способ измерения параметров отражающей поверхности в быстропротекающих процессах

Классы МПК:G01P3/36 приборы, выполняющие измерения с помощью оптических средств, те инфракрасных, видимых или ультрафиолетовых лучей
G01N25/28 с непосредственным измерением роста температуры газов в течение процесса горения 
Автор(ы):, ,
Патентообладатель(и):Российский федеральный ядерный центр - Всероссийский научно- исследовательский институт экспериментальной физики,
Министерство Российской Федерации по атомной энергии
Приоритеты:
подача заявки:
1999-08-30
публикация патента:

Изобретение относится к технике регистрации быстропротекающих процессов в экспериментальной физике, в частности к способам измерений параметров фронтов пламени, ударной и/или детонационной волны. Способ включает подачу на поверхность зондирующего электромагнитного и регистрацию отраженного излучений. Новым в способе является: регистрация теплового излучения поверхности, преобразование параметров отраженного и теплового излучений поверхности посредством криогенных детекторов на основе переходов Джозефсона в напряжения и усиление их ими. По изменениям напряжений судят о скорости перемещения поверхности и/или коэффициенте излучения и температуре поверхности. При этом зондирующим излучением служит излучение СВЧ-диапазона. Технический результат - повышение точности и информативности измерений, упрощение расшифровки сигналов, снижение требований к генератору зондирующего излучения, расширение функциональных возможностей - диагностика реальных поверхностей (в том числе измерение коэффициента излучения и температуры поверхности). 1 з.п. ф-лы.

Формула изобретения

1. Способ измерения параметров отражающей поверхности в быстропротекающих процессах, включающий подачу на нее зондирующего электромагнитного излучения и регистрацию отраженного, отличающийся тем, что дополнительно регистрируют тепловое излучение поверхности, параметры отраженного и теплового излучения преобразуют посредством криогенных детекторов на основе переходов Джозефсона в напряжения, усиливают их с помощью таких же криодетекторов, регистрируют усиленные напряжения и по ним определяют скорость перемещения и/или коэффициент излучения и температуру поверхности.

2. Способ измерения параметров отражающей поверхности в быстропротекающих процессах по п.1, отличающийся тем, что зондирующим излучением служит излучение СВЧ-диапазона.

Описание изобретения к патенту

Изобретение относится к технике регистрации быстропротекающих процессов, в частности, к способам измерения параметров фронтов пламени ударной и/или детонационной волны в химической физике, в том числе в физике горения и взрыва.

Уровень техники

Известен оптический метод измерения скорости движения отражающей лазерный луч поверхности [1].

На поверхность, скорость которой необходимо измерить, направляют лазерный пучок. Отраженный пучок направляют в интерферометр Фабри-Перо. Задача состоит в определении частоты отраженного пучка в функции скорости движения мишени и углов падения и отражения при известной частоте падающего лазерного пучка. Интерферометр регистрирует изменения положения интерференционных колец во времени с помощью фотохроногрофа.

Оптический метод измерения температуры поверхности путем регистрации ее теплового излучения описан в [2]. Исследуется тепловое излучение, испущенное излучаемой поверхностью. В данном методе поверхность находится 5 контакте с позолоченным полусферическим зеркалом (при этом коэффициент излучения системы поверхность - зеркало становится близким к единице). В качестве детектора используется кремниевый фотоэлемент.

Недостаток всех оптических методов связан с невозможностью измерения параметров (скорости, температуры и т.д.) отражающей поверхности, закрытой от регистрирующих приборов непрозрачным для света экраном.

Известен способ измерения скорости движения отражающей поверхности, включающий облучение поверхности электромагнитным излучением и регистрацию отраженного излучения [3] . Регистрацию отраженного излучения осуществляют посредством интерферометра, в котором происходит интерференционное сложение излучений, отраженного от движущейся границы с исходным зондирующим излучением. Мерой скорости границы является частота доплеровского смещения fд:

способ измерения параметров отражающей поверхности в   быстропротекающих процессах, патент № 2225619

где способ измерения параметров отражающей поверхности в   быстропротекающих процессах, патент № 2225619з - длина волны зондирующего излучения в рассматриваемой среде;

V - скорость движения границы;

способ измерения параметров отражающей поверхности в   быстропротекающих процессах, патент № 2225619 - разность фаз отраженного и зондирующего излучений.

Недостаток известного способа связан с относительно большим минимальным разрешением его по перемещению и, соответственно, по времени. Так, при регистрации половины периода доплеровского смещения предельное разрешение способа по перемещению составляет способ измерения параметров отражающей поверхности в   быстропротекающих процессах, патент № 2225619з/4, т.е. при способ измерения параметров отражающей поверхности в   быстропротекающих процессах, патент № 2225619з=8 мм - 2 мм. Кроме того, при измерениях возникают проблемы, связанные с недостаточной мощностью отраженного излучения и расшифровкой полезного сигнала [4]. Последний из описанных способов, как наиболее близкий по технической сущности, выбран в качестве прототипа.

Сущность изобретения

Техническая задача - уменьшение минимального разрешения и регистрация других параметров: коэффициента излучения поверхности и ее температуры в быстропротекающих процессах.

Технический результат - повышение точности (минимальное разрешение по перемещению составляет <0,1 мм при способ измерения параметров отражающей поверхности в   быстропротекающих процессах, патент № 2225619з з=8 мм) и информативности измерений, упрощение расшифровки сигналов (напряжений), а также расширение функциональных возможностей - диагностика параметров реальных поверхностей, снижение требований к генератору зондирующего излучения, измерения коэффициента излучения и температуры.

Это достигается тем, что в известном способе измерения параметров отражающей поверхности в быстропротекающих процессах, включающем облучение поверхности зондирующим излучением и регистрацию отраженного электромагнитного излучения, отраженное излучение, а также тепловое излучение поверхности преобразуют посредством криогенных детекторов на основе переходов Джозефсона в напряжения, усиливают их с помощью таких же криодетекторов, регистрируют усиленные напряжения, и по ним определяют скорость перемещения и/или коэффициент излучения и температуру поверхности. При этом зондирующим излучением служит когерентное излучение СВЧ-диапазона.

С середины 1960 гг. криогенные детекторы на основе джозефсоновских переходов (ДП) нашли применение в физике, метрологии, медицине и т.д. в качестве сверхчувствительных детекторов электромагнитного поля, позволяющих, например, регистрировать:

1) магнитное поле ~10-14 Тл/Гц1/ 2;

2) мощность электромагнитного излучения ~10-15 Вт/Гц1/ 2;

3) напряжение ~10-15 В/Гц1/ 2; т.е. 10-12 В в полосе частот ~106 Гц [5, 6].

Так как на ДП выполняется 1-е соотношение Джозефсона

f = 2eспособ измерения параметров отражающей поверхности в   быстропротекающих процессах, патент № 2225619V/способ измерения параметров отражающей поверхности в   быстропротекающих процессах, патент № 2225619,

где f - частота излучения;

V - напряжение на ДП;

е - заряд электрона;

способ измерения параметров отражающей поверхности в   быстропротекающих процессах, патент № 2225619 - постоянная Планка,

не зависящее от типа перехода, материала электродов, мощности и частоты слабого СВЧ-сигнала, можно использовать ДП в качестве преобразователя частоты в напряжение:

Vспособ измерения параметров отражающей поверхности в   быстропротекающих процессах, патент № 2225619f/483,6 МГц/мкВ.

При измерении скорости движения поверхности отраженное от нее электромагнитное излучение, например, с частотой f0=35 ГГц (способ измерения параметров отражающей поверхности в   быстропротекающих процессах, патент № 2225619з=8 мм) попадает на точечный ДП, предварительно настроенный на эту частоту. Напряжение на ДП составляет при этом

способ измерения параметров отражающей поверхности в   быстропротекающих процессах, патент № 2225619

При движении границы со скоростью U~103 м/с частота отраженного излучения из-за эффекта Доплера увеличивается примерно на 10-3%

способ измерения параметров отражающей поверхности в   быстропротекающих процессах, патент № 2225619

где C - скорость света в вакууме;

способ измерения параметров отражающей поверхности в   быстропротекающих процессах, патент № 2225619 - диэлектрическая проницаемость среды перед поверхностью.

При способ измерения параметров отражающей поверхности в   быстропротекающих процессах, патент № 2225619=2-3 получим способ измерения параметров отражающей поверхности в   быстропротекающих процессах, патент № 2225619 Соответственно, V возрастает на способ измерения параметров отражающей поверхности в   быстропротекающих процессах, патент № 2225619V~10-9 В.

Это изменение напряжения регистрируется с помощью следующего детектора на ДП, исполняющего функцию вольтметра с чувствительностью ~10-15 В/Гц1/ 2. Для данной полосы частот способ измерения параметров отражающей поверхности в   быстропротекающих процессах, патент № 2225619f~ 35способ измерения параметров отражающей поверхности в   быстропротекающих процессах, патент № 2225619104 Гц минимальное измеряемое напряжение составляет ~6способ измерения параметров отражающей поверхности в   быстропротекающих процессах, патент № 222561910-13 В, что означает возможность измерения способ измерения параметров отражающей поверхности в   быстропротекающих процессах, патент № 2225619V соответственно U с точностью не хуже ~1%. При этом минимальное разрешение перемещения поверхности становится не зависящим от длины волны зондирующего излучения и определяется временным разрешением канала регистрации. Кроме того, отсутствуют проблемы, связанные с недостаточной мощностью отраженного излучения и расшифровкой полезного сигнала [4].

При измерении температуры поверхности криодетектор на основе ДП используется в качестве квадратичного приемника СВЧ-излучения, непосредственно измеряющего его мощность (преобразующего мощность излучения в напряжение) [5]. Регистрируется тепловое излучение поверхности, например фронта пламени, ударной и/или детонационной волны в диапазоне СВЧ, где выполняется закон Рэлея-Джинса [7]

способ измерения параметров отражающей поверхности в   быстропротекающих процессах, патент № 2225619

где Е - спектральная плотность излучения черного тела;

способ измерения параметров отражающей поверхности в   быстропротекающих процессах, патент № 2225619 - длина волны;

C1=5,9способ измерения параметров отражающей поверхности в   быстропротекающих процессах, патент № 222561910-17 Втспособ измерения параметров отражающей поверхности в   быстропротекающих процессах, патент № 2225619м2;

С2=1,44способ измерения параметров отражающей поверхности в   быстропротекающих процессах, патент № 222561910-2 мспособ измерения параметров отражающей поверхности в   быстропротекающих процессах, патент № 2225619К.

Пусть регистрация производится в диапазоне длин волн способ измерения параметров отражающей поверхности в   быстропротекающих процессах, патент № 2225619=1-3 мм, т.е. в диапазоне частот f= (1-3)способ измерения параметров отражающей поверхности в   быстропротекающих процессах, патент № 2225619102 ГГц. При Т~103 К мощность излучения с части поверхности площадью S~3способ измерения параметров отражающей поверхности в   быстропротекающих процессах, патент № 222561910-3 м2 будет

способ измерения параметров отражающей поверхности в   быстропротекающих процессах, патент № 2225619

При пороговой чувствительности приемника ~10-14 Вт/Гц1/ 2 и данной полосе частот f~102 ГГц минимальная измеряемая мощность равна W~4,5способ измерения параметров отражающей поверхности в   быстропротекающих процессах, патент № 222561910-9 Вт. Таким образом, запас чувствительности приемника позволяет не заботиться о потерях мощности излучения при передаче и о пониженной излучательной способности поверхности с эффективным коэфицентом излучения в диапазоне частот регистрации меньшим 1 (нечерное тело).

В данном случае амплитуда полезного сигнала, усиленного с помощью ДП, так же, как и при измерении скорости, будет прямо пропорциональна измеряемой величине способ измерения параметров отражающей поверхности в   быстропротекающих процессах, патент № 2225619V~W~способ измерения параметров отражающей поверхности в   быстропротекающих процессах, патент № 2225619способ измерения параметров отражающей поверхности в   быстропротекающих процессах, патент № 2225619T. Для измерения температуры необходимо определить коэффицент излучения способ измерения параметров отражающей поверхности в   быстропротекающих процессах, патент № 2225619 = 1-способ измерения параметров отражающей поверхности в   быстропротекающих процессах, патент № 2225619, где способ измерения параметров отражающей поверхности в   быстропротекающих процессах, патент № 2225619 - коэффицент отражения поверхности.

Предлагаемый способ реализуется следующим образом. На отражающую поверхность (пластины, оболочки, фронта ударной (детонационной) волны, являющуюся границей раздела с радиопрозрачной средой (вакуумом, газом, диэлектриком, взрывчатым веществом), подают зондирующее излучение СВЧ-диапазона. Регистрируют излучение поверхности на 3-х каналах регистрации: на 1-м и 2-м каналах - отраженное и тепловое излучения с одного участка поверхности, на 3-м канале регистрируют тепловое излучение с другого участка поверхности. При этом в каждом канале осуществляют преобразование параметров излучений в напряжения посредством криогенных детекторов на основе джозефсоновских переходов, усиливают их ими и на 1-м канале преобразуют частоту в напряжение и регистрируют скорость перемещения поверхности, по данным 2-го и 3-го каналов, на которых преобразуют мощности в напряжения, определяют коэффицент отражения поверхности, по нему коэфицент излучения и температуру поверхности (предполагаем, что коэффицент пропускания равен нулю). Предполагаем, что частота (распределение частот) зондирующего излучения находится внутри диапазона частот регистрации теплового излучения.

Перед измерением проводится калибровка каналов регистрации, в частности измеряется мощность излучения, отраженного от поверхности с известным коэффицентом излучения. Таким образом, в предлагаемом способе оказываются возможными одновременное измерение скорости (на 1-м канале), коэффицента излучения и температуры (на 2-м и 3-м каналах). Ввиду малых размеров криодетекторов ~ 1 мм все 3 канала регистрации могут быть размещены в одном криостате, заполненном жидким гелием.

При работе на частотах ~109-1012 Гц требуемое отношение сигнал/шум >103 обеспечивается благодаря пренебрежимо малых собственным шумам криодетекторов; практическому отсутствию технического, атмосферного и галактического шумов [8]; применению стандартных радиотехнических средств подавления помех. Предлагаемый способ найдет применение в экспериментальной физике, в частности для определения скорости распространения, температуры и формы (в случае многоканальной регистрации) фронтов ударных и детонационных волн.

Источники информации

1. Макмиллан, Гусман, Паркер и др. Применение интерферометра Фабри-Перо для измерения скорости движения поверхности // Приборы для научных исследований, 1988, 1, с.3-28.

2. Т.Куинн. Температура. - М.: Мир, 1985, с.309-393.

3. Б.Кох. Радиоэлектрические методы исследования быстропротекающих процессов. В кн.: Физика быстропротекающих процессов, т.1. - М.: Мир, 1971, с. 382-462 - прототип.

4. С. В. Баталов, В.П.Филин, В.В.Шапошников. Радиоволновый метод исследования физических явлений в и химических превращений в гетерогенных ВВ под действием УВ // ФГВ, 1991, т.27, 6, с.107-109.

5. А.Ф.Волков, Н.В.Заварицкий, Ф.Я.Надь. Электронные устройства на основе слабосвязанных сверхпроводников. - М.: Советское радио, 1978.

6. Слабая сверхпроводимость. Квантовые интерферрометры и их применение / Под ред. Б.Б.Шварца и С.Фонера. - М.: Мир, 1980.

7. Г.Эберт. Краткий справочник по физике. - М.: Физматгиз, 1963, с.325.

8. Э. Ред. Справочное пособие по высокочастотной схемотехнике. - М.: Мир, 1990, с.78.

Класс G01P3/36 приборы, выполняющие измерения с помощью оптических средств, те инфракрасных, видимых или ультрафиолетовых лучей

устройство для измерения вектора скорости движения изображения объекта со случайным распределением яркостей -  патент 2524441 (27.07.2014)
способ обнаружения объектов, измерения скорости, дальности и угловых координат и устройство для его осуществления -  патент 2521203 (27.06.2014)
устройство доплеровского измерителя скорости на основе интерферометра фабри-перо с волоконным вводом излучения -  патент 2511606 (10.04.2014)
оптический способ измерения скорости тел -  патент 2482500 (20.05.2013)
способ растрового оптического измерения скорости объекта -  патент 2482499 (20.05.2013)
устройство измерения перемещения и устройство измерения скорости -  патент 2467336 (20.11.2012)
детектор и способ определения скорости -  патент 2458352 (10.08.2012)
детектор скорости и способ определения скорости -  патент 2457492 (27.07.2012)
лазерное устройство для измерения скорости потока диализата -  патент 2445606 (20.03.2012)
устройство для определения коэффициента лобового сопротивления перемещающегося тела -  патент 2442172 (10.02.2012)

Класс G01N25/28 с непосредственным измерением роста температуры газов в течение процесса горения 

Наверх