способ разделения аналоговых интегральных схем по надежности

Классы МПК:G01R31/26 испытание отдельных полупроводниковых приборов
Автор(ы):, ,
Патентообладатель(и):Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Воронежский государственный технический университет" (RU)
Приоритеты:
подача заявки:
2006-03-09
публикация патента:

Изобретение относится к микроэлектронике, а именно к способам определения потенциально ненадежных аналоговых интегральных схем (ИС) в процессе производства, а также при изготовлении радиоэлектронной аппаратуры. Сущность: на ИС типа операционных усилителей, выполненных по технологии КМОП, включенных по схеме повторителя с заземленным неинвертирующим входом, измеряют среднеквадратичное напряжение шума по выводам «питание-общая точка» на частоте 1 кГц при полосе частот 200 Гц и времени усреднения 2 с при минимальном и максимальном значении напряжения питания по техническим условиям без пропускания импульса тока. Находят коэффициент способ разделения аналоговых интегральных схем по надежности, патент № 2311653 где способ разделения аналоговых интегральных схем по надежности, патент № 2311653 , способ разделения аналоговых интегральных схем по надежности, патент № 2311653 - среднеквадратичное напряжение шума при максимальном и минимальном напряжении питания соответственно. По значению коэффициента К ИС разделяют по надежности. Техничский результат: повышение достоверности.

Формула изобретения

Способ разделения аналоговых интегральных схем (ИС) по надежности, в соответствии с которым дважды измеряют среднеквадратичное напряжение шума, отличающийся тем, что на представительной выборке ИС типа операционных усилителей, выполненных по технологии КМОП, включенных по схеме повторителя с заземленным неинвертирующим входом, измеряют среднеквадратичное напряжение шума по выводам «питание-общая точка» на частоте 1 кГц при полосе частот 200 Гц и времени усреднения 2 с при минимальном и максимальном значениях напряжения питания по техническим условиям без пропускания импульса тока, находят коэффициент

способ разделения аналоговых интегральных схем по надежности, патент № 2311653

где способ разделения аналоговых интегральных схем по надежности, патент № 2311653 , способ разделения аналоговых интегральных схем по надежности, патент № 2311653 - среднеквадратичное напряжение шума при максимальном и минимальном напряжениях питания соответственно,

и по значению коэффициента К ИС разделяют по надежности.

Описание изобретения к патенту

Изобретение относится к микроэлектронике, а именно к способам определения потенциально ненадежных аналоговых интегральных схем (ИС) в процессе производства, а также при изготовлении радиоэлектронной аппаратуры.

Известен способ [1], применимый для контроля ИС и включающий в себя циклическое воздействие высоких и низких температур, а также расчет информативного параметра (площади петли гистерезиса), получаемого на основе критических напряжений.

Недостатки данного способа: большая трудоемкость, применение более одного информативного параметра, сложность автоматизации процесса.

Наиболее близким аналогом является способ [2], состоящий в том, что проводят измерение интенсивности шума до и после пропускания импульса тока, в 1,5-5 раз превышающего по амплитуде предельно допустимое значение по техническим условиям (ТУ), после чего по отношению двух измерений судят о потенциальной надежности приборов.

Недостатком способа является подача импульса, в 1,5-5 раз превышающего по амплитуде допустимое по ТУ значение на прибор, что может вызвать необратимые процессы в структуре приборов, которые могут привести к недостаточной достоверности результатов и к катастрофическим отказам приборов в эксплуатации.

Изобретение направлено на повышение достоверности и расширение функциональных возможностей.

Это достигается тем, что в предлагаемом способе разделения аналоговых интегральных схем по надежности у схем дважды измеряют интенсивность шума при минимальном и максимальном значении напряжения питания по техническим условиям (ТУ).

Способ осуществляется следующим образом.

На представительной выборке аналоговых ИС одного типа проводили измерение среднеквадратичного напряжения шума по выводам "питание - общая точка" при минимальном и максимальном напряжении питания согласно техническим условиям без пропускания импульса тока. После чего находили коэффициент, характеризующий надежность аналоговых ИС:

способ разделения аналоговых интегральных схем по надежности, патент № 2311653

где способ разделения аналоговых интегральных схем по надежности, патент № 2311653 , способ разделения аналоговых интегральных схем по надежности, патент № 2311653 - значение шума при максимальном и минимальном напряжении питания соответственно.

Более высокую надежность будут иметь те ИС, которые имеют минимальное значение этого коэффициента.

Измерение шума при напряжениях питания согласно ТУ без подачи импульса тока не вызывает необратимые процессы в структуре приборов и позволяет повысить степень достоверности.

Пример осуществления способа.

Методом случайной выборки было отобрано 12 интегральных схем типа ОРА735 (операционный усилитель, выполненный по технологии КМОП с диапазоном значений напряжения питания по ТУ от 2,7 до 12 В) в 8-выводном корпусе DIP. Среднеквадратичное напряжение шума способ разделения аналоговых интегральных схем по надежности, патент № 2311653 измерялось методом прямого измерения [3] по выводам "питание-общая точка" на частоте 1 кГц. Ширина полосы измерения частот способ разделения аналоговых интегральных схем по надежности, патент № 2311653 f=200 Гц, время усреднения способ разделения аналоговых интегральных схем по надежности, патент № 2311653 =2 с. Схема включения ИС-повторитель (инвертирующий вход соединен с выходом) с заземленным неинвертирующим входом.

Результаты измерений 12 ИС при напряжениях питания, равных 2,7 и 12 В, т.е. минимальном и максимальном значениях по ТУ, представлены в таблице, где также даны величины относительного изменения К, вычисленного по выражению (1).

Таблица
№ ИСспособ разделения аналоговых интегральных схем по надежности, патент № 2311653 , мкВ2, при напряжении питания, В К
2,7 12
1 2,142,721,27
22,18 2,801,28
32,223,11 1,40
42,30 2,881,25
52,30 2,861,24
62,203,23 1,47
72,30 2,671,16
82,27 2,751,21
92,252,74 1,22
102,30 3,371,46
112,27 2,901,28
122,242,67 1,19

Если выбрать критерий, что для надежных схем К<1,4, то схемы 3, 6, 10 будут потенциально ненадежными.

Можно разделить партию по надежности на три группы: ИС, имеющие более повышенную надежность со значением Кспособ разделения аналоговых интегральных схем по надежности, патент № 2311653 1,2 (схемы №7, 12); ИС с надежностью, соответствующей техническим условиям, имеющие значения 1,2<К<1,4 (схемы №1, 2, 4, 5, 8, 9, 11) и ИС потенциально ненадежные, имеющие значение Кспособ разделения аналоговых интегральных схем по надежности, патент № 2311653 1,4 (схемы №3, 6, 10).

Экспериментальное подтверждение разделения партии ИС на надежные и потенциально ненадежные было получено в результате испытаний на безотказность (500 ч, повышенная температура, максимально допустимая нагрузка), когда ИС №3, 6, 10 имели параметрический отказ.

Источники информации

1. Пат. России №2018148, G01R 31/28, опубл. 1994.

2. Авторское свидетельство СССР №490047, G01R 31/28, 1976.

3. Ван дер Зил А. Шум - источники, описание, измерение: Пер. с англ. / Под ред. А.К.Нарышкина. М.: Советское радио, 1973. 178 с.

Класс G01R31/26 испытание отдельных полупроводниковых приборов

способ разделения интегральных схем "по надежности" -  патент 2529675 (27.09.2014)
способ измерения шума узлов мфпу -  патент 2521150 (27.06.2014)
способ определения теплового сопротивления переход-корпус транзисторов с полевым управлением -  патент 2516609 (20.05.2014)
способ разделения полупроводниковых изделий по надежности -  патент 2515372 (10.05.2014)
способ отбраковки полупроводниковых изделий пониженного уровня качества из партий изделий повышенной надежности -  патент 2511633 (10.04.2014)
способ сравнительной оценки надежности партий полупроводниковых изделий -  патент 2511617 (10.04.2014)
устройство для измерения полного сопротивления и шумовых параметров двухполюсника на свч -  патент 2510035 (20.03.2014)
способ измерения теплового импеданса полупроводниковых диодов с использованием полигармонической модуляции греющей мощности -  патент 2507526 (20.02.2014)
способ разделения транзисторов по надежности -  патент 2507525 (20.02.2014)
способ контроля внутреннего квантового выхода полупроводниковых светодиодных гетероструктур на основе gan -  патент 2503024 (27.12.2013)
Наверх