способ измерения подкритичности ядерного реактора

Классы МПК:G21C17/04 обнаружение поврежденных стержней 
Автор(ы):
Патентообладатель(и):Федеральное государственное бюджетное учреждение "Национальный исследовательский центр "Курчатовский институт" (RU)
Приоритеты:
подача заявки:
2011-03-23
публикация патента:

Изобретение относится к физике реакторов и может быть использовано для измерения подкритичности реакторов атомных станций. Импульсный источник нейтронов ИИН помещают в ядерный реактор. Измеряют скорость счета детектора нейтронов до начала запусков ИИН (фон). Осуществляют запуск ИИН с частотой следования импульсов нейтронов более 10 Гц и измеряют полное число нейтронов в ядерном реакторе n(t) как скорость счета детектора нейтронов x(t). При установившемся в среднем постоянном числе нейтронов в реакторе в течение времени Т измеряют Y(t) - число отсчетов детектора нейтронов в реакторе с дискретностью по времени способ измерения подкритичности ядерного реактора, патент № 2450378 t, и вычисляют скорость счета x(t) детектора нейтронов. По результатам этих измерений вычисляют значение параметра Sv. Вычисляют значение экспериментальной погрешности способ измерения подкритичности ядерного реактора, патент № 2450378 Sv. По калибровочной кривой способ измерения подкритичности ядерного реактора, патент № 2450378 k=f(Sv) находят искомую подкритичность. Изобретение позволяет повысить достоверность измерения подкритичности ядерного реактора за счет исключения методической погрешности. 4 з.п. ф-лы, 3 ил. способ измерения подкритичности ядерного реактора, патент № 2450378

способ измерения подкритичности ядерного реактора, патент № 2450378 способ измерения подкритичности ядерного реактора, патент № 2450378 способ измерения подкритичности ядерного реактора, патент № 2450378

Формула изобретения

1. Способ измерения подкритичности способ измерения подкритичности ядерного реактора, патент № 2450378 k ядерного реактора, заключающийся в том, что помещают импульсный источник нейтронов ИИН в ядерный реактор, осуществляют запуск ИИН с частотой следования импульсов нейтронов более 10 Гц, измеряют полное число нейтронов в ядерном реакторе n(t) как скорость счета детектора нейтронов x(t) при установившемся в среднем постоянном числе нейтронов в реакторе и определяют подкритичность ядерного реактора, отличающийся тем, что измеряют скорость счета детектора нейтронов до начала запусков ИИН (фон), а запуски ИНН прекращают после установления в среднем постоянного числа нейтронов в реакторе, после чего в течение времени Т измеряют Y(t) - число отсчетов детектора нейтронов в реакторе с дискретностью по времени способ измерения подкритичности ядерного реактора, патент № 2450378 t, и вычисляют скорость счета x(t) детектора нейтронов по результатам этих измерений, вычисляют значение параметра Sv по формуле способ измерения подкритичности ядерного реактора, патент № 2450378

где Xi - значения функции x(t) в моменты времени i·способ измерения подкритичности ядерного реактора, патент № 2450378 t за вычетом фона,

вычисляют значение экспериментальной погрешности параметра Sv по формуле

способ измерения подкритичности ядерного реактора, патент № 2450378

где способ измерения подкритичности ядерного реактора, патент № 2450378 Sv - абсолютная погрешность параметра Sv,

Yi - числа отсчетов детектора в моменты времени i·способ измерения подкритичности ядерного реактора, патент № 2450378 t за вычетом фона,

и по калибровочной кривой способ измерения подкритичности ядерного реактора, патент № 2450378 k=f(Sv) находят искомую подкритичность и погрешность измерения подкритичности.

2. Способ по п.1, отличающийся тем, что запуски ИИН прекращают через 5-6 мин.

3. Способ по п.1, отличающийся тем, что измеряют Y(t) в течение времени Т, равном 10÷300 с.

4. Способ по п.3, отличающийся тем, что выбирают Т, равным 60 с.

5. Способ по п.1, отличающийся тем, что калибровочную кривую - зависимость подкритичности реактора от значений параметра Sv - рассчитывают из системы точечных уравнений кинетики.

Описание изобретения к патенту

Изобретение относится к физике реакторов и может быть использовано для измерения способ измерения подкритичности ядерного реактора, патент № 2450378 k - подкритичности реакторов атомных станций. Федеральные нормы и правила в области использования атомной энергии (НП-082-07) "Правила ядерной безопасности реакторных установок атомных станций" предписывают контроль подкритичности реактора до уровня способ измерения подкритичности ядерного реактора, патент № 2450378 kспособ измерения подкритичности ядерного реактора, патент № 2450378 0.02 при проведении ядерно-опасных работ (п.4.19). В пунктах этого документа п.2.3.3.15 указывается, что перед пуском реактора подкритичность реактора "должна быть не менее 0.1". В п.2.7.2.5 и п.2.7.2.6 указывается, что "подкритичность реактора в процессе перегрузки с учетом возможных ошибок должна составлять не менее 0.02." Изобретение может быть использовано для измерения подкритичности реакторов атомных станций в диапазоне 0<способ измерения подкритичности ядерного реактора, патент № 2450378 kспособ измерения подкритичности ядерного реактора, патент № 2450378 0.02 с указанием экспериментальной погрешности.

Известен способ измерений реактивности размножающей среды (Лебедев Г.В., Шикалов В.Ф. Патент на изобретение РФ № 2266577, G21C 17/104, 16.03.2004). Этот способ (прототип) заключается в том, что помещают источник нейтронов в размножающую среду, после установления стационарного состояния измеряют полное число нейтронов как скорость счета детектора нейтронов в объеме размножающей среды, а также скорость счета в отсутствие источника нейтронов, после чего определяют по формуле реактивность размножающей среды, при этом в качестве источника нейтронов используется импульсный источник нейтронов (ИИН) с частотой следования импульсов нейтронов более 10 Гц, после включения ИИН и установления стационарного в среднем состояния размножающей среды измеряют среднее значение скорости счета при включенном ИИН способ измерения подкритичности ядерного реактора, патент № 2450378 и скорость счета при выключенном ИИН n1 и определяют реактивность на каждом цикле включение-выключение по формуле

способ измерения подкритичности ядерного реактора, патент № 2450378

где способ измерения подкритичности ядерного реактора, патент № 2450378 - реактивность,

способ измерения подкритичности ядерного реактора, патент № 2450378 эф - константа запаздывающих нейтронов,

способ измерения подкритичности ядерного реактора, патент № 2450378 - среднее значение скорости счета детектора при включенном ИИН,

n1 - скорость счета детектора после выключения ИИН.

Время установления стационарного в среднем состояния равно 3-5 мин.

Цикл измерений способ измерения подкритичности ядерного реактора, патент № 2450378 и n1 составляет 1-11 секунд.

Измерение скорости счета ведут при включенном и выключенном ИИН с дискретностью (0.1-1) с.

Подкритичность по результатам определения способ измерения подкритичности ядерного реактора, патент № 2450378 может быть вычислена по известной формуле

способ измерения подкритичности ядерного реактора, патент № 2450378 k=-способ измерения подкритичности ядерного реактора, патент № 2450378 /(1-способ измерения подкритичности ядерного реактора, патент № 2450378 ).

Недостатком этого способа измерений реактивности (прототипа) является то, что вместо полного количества нейтронов, находящихся в реакторе, в формулу (1) подставляют результаты измерений скорости счета детектора нейтронов способ измерения подкритичности ядерного реактора, патент № 2450378 и n1. Как следует из формулы (1), такая подстановка возможна, если скорость счета детектора нейтронов пропорциональна полному количеству нейтронов и коэффициент пропорциональности способ измерения подкритичности ядерного реактора, патент № 2450378 для состояний размножающей среды при включенном и выключенном ИИН одинаков. В действительности, неизменность значения способ измерения подкритичности ядерного реактора, патент № 2450378 в состояниях размножающей среды с включенным и выключенным ИИН не гарантируется. Поэтому результат определения реактивности в случае непосредственного использования формулы (1) будет содержать методическую погрешность. Для учета методической погрешности вводят расчетную поправку на изменение способ измерения подкритичности ядерного реактора, патент № 2450378 . Подобный расчет по своей сложности сравним с расчетом реактивности размножающей среды без учета экспериментальных данных.

Техническим результатом, на которое направлено изобретение, является повышение достоверности измерения подкритичности ядерного реактора за счет исключения методической погрешности, во исполнение требований норм и правил (НП-082-07), что повышает безопасность работы ядерного реактора.

Для этого предложен способ измерения подкритичности ядерного реактора, заключающийся в том, что помещают импульсный источник нейтронов ИИН в ядерный реактор, осуществляют запуск ИИН с частотой следования импульсов нейтронов более 10 Гц, измеряют полное число нейтронов в ядерном реакторе n(t) как скорость счета детектора нейтронов x(t) при установившемся в среднем постоянном числе нейтронов в реакторе, и определяют подкритичность ядерного реактора, при этом измеряют скорость счета детектора нейтронов до начала запусков ИИН (фон), а запуски ИНН прекращают после установления в среднем постоянного числа нейтронов в реакторе, после чего в течение времени Т измеряют Y(t) - число отсчетов детектора нейтронов с дискретностью по времени способ измерения подкритичности ядерного реактора, патент № 2450378 t, и вычисляют скорость счета x(t) детектора нейтронов по результатам этих измерений,

вычисляют значение параметра Sv по формуле

способ измерения подкритичности ядерного реактора, патент № 2450378

Xi - значения функции x(t) в моменты времени i·способ измерения подкритичности ядерного реактора, патент № 2450378 t за вычетом фона,

вычисляют значение погрешности способ измерения подкритичности ядерного реактора, патент № 2450378 Sv по формуле

способ измерения подкритичности ядерного реактора, патент № 2450378

Yi - измеренные числа отсчетов детектора в моменты времени i·способ измерения подкритичности ядерного реактора, патент № 2450378 t за вычетом фона, и по калибровочной кривой способ измерения подкритичности ядерного реактора, патент № 2450378 k=f(Sv) находят искомую подкритичность и погрешность измерения подкритичности.

При этом запуски ИНН прекращают через 5-6 минут после начала запусков ИИН.

При этом измеряют Y(t) в течение времени Т, равном 10÷300 секунд.

Кроме того, выбирают Т, равным 60 секундам.

Калибровочную кривую - зависимость подкритичности реактора от значений параметра Sv - рассчитывают из системы точечных уравнений кинетики.

При этом вычисляют Sv и способ измерения подкритичности ядерного реактора, патент № 2450378 Sv, используя числа отсчета детектора нейтронов, начиная с момента времени 0.2 секунд после прекращения запусков ИИН.

При этом измеряют числа отсчетов детектора нейтронов Y(t) с интервалом дискретности способ измерения подкритичности ядерного реактора, патент № 2450378 t=0.1 с.

Использование в обработке экспериментальных данных Xi, полученных исключительно после выключения ИИН, когда справедливо равенство

x(t)=способ измерения подкритичности ядерного реактора, патент № 2450378 ·n(t),

где способ измерения подкритичности ядерного реактора, патент № 2450378 - константа, независящая от времени, позволит исключить методическую погрешность.

В связи с тем, что результат измерений подкритичности не будет содержать методическую погрешность, можно достоверно, в соответствии с (НП-082-07) приводить результаты измерений с учетом экспериментальной погрешности. Если результат измерений подкритичности предложенным способом будет больше 0.02 с учетом экспериментальной погрешности, то в соответствии с требованиями (НП-082-07) достаточно этот факт констатировать.

На фиг.1 дана зависимость функции x(t) в течение смоделированного эксперимента при наличии фона.

На фиг.2 дана зависимость функции x(t) смоделированного эксперимента после прекращения запусков ИИН за вычетом фона.

На фиг.3 дана расчетная зависимость значений подкритичности от значений параметра Sv, рассчитанных по формуле (4) - калибровочная кривая.

Для определения значений функции способ измерения подкритичности ядерного реактора, патент № 2450378 k=f(Sv):

- задают ряд значений способ измерения подкритичности ядерного реактора, патент № 2450378 k в интервале 0.03способ измерения подкритичности ядерного реактора, патент № 2450378 способ измерения подкритичности ядерного реактора, патент № 2450378 k>0 (рекомендуется задавать 100 значений с интервалом дискретности 0.0003),

- задают во временном интервале (-способ измерения подкритичности ядерного реактора, патент № 2450378 <tспособ измерения подкритичности ядерного реактора, патент № 2450378 0) значения функций n(t)=n0 и Q(t)=Q0 , где Q(t) - интенсивность источника нейтронов внутри реактора,

- задают при tспособ измерения подкритичности ядерного реактора, патент № 2450378 0.1 с значение Q(t)способ измерения подкритичности ядерного реактора, патент № 2450378 0.

При этих заданных условиях в результате численного решения системы точечных уравнений кинетики с интервалом дискретности способ измерения подкритичности ядерного реактора, патент № 2450378 =0.1 с в диапазоне (60способ измерения подкритичности ядерного реактора, патент № 2450378 tспособ измерения подкритичности ядерного реактора, патент № 2450378 0.1) с определяют значения ni, где ni - значения функции n(t) в моменты времени i·способ измерения подкритичности ядерного реактора, патент № 2450378 t. Считаются известными константы запаздывающих нейтронов и время жизни мгновенных нейтронов. Значения параметра Sv для построения калибровочной кривой, начиная с момента времени 0.2 с, когда заканчивается спад на мгновенных нейтронах, рассчитывают по формуле

способ измерения подкритичности ядерного реактора, патент № 2450378

В подтверждение возможности реализации измерений подкритичности реакторов атомных станций в диапазоне 0<способ измерения подкритичности ядерного реактора, патент № 2450378 kспособ измерения подкритичности ядерного реактора, патент № 2450378 0.02 с указанием экспериментальной погрешности проведено математическое моделирование эксперимента на четырех уровнях подкритичности реактора: 0.005, 0.01, 0.015, 0.02. Моделировались запуски ИИН с частотой 20 Гц, полное число нейтронов в реакторе n(t) определялось в результате численного решения системы точечных уравнений кинетики реактора с интервалом дискретности 0.01 с. Моделировались измерения значений функции n(t) как скорость счета детектора нейтронов. Скорость счета x(t) определялась по результатам расчета значений функции n(t) с интервалом дискретности способ измерения подкритичности ядерного реактора, патент № 2450378 t=0.1 с. При моделировании ИИН находился в пульсирующем состоянии в течение 5 минут вплоть до достижения стационарного в среднем количества нейтронов в реакторе. На моделируемых уровнях подкритичности задавалось значение: x(t)=1000 отсчетов в секунду при t=300 секунд и значение фона нейтронов в объеме реактора до запуска ИИН: x(t)=100 отсчетов в секунду при t<0 с (фон). Спустя 60 секунд после выключения ИИН, в результате численного решения системы точечных уравнений кинетики реактора вычислялись значения функции n(t) с интервалом дискретности способ измерения подкритичности ядерного реактора, патент № 2450378 t=0.1 с, рассчитывались соответствующие значения функции x(t). Результаты моделирования экспериментов при оговоренных условиях, на уровнях подкритичности реактора 0.005, 0.01, 0.015, 0.02 (кривые 1, 2, 3, 4 соответственно) приведены на фигуре 1. Значения функции x(t) нормированы на асимптотическое значение функции x(t), равное 1000 отсчетов в секунду при наличии фона.

Данные, приведенные на фигуре 1, свидетельствуют, что спустя 5 минут после пуска ИИН в реакторе устанавливается стационарное в среднем число нейтронов. Устанавливается это состояние тем быстрее, чем больше степень подкритичности реактора.

На фигуре 2 приведены значения функции x(t) в интервале 300.2÷360 с после выключения ИИН за вычетом фона при уровнях подкритичности реактора 0.005, 0.01, 0.015, 0.02 (кривые 1, 2, 3, 4 соответственно). Значения x(t) нормированы на значения x(t) при t=300.2 с.

Данные, приведенные на фигуре 2, показывают, что скорость уменьшения количества нейтронов в реакторе после выключения ИИН зависит от степени подкритичности реактора. Это физическое явление использовано в данном изобретении для определения искомой степени подкритичности реактора. В качестве критерия степени подкритичности реактора предложено использовать следующий параметр:

способ измерения подкритичности ядерного реактора, патент № 2450378

где Xi - значения скоростей счета детектора в моменты времени i·способ измерения подкритичности ядерного реактора, патент № 2450378 t, в моделируемом эксперименте, вычисленные по значениям функции n(t) - результата численного решения системы точечных уравнений кинетики реактора с интервалом дискретности способ измерения подкритичности ядерного реактора, патент № 2450378 t=0.1 с в течение 60 секунд после выключения ИИН за вычетом фона.

Расчет параметра Sv рекомендуется проводить спустя 0.2 секунды после отключения ИИН. Случайная абсолютная погрешность определения параметра Sv рассчитана по формуле

способ измерения подкритичности ядерного реактора, патент № 2450378

где Yi - значения чисел отсчетов детектора за интервал 0.1 с в моменты времени i·способ измерения подкритичности ядерного реактора, патент № 2450378 t, в моделируемом эксперименте, вычисленные по значениям функции n(t) - результата численного решения системы точечных уравнений кинетики реактора с интервалом дискретности способ измерения подкритичности ядерного реактора, патент № 2450378 t=0.1 с в течение 60 секунд после выключения ИИН за вычетом фона. Подстановка в этом смоделированном эксперименте значений Xi и чисел Yi в формулы (5) и (6) соответственно для уровней подкритичности 0.005, 0.01, 0.015, 0.02 дала следующие результаты:

Sv1=(443±4)·103, Sv2=(490±6)·103, Sv3 =(510±8)·103, Sv4=(525±9)·10 3.

Соответствие между параметром Sv и искомой подкритичностью установлено по калибровочной кривой, представленной на фигуре 3. Данные кривой на фигуре 3 использованы для определения искомых уровней подкритичности реактора и абсолютных погрешностей значений подкритичности в моделированных экспериментах. В результате получены следующие искомые результаты:

способ измерения подкритичности ядерного реактора, патент № 2450378 k1=(0.0050±0.0004), способ измерения подкритичности ядерного реактора, патент № 2450378 k2=(0.010±0.001), способ измерения подкритичности ядерного реактора, патент № 2450378 k3=(0.015±0.002), способ измерения подкритичности ядерного реактора, патент № 2450378 k4=(0.020±0.003).

Таким образом, предложенный способ позволяет измерить уровни подкритичности в диапазоне (0.01÷0.02) с указанием экспериментальных погрешностей в обеспечение требований ядерной безопасности при пусках и регламентных работах во время останова в соответствии с документом "Правила ядерной безопасности реакторных установок атомных станций" (НП-082-07).

Класс G21C17/04 обнаружение поврежденных стержней 

способ измерения реактивности ядерного реактора -  патент 2475873 (20.02.2013)
способ защиты активной зоны реактора ввэр по локальным параметрам с использованием показаний внутриреакторных нейтронных детекторов -  патент 2438198 (27.12.2011)
способ контроля герметичности оболочек тепловыделяющих элементов ядерного реактора -  патент 2355055 (10.05.2009)
устройство контроля герметичности оболочек твэлов -  патент 2349976 (20.03.2009)
устройство комплексного обследования элементов системы управления и защиты ядерного реактора -  патент 2282261 (20.08.2006)
устройство для бесконтактного измерения давления в сосуде -  патент 2273007 (27.03.2006)
способ контроля радионуклидов йода в водном теплоносителе атомных энергетических установок -  патент 2225648 (10.03.2004)
способ контроля, разбраковки и переработки брака тепловыделяющих элементов -  патент 2195722 (27.12.2002)
устройство для контроля за оперативным запасом реактивности на стержнях суз ядерного реактора -  патент 2179757 (20.02.2002)
способ обнаружения единичного дефекта твэла -  патент 2169955 (27.06.2001)
Наверх