способ синтеза многопараметровых автоматизированных измерительных систем
| Классы МПК: | G05B23/00 Испытания и контроль систем управления или их элементов |
| Автор(ы): | Страхов А.Ф., Страхов О.А. |
| Патентообладатель(и): | ЗАО Московское конструкторское бюро "Параллель" |
| Приоритеты: |
подача заявки:
2002-05-29 публикация патента:
27.12.2003 |
Изобретение относится к измерительной технике. Технический результат от использования изобретения заключается в повышении достоверности и эффективности синтезируемых систем. Сущность способа состоит в формировании требований к выбору аппаратуры, каналов по совокупности тестовых воздействий, управляемых и неуправляемых внешних воздействий, совокупности выходных информативных параметров на основе соотношений между показателем качества объекта контроля W и проектировании каналов системы. По приведенным соотношениям определяют состав аппаратуры каналов, требования к динамическому диапазону возможных изменений внешних воздействий на объект контроля, требования к динамическим диапазонам измерений параметров, уточняют состав аппаратуры каналов, получают частные критерии точности каналов измерительной системы и уточняют варианты типов переходных характеристик каналов. Способ осуществляется итерационно в несколько этапов и в несколько циклов до получения заданных характеристик синтезируемой измерительной системы.
Рисунок 1, Рисунок 2, Рисунок 3, Рисунок 4, Рисунок 5, Рисунок 6, Рисунок 7, Рисунок 8, Рисунок 9, Рисунок 10, Рисунок 11, Рисунок 12, Рисунок 13
Формула изобретения
Способ синтеза многопараметровых автоматизированных измерительных систем, включающий выбор структурных звеньев каналов многопараметровой автоматизированной измерительной системы, подключение каналов многопараметровой автоматизированной измерительной системы к входам и выходам ЭВМ, предназначенной для контроля состояния объекта, отличающийся тем, что состав каналов многопараметровой автоматизированной измерительной системы выбирают по составу тестовых управляемых уj и неуправляемых yk стимулирующих воздействий и xj информативных параметров, используемых в системе для оценки показателя W качества многопараметрового объекта контроля, выбор каналов и структурных звеньев каналов по динамическому диапазону
xi,yj, yk допустимых пределов изменения параметров xi, уj, yk в соответствующих каналах производят исходя из заданного динамического диапазона измерений показателя качества W многопараметрового объекта контроля по соотношению 
где 
- весовые коэффициенты, отражающие взаимозависимость между изменениями значений показателя качества W многопараметрового объекта контроля и изменениями соответствующих параметров хi, yj, yk, используемых при измерениях показателя качества W многопараметрового объекта контроля,выбор каналов хi, yj, yk многопараметровой автоматизированной измерительной системы по их метрологическим характеристикам, выражаемым, например, значениями среднего квадратического отклонения (СКО) погрешности при заданной доверительной вероятности, производят исходя из заданных требований к метрологическим характеристикам системы, например, максимально допустимому значению СКО 
м.д.W погрешности определения значения показателя качества W многопараметрового объекта контроля по соотношению 
где хi, уj, уk - значения СКО погрешностей каналов хi, yj, yk многопараметровой автоматизированной измерительной системы,при этом выбор структурных звеньев каждого канала по их влиянию на метрологические характеристики соответствующего канала, с учетом отнесения каналов по виду их переходной характеристики к мультипликативным или аддитивным, производят исходя из частных критериев точности хi, уj, уk каналов по соотношениям 
для каналов мультипликативного типа, где отнРвх - частный критерий точности мультипликативного канала в виде СКО относительной погрешности, а отнРвх, отн К1,....., отн КN - частные критерии точности структурных звеньев канала в виде СКО относительных частных погрешностей за счет влияния соответствующих структурных звеньев мультипликативного канала, и 
для каналов аддитивного типа, где R - частный критерий точности аддитивного канала в виде СКО абсолютной погрешности, а R1, R2,...., RN - частные критерии точности структурных звеньев канала в виде СКО частных абсолютных погрешностей за счет влияния соответствующих структурных звеньев аддитивного канала.
Описание изобретения к патенту
Текст описания в факсимильном виде (см. графическую часть).Класс G05B23/00 Испытания и контроль систем управления или их элементов
