способ измерения комплексной диэлектрической проницаемости радиопоглощающих композиционных материалов при нагреве
Классы МПК: | G01R27/26 для измерения индуктивности и(или) емкости; для измерения добротности, например резонансным способом; для измерения коэффициента потерь; для измерения диэлектрических постоянных |
Автор(ы): | Дмитриенко Г.В., Трефилов Н.А. |
Патентообладатель(и): | Ульяновский государственный технический университет |
Приоритеты: |
подача заявки:
2002-11-26 публикация патента:
10.05.2004 |
Изобретение относится к области измерения диэлектрических величин радиопоглощающих композиционных материалов, обладающих большими значениями относительной диэлектрической проницаемости и тангенса угла диэлектрических потерь, и предназначено для использования в радиотехнике СВЧ, при проектировании антенн СВЧ, защитных укрытий и экранов радиотехнических систем. Технический результат - получение точных (истинных) значений диэлектрической проницаемости, а не усредненных, что повышает точность определения зависимости диэлектрической проницаемости от температуры нагрева: устранение отдельного нагревательного устройства. Предлагается способ измерения диэлектрической проницаемости радиопоглощающих композиционных материалов при нагреве, в котором в образец измеряемого материала по всей толщине на разной глубине, начиная с поверхности, заделываются термопары для измерения температурного профиля, используется зондирующая электромагнитная волна большой мощности, которая производит одновременно измерение и нагрев образца измеряемого материала. Измерение температуры нагрева производится термопарами по всей толщине образца измеряемого материала. Измеряемыми параметрами являются комплексный коэффициент отражения или прохождения электромагнитной волны через образец и температура нагрева образца по толщине. По измеренным параметрам определяются точные значения диэлектрической проницаемости измеряемого материала при разных температурах. 1 табл.
Формула изобретения
Способ измерения комплексной диэлектрической проницаемости радиопоглощающих материалов при нагреве, включающий подготовку образца измеряемого материала, установку термопар на поверхность образца, помещение образца в измерительное устройство, быстрый (способный достичь максимальной температуры за заданное время) нестационарный нагрев образца и одновременное с нагревом измерение значений комплексного коэффициента отражения или прохождения электромагнитной волны через образец и температуры нагрева на поверхности образца измеряемого материала, отличающийся тем, что нагрев производят зондирующей волной большой мощности (способной нагреть образец материала до максимальной температуры за несколько секунд), а измерение распределения температуры производят по всей толщине образца измеряемого материала, начиная с его поверхности.Описание изобретения к патенту
Изобретение относится к области измерения диэлектрических величин радиопоглощающих композиционных материалов, обладающих большими значениями относительной диэлектрической проницаемости и тангенса угла диэлектрических потерь, и предназначено для использования в радиотехнике СВЧ, при проектировании антенн СВЧ, защитных укрытий и экранов радиотехнических систем.Известен способ измерения на СВЧ параметров диэлектрических материалов при нагреве в волноводе [см. с.204. Брандт А.А. Исследование диэлектриков на сверхвысоких частотах. - М.: Физматгиз, 1963, 403 с.], заключающийся в следующей последовательности операций: подготовка образца измерительного материала; помещение образца в измерительное устройство (в волновод, снаружи которого располагается внешнее нагревательное устройство); установка термопар на образец; циклические операции в диапазоне температур равномерного нагрева образца до определенной температуры нагрева до максимально заданной температуры нагрева, нагрев производится с требуемым шагом в заданном температурном диапазоне внешним нагревательным устройством; измерения температуры на образце, измерения значения комплексного коэффициента отражения или прохождения зондирующей электромагнитной волны через образец; после по измеренным параметрам расчетным путем определяются значения диэлектрической проницаемости измеряемого материала, соответствующие каждой температуре нагрева.К причинам, препятствующим достижению указанного ниже технического результата при использовании известного способа, относится то, что в известном способе существуют следующие ограничения:- волновод должен выдерживать температуру нагрева не меньше образца;- при высоких температурах резко возрастает погрешность измерения из-за эмиссии электронов в волноводе;- для равномерной температуры нагрева производится выдержка образца в нагретом состоянии длительное время, что не соответствует рабочим режимам эксплуатации материала (например, при разогреве керамики при выдержке температуры изменяется ее плотность).Наиболее близким способом того же назначения к заявленному изобретению по совокупности признаков является способ измерения параметров диэлектрических материалов при нагреве в свободном пространстве [см. с.57. Воробьев Е.А., Михайлов В.Ф., Харитонов А.А. СВЧ диэлектрики в условиях высоких температур. - М.: Сов. радио, 1977, 207 с.], в соответствии с которым производятся следующие операции: подготовка образца измеряемого материала; установка термопар на поверхность образца; помещение образца в измерительное устройство (реализующее радиоволновый метод, включающее приемную и передающую антенны, СВЧ устройство для измерения комплексного коэффициента отражения или прохождения зондирующей электромагнитной волны через образец); быстрый нестационарный нагрев (способность достичь максимальной температуры за заданное время) производят с помощью внешнего нагревательного устройства, например плазменного нагревателя или газовой горелки; одновременно с нагревом производятся измерения температуры на нагреваемой поверхности образца измеряемого материала и измерения значений комплексного коэффициента отражения или прохождения зондирующей электромагнитной волны через образец; после по измеренным параметрам определяется среднее значение диэлектрической проницаемости измеряемого материала, соответствующее каждой новой нагреваемой температуре. Этот способ принят за прототип.У прототипа и предлагаемого изобретения имеются следующие существенные сходные признаки:1. Подготовка образца измерительного материала.2. Установка термопар на поверхность образца.3. Установка образца в измерительное устройство.4. Быстрый нестационарный нагрев образца измеряемого материала.5. Одновременное с нагревом измерение температуры нагрева на поверхности и измерение значения комплексного коэффициента отражения или прохождения электромагнитной волны через образец.6. По измеренным параметрам определяют значение диэлектрической проницаемости.К причинам, препятствующим достижению указанного ниже технического результата при использовании известного способа, принятого за прототип, относится то, что в известном способе необходимо отдельное нагревательное устройство; получаемая измерительная информация позволяет получить только среднее значение диэлектрической проницаемости по образцу, соответствующее поверхностной температуре. Для примера, на нагреваемой поверхности образца температура нагрева может быть 1000




Класс G01R27/26 для измерения индуктивности и(или) емкости; для измерения добротности, например резонансным способом; для измерения коэффициента потерь; для измерения диэлектрических постоянных