способ образования двумерного линейного электрического поля и устройство для его осуществления

Классы МПК:H01J49/22 электростатическое отклонение
Автор(ы):, , ,
Патентообладатель(и):Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования Рязанский государственный радиотехнический университет (RU)
Приоритеты:
подача заявки:
2009-11-25
публикация патента:

Изобретение относится к области масс-спектрометрии, в основе которой лежит движение заряженных частиц в двумерных линейных высокочастотных электрических полях, и может быть использовано для усовершенствования конструкций приборов для масс-анализа и улучшения их аналитических и коммерческих характеристик. Устройство образования таких полей содержит плоские электроды с дискретным линейным по одной координате распределением потенциала. Для усовершенствования конструкции и системы высокочастотного питания анализаторов линейные по двум координатам электрические поля формируются с помощью двух дискретных из тонких металлических нитей с противоположными потенциалами электродов и трех сплошных заземленных электродов. Требуемое поле в рабочей области анализатора образуется путем неравномерного распределения координат нитей в плоскостях дискретных электродов, при котором заряды на электродах вдоль одной оси распределены по дискретному линейному закону. Технический результат - усовершенствование конструкции анализаторов с двумерными линейными электрическими полями, расширение возможности их использования для создания приборов для энерго- и масс-анализа. 2 н.п. ф-лы, 1 ил. способ образования двумерного линейного электрического поля и   устройство для его осуществления, патент № 2422939

способ образования двумерного линейного электрического поля и   устройство для его осуществления, патент № 2422939

Формула изобретения

1. Способ образования двумерного линейного электрического поля, заключающийся в создании по границам области плоских, параллельных оси Z, проводящих поверхностей с размерами 2х0, у 0 и L по осям X, Y и Z, отличающийся тем, что в качестве проводящих используют две дискретные с противоположными потенциалами способ образования двумерного линейного электрического поля и   устройство для его осуществления, патент № 2422939 и -способ образования двумерного линейного электрического поля и   устройство для его осуществления, патент № 2422939 поверхности х=х0 и х=-x0, составленные из параллельных оси Z и расположенных на различных расстояниях друг от друга по оси Y тонких проводящих нитей, и три непрерывные заземленные поверхности x=x0+h и х=-х0- h и у=0.

2. Устройство для образования двумерного линейного электрического поля, содержащее параллельные оси Z электроды длиной L, где L>2x0, с приложенными к ним потенциалами, отличающееся тем, что используют два расположенных в плоскостях х=х0 и х=-х0 дискретных, составленных из параллельных оси Z тонких металлических нитей с координатами, пропорциональными корню квадратному из номера нитей, электрода с размером у0 по оси Y с приложенными к ним противоположными потенциалами способ образования двумерного линейного электрического поля и   устройство для его осуществления, патент № 2422939 и -способ образования двумерного линейного электрического поля и   устройство для его осуществления, патент № 2422939 и три сплошных заземленных электрода, причем два из них с размером у0 по оси Y расположены в плоскостях x=x 0+h и x=-x0-h и один с размером 2(x0 +h) по оси X расположен в плоскости у=0.

Описание изобретения к патенту

Изобретение относится к области масс-спектрометрии, в основе которой лежит движение заряженных частиц в двумерных линейных высокочастотных электрических полях, и может быть использовано для усовершенствования конструкций масс-спектрометрических приборов и улучшения их аналитических и коммерческих характеристик. Macс-анализаторы с гиперболическими электродами неэффективны для образования двумерных линейных электрических полей с протяженными вдоль одной координаты рабочими областями [1]. Анализаторы с плоскими электродами с дискретным линейным распределением потенциала [2] и с линейно распределенной емкостью дискретных элементов [3] решают эту задачу. Техническая задача предлагаемого изобретения состоит в усовершенствовании конструктивно-технологических характеристик устройств образования двумерных линейных электрических полей, использующих системы с плоскими дискретными электродами.

Образование двумерного линейного электрического поля в рабочей области анализатора с размерами 2х0, у0, L по осям X, Y, Z при у0>>x0 можно осуществить, как и в [2,3], с помощью системы из плоских дискретных и сплошных электродов. Из электростатики известно, что электрическое поле системы зарядов определяется на основе принципа суперпозиции как сумма полей, создаваемых отдельными зарядами. При этом задачу образования электрических полей с заданным распределением потенциала в некоторой области пространства можно решать путем создания требуемого распределения поверхностных зарядов на границах этой области. Для случая двумерного линейного поля, протяженного вдоль одной оси Y, задача сводится к созданию на поверхностях х=x 0 и х=-x0 линейных по координате у распределений плотностей зарядов противоположного знака. Практически требуемое распределение зарядов на непрерывной проводящей поверхности создать затруднительно. Задача решается с помощью проводящих поверхностей, состоящих из множества дискретных элементов [2,3]. С точки зрения практической реализации представляют интерес дискретные проводящие поверхности, состоящие из одинаковых эквипотенциальных элементов. Требуемое одномерное распределение зарядов на плоских поверхностях в этом случае формируется изменением плотности элементов дискретной поверхности вдоль одной координаты. Для образования двумерного линейного электрического поля с протяженной вдоль оси Y рабочей областью достаточно использовать две плоские, дискретные по координате у, проводящие поверхности х=х0 и х=-x0. В первом приближении, если не учитывать электростатические взаимодействия между элементами поверхностей, распределения плотностей зарядов и плотностей элементов на дискретных поверхностях вдоль координаты у можно считать связанными между собой соотношением пропорциональности. Из этого следует, что для образования линейного по осям Х и Y электрического поля координаты yi элементов дискретных поверхностей х=x0 и х=-x0 должны рассчитываться по формуле

способ образования двумерного линейного электрического поля и   устройство для его осуществления, патент № 2422939

где y1 - координата первого элемента, i - порядковый номер дискретных элементов поверхностей. Формула справедлива при условии, что размер d дискретных элементов по координатам х и у значительно меньше расстояний между ними. При этом в качестве дискретных элементов проводящих поверхностей могут использоваться параллельные оси Z тонкие металлические нити круглого или другого сечения.

Для случая нитей круглого сечения анализатор с линейным по осям Х и Y электрическим полем, создаваемым дискретно распределенными по координате у зарядами, представлен на Фиг.1. Анализатор состоит из двух плоских дискретных электродов 1 и 2, расположенных в плоскостях х=x 0 и х=-x0, составленных из параллельных оси Z металлических нитей длиной L и диаметром d<<x0 , двух сплошных электродов 3 и 4 с размерами у0 и L по осям Y и Z, расположенных в плоскостях х=х0+h и х=-x0-h и одного сплошного электрода 5 с размерами 2х0 и L по осям Х и Z, расположенного в плоскости у=0. Электроды 3, 4 и 5 заземлены, а к электродам 1 и 2 приложены противофазные потенциалы -способ образования двумерного линейного электрического поля и   устройство для его осуществления, патент № 2422939 и способ образования двумерного линейного электрического поля и   устройство для его осуществления, патент № 2422939 . Электроды 3 и 4 выполняют роль экранов, а 1, 2 и 5 являются полеобразующими электродами анализатора. При равенстве диаметров и потенциалов нитей плотность распределения зарядов на них будет одинаковой. Если координаты центров нитей определить по формуле (1), плотность распределения зарядов на электродах 1 и 2 вдоль оси Y будет описываться дискретно-линейным законом. При этом в рабочей области анализатора х<x0 образуется близкое к линейному по координатам x и у электрическое поле.

Степень линейности поля ограничивается дискретностью электродов, электростатическими связями между элементами электродов и конечными размерами электродов по координате у. Отклонения поля от линейного из-за дискретности электродов могут быть снижены до требуемого уровня ограничением размера рабочей области анализатора по оси X. Нелинейность электрического поля, возникающая по двум другим причинам, минимизируется коррекцией распределения координат у нитей добавлением к (1) полиномиальной функции вида

способ образования двумерного линейного электрического поля и   устройство для его осуществления, патент № 2422939

Коэффициенты а0, а1 , а2, а3способ образования двумерного линейного электрического поля и   устройство для его осуществления, патент № 2422939 при заданных геометрических параметрах x0 , y0, d и h определяются в процессе компьютерного моделирования электрического поля в анализаторе с плоскими электродами из проводящих нитей по критерию минимума отклонений расчетного распределения потенциала в рабочей области |х|<x1 , у<у1 от двумерного линейного распределения.

Технологичная конструкция предлагаемого анализатора с плоскими сплошными и дискретными электродами из тонких металлических нитей и простой способ его электрического питания позволяют создавать на его основе эффективные приборы для фокусировки, энерго- и масс-анализа заряженных частиц с высокими аналитическими и коммерческими характеристиками.

На чертеже изображена схема анализатора заряженных частиц с двумерным линейным по осям Х и Y электрическим полем, 1, 2 - плоские дискретные электроды из тонких металлических нитей; 3, 4 - плоские заземленные экранирующие электроды; 5 - плоский заземленный полеобразующий электрод.

ЛИТЕРАТУРА

1. Мамонтов Е.В., Гуров В.С., Филиппов И.В., Дятлов Р.Н. Времяпролетное разделение ионов по удельному заряду в ВЧ-полях с квадратичным распределением потенциала // ЖТФ. - 2007. - Т.77. - Вып.7. - С.139-142.

2. Мамонтов Е.В., Филиппов И.В. Способ масс-селективного анализа ионов по времени пролета и устройство для его осуществления // Патент на изобретение № 2327245 от 03.05.2006.

3. Гуров В.С., Мамонтов Е.В., Дягилев А.А. Электродные системы с дискретным линейным распределением ВЧ-потенциала // Масс-спектрометрия. - 2007. - Т.4. - № 2. - С.139-142.

Класс H01J49/22 электростатическое отклонение

способ образования двумерного линейного высокочастотного электрического поля и устройство для его осуществления -  патент 2497226 (27.10.2013)
электростатический анализатор энергий заряженных частиц -  патент 2490750 (20.08.2013)
электростатический энергоанализатор заряженных частиц -  патент 2427055 (20.08.2011)
способ формирования двумерного линейного поля и устройство для его осуществления -  патент 2387043 (20.04.2010)
способ масс-селективного анализа ионов по времени пролета в линейном вч поле и устройство для его осуществления -  патент 2367053 (10.09.2009)
способ разделения заряженных частиц по удельному заряду и устройство для его осуществления -  патент 2293396 (10.02.2007)
способ разделения заряженных частиц по удельному заряду и устройство для его осуществления -  патент 2276426 (10.05.2006)
способ разделения ионов по удельному заряду и устройство для его осуществления -  патент 2159481 (20.11.2000)
способ разделения заряженных частиц по удельному заряду и устройство для его осуществления -  патент 2130667 (20.05.1999)
Наверх