способ масс-селективного анализа ионов по времени пролета в линейном вч поле и устройство для его осуществления

Классы МПК:H01J49/22 электростатическое отклонение
Автор(ы):, , ,
Патентообладатель(и):Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования Рязанский государственный радиотехнический университет (RU)
Приоритеты:
подача заявки:
2008-06-10
публикация патента:

Изобретение относится к области масс-селективного анализа заряженных частиц в двумерных линейных ВЧ полях и может быть использовано для улучшения аналитических, эксплуатационных и потребительских свойств масс-спектрометров времяпролетного типа. Способ масс-селективного анализа состоит в формировании двумерного линейного периодического по оси Х ВЧ поля и осуществления в нем времяпролетного разделения ионов по удельному заряду. Периодическое поле состоит из элементарных двумерных линейных электрических ВЧ полей в областях у>0 и у<0, сдвинутых относительно друг друга по оси Х на величину х0. Анализируемые ионы вводятся в рабочий объем анализатора и совершают в плоскости XOY(n-2)/2 близких к периодическим с периодом 2х0 колебаний. Время дрейфа ионов в анализаторе оказывается пропорциональным массе заряженных частиц и числу (n-2) элементарных ВЧ полей. Способ и устройство масс-селективного разделения заряженных частиц в периодических двумерных линейных ВЧ полях увеличивают время движения ионов в анализаторе, обладают свойством пространственно-временной фокусировки ионов с различными начальными координатами по осям Х и Z, энергиям и углам влета, что позволяет улучшить аналитические характеристики радиочастотных времяпролетных масс-спектрометров и усовершенствовать их конструкцию. 2 н.п. ф-лы, 1 ил. способ масс-селективного анализа ионов по времени пролета в линейном   вч поле и устройство для его осуществления, патент № 2367053

способ масс-селективного анализа ионов по времени пролета в линейном   вч поле и устройство для его осуществления, патент № 2367053

Формула изобретения

1. Способ масс-селективного анализа ионов по времени пролета в линейном ВЧ поле, отличающийся тем, что с помощью системы из двух наборов по n/2 в положительной у>0 и отрицательной успособ масс-селективного анализа ионов по времени пролета в линейном   вч поле и устройство для его осуществления, патент № 2367053 0 полусферах граничных поверхностей x=(i-1)x0 , где i=1, 3способ масс-селективного анализа ионов по времени пролета в линейном   вч поле и устройство для его осуществления, патент № 2367053 (n-1) при успособ масс-селективного анализа ионов по времени пролета в линейном   вч поле и устройство для его осуществления, патент № 2367053 0 и i=2, 4способ масс-селективного анализа ионов по времени пролета в линейном   вч поле и устройство для его осуществления, патент № 2367053 n при успособ масс-селективного анализа ионов по времени пролета в линейном   вч поле и устройство для его осуществления, патент № 2367053 0, с размерами Ly>>x0 и L z>4x0 по осям Y и Z, с противофазными дискретно-линейными по оси Y распределениями ВЧ потенциала на них, и одной заземленной поверхности у=0, формируются (n-2) периодических областей с двумерными линейными ВЧ полями и на ионы, образованные с начальными координатами хНспособ масс-селективного анализа ионов по времени пролета в линейном   вч поле и устройство для его осуществления, патент № 2367053 х0/2, yH=0, |zH|<x 0/2 и начальными скоростями по осям Х и Y, способ масс-селективного анализа ионов по времени пролета в линейном   вч поле и устройство для его осуществления, патент № 2367053 xспособ масс-селективного анализа ионов по времени пролета в линейном   вч поле и устройство для его осуществления, патент № 2367053 0, способ масс-селективного анализа ионов по времени пролета в линейном   вч поле и устройство для его осуществления, патент № 2367053 y>0 воздействуют линейным по координатам х и у периодическим с периодом 2х0 по оси Х ВЧ полем, при этом ионы за время tA, пропорциональное их массе m и числу периодов (n-2)/2, совершают на плоскости XOY (n-2)/2 циклов близких к гармоническим с периодом 2х0 колебаний с конечными координатами х(tA)=хH+(n-2)х 0 и у(tA)=0.

2. Устройство для масс-селективного анализа ионов по времени пролета, содержащее электродную систему для формирования двумерного линейного ВЧ поля, отличающееся тем, что в качестве электродной системы используют n ограниченных плоскостью у=0 дискретных по оси Y с шагом d электродов с размерами Ly и Lz по осям Y и Z, расположенных в полуплоскостях x=(i-1)x0, успособ масс-селективного анализа ионов по времени пролета в линейном   вч поле и устройство для его осуществления, патент № 2367053 0 при нечетных i и успособ масс-селективного анализа ионов по времени пролета в линейном   вч поле и устройство для его осуществления, патент № 2367053 0 при четных i, выполненных в виде равномерно распределенных по оси Y с шагом d плоских металлических пластин, и заземленного электрода с рабочей поверхностью в плоскости у=0, причем в заземленном электроде имеются щели с координатами центров x=x0 (1+2i)/2, шириной способ масс-селективного анализа ионов по времени пролета в линейном   вч поле и устройство для его осуществления, патент № 2367053 х<<х0, длиной способ масс-селективного анализа ионов по времени пролета в линейном   вч поле и устройство для его осуществления, патент № 2367053 z<x0/2 для ввода-вывода и перевода ионов из одной области периодического поля в другую.

Описание изобретения к патенту

Изобретение относится к области масс-селективного анализа заряженных частиц в двумерных линейных ВЧ полях и может быть использовано для улучшения аналитических, эксплуатационных и потребительских свойств масс-спектрометров времяпролетного типа. Времяпролетное разделение ионов по удельному заряду может осуществляться в линейных ВЧ полях, создаваемых плоскими электродами с дискретным линейным распределением ВЧ потенциала на них [1, 2]. Разрешающая способность времяпролетных масс-спектрометров возрастает при увеличении времени дрейфа заряженных частиц в рабочем пространстве анализаторов, которое ограничивается их линейными размерами L. Техническая задача предлагаемого изобретения состоит в усовершенствовании способа масс-анализа заряженных частиц и конструкций анализаторов, использующих масс-селективное разделение ионов по времени пролета в линейных ВЧ полях.

Предлагаемый способ масс-селективного анализа состоит в формировании периодического с периодом 2х0 по оси Х двумерного линейного ВЧ поля и осуществления в нем времяпролетного разделения ионов по удельному заряду. Периодическое поле (Фиг.1) состоит из (n-2) элементарных двумерных линейных электрических ВЧ полей с распределением потенциала вида

способ масс-селективного анализа ионов по времени пролета в линейном   вч поле и устройство для его осуществления, патент № 2367053

где i=1, 2способ масс-селективного анализа ионов по времени пролета в линейном   вч поле и устройство для его осуществления, патент № 2367053 (n-2) - порядковый номер элементарных полей, способ масс-селективного анализа ионов по времени пролета в линейном   вч поле и устройство для его осуществления, патент № 2367053 - геометрический параметр, способ масс-селективного анализа ионов по времени пролета в линейном   вч поле и устройство для его осуществления, патент № 2367053 - потенциал на электродах анализатора. Элементарные поля в областях y>0 и y<0 сдвинуты относительно друг друга по оси Х на величину x0.

Формирование элементарных полей с распределением потенциала (1) осуществляется с помощью системы из n плоских с размерами y0 и 4х0 по осям У и Z электродов с линейным дискретным распределением потенциала по координате у на них [2] (чертеж). Соседние электроды в каждой полусфере yспособ масс-селективного анализа ионов по времени пролета в линейном   вч поле и устройство для его осуществления, патент № 2367053 0 и yспособ масс-селективного анализа ионов по времени пролета в линейном   вч поле и устройство для его осуществления, патент № 2367053 0 расположены на расстоянии 2х0 друг от друга и к ним приложены противофазные ВЧ потенциалы способ масс-селективного анализа ионов по времени пролета в линейном   вч поле и устройство для его осуществления, патент № 2367053 и -способ масс-селективного анализа ионов по времени пролета в линейном   вч поле и устройство для его осуществления, патент № 2367053 . Системы электродов в положительной и отрицательной областях координаты у смещены по оси X относительно друг друга на величину x0.

Анализируемые ионы с начальными координатами x0/4<xН<3х0 /4, уНспособ масс-селективного анализа ионов по времени пролета в линейном   вч поле и устройство для его осуществления, патент № 2367053 0 и начальными скоростями способ масс-селективного анализа ионов по времени пролета в линейном   вч поле и устройство для его осуществления, патент № 2367053 xспособ масс-селективного анализа ионов по времени пролета в линейном   вч поле и устройство для его осуществления, патент № 2367053 0, способ масс-селективного анализа ионов по времени пролета в линейном   вч поле и устройство для его осуществления, патент № 2367053 y>0 в течении короткого интервала времени tИ импульсным пакетом через щель для ввода в заземленном электроде вводятся в рабочий объем анализатора. В каждом i-м элементарном поле анализатора траектории движения ионов по координатам х и у описываются периодическими с периодом Т=способ масс-селективного анализа ионов по времени пролета в линейном   вч поле и устройство для его осуществления, патент № 2367053 /способ масс-селективного анализа ионов по времени пролета в линейном   вч поле и устройство для его осуществления, патент № 2367053 способ масс-селективного анализа ионов по времени пролета в линейном   вч поле и устройство для его осуществления, патент № 2367053 функциями

способ масс-селективного анализа ионов по времени пролета в линейном   вч поле и устройство для его осуществления, патент № 2367053

где способ масс-селективного анализа ионов по времени пролета в линейном   вч поле и устройство для его осуществления, патент № 2367053 е, m - заряд и масса ионов, V и способ масс-селективного анализа ионов по времени пролета в линейном   вч поле и устройство для его осуществления, патент № 2367053 - амплитуда и частота ВЧ питающего напряжения. В пространстве элементарного поля заряженные частицы по оси Y совершают возвратные колебания с начальной и конечной координатой y=0, а по оси Х их координата возрастает на величину 2х0. При этом в координатах х, y ионы совершают близкие к периодическим с периодом 2х0 колебания. За время tA=(n-2)T координаты заряженных частиц по оси Х изменяются от начальной хН до конечной xK0(n-2)+хH и ионы выводятся из анализатора. Полное время движения ионов в анализаторе с периодическим полем составляет

способ масс-селективного анализа ионов по времени пролета в линейном   вч поле и устройство для его осуществления, патент № 2367053

Таким образом время дрейфа заряженных частиц в пространстве анализатора с периодическими двумерными линейными ВЧ полями по сравнению с анализатором с элементарным полем увеличивается в (n-2) раза. Периодическое линейное ВЧ поле для заряженных частиц можно рассматривать как замедляющую систему, которая увеличивает время их пребывания в рабочем пространстве анализатора и тем самим повышает разрешающую способность масс-спектрометра.

При углах влета ионов |способ масс-селективного анализа ионов по времени пролета в линейном   вч поле и устройство для его осуществления, патент № 2367053 |<0.5 arctg(x0/y0) и числе периодов поля n/2<5 периодическое линейное поле сохраняет свойство пространственно-временной фокусировки ионов с различными энергиями влета WB и начальными координатами xH присущее элементарному двумерному линейному полю.

Предлагаемый способ масс-селективного разделения заряженных частиц в периодических двумерных линейных ВЧ полях и устройство для его осуществления увеличивают время движения ионов в анализаторе, обладают свойством пространственно-временной фокусировки ионов с различными начальными координатами по осям Х и Z, энергиям и углам влета, что позволяет улучшить аналитические характеристики радиочастотных времяпролетных масс-спектрометров. Технологичная конструкция электродной системы предлагаемого масс-анализатора и простой способ его ВЧ питания улучшает эксплуатационные и потребительские качества приборов подобного типа.

На чертеже распределение потенциала во времяпролетном масс-анализаторе с периодическим двумерным линейным ВЧ полем |способ масс-селективного анализа ионов по времени пролета в линейном   вч поле и устройство для его осуществления, патент № 2367053 |=100 В и траектории движения заряженных частиц в плоскости XOY.

Литература

1. Гуров B.C., Мамонтов Е.В., Дягилев А.А. Электродные системы с дискретным линейным распределением ВЧ потенциала для масс-анализаторов заряженных частиц. // Масс-спектрометрия, 2007, том 4, № 2. С.139-142.

2. Мамонтов Е.В., Филиппов И.В. Способ масс-селективного анализа ионов по времени пролета и устройство для его осуществления. // Решение о выдаче патента на изобретение по заявке № 2006115270/28, 03.05.2006.

Класс H01J49/22 электростатическое отклонение

способ образования двумерного линейного высокочастотного электрического поля и устройство для его осуществления -  патент 2497226 (27.10.2013)
электростатический анализатор энергий заряженных частиц -  патент 2490750 (20.08.2013)
электростатический энергоанализатор заряженных частиц -  патент 2427055 (20.08.2011)
способ образования двумерного линейного электрического поля и устройство для его осуществления -  патент 2422939 (27.06.2011)
способ формирования двумерного линейного поля и устройство для его осуществления -  патент 2387043 (20.04.2010)
способ разделения заряженных частиц по удельному заряду и устройство для его осуществления -  патент 2293396 (10.02.2007)
способ разделения заряженных частиц по удельному заряду и устройство для его осуществления -  патент 2276426 (10.05.2006)
способ разделения ионов по удельному заряду и устройство для его осуществления -  патент 2159481 (20.11.2000)
способ разделения заряженных частиц по удельному заряду и устройство для его осуществления -  патент 2130667 (20.05.1999)
Наверх