гамма-дефектоскоп

Классы МПК:G01N23/00 Исследование или анализ материалов радиационными методами, не отнесенными к группе  21/00 или  22/00, например с помощью рентгеновского излучения, нейтронного излучения
Автор(ы):, , , ,
Патентообладатель(и):Открытое акционерное общество "Научно-исследовательский институт технической физики и автоматизации" (ОАО "НИИТФА") (RU)
Приоритеты:
подача заявки:
2009-03-24
публикация патента:

Использование: для дефектоскопии с использованием гамма-излучения. Сущность заключается в том, что гамма-дефектоскоп содержит радиационную защиту с источником излучения, коллиматор и привод для перемещения источника излучения, при этом источник излучения расположен в вертикальном канале в трубчатом держателе с возможностью перемещения по вертикальной оси держателя с помощью привода, и с возможностью, при аварийном отказе привода, перемещения в вертикальном канале под действием силы тяжести вместе с держателем в положение хранения, а сменные коллимационные вставки, предназначенные для изменения параметров пучка излучения, размещаются в цилиндрическом ступенчатом проеме, расположенном перпендикулярно вертикальной оси держателя источника. Технический результат: повышение техники безопасности, удобства эксплуатации и обеспечение универсальности дефектоскопа. 2 ил., 1 табл. гамма-дефектоскоп, патент № 2395797

гамма-дефектоскоп, патент № 2395797 гамма-дефектоскоп, патент № 2395797

Формула изобретения

Гамма-дефектоскоп, содержащий радиационную защиту с источником излучения, коллиматор и привод для перемещения источника излучения, отличающийся тем, что источник излучения расположен в вертикальном канале в трубчатом держателе с возможностью перемещения по вертикальной оси держателя с помощью привода и с возможностью при аварийном отказе привода перемещения в вертикальном канале под действием силы тяжести вместе с держателем в положение хранения, а сменные коллимационные вставки, предназначенные для изменения параметров пучка излучения, размещаются в цилиндрическом ступенчатом проеме, расположенном перпендикулярно вертикальной оси держателя источника.

Описание изобретения к патенту

Изобретение относится к области исследования материалов без их разрушения, а именно к радиационной дефектоскопии, точнее к гамма-дефектоскопии.

Известны гамма-дефектоскопы для просвечивания контролируемых объектов, например устройство для радиографического контроля, содержащее блок радиационной защиты, источник излучения, выполненный в виде секторов с возможностью поворота затвора для формирования пучка излучения, и механизм управления затвором [1].

Известен гамма-дефектоскоп, содержащий блок радиационной защиты, источник излучения в своем канале, затвор и соосное каналу коллимационное устройство, причем затвор выполнен из двух подвижных частей, одна из которых может вращаться при помощи цилиндрической шестерни [2].

Гамма-дефектоскопы этого типа предназначены для работы в поле, на монтажных площадках для выполнения конкретных задач. Основным недостатком является отсутствие универсальности.

Наиболее близким по назначению и конструкции является барабанный гамма-дефектоскоп, обладающий сравнительной универсальностью, на который выдан патент на изобретение № 2343459 [3].

Известное устройство включает в себя радиационную головку, содержащую источник ионизирующего излучения, сменный ступенчатый коллиматор барабанного типа и привод для вращения коллиматора.

Недостатком этого барабанного гамма-дефектоскопа является неудобство и сложность при эксплуатации, так как для смены коллимационных вставок барабанного типа необходима «горячая камера» - защитная камера с дистанционным манипулятором для разборки и сборки гамма-дефектоскопа.

Технический результат, получаемый при реализации предлагаемого устройства, заключается в повышении техники безопасности, удобства эксплуатации и обеспечении универсальности дефектоскопа за счет возможности смены коллимационных вставок непосредственно на месте эксплуатации без изменения местоположения гамма-дефектоскопа при переводе источника из «рабочего положения» в «положение хранения» и возможности перемещения источника в канале радиационной головки под действием силы тяжести вместе с держателем в положение хранения.

Указанный технический результат достигается за счет того, что в гамма-дефектоскопе, содержащем радиационную защиту с источником излучения и коллиматором, и привод для перемещения источника излучения, источник излучения расположен в вертикальном канале в трубчатом держателе с возможностью перемещения по вертикальной оси держателя с помощью привода, и с возможностью, при аварийном отказе привода, перемещения в вертикальном канале под действием силы тяжести вместе с держателем в положение хранения, а сменные коллимационные вставки, предназначенные для изменения параметров пучка излучения, размещаются в цилиндрическом ступенчатом проеме, расположенном перпендикулярно вертикальной оси держателя источника.

Предлагаемое устройство показано на фиг.1.

Устройство включает в себя радиационную защиту 1, содержащую источник ионизирующего излучения 2 в трубчатом держателе 3, размещенный в вертикальном канале с возможностью вертикального перемещения от привода 6, сменные ступенчатые коллимационные вставки 4 с радиационно-защитным экраном 5, размещенные в проеме защиты 1 перпендикулярно оси трубчатого держателя 3.

Устройство работает следующим образом.

Устройство устанавливают в заданное место, снимают защитный экран 5, устанавливают по необходимости нужную коллимационную вставку 4, прицеливают на исследуемый объект по световому лучу. Дистанционно, с помощью привода 6, источник 2 выводят в рабочее положение и проводят просвечивание. По окончании просвечивания или при необходимости замены коллимационной вставки 4 источник 2 с помощью привода 6 переводят в положение хранения. При аварийном отказе привода 6 перевод источника 2 осуществляется под действием силы тяжести держателя 3. Вставка 4 меняется для изменения параметров пучка излучения. Перед заменой вставки 4 источник 2 переводят в положении хранения для выполнения требований радиационной безопасности. Замену вставки производят непосредственно на месте эксплуатации без изменения расположения гамма-дефектоскопа.

В процессе экспериментальной проверки предлагаемого изобретения был разработан пилотный образец универсального гамма-дефектоскопа. В таблице 1 приведены состав и технические параметры данного образца.

Таблица 1
Технические параметры гамма-дефектоскопа
№ п/п Наименование параметра Технические характеристики
1. Источники излучения Кобальт-60, тип ГК60М82. Источник отвечает требованиям, предъявляемым к радиоактивному веществу особого вида
2. Эквивалентная активность источника, ТБк (Ки), не более 0,76 (20,46)
3. Габаритные размеры, мм гамма-дефектоскоп, патент № 2395797
гамма-дефектоскоп, патент № 2395797 - диаметр 5+0,1
гамма-дефектоскоп, патент № 2395797 - длина 7,3+0,1
4. Размеры пятна пучка гамма-излучения на расстоянии 1000 мм от среза коллиматоров, мм гамма-дефектоскоп, патент № 2395797
гамма-дефектоскоп, патент № 2395797 - веерный 500×15
гамма-дефектоскоп, патент № 2395797 - конусный, диаметр 500
5. Электропитание гамма-дефектоскоп, патент № 2395797
гамма-дефектоскоп, патент № 2395797 - напряжение, В 220
гамма-дефектоскоп, патент № 2395797 Частота, Гц 50±1
6. Условия эксплуатации Стационарные, отапливаемые помещения с вентиляцией и кондиционированием
гамма-дефектоскоп, патент № 2395797 среда воздух
гамма-дефектоскоп, патент № 2395797 температура, К (°С) от 278 до 313 (от плюс 5 до плюс 40)
гамма-дефектоскоп, патент № 2395797 влажность, % при температуре +25 С, не более 80
7. Назначенный срок службы, лет не менее 5
Параметры гамма-дефектоскопа и составных частей УКТ
№ п/пТип Габаритные размеры, мм Масса, кг, не более
1.Технический стационарный универсальный дефектоскоп L×B×H 830×520×1000 гамма-дефектоскоп, патент № 2395797
2.Головка гамма-дефектоскопа гамма-дефектоскоп, патент № 2395797 ×Н270×290 гамма-дефектоскоп, патент № 2395797
3.Тележка с приводом L×B×H 830×520×1000 гамма-дефектоскоп, патент № 2395797

Полностью укомплектованный пилотный образец универсального гамма-дефектоскопа показан на фиг.2. Он состоит из головки в радиационной защите, тележки типа ТП20МК для перемещения гамма-дефектоскопа с приводом для перемещения головки, светоуказателя для прицеливания излучения в заданную точку, блока управления гамма-дефектоскопом и перемещением источника излучения, а также дополнительных конструктивных элементов, обеспечивающих крепление оборудования и защиту от излучения.

Радиационная защита головки гамма-дефектоскопа предназначена для ослабления дозы гамма-излучения от источника излучения, расположенного в пенале до величины, определяемой радиационной безопасностью, а также для размещения коллимационных вставок, обеспечивающих формирование в рабочем положении источника гамма-дефектоскопа заданного пятна пучка гамма-излучения на испытуемом объекте.

Гамма-дефектоскоп предназначен для проведения работ по радиографии, радиометрии и радиоскопии со стандартными радионуклидными источниками в стационарных отапливаемых помещениях.

Экспериментальная проверка показала, что предложенная совокупность конструктивных признаков необходима и достаточна для обеспечения заявленного технического результата.

Сопоставительный анализ аналогичных технических решений, описанных в патентной и научно-технической литературе, показал, что предложенное техническое решение является новым и для специалистов явным образом не следует из уровня техники, имеет изобретательский уровень, промышленно осуществимо и применимо в указанной области, то есть соответствует критериям изобретения.

Источники информации

1. Устройство для радиографического контроля, авторское свидетельство СССР № 381981, G01N 23/00, 1970 г.

2. Гамма-дефектоскоп, авторское свидетельство СССР № 1457575, G01N 23/18, 1986 г.

3. Гамма-дефектоскоп, патент на изобретение № 23434595, G01N 23/18, 2006 г.

Класс G01N23/00 Исследование или анализ материалов радиационными методами, не отнесенными к группе  21/00 или  22/00, например с помощью рентгеновского излучения, нейтронного излучения

установка для рентгеновского контроля сварных швов цилиндрических изделий -  патент 2529754 (27.09.2014)
способ определения загрязненности неметаллическими включениями стальных изделий -  патент 2526227 (20.08.2014)
устройство для осуществления контроля шероховатости поверхности -  патент 2524792 (10.08.2014)
мобильный обнаружитель опасных скрытых веществ (варианты) -  патент 2524754 (10.08.2014)
рентгеноспектральный анализ негомогенных материалов -  патент 2524559 (27.07.2014)
способ определения концентрации элемента в веществе сложного химического состава -  патент 2524454 (27.07.2014)
способ измерения поверхностной плотности преимущественно гетерогенных грунтов -  патент 2524042 (27.07.2014)
усовершенствованная система безопасности для досмотра людей -  патент 2523771 (20.07.2014)
способ изготовления эталонов для рентгенофлуоресцентного анализа состава тонких пленок малокомпонентных твердых растворов и сплавов -  патент 2523757 (20.07.2014)
установка для проверки объектов посредством электромагнитных лучей, прежде всего рентгеновских лучей -  патент 2523609 (20.07.2014)
Наверх