способ оценки размеров дефектов в направлении просвечивания

Классы МПК:G01N23/18 обнаружение локальных дефектов или вкраплений
Автор(ы):, , ,
Патентообладатель(и):Открытое акционерное общество "Ижорские заводы" (RU)
Приоритеты:
подача заявки:
2009-05-04
публикация патента:

Использование: для оценки размеров дефектов в направлении просвечивания. Сущность: заключается в том, что осуществляют сравнение изображений радиографируемых на один снимок эталонных и реальных дефектов, при этом на контролируемое сварное соединение, в котором возможно наличие шлаковых включений, устанавливают, наряду с эталоном-имитатором с канавками различной ширины, но одинаковой глубины, равной предельно допустимой глубине реального пустотелого дефекта (непровары, раковины, поры), аналогичный эталон-имитатор с канавками глубиной, в 1,5 раза меньшей предельно допустимой глубины дефекта типа шлакового включения для оценки размеров в направлении просвечивания выявляемых на снимке шлаковых включений. Технический результат: повышение надежности и точности оценки размеров дефектов в направлении просвечивания.

Формула изобретения

Способ оценки размеров дефектов в направлении просвечивания, заключающийся в сравнении изображений радиографируемых на один снимок эталонных и реальных дефектов, отличающийся тем, что на контролируемое сварное соединение, в котором возможно наличие шлаковых включений, устанавливают, наряду с эталоном-имитатором с канавками различной ширины, но одинаковой глубины, равной предельно допустимой глубине реального пустотелого дефекта (непровары, раковины, поры), аналогичный эталон-имитатор с канавками глубиной, в 1,5 раза меньшей предельно допустимой глубины дефекта типа шлакового включения, для оценки размеров в направлении просвечивания выявляемых на снимке шлаковых включений.

Описание изобретения к патенту

Изобретение относится к области дефектоскопии и может быть использовано при радиографическом контроле сварных соединений.

Известен способ оценки размера дефектов в направлении просвечивания, основанный на визуальном сравнении оптических плотностей изображения канавок эталона-имитатора (эталонных дефектов) и выявленных на снимке (реальных) дефектов контролируемых изделий (см. Румянцев С.В. Радиационная дефектоскопия. М., Атомиздат, 1974, стр.262-263).

Способом, наиболее близким по своей технической сути заявляемому способу, принятым в качестве прототипа, является способ оценки размеров дефектов в направлении просвечивания, основанный на визуальном или фотометрическом сравнивании оптических плотностей изображений канавок эталона-имитатора различной глубины и выявляемых на снимке дефектов сварных соединений, причем для оценки глубины способ оценки размеров дефектов в направлении просвечивания, патент № 2399908 шлаковых включений применяют эталоны с канавками, заполненными расплавленным стеклом (см. ВСН 012-88. Строительство магистральных и промысловых трубопроводов. Контроль качества и приемка работ, ч.I).

Задачей, на решение которой направлено заявляемое изобретение, является снижение трудоемкости способа, повышение надежности и точности оценки размеров дефектов в направлении просвечивания.

Поставленная задача решается за счет того, что в способе оценки размеров дефектов в направлении просвечивания, заключающемся в сравнении изображений радиографируемых на один снимок эталонных и реальных дефектов, на контролируемое сварное соединение, в котором возможно наличие шлаковых включений, устанавливают, наряду с эталоном-имитатором с канавками различной ширины, но одинаковой глубины, равной предельно допустимой глубине реального пустотелого дефекта (непровары, раковины, поры), аналогичный эталон-имитатор с канавками глубиной, в 1,5 раза меньшей предельно допустимой глубины дефекта типа шлакового включения, который используют для оценки размеров в направлении просвечивания выявляемых на снимке шлаковых включений.

Сущность заявляемого способа заключается в учете снижения контраста изображения шлакового включения, в сравнении с таким же по размерам пустотелым дефектом, из-за наличия заполняющего дефект вещества - шлака. Известно (см. Румянцев С.В. Радиационная дефектоскопия. М., Атомиздат, 1974), что снижение радиационного контраста из-за наличия вещества заполнения дефекта описывается соотношением k3=µ(µ-µ д),

где k3 - коэффициент, учитывающий заполнение дефекта;

µ, µд - линейные коэффициенты ослабления излучения соответственно для основного металла и вещества заполнения дефекта. При этом в случае вещества заполнения плотностью способ оценки размеров дефектов в направлении просвечивания, патент № 2399908 д, меньшей, чем плотность способ оценки размеров дефектов в направлении просвечивания, патент № 2399908 основного металла, имеет место соотношение:

k3способ оценки размеров дефектов в направлении просвечивания, патент № 2399908 способ оценки размеров дефектов в направлении просвечивания, патент № 2399908 /(способ оценки размеров дефектов в направлении просвечивания, патент № 2399908 -способ оценки размеров дефектов в направлении просвечивания, патент № 2399908 д).

Полагая, что по плотности спекшийся шлак аналогичен расплавленному стеклу (способ оценки размеров дефектов в направлении просвечивания, патент № 2399908 способ оценки размеров дефектов в направлении просвечивания, патент № 2399908 2,5 г/см3) получаем для шлаковых включений в стали:

k3способ оценки размеров дефектов в направлении просвечивания, патент № 2399908 шспособ оценки размеров дефектов в направлении просвечивания, патент № 2399908 7,9/(7,9-2,5)способ оценки размеров дефектов в направлении просвечивания, патент № 2399908 1,5.

Учитывая, что контраст способ оценки размеров дефектов в направлении просвечивания, патент № 2399908 D прямо пропорционален размеру дефекта в направлении просвечивания способ оценки размеров дефектов в направлении просвечивания, патент № 2399908 d (при размерах способ оценки размеров дефектов в направлении просвечивания, патент № 2399908 d, сравнимых с нормативными предельно допустимыми размерами дефектов способ оценки размеров дефектов в направлении просвечивания, патент № 2399908 dпр.доп), имеем, что при одинаковой ширине сравниваемых эталонных и реальных дефектов и одинаковой оптической плотности фона в районах расположения их изображений на снимке контраст способ оценки размеров дефектов в направлении просвечивания, патент № 2399908 D и соответственно оптическая плотность D изображения выявленного шлакового включения будут равны контрасту способ оценки размеров дефектов в направлении просвечивания, патент № 2399908 D и оптической плотности D эталонной пустотелой канавки, имеющей глубину способ оценки размеров дефектов в направлении просвечивания, патент № 2399908 d, в 1,5 раза меньшую, чем размер способ оценки размеров дефектов в направлении просвечивания, патент № 2399908 d шлакового включения.

Таким образом, при визуальной сравнительной оценке по снимку размеров способ оценки размеров дефектов в направлении просвечивания, патент № 2399908 d выявленных шлаковых включений можно использовать эталон-имитатор с пустотелыми канавками глубиной, в 1,5 раза меньшей предельно допустимого размера шлакового включения способ оценки размеров дефектов в направлении просвечивания, патент № 2399908

Пример конкретного выполнения

Заявленным способом проводилась оценка размеров дефектов в направлении просвечивания способ оценки размеров дефектов в направлении просвечивания, патент № 2399908 шлаковых включений в сварных швах образцов, заваренных ручной дуговой сваркой. Толщина образцов - 18 мм и 25 мм. Просвечивание проводилось рентгеновским излучением (Uр.т.=200 кВ) и способ оценки размеров дефектов в направлении просвечивания, патент № 2399908 -излучением (IГ-192) на радиографическую пленку «Структурикс»-04. Параметры просвечивания соответствовали требованиям ГОСТ 7512-82. На каждый образец устанавливалось по два эталона-имитатора с канавками одинаковой глубины: способ оценки размеров дефектов в направлении просвечивания, патент № 2399908 dкан=2 мм у первого эталона, способ оценки размеров дефектов в направлении просвечивания, патент № 2399908 dкан=3 мм у второго эталона, с шириной канавок bкан=1; 2; 5; 10 мм (длина канавок 20 мм). На снимке с образца толщиной d=18 мм были выявлены шлаковые включения Ш8×2 и Ш10×6, с образца толщиной d=25 мм - шлаковые включения Ш15×5.

Оценка способ оценки размеров дефектов в направлении просвечивания, патент № 2399908 путем сравнения оптических плотностей близких по ширине изображений эталонных и реальных дефектов в условиях одинакового фона дала следующие результаты: способ оценки размеров дефектов в направлении просвечивания, патент № 2399908 ; способ оценки размеров дефектов в направлении просвечивания, патент № 2399908 (фотометрическое сравнение способ оценки размеров дефектов в направлении просвечивания, патент № 2399908 Dр.д. и способ оценки размеров дефектов в направлении просвечивания, патент № 2399908 Dэт.д. дает способ оценки размеров дефектов в направлении просвечивания, патент № 2399908 ; способ оценки размеров дефектов в направлении просвечивания, патент № 2399908 .

Фактические размеры способ оценки размеров дефектов в направлении просвечивания, патент № 2399908 d шлаковых включений, установленные по результатам вскрытия сварных образцов, составили: способ оценки размеров дефектов в направлении просвечивания, патент № 2399908 , способ оценки размеров дефектов в направлении просвечивания, патент № 2399908 , способ оценки размеров дефектов в направлении просвечивания, патент № 2399908 . При допустимом размере шлаковых включений способ оценки размеров дефектов в направлении просвечивания, патент № 2399908 проведенная оценка способ оценки размеров дефектов в направлении просвечивания, патент № 2399908 по канавочным эталонам с пустотелыми канавками нормативной глубины способ оценки размеров дефектов в направлении просвечивания, патент № 2399908 d=3 мм дает заниженную глубину выявленных шлаковых включений, что приводит к недобраковке контролируемых сварных изделий. В то же время применение эталонов с соответственно уменьшенной в 1,5 раза глубиной канавок предотвращает указанную недобраковку.

Таким образом, использование при проведении оценки размеров дефектов в направлении просвечивания эталонов-имитаторов с уменьшенной в 1,5 раза от нормативного значения способ оценки размеров дефектов в направлении просвечивания, патент № 2399908 для шлаковых включений глубиной канавок позволяет учесть снижение контраста изображений указанных дефектов из-за наличия вещества заполнения дефекта (шлака). Заполнение для этой цели канавок эталона-имитатора расплавленным стеклом в условиях производства представляет собой довольно трудоемкую, приносящую определенные неудобства в процессе проведения контроля процедуру. При этом проблематично качественно, ровным слоем заполнить стекломассой достаточно широкие сквозные канавки эталонов-имитаторов сравнительно малой толщины. К тому же стеклозаполнение сквозных канавок легко может быть разрушено в процессе использования эталонов. Стандартные канавочные эталоны по ГОСТ 7512-82 имеют канавки одинаковой ширины и для целей сравнительной оценки размеров реальных дефектов способ оценки размеров дефектов в направлении просвечивания, патент № 2399908 dр.д. малопригодны (не позволяют учесть зависимость контраста способ оценки размеров дефектов в направлении просвечивания, патент № 2399908 D от поперечного размера дефекта).

Изготовление пластинчатых эталонов-имитаторов со сквозными канавками определенной глубины (в том числе и в 1,5 раза уменьшенной от нормативного значения способ оценки размеров дефектов в направлении просвечивания, патент № 2399908 dпр.доп.) никакой сложности не представляет и может быть проведено с достаточно высокой степенью точности. Это, соответственно, снижает трудоемкость и повышает надежность оценки размеров дефектов в направлении просвечивания.

Заявленный способ применим при просвечивании сварных соединений не только на радиографическую пленку, но и на другие детекторы излучения, например, на фосфорные запоминающие пластины, используемые в методе цифровой радиографии, где оценка размера дефекта в направлении просвечивания может быть проведена путем сравнения степени потемнения (уровня серого) изображений эталонных и реальных дефектов на экране компьютера.

Класс G01N23/18 обнаружение локальных дефектов или вкраплений

установка для рентгеновского контроля сварных швов цилиндрических изделий -  патент 2529754 (27.09.2014)
способ неразрушающего рентгеновского контроля трубопроводов и устройство для его реализации -  патент 2496106 (20.10.2013)
способ радиационной дефектоскопии круговых сварных швов трубчатых элементов (варианты) и устройство для реализации способа -  патент 2493557 (20.09.2013)
способ радиационной дефектоскопии -  патент 2486496 (27.06.2013)
система управления перемещением устройства диагностики трубопровода (удт) -  патент 2451286 (20.05.2012)
способ изготовления контрольного образца лопатки из композитных материалов -  патент 2450922 (20.05.2012)
способ оценки глубины залегания дефекта -  патент 2438120 (27.12.2011)
способ радиационного контроля изделий -  патент 2437082 (20.12.2011)
способ определения глубины залегания дефекта -  патент 2437081 (20.12.2011)
способ радиографирования изделий -  патент 2437080 (20.12.2011)
Наверх