способ обработки фторопластовых изделий

Классы МПК:H01L21/306 обработка химическими или электрическими способами, например электролитическое травление
Автор(ы):, ,
Патентообладатель(и):ГОСУДАРСТВЕННОЕ ОБРАЗОВАТЕЛЬНОЕ УЧРЕЖДЕНИЕ ВЫСШЕГО ПРОФЕССИОНАЛЬНОГО ОБРАЗОВАНИЯ "ДАГЕСТАНСКИЙ ГОСУДАРСТВЕННЫЙ ТЕХНИЧЕСКИЙ УНИВЕРСИТЕТ" (ДГТУ) (RU)
Приоритеты:
подача заявки:
2008-07-17
публикация патента:

Изобретение относится к технологии изготовления полупроводниковых приборов и интегральных схем, в частности к способам обработки фторопластовых изделий после технологических операций. Сущность изобретения: способ предусматривает обработку фторопластовых изделий после технологических операций для удаления различных загрязнений и резистивных слоев. Обработку проводят в две стадии, причем на первой стадии обработку проводят в растворе серной кислоты (H2SO4) и перекиси водорода

2О2) в соотношении 1:1 при температуре Т=140±5°С в течение 5 минут, а на второй стадии проводят отмывку в теплой деионизованной воде (Н2 О) при температуре Т=65-70°С в течение 5 минут, далее отмывку ведут в двух ваннах с переливом на четыре стороны, с расходом воды 450±50 л/ч, время отмывки - по 5 минут в каждой из ванн, контроль очистки проводят под лучом сфокусированного света, количество светящихся точек достигает не более 5 штук. Техническим результатом изобретения является полное удаление загрязнений и резистивных слоев с фторопластовых изделий.

Формула изобретения

Способ обработки фторопластовых изделий, включающий обработку фторопластовых изделий после технологических операций для удаления различных загрязнений и резистивных слоев, отличающийся тем, что обработку проводят в две стадии, причем на первой стадии обработку проводят в растворе серной кислоты (H2SO 4) и перекиси водорода (Н2O2) в соотношении 1:1 при температуре Т=140±5°С в течение 5 мин, а на второй стадии проводят отмывку в теплой деионизованной воде (Н 2О) при температуре Т=65-70°С в течение 5 мин, далее отмывку ведут в двух ваннах с переливом на четыре стороны, с расходом воды 450±50 л/ч, время отмывки - по 5 мин в каждой из ванн, контроль очистки проводят под лучом сфокусированного света, количество светящихся точек достигает не более 5 штук.

Описание изобретения к патенту

Изобретение относится к технологии изготовления полупроводниковых приборов и ИС, в частности к способам обработки фторопластовых изделий после технологических операций.

Известны способы обработки, сущность которых состоит в удалении различных загрязнений и удаление резистивных слоев в: щавелевой кислоте, калие двухромовокислом и натрие двухромовокислом [1].

Основным недостатком этих способов является неполное удаление загрязнений и резистивных слоев.

Целью изобретения является полное удаление загрязнений и резистивных слоев с фторопластовых изделий.

Поставленная цель достигается использованием раствора, в состав которого входят следующие основные компоненты: серная кислота (H2SO4), перекись водорода (H2O2) в соотношении 1:1 при температуре обработки - 140±5°С. Затем проводят отмывку во второй ванне с теплой деионизованной водой при температуре, равной 65÷70°С, в течение 5 минут. Далее отмывку ведут в двух ваннах с переливом на четыре стороны и расходом деионизованной воды 450±50 л/ч. Время отмывки - по 5 минут в каждой из ванн.

Сущность способа заключается в том, что с фторопластовых изделий полностью происходит удаление загрязнений и резистивных слоев в растворе, содержащем следующие компоненты: серная кислота (H 2SO4) и перекись водорода (H2O 2).

Предлагаемый способ отличается от известного тем, что обработка в кислотах

(H2SO 4) и перекиси водорода (H2O2) позволяет очистить фторопластовые изделия от различных загрязнений и резистивных слоев, внесенных технологическими процессами, так как состояние изделий влияет на качество последующих операций.

Раствор включает следующие соотношения компонентов

H2SO4: H2O2=1:1 при температуре Т=140±5°С.

Контроль очистки проводят под лучом сфокусированного света, количество светящихся точек достигает не более 5 штук.

Сущность изобретения подтверждается следующими примерами.

ПРИМЕР 1. Процесс проводят в две стадии, причем на первой стадии обработку ведут в растворе серной кислоты (H2SO4) и перекиси водорода (H2O2) в соотношении 3:1 при температуре Т=100°С в течение 5 минут, а на второй стадии проводят отмывку в теплой деионизованной воде (H2 O) при температуре Т=65-70°С в течение 5 минут, далее отмывку ведут в двух ваннах с переливом на четыре стороны и расходом деионизованной воды 450±50 л/ч, время отмывки - по 5 минут в каждой из ванн.

H2SO4:H 2O2=3:1 при температуре Т=100±5°С.

Контроль очистки проводят под лучом сфокусированного света, количество светящихся точек достигает не более 10 штук.

ПРИМЕР 2. Способ осуществляют аналогично примеру 1. Процесс проводят при соотношении компонентов

H2SO4:H2O2=2,5: 1 при температуре Т=110±5°С.

Контроль очистки проводят под лучом сфокусированного света, количество светящихся точек достигает не более 8 штук.

ПРИМЕР 3. Способ осуществляют аналогично примеру 1. Процесс проводят при соотношении компонентов

H2SO 4:H2O2=2:1 при температуре Т=120±5°С.

Контроль очистки проводят под лучом сфокусированного света, количество светящихся точек достигает не более 7 штук.

ПРИМЕР 4. Способ осуществляют аналогично примеру 1. Процесс проводят при соотношении компонентов

H2SO4:H2O2=1:1 при температуре Т=130±5°С.

Контроль очистки проводят под лучом сфокусированного света, количество светящихся точек достигает не более 6 штук.

ПРИМЕР 5. Способ осуществляют аналогично примеру 1. Процесс проводят при соотношении компонентов

H2SO4: H 2O2=1:1 при температуре Т=140±5°С.

Контроль очистки проводят под лучом сфокусированного света, количество светящихся точек достигает не более 5 штук.

Как следует из результатов опытов одним из самых эффективных растворов обработки фторопластовых изделий является раствор, состоящий из следующих компонентов: серная кислота (H 2SO4), перекись водорода (H2O 2) в следующих соотношениях

H2 SO4:H2O2=1:1 при температуре Т=140±5°С.

Таким образом, обработку фторопластовых изделий от резистивного слоя и различных загрязнений после фотолитографии дает возможность подготовить фторопластовые изделия с определенной чистотой для дальнейших технологических операций.

ЛИТЕРАТУРА

1. А.И.Курносов. Материалы для полупроводниковых приборов и интегральных схем. - М.: «Высшая школа», 1980, 327 с.

Класс H01L21/306 обработка химическими или электрическими способами, например электролитическое травление

устройство химико-динамического травления германиевых подложек -  патент 2520955 (27.06.2014)
способ и устройство отмывки и сушки подложек -  патент 2510098 (20.03.2014)
способ очистки и получения пористой поверхности полупроводниковых пластин -  патент 2507630 (20.02.2014)
способ очистки поверхности полупроводниковых пластин -  патент 2495512 (10.10.2013)
способ консервации поверхности подложек из арсенида галлия -  патент 2494493 (27.09.2013)
способ формирования полости в подложке из арсенида галлия -  патент 2488189 (20.07.2013)
способ изготовления чипов наногетероструктуры и травитель -  патент 2485628 (20.06.2013)
способ изготовления универсальных датчиков состава газа -  патент 2449412 (27.04.2012)
кассета для жидкостной обработки полупроводниковых пластин -  патент 2432638 (27.10.2011)
способ травления материала на основе кремния с образованием кремниевых столбиков и перезаряжаемый литиевый аккумулятор с анодом, выполненным из материала, травленного этим способом -  патент 2429553 (20.09.2011)
Наверх