способ определения толщины диэлектрического покрытия

Классы МПК:G01N22/00 Исследование или анализ материалов с использованием сверхвысоких частот
Автор(ы):
Патентообладатель(и):Институт проблем управления им. В.А. Трапезникова РАН (RU)
Приоритеты:
подача заявки:
2008-06-06
публикация патента:

Способ определения толщины диэлектрического покрытия, нанесенного на металлическую подложку, включает возбуждение в диэлектрическом покрытии поверхностных электромагнитных волн и прием этих волн при их распространении по диэлектрическому покрытию. Согласно изобретению в диэлектрическом покрытии при его возбуждении допускают существование поверхностной электромагнитной волны типа НЕ11 и в процессе приема этого типа волны при ее распространении по диэлектрическому покрытию фиксируют затухание указанного типа волны и при достижении полного затухания определяют толщину покрытия по предложенной расчетной формуле. Изобретение обеспечивает упрощение процедуры измерения толщины диэлектрического покрытия. 1 ил.

способ определения толщины диэлектрического покрытия, патент № 2369862

Формула изобретения

Способ определения толщины диэлектрического покрытия, нанесенного на металлическую подложку, при котором возбуждают в диэлектрическом покрытии поверхностные электромагнитные волны и принимают эти волны при их распространении по диэлектрическому покрытию, отличающийся тем, что в диэлектрическом покрытии при его возбуждении допускают существование поверхностной электромагнитной волны типа НЕ 11 и в процессе приема этого типа волны при ее распространении по диэлектрическому покрытию фиксируют затухание указанного типа волны и при достижении полного затухания определяют толщину покрытия по формуле:

способ определения толщины диэлектрического покрытия, патент № 2369862

где d - толщина диэлектрического покрытия, способ определения толщины диэлектрического покрытия, патент № 2369862 - длина волны типа НЕ11, способ определения толщины диэлектрического покрытия, патент № 2369862 1 - диэлектрическая проницаемость воздуха, способ определения толщины диэлектрического покрытия, патент № 2369862 2 - диэлектрическая проницаемость покрытия.

Описание изобретения к патенту

Изобретение относится к области измерительной техники и может быть использовано в системах управления технологическими процессами.

Известен способ, реализуемый емкостным датчиком толщины покрытия (см. И.Чеховский. Контроль толщины эмали на кузове, «Радио» № 1, 2004, стр.47), при котором о толщине покрытия эмали на кузове легкового автомобиля судят по измерению емкости двух последовательно включенных конденсаторов, соединенных с измерителем емкости.

Недостатками этого способа являются контактность датчика с контролируемой поверхностью и погрешность измерения из-за температурных влияний на емкость конденсаторов.

Наиболее близким техническим решением к предлагаемому является принятый автором за прототип способ определения толщины диэлектрических слоев (см. В.А.Викторов, Б.В.Лункин, А.С.Совлуков «Радиоволновые измерения параметров технологических процессов», М.: Энергоиздат 1989, стр.59).Этот способ, реализуемый указанным устройством, основан на использовании поверхностных волн для возбуждения и съема, которых применяются контактирующие с контролируемой средой диэлектрические призмы с основаниями равносторонних прямоугольных треугольников. В этой разработке при прохождении затухающей волны через воздушные зазоры призм измерение критической частоты f кр этой волны и наклона S дисперсионной кривой вблизи f кр позволяет получить выражения, связывающие толщину и диэлектрическую проницаемость с характеристиками волны. В итоге в зависимости от значений рабочей частоты и углов падения и приема сигнала по значениям параметров S и fкр вычисляют толщину и диэлектрическую проницаемость контролируемого слоя.

Недостатком данного способа измерения можно считать сложность определения толщины, связанную с возбуждением и съемом поверхностных волн.

Задачей заявленного технического решения является упрощение процедуры измерения толщины диэлектрического покрытия.

Поставленная задача решается тем, что в способе определения толщины диэлектрического покрытия, нанесенного на металлическую подложку, основанном на возбуждении в диэлектрическом покрытии поверхностных электромагнитных волн и их приеме, допускают существование в контролируемой среде поверхностной электромагнитной волны типа НЕ11 и в процессе приема этого типа волны при ее распространении по диэлектрическому покрытию, фиксируют затухание указанной волны и при полном затухании определяют толщину покрытия по формуле

способ определения толщины диэлектрического покрытия, патент № 2369862

где d - толщина диэлектрического покрытия; способ определения толщины диэлектрического покрытия, патент № 2369862 - длина НЕ11 волны; способ определения толщины диэлектрического покрытия, патент № 2369862 2 - диэлектрическая проницаемость покрытия; способ определения толщины диэлектрического покрытия, патент № 2369862 2 - диэлектрическая проницаемость воздуха.

Сущность заявленного изобретения, характеризуемого совокупностью указанных выше признаков, состоит в том, что при возбуждении поверхностных электромагнитных волн в диэлектрическом покрытии полное затухание распространяющейся по диэлектрическому покрытию волны служит для определения толщины покрытия, нанесенного на металлическую подложку.

Наличие в заявленном способе совокупности перечисленных существующих признаков позволяет решить поставленную задачу определения толщины диэлектрического покрытия на основе оценки величины затухания распространяющейся по диэлектрическому покрытию волны с желаемым техническим результатом, т.е. упрощением процедуры измерения.

На чертеже приведена функциональная схема устройства, реализующего предлагаемый способ.

Устройство, реализующее данное техническое решение, содержит электромагнитный генератор перестраиваемой частоты 1, подключенный выходом с первым элементом связи 2, осуществляющим возбуждение поверхностных электромагнитных волн в диэлектрическом покрытии 3, второй элемент связи 4, соединенный с входом амплитудного детектора 5, и индикатор 6. На чертеже цифрой 7 обозначена металлическая подложка. Суть предлагаемого способа заключается в использовании характеристик распространения поверхностных электромагнитных волн, возбужденных в диэлектрическом покрытии, нанесенном на металлическую подложку.

Как известно, при наклонном падении электромагнитных волн на поверхность раздела двух диэлектриков, по диэлектрику, имеющему более высокую диэлектрическую проницаемость, будут распространяться так называемые гибридные волны, имеющие все шесть составляющих электрического и магнитного полей. Среди бесчисленного множества типов волн, могущих существовать в диэлектрической среде с боле высокой диэлектрической проницаемостью (ДВДП), наибольший интерес представляет дипольная волна типа НЕ11. Напряженность поля этого типа волны спадает по экспоненциальному закону в радиальном направлении при удалении от поверхности диэлектрика ДВДП. Часть энергии передается внутри этого диэлектрика, а остальная движется по этому диэлектрику. Излучение энергии при этом не происходит: поле как бы «прижимается» к диэлектрику ДВДП. Волну, обладающую подобными свойствами, принято называть поверхностной.

На практике для возникновения поверхностных электромагнитных волн и их канализации используют диэлектрические волноводы с различной формой и конструкцией. При этом затухание волн в диэлектрическом волноводе зависит от тангенса угла потерь используемого диэлектрика и убывает с уменьшением отношения толщины, например, плоского волновода к длине волны.

С учетом выше приведенного рассуждения в данном случае контролируемое диэлектрическое покрытие можно рассматривать как плоский диэлектрический волновод, имеющий поверхность раздела первого диэлектрика (воздушная среда с меньшей диэлектрической проницаемостью) и второго диэлектрика (диэлектрическое покрытие с большей диэлектрической проницаемостью).

Согласно предлагаемому техническому решению диэлектрическое покрытие (плоский диэлектрический волновод) должно работать на одной волне типа НЕ11. При этом для существования в покрытии этого типа волны толщина покрытия d должна быть меньше, чем способ определения толщины диэлектрического покрытия, патент № 2369862 где способ определения толщины диэлектрического покрытия, патент № 2369862 - длина волны типа НЕ11, способ определения толщины диэлектрического покрытия, патент № 2369862 1 - диэлектрическая проницаемость воздуха, способ определения толщины диэлектрического покрытия, патент № 2369862 2 - диэлектрическая проницаемость покрытия.

Этот выкладок вытекает из того факта, что критическая длина волны способ определения толщины диэлектрического покрытия, патент № 2369862 кр ближайшего высшего типа волны составляет:

способ определения толщины диэлектрического покрытия, патент № 2369862 .

Отсюда следует, что условием существования и распространения волны НЕ11 является неравенство способ определения толщины диэлектрического покрытия, патент № 2369862 <способ определения толщины диэлектрического покрытия, патент № 2369862 кp и условием существования и распространения ближайшего высшего типа волны - способ определения толщины диэлектрического покрытия, патент № 2369862 >способ определения толщины диэлектрического покрытия, патент № 2369862 кр. Следовательно, при равенстве способ определения толщины диэлектрического покрытия, патент № 2369862 =способ определения толщины диэлектрического покрытия, патент № 2369862 кр может наблюдаться отсутствие как НЕ11 , так и высшего типа волн, т.е. затухание уже существующей в диэлектрическом покрытии волны НЕ11. В силу этого условием полного затухания волны типа НЕ11 с учетом толщины покрытия может являться выражение:

способ определения толщины диэлектрического покрытия, патент № 2369862

Из полученной формулы видно, что при известных значениях длины способ определения толщины диэлектрического покрытия, патент № 2369862 волны HE11,

способ определения толщины диэлектрического покрытия, патент № 2369862 1 и способ определения толщины диэлектрического покрытия, патент № 2369862 2 можно определить толщину покрытия. При этом следует отметить, что слежение за толщиной покрытия можно осуществить путем изменения длины волны (частоты колебаний) с затуханием рабочей волны, распространяющейся по диэлектрическому покрытию.

Проиллюстрируем поведение толщины покрытия на числовом примере в зависимости от длины волны. Пусть способ определения толщины диэлектрического покрытия, патент № 2369862 =8 мм. Тогда при, например, способ определения толщины диэлектрического покрытия, патент № 2369862 2=4 (здесь принимается, что способ определения толщины диэлектрического покрытия, патент № 2369862 1способ определения толщины диэлектрического покрытия, патент № 2369862 1), dспособ определения толщины диэлектрического покрытия, патент № 2369862 3 мм. Теперь пусть dспособ определения толщины диэлектрического покрытия, патент № 2369862 2 мм. Тогда длину волны необходимо уменьшить до 5,2 мм, т.е. увеличить частоту колебаний. Из этого числового примера следует, что для определения толщины покрытия необходимо выбрать такую длину волны, при которой имело бы место полное затухание волны типа НЕ11 без учета тангенса угла потерь используемого диэлектрика.

Устройство, реализующее предлагаемый способ, работает следующим образом. Электромагнитный сигнал с выхода электромагнитного генератора перестраиваемой частоты 1 поступает в первый элемент связи 2. С помощью этого элемента связи возбуждают в диэлектрическом покрытии волну типа НЕ 11. Для возбуждения этого типа волны и ее распространения по диэлектрическому покрытию 3 необходимо, чтобы толщина покрытия была меньше 1/2 длины рабочей волны. После этого посредством второго элемента связи 4, расположенного против первого элемента связи по линии распространения рабочей волны на расстоянии, не оказывающем существенного влияния на напряженность поля этой волны, улавливают распространяющуюся по диэлектрическому покрытию волну, которую далее переносят в амплитудный детектор 5. Здесь измеряют амплитуду напряженности, например, электрического поля указанной рабочей волны. По выходному сигналу амплитудного детектора оценивают характер затухания данной рабочей волны в зависимости от изменения толщины диэлектрического покрытия, нанесенного на металлическую подложку 7. При этом нулевое значение выходного сигнала амплитудного детектора, соответствующее полному затуханию волны, дает возможность определить толщину покрытия по формуле (1). Для этого необходимым является измерение частоты колебаний генератора 1 (длины волны) со знанием способ определения толщины диэлектрического покрытия, патент № 2369862 1 и способ определения толщины диэлектрического покрытия, патент № 2369862 2. В устройстве для фиксации выходного сигнала амплитудного детектора используется индикатор 6. Таким образом, согласно предлагаемому способу на основе фиксирования и оценки полного затухания распространяющейся по контролируемой среде волны типа НЕ11 можно обеспечить упрощение процедуры измерения толщины диэлектрического покрытия, нанесенного на металлическую основу.

Класс G01N22/00 Исследование или анализ материалов с использованием сверхвысоких частот

резонансное устройство для ближнеполевого свч-контроля параметров материалов -  патент 2529417 (27.09.2014)
устройство для измерения свойства диэлектрического материала -  патент 2528130 (10.09.2014)
контрольное устройство миллиметрового диапазона -  патент 2521781 (10.07.2014)
система и способ досмотра субъекта -  патент 2517779 (27.05.2014)
способ определения электропроводности и толщины полупроводниковых пластин или нанометровых полупроводниковых слоев в структурах "полупроводниковый слой - полупроводниковая подложка" -  патент 2517200 (27.05.2014)
способ определения электропроводности и энергии активации примесных центров полупроводниковых слоев -  патент 2516238 (20.05.2014)
антенна-аппликатор и устройство для определения температурных изменений внутренних тканей биологического объекта путем одновременного неинвазивного измерения яркостной температуры внутренних тканей на разных глубинах -  патент 2510236 (27.03.2014)
способ измерения комплексной диэлектрической проницаемости жидких и сыпучих веществ -  патент 2509315 (10.03.2014)
свч способ обнаружения и оценки неоднородностей в диэлектрических покрытиях на металле -  патент 2507506 (20.02.2014)
способ обнаружения и идентификации взрывчатых и наркотических веществ и устройство для его осуществления -  патент 2507505 (20.02.2014)
Наверх