом поле энергоанализатора Юза-Рожанского и магнитном поле фильтра Вина и поперечном к ним продольном электрическом поле фильтра Вина, фильтр Вина выполнен цилиндрическим, энергоанализатор Юза-Рожанского и фильтр Вина расположены так, что магнитные полюса фильтра Вина охватывают цилиндрические пластины энергоанализатора Юза-Рожанского, а пластины фильтра Вина, создающие электрическое поле, выполнены в виде плоских круглых электродов, размещенных по обе стороны относительно энергоанализатора Юза-Рожанского и магнитной системы фильтра Вина, при этом детектор ионов расположен в точке поворота траектории на угол

способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 =способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 /способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 ,

где способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 - параметр, определяющий угол, при котором целевые ионы фокусируются на равновесной траектории, 1/рад,

а цилиндрические электроды выполнены с расстоянием между ними, равным

способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310

где способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 - параметр, определяющий угол, при котором нецелевые ионы максимально уходят от равновесной траектории, 1/рад.

Реализуемые заявляемым устройством новые функции, включающие его способность работать как в качестве энерго-, так и масс-анализатора, при работе в режиме масс-анализатора - диагностировать немоноэнергетичные пучки ионов, имеющие начальный угловой разброс по скоростям, позволяет рассматривать заявляемое устройство в новом качестве - энерго-масс-анализатора Вина-Юза-Рожанского.

Заявляемый способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство для его осуществления поясняются чертежами, приведенным на фиг.1-4.

На фиг.1 схематично изображено заявляемое устройство и даны обозначения анализирующих полей и геометрические элементы, необходимые при реализации способа: Е0 - напряженность электрического поля на равновесной траектории радиуса R; Вr=BR/r, Er=-E0R/r.

На фиг.2 показан вид сбоку (по стрелке А на фиг.1) заявляемого устройства.

На фиг.3 показаны зависимости радиального отклонения траекторий ионов от величины азимутальной составляющей скорости. Принято способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 . Начальный разброс скоростей отсутствует.

На фиг.4 показаны зависимости радиального отклонения траектории ионов от величин начальных радиальной и Z-компоненты скоростей ионов при способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 =E0/Ez0=1; E0, Ez0 - напряженности радиального и продольного анализирующих электрических полей. Принято способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 .

Устройство содержит (см. фиг.1, 2) входную диафрагму 1, аксиально-симметричную систему 2 создания радиального магнитного поля Br, два аксиально-симметричных цилиндрических электрода 3 для создания радиального электрического поля E r, два плоских электрода 4, предназначенных для создания однородного, направленного вдоль оси цилиндрических электродов (вдоль оси Z) электрического поля Ez, выходную диафрагму 5 и детектор пучка заряженных частиц 6.

Ниже приведено краткое теоретическое обоснование возможности реализации способа и создания устройства по данной заявке.

Анализатор представляет собой комбинацию энергоанализатора Юза-Рожанского (ЮР) с радиальным анализирующим электрическим полем Е0 и фильтра Вина, «свернутого» в цилиндр, с радиальным магнитным полем Br, которое создано между пластинами энергоанализатора ЮР (образующими цилиндр) и продольным (вдоль цилиндрических пластин - вдоль оси Z) однородным электрическим полем Еz (см. фиг.1, 2); назовем его энерго-масс-анализатором Вина-Юза-Рожанского (ВЮР).

Уравнения движения однозарядного иона в энерго-масс-анализаторе ВЮР в цилиндрической системе координат имеют вид:

способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310

способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310

способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310

где m - масса заряженной частицы, е - заряд электрона, с - скорость света.

Найдем условия на параметры В, Ez, E0, при которых ион, входящий в область анализирующих полей в точке с радиусом R со скоростью Vспособ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 0 при Vz0=Vr0=0, остается на траектории радиуса R и в дальнейшем при прохождении анализатора.

Из уравнения (1) следует, что

способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310

Напряженность радиального электрического поля E0, таким образом, определяет энергию заряженных частиц W0, движущихся по окружности радиуса R.

Используя уравнение (3), зададим азимутальную скорость

способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310

такую, чтобы движение вдоль оси Z отсутствовало. Из уравнений (4) и (5) получается соотношение:

способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310

из которого видно, что при фиксированных E0 и В ионы различных масс будут оставаться на главной траектории (радиусом R), если

способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310

Для позиционирования на главной траектории иона массой mi необходимо изменять Ez в соответствии с уравнением (7) - см. фиг.2.

В дальнейшем подробно будем рассматривать как до сих пор не реализованный в данной конфигурации электромагнитных полей и электродов, наиболее сложный - анализ по массам.

Выберем ион массой m0, для которого, согласно (7), выбрано Еz0 . Введем параметр способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 24593100z0 и переменные способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 =r/R, способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 =z/R, способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 =способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 0t, способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 0=еВ0/(m0с) (способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 0 - ларморовская частота). Запишем уравнения (1-3) в безразмерном виде для частицы массой mспособ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 m0, имеющей энергию способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 .

способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310

способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310

способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310

Постоянная в уравнении (10) равна: способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 при способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 =0, для массы m и энергии W. Кроме того, способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310

Тогда соотношение для энергий получается в виде:

способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310

Так как для m0, W0 из (8) следует, что при способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 =0 производная способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 то при условии {способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 =0, m, W} получим, что

способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310

Тогда постоянная в (10) равна:

способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310

и из уравнения (10) получаем следующее соотношение:

способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310

Рассмотрим случай, когда отклонения W от W0 и m от m0 малы. Начальные разбросы по скоростям dспособ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 /dспособ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 и dспособ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 /dспособ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 в момент времени способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 =0 также малы. Уравнения (8-10) в таком случае будут описывать траектории вблизи главной траектории:

W=W 0+способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 W, m=m0+способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 m,

способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310

способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310

способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 =1+способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 *.

В момент способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 =0 в первом порядке малости по способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 , способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 и производным dспособ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 */dспособ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 , dспособ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 /dспособ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 из уравнений (8-12) получим:

способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310

способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310

Учитывая, что в первом порядке малости

способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 уравнения (13) и (14) записываем так:

способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310

способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310

Начальные условия для уравнений (15), (16) имеют вид:

способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 *(0)=0, способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 (0)=0, способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310

Систему (15-16) двух линейных уравнений второго порядка сведем к одному линейному уравнению четвертого порядка:

способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310

Начальные условия для уравнения (17) имеют вид:

способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 *(0)=0; способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310

Введем функцию способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 . Для нее получим однородное уравнение:

способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310

при способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 '(0)=U; способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310

Решим для (19) характеристическое уравнение:

способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310

способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 ; способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 .

Общее решение уравнения (19) имеет вид:

способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 (способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 )=C1eспособ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 +C2e-способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 +C3cos(способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 )+C4sin(способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 ).

Постоянные интегрирования C1 , C2, C3, С4 определим из начальных условий (20):

способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310

способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310

способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310

способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310

С учетом данных результатов для траектории иона получаем следующее уравнение:

способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310

Введем обозначения способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 с учетом которых получим следующее выражение: способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310

Как видно из уравнения (21), ион пересекает траекторию радиусом R (около способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 *=0) в случае, если b1=0 и b2=0, что может осуществиться (см. фиг.3) при определенных значениях величин способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 m/способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 W и U/V, а именно при способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 и способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 Возьмем частицы, которые удовлетворяют таким условиям. Тогда для их траекторий получим следующее уравнение:

способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310

При способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 возвращение к способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 *(способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 )=0 (на радиус R) будет при способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 В случае способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 выбранные частицы сфокусируются при следующем значении угла:

способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310

В точках фокусировки ионов с способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 частицы с способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 отходят от положения способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 *(способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 )=0 на максимальное расстояние, равное способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 . Это означает, что приемник ионов в энерго-масс-анализаторе необходимо располагать в точке поворота траектории иона на угол способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 1=способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 /способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 , на котором целевые ионы с способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 m=способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 W=0 фокусируются, а ионы с способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 mспособ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 0 максимально отходят от основной траектории способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 *(способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 )=0.

Перейдем к случаю, когда b1 способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 0, но начальные поперечные скорости U и V, для упрощения расчетов, но демонстрации эффекта, равны нулю и, следовательно, b2=0. Для ионов с заданной способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 их траектории определяются величиной способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 W/W. Пусть значение способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 W/W=-Аm. Различным способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 W/W соответствуют траектории двух классов. При способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 W/W<-Аm величина b1<0, и ионы, не возвращаясь к способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 *=0, уходят при способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 на -способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 по способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 *. Однако при способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 W/W>-Аm величина b1>0, и ионы некоторое количество раз возвращаются к способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 *=0, а при способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 уходят на +способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 по способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 *. Обязательно найдется такое значение способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 W/W, которое лежит в области способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 , и при котором траектория иона с способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 пройдет через способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 *=0 при способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 =способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 1. Это означает, что в детектор будут попадать ионы и других, кроме m0, масс и для разделения ионов использование только сепарирующих возможностей данного набора электромагнитных полей недостаточно.

Для достижения поставленной цели привлечем прерывание траекторий нецелевых частиц на цилиндрических электродах анализатора (на стенках канала). Найдем условие, при котором ионы с массами, большими чем m 0+способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 m (способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 m>0), попадают на стенки, не дойдя до плоскости детектирования частиц способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 =способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 1. Расположим проводящие цилиндрические поверхности, между которыми создается радиальное электрическое поле, на расстояниях способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 и способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 Рассмотрим такую траекторию иона при каком-то, пока неизвестном способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 W/W=-Аk, когда траектория лежит обязательно выше, чем способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 Причем она касается способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 при каком-то способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 =способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 0, то есть способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 Кроме того, пусть данная траектория проходит через точку способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 , способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 =способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 1. Тогда частицы с фиксированным значением способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 вообще не попадут на фокусную плоскость способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 =способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 1. Действительно, при способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 W/W<-Ak ионы гибнут на поверхности способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 a при способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 W/W>-Аk они идут выше критической траектории способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 W/W=-Ak и гибнут на поверхности способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 . Ионы с массами, большими, чем выбранная масса m, также попадают на электроды.

Таким образом, для фиксированного отношения способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 надо определить критическую траекторию, для чего необходимо найти значения -Ak, способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 c и способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 0. Для этого есть три уравнения:

способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 *(способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 =способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 1)=способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 c;

способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310

способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 *(способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 =способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 0)=-способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 C.

Запишем эти уравнения, используя (21), при U=V=0:

способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310

способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310

способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310

Для решения системы (24-26) используем малость параметра способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 /способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 ; при этом способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 0<<1. Складывая (24) и (26), получаем:

способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310

Разлагая в уравнении (25) sin(способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 0) и sinh(способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 0) до третьего порядка по способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 0, получим:

способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310

Из уравнения (27), в свою очередь, получаем:

способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310

Подставляя (28) и (29) в уравнение (24), находим:

способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310

Траектории частиц, имеющих массы, меньшие m (способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 m<0), будут располагаться симметрично по отношению к траекториям ионов с массами, большими m (способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 m>0). Симметрия траекторий будет реализовываться относительно линии способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 *(способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 )=0. Поэтому формула (30), определяя величину |способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 c|, задает расстояние от способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 *(способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 )=0 до стенок канала, на которых гибнут ионы с массами, отличающимися от m0 на величину, большую чем |способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 m|. В результате, масс-анализ ионов в данном устройстве осуществляется и при наличии начального разброса по энергиям.

Теперь учтем конечный начальный разброс по углу для анализируемого потока ионов. Рассмотрим случай, когда b 2способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 0, т.е. способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 Обозначая через S=U(способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 2-2)+2V/способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 и решая уравнение (21), получаем, что в плоскости детектирования при способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 1=способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 /способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 к величине способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 *(способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 1) с b1=b2=0 добавляется величина способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 Для того чтобы при наличии углового разброса у ионов исходного потока на детекторе не появлялись нецелевые частицы с массами m0+способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 m, где |способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 m| существенно превышало бы |способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 m|, необходимо выполнение условия:

способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310

Используя то, что max|U|=max|V|=способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 , где способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 - максимальный угловой разброс анализируемого ионного потока, из (31) получим условие на допустимый угловой разброс:

способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310

При способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 =1 величины способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 и способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 примерно равны соответственно 0,75 и 1,9. Тогда условие (32) модифицируется:

способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310

Таким образом, заявляемый энерго-масс-анализатор обеспечивает диагностику по массам как при определенном энергетическом, так и угловом разбросе у ионов анализируемого потока.

Заявляемый способ реализуется следующим образом.

Поток анализируемых ионов с некоторым набором масс, имеющих различные энергии, входит через входную диафрагму в точке с радиусом R при способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 =0 в область энерго-масс-анализатора - в зону действия электрических полей: радиального Е0 и продольного Ez, магнитного поля В, направленного по радиусу. В отсутствие начального углового разброса ион, имеющий начальную скорость Vспособ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 0, остается на траектории радиусом R, если он имеет энергию W0, задаваемую величиной напряженности радиального электрического поля способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 , аналогично работе энергоанализатора Юза-Рожанского. Движение вдоль оси Z (уход из области выходной диафрагмы; непопадание на детектор) исключается совместным действием полей Ez и В, задающих величину скорости иона, проходящего на детектор, способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 , так же, как работает классический фильтр Вина. Ион другой массы будет оставаться на центральной основной траектории (радиусом R), если напряженность электрического поля Еz, при фиксированных Е0 и В, выбрана равной

способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310

Если отклонение массы m иона от значения m0 малы, как и начальные разбросы по скоростям U и V, то при определенных значениях величин способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 m/способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 W и U/V, когда способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 , будет наблюдаться пространственная фокусировка частиц (см. фиг.3) после поворота иона в анализаторе на угол способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 В случае способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 частицы сфокусируются при значении угла, равном способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 . В точках фокусировки ионов с способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 частицы с способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 отходят от равновесной траектории на максимальное расстояние, равное способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 .

Возможен случай при некотором значении способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 W/W, когда траектория иона с способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 пройдет через точку фокусировки частиц с способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 и в детектор будут попадать ионы и других, кроме m 0, масс. Для исключения перемешивания ионов разных масс на детекторе в энерго-масс-анализаторе по данной заявке используется, аналогично классическому фильтру скоростей Вина, прерывание траекторий нецелевых частиц (с массами, отличающимися от m0 на величину, большую чем |способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 m|) на цилиндрических электродах анализатора, которые располагаются на расстоянии друг от друга, равном способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 В результате, масс-анализ ионов в данном устройстве осуществляется и при наличии начального разброса по энергиям.

Если есть конечный начальный разброс потока анализируемых частиц по углу, нецелевые частицы не попадут на детектор, когда максимальный угловой разброс анализируемого ионного потока способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 , например, для случая равенства напряженностей радиального и продольного электрических полей не превышает величину способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 .

Таким образом, заявляемый энерго-масс-анализатор обеспечивает диагностику по массам как при наличии у ионов анализируемого потока энергетического, так и углового разброса. Для потока ионов одной массы анализатор обеспечивает измерение распределения ионов по энергиям.

Заявляемое устройство работает следующим образом.

Анализируемый поток ионов входит в заявляемое устройство - анализатор Вина-Юза-Рожанского через входную диафрагму 1 (фиг.1, 2) в точке с координатами способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 =0, r=R. На заряженные частицы начинают действовать неоднородное радиальное магнитное поле Вr цилиндрического фильтра Вина, которое создается с помощью системы создания магнитного поля 2, неоднородное радиальное электрическое поле Еr энергоанализатора Юза-Рожанского, которое создается с помощью двух цилиндрических электродов 3, и однородное электрическое поле Еz цилиндрического фильтра Вина, создаваемое системой электродов 4. В результате энерго-масс-анализа в выходную диафрагму 5 и на детектор (приемник ионов) 6 попадают ионы заданной массы и энергии. На фиг.3 и 4 приведены примеры расчетов траекторий ионов при изменении азимутальной составляющей скорости (фиг.3) и величины начальных радиальной и Z-компоненты скоростей ионов (фиг.4).

Приемник ионов 6 расположен в точке поворота траектории целевого иона на угол способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 =способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 /способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 (способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 , 1/рад), на котором данные ионы фокусируются, а ионы других масс максимально отходят от основной траектории. Цилиндрические электроды 3 анализатора выполнены с расстоянием между ними, равным

способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310

где способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 , 1/рад - параметр, определяющий угол, при котором нецелевые ионы максимально уходят от равновесной траектории и гибнут на цилиндрических электродах; способ анализа заряженных частиц по энергиям и массам и устройство   для его осуществления, патент № 2459310 - параметр, определяющий угол, при котором целевые ионы фокусируются на равновесной траектории, - на котором располагается детектор.

Класс H01J49/00 Спектрометры элементарных частиц или разделительные трубки

создающий изображение энергетический фильтр для электрически заряженных частиц и спектроскоп с подобным энергетическим фильтром -  патент 2529463 (27.09.2014)
способ масс-спектрометрического анализа газовой пробы в тлеющем разряде и устройство для его осуществления -  патент 2529009 (27.09.2014)
трубка для измерения подвижности ионов -  патент 2518055 (10.06.2014)
ионный источник тлеющего разряда с повышенной светосилой -  патент 2504859 (20.01.2014)
времяпролетный масс-спектрометр с нелинейным отражателем -  патент 2504045 (10.01.2014)
циклический масс-спектрометр газовых частиц -  патент 2504044 (10.01.2014)
дифференциальный спектрометр ионной подвижности -  патент 2503083 (27.12.2013)
способ анализа смесей химических соединений на основе разделения ионов этих соединений в линейной радиочастотной ловушке -  патент 2502152 (20.12.2013)
источник ионов для масс-спектрометра (варианты) -  патент 2499323 (20.11.2013)
метод масс-спектрометрического секвенирования пептидов и определения их аминокислотных последовательностей -  патент 2498443 (10.11.2013)
Наверх