способ измерения планшетности листового материала

Классы МПК:G01B11/24 для измерения контуров или кривых 
G01B21/20 для измерения контуров или кривых, например для измерения профилей сечений
Автор(ы):, , , , , ,
Патентообладатель(и):Открытое акционерное общество "Северсталь" (RU)
Приоритеты:
подача заявки:
2002-07-22
публикация патента:

Предлагается способ измерения планшетности листового материала, представляющий измерение ширины распределения световой проекции на поверхности листового материала в виде концентрических колец, расположенных одно внутри другого, полученных по крайней мере от 2-х источников света, смещенных относительно друг друга в вертикальном направлении, при этом планшетность листового материала определяют как разность высот единичных участков листового материала, определяемых по следующему выражению: Hi=L1-L0(X0i/X1i-1), где L0 - расстояние (в мм) от эталонной плоскости до источника света 1; L1 – расстояние (в мм) от эталонной плоскости до источника света 2; X0i - ширина i-й проекции луча (в пикселях) на поверхности листового материала от источника света 1; Х1i - ширина i-й проекции луча (в пикселях) на поверхности листового материала от источника света 2; i - номер единичной проекции луча на поверхности листового материала. Технический результат - повышение точности и надежности измерения листового материала, повышение качества продукции. 3 ил.

Рисунок 1, Рисунок 2, Рисунок 3

Формула изобретения

Способ измерения планшетности листового материала, включающий измерение ширины распределения световой проекции на поверхности листового материала, отличающийся тем, что измеряют ширину распределения световой проекции, полученной от 2 источников света, смещенных относительно друг друга в вертикальном направлении и формирующих световую проекцию в виде концентрических колец, расположенных одно внутри другого, при этом планшетность листового материала определяют как разность высот единичных участков листового материала, определяемых по следующему выражению:

Hi=L1-L0(X0i/X1i-1),

где L0 - расстояние (в мм) между источниками света;

L1 – расстояние (в мм) от эталонной плоскости до источника света 2;

X0i - ширина i-й проекции луча (в пикселях) на поверхности листового материала от источника света 1;

Х1i - ширина i-й проекции луча (в пикселях) на поверхности листового материала от источника света 2;

i - номер единичной проекции луча на поверхности листового материала.

Описание изобретения к патенту

Изобретение относится к оптико-электронным методам определения планшетности листового материала, например металлопроката, и может найти применение в прокатных цехах металлургического производства и производства с листопрокатными технологиями.

Известен способ определения планшетности движущейся полосы листового проката (статья “Телеметрическая система измерения плоскостности горячекатаной полосы в режиме он-лайн”, ж. Черные металлы, сентябрь-октябрь 1998 г. УДК. 621.771.23-418.25; 621.771.23.019).

Способ основан на измерении прямолинейности и плотности полос, выделяемых измерительным устройством (цифровой камерой). Полосы наносятся с помощью проектора, проецирующего поперечные эталонные полосы на отрезок, равный ширине листа, и продольные полосы длиной около 2 м.

Недостатками данного способа являются низкая точность измерения, возникающая из-за неравномерности спектрального излучения. Снижение точности и достоверности данных при проведении измерений листового материала в условиях сильной вибрации, а также вследствие того что измерение планшетности сводится к усредненному измерению размера ячеек, что делает процесс измерения планшетности дискретным.

Наиболее близким к предлагаемому изобретению является способ определения плоскостности движущейся полосы материалов (Патент №2119643, МПК 6 G 01 B 7/34, 11/24, 21/20, опубл. 1998 г.).

Способ основан на измерении угла, образованного линиями пересечения плоскости, касательной к поверхности полосы в точке измерения, и плоскости, касательной к опорным элементам, по которым перемещается полоса, с плоскостью, проходящей через точку измерения и расположенной вдоль направления перемещения полосы перпендикулярно к плоскости, касательной к опорным элементам, по которым перемещается полоса, причем определяются относительные удлинения ленточных продольных участков полосы, выделяемых измерительным устройством.

Недостатками данного способа являются снижение надежности и точности измерения планшетности вследствие того что измерение производится в относительных координатах, требующее дополнительной настройки для измерения планшетности листового материала в абсолютных координатах. Ухудшается достоверность и надежность данных при измерении в условиях с переменной скоростью перемещения, т.к. измерение при данном способе зависит от постоянства скорости перемещения листового материала.

Технический результат - повышение точности и надежности измерения листового материала, повышение качества продукции.

Для достижения технического результата в предлагаемом способе измерения планшетности листового материала, включающем измерение ширины распределения световой проекции на поверхности листового материала, измеряют ширину распределения световой проекции, полученной от 2-х источников света, смещенных относительно друг друга в вертикальном направлении и формирующих световую проекцию в виде концентрических колец, расположенных одно внутри другого, при этом планшетность листового материала определяют как разность высот единичных участков листового материала, определяемых по следующему выражению:

Нi=L1-L0/(X0i/X1i-1),

где L0 - расстояние (в мм) между источниками света;

L1 - расстояние (в мм) от эталонной плоскости до источника света 2;

X0i - ширина i-й-проекции луча (в пикселях) на поверхности листового материала от источника света 1;

Х1i - ширина i-й проекции луча (в пикселях) на поверхности листового материала от источника света 2;

i - номер единичной проекции луча на поверхности листового материала.

Способ поясняется чертежами

Фиг.1. Вид определения высоты единичного линейного участка листового материала.

Фиг.2. Вид световой проекции на поверхности непланшетного участка листового материала.

Фиг.3. Пример определенной планшетности участка листового материала.

Способ осуществляется следующим образом.

Свет от источника света 1, расположенного на расстоянии L0 от источника света 2, падает на поверхность 3, формируя световую проекцию в виде кольца, при этом образуя распределение световой проекции в i-м направлении шириной X0i. Под шириной проекции Х0i понимается расстояние от центра световой проекции до границы световой проекции в i-м направлении, полученной от источника 1. Свет от источника 2, расположенного на расстоянии L1 от эталонной плоскости 4, падает на поверхность 3, формируя световую проекцию в виде кольца, при этом образуя распределение световой проекции в i-м направлении шириной Х1i, расположенную внутри световой проекции x0i. Под шириной проекции X1i понимается расстояние от центра световой проекции до границы световой проекции в i-м направлении, полученной от источника 2. Отношение ширин световых проекций Х0i и Х1i показывает изменение высоты Нi единичного участка листового материала измеряемой поверхности 3 относительно эталонной плоскости 4. Разница полученных высот Нi для каждого единичного участка листового материала формирует планшетность участка листового материала 5.

Отличительными особенностями данного способа является применение эффекта стереоскопического метода, вследствие чего повышается надежность и точность измерения планшетности листового материала, позволяющего уменьшить погрешность, вносимую в измерения сильными колебаниями и толщиной листового материала. Предлагаемый способ позволяет получить абсолютные координаты измеряемой планшетности листового материала. Все это оптимизирует и ускорит настройку обжатия прокатных клетей при прокатки листового материала, тем самым повысив качество выпускаемой продукции.

Класс G01B11/24 для измерения контуров или кривых 

устройство для диагностики состояния внутренней поверхности труб -  патент 2528033 (10.09.2014)
способ фотограмметрического измерения размеров и контроля формы тела, ограниченного набором связанных между собой поверхностей -  патент 2522809 (20.07.2014)
система и способ трехмерного измерения формы материальных объектов -  патент 2521725 (10.07.2014)
лазерное устройство для проведения измерений с повышенной точностью -  патент 2506538 (10.02.2014)
получение топографии объектов, имеющих произвольную геометрическую форму -  патент 2502953 (27.12.2013)
устройство и способ измерения профиля железнодорожного колеса -  патент 2500561 (10.12.2013)
автоколлимационное теневое устройство -  патент 2497165 (27.10.2013)
способ распознавания трехмерной формы объектов -  патент 2491503 (27.08.2013)
стереоскопическая измерительная система и способ -  патент 2479828 (20.04.2013)
устройство и способ измерения параметров резьбы -  патент 2477453 (10.03.2013)

Класс G01B21/20 для измерения контуров или кривых, например для измерения профилей сечений

устройство, система и способ для измерения параметров резьбы на конце трубы -  патент 2449244 (27.04.2012)
способ контроля профиля зоны сопряжения цилиндрической части с затылованной гранью ролика подшипника качения турбомашины -  патент 2393426 (27.06.2010)
способ построения профилей трехмерных объектов и устройство для его осуществления -  патент 2360216 (27.06.2009)
оптоэлектронное устройство контроля профиля пера лопатки -  патент 2311614 (27.11.2007)
способ определения плоскостности движущегося листа материала -  патент 2311613 (27.11.2007)
устройство для контроля профиля пера лопатки -  патент 2299400 (20.05.2007)
способ контроля профиля изделия и устройство для его осуществления -  патент 2263879 (10.11.2005)
способ измерения формы объекта и устройство для его осуществления -  патент 2256878 (20.07.2005)
устройство для измерения формы объекта -  патент 2256149 (10.07.2005)
оптоэлектронное устройство контроля геометрических параметров лопаток -  патент 2254555 (20.06.2005)
Наверх