способ расшифровки спекл-резольвограмм

Формула изобретения

Способ расшифровки спекл-резольвограммы с двойной экспозицией, включающий ее поточечное сканирование перпендикулярным нерасходящимся лучом, измерение в получаемых в результате сканирования интерференционных картинах максимальной и минимальной величин интенсивности, определение ширины и контраста полос, отличающийся тем, что при разовом прохождении вдоль одной из сторон спекл-резольвограммы находят максимальное расстояние между соседними максимумами или минимумами и соответствующую этой паре спеклов координату точки спекл-резольвограммы, из которой продолжают поточечное сканирование в направлении, перпендикулярном первоначальному, до границ спекл-резольвограммы, регистрируют ширину и контраст полос с последующим определением максимальной ширины при минимальном контрасте.

Описание изобретения к патенту

Изобретение относится к области испытания светочувствительных материалов, а именно к методам и средствам резольвометрии с использованием когерентных источников света, и может быть использовано в автоматизированных системах тестирования фоторегистрирующих материалов и сред.

Известен способ получения резольвограмм с помощью спекл-структуры (патент РФ 2147764, G 03 С 5/02), используемой в качестве оптического тест-объекта, дважды экспонированного на испытываемый светочувствительный материал. Между экспозициями испытываемый образец вращают на заданный угол вокруг оси, перпендикулярной его плоскости. Полученная резольвограмма представляет собой хаотически расположенные пары спеклов с линейной зависимостью расстояния между спеклами в паре от смещения пары относительно центра вращения образца светочувствительного материала во время экспозиций.

Недостатком известного способа является нераскрытая методика определения разрешающей способности по полученной данным способом спекл-резольвограмме.

Известен способ расшифровки двухэкспозиционных спекл-фотографий, позволяющий методом поточечного сканирования спекл-фотографии и последующей обработки полученных в каждой точке спекл-интерферограмм определять локальные величины и ориентацию смещений спеклов в плоскости (Ч.Вест, Голографическая интерферометрия. -М: Мир, 1982.- с.439-440). В работе (С.О. Мажура. Возможности автоматизированного съема количественной информации со спекл-фотографий двойной экспозиции. Физические основы голографии. Материалы XI Всесоюзной школы по голографии, Л., 1979, с.172-179) анализируются общие схемы автоматизированного съема количественной информации со спекл-фотографии двойной экспозиции, рассматриваются несколько конкретных схемных решений.

Известные способы обработки двухэкспозиционных спекл-фотографий требуют сканирования всей площади спекл-фотографии, что связано с длительным временем получения количественной информации.

Целью изобретения является сокращение времени расшифровки спекл-резольвограмм, повышение достоверности и информативности определения разрешающей способности путем использования величины контраста и ширины интерференционных полос.

Поставленная цель достигается тем, что с помощью двухкоординатного механизма осуществляют поточечное сканирование спекл-резольвограммы перпендикулярным нерасходящимся лучом. В интерференционных картинах Юнга, полученных в результате сканирования, осуществляется измерение максимальной и минимальной величин интенсивностей, определение ширины и контраста полос, по которым при разовом прохождении вдоль одной из сторон спекл-резольвограммы находят максимальное расстояние между соседними максимумами или минимумами и соответствующую этой паре спеклов координату точки, из которой продолжают поточечное сканирование в направлении, перпендикулярном первоначальному, до границ спекл-резольвограммы, регистрируют ширину и контраст полос с последующим определением программными средствами максимальной ширины при минимальном контрасте, по которой вычисляется разрешающая способность.

Сущность изобретения поясняется чертежом, на котором представлена блок-схема реализации способа.

Спекл-резольвограмму 1 размещают на рабочей поверхности двухкоординатного механизма сканирования 2 таким образом, чтобы лазерный луч 3 находился в начальной точке сканирования, максимально удаленной от центра вращения спекл-резольвограммы, и процесс сканирования начался вдоль оси x. Шаг сканирования выбирают не превышающим радиуса лазерного луча. Прошедший сквозь спекл-резольвограмму 1 лазерный луч 3 формирует полосы Юнга на фотоприемнике 4 по всей длине спекл-резольвограммы 1, преобразуется в электрический сигнал, поступающий в блок регистрации и расшифровки 5, в котором регистрируется координатная зависимость интенсивности интерференционной картины, и определяются максимумы и минимумы интенсивности, значения контраста М и расстояния между соседними максимумами (минимумами) d. Блок регистрации и расшифровки 5 осуществляет выбор максимального значения d и соответствующей этому значению координате X_dmax. Полученные в блоке регистрации и расшифровки 5 данные подаются в блок управления 6, который возвращает лазерный луч 3 в точку Х_dmах и осуществляет сканирование вдоль оси y в перпендикулярном направлении к центру вращения. Сканирование в заданном направлении производится до прохождения двух точек спекл-резольвограммы 1, формирующих интерференционные полосы с М= 0. Разность координат этих точек равна удвоенному расстоянию 2а от центра спекл-резольвограммы 1 до области с неразличимыми спеклами. Известный диаметр этой области позволяет найти разрешающую способность R для испытуемого фоточувствительного материала: R=1/а, где - угол поворота спекл-фотографии между двумя экспозициями.

Преимуществом данного способа расшифровки спекл-резольвограмм является уменьшение сканируемой площади, что приводит к сокращению времени получения количественных данных о разрешающей способности фоточувствительных материалов.

Источники информации

1. Патент РФ 2147764, 7 G 03 С 5/02.

2. Ч.Вест, Голографическая интерферометрия. - М: Мир, 1982.- с.439-440.

3. С.О. Мажура. Возможности автоматизированного съема количественной информации со спекл-фотографий двойной экспозиции. Физические основы голографии. Материалы XI Всесоюзной школы по голографии, Л., 1979, с. 172-179 (прототип).