способ предпосевной обработки семенного материала

Формула изобретения

1. Способ предпосевной обработки семенного материала, включающий обработку семенного материала потоком отрицательных ионов в межэлектродном пространстве, отличающийся тем, что семенной материал равномерным слоем размещают на металлическом листе, который гальванически заземляют через амперметр, с последующей обработкой семенного материала равномерным потоком отрицательных ионов, образующимся в воздушном промежутке величиной 50-60 см над слоем семенного материала, при этом дозу потока отрицательных ионов определяют по формуле

где I - ток ионизации, А;

S - площадь металлического листа, м²;

Т - время ионизации, с.

2. Способ по п.1, отличающийся тем, что одновременно с потоком отрицательных ионов подают кислород.

Описание изобретения к патенту

Изобретение относится к сельскому хозяйству и может быть использовано в растениеводстве для подготовки семенного материала к посеву.

Известен способ предпосевной обработки толстого слоя семян потоком ионов в электростатическом поле (Заявка РФ 99118786/13, МПК 7 А 01 С 1/00, 27.06.2001), включающий обработку семян в межэлектродном пространстве, где поток отрицательных ионов, образующихся в воздушном промежутке величиной 1-1,5 см над толстым слоем семян в результате нарушения электрической прочности воздуха, спонтанно проходит через него.

Недостатком известного способа является неравномерность потока отрицательных ионов, что приводит к ухудшению качества обработанных семян.

Технический результат заключается в сокращении времени всхожести семенного материала, а также повышении урожайности за счет улучшения качества их обработки.

Сущность изобретения заключается в том, что в способе предпосевной обработки семенного материала, включающем обработку семенного материала потоком отрицательных ионов в межэлектродном пространстве, семенной материал равномерным слоем размещают на металлическом листе, который гальванически заземляют через амперметр, с последующей обработкой семенного материала равномерным потоком отрицательных ионов, образующимся в воздушном промежутке величиной 50-60 см над слоем семенного материала, при этом дозу потока отрицательных ионов определяют по формуле



где I - ток ионизации, А;

S - площадь металлического листа, м²;

Т - время ионизации, с.

Кроме того, одновременно с потоком отрицательных ионов можно подавать кислород.

Если величина воздушного промежутка над слоем семенного материала будет меньше 50 см, то при больших размерах металлического листа возможно возникновение неравномерности потока отрицательных ионов, что приводит к изменению плотности ионного тока по всей площади расположения ионизируемого семенного материала, а это обуславливает его некачественную обработку.

Если величина воздушного промежутка над слоем семенного материала будет больше 60 см, то уменьшается величина ионного тока в межэлектродном пространстве, поэтому для достижения требуемой дозы необходимо либо увеличить величину ионного тока, что увеличивает расход энергии, либо увеличивать время ионизации, что приводит к снижению производительности.

Способ осуществляют следующим образом. Семенной материал, например семена огурцов, разбивают на несколько партий с равным количеством семян. Каждую партию равномерным слоем размещают на гальванически заземленном через амперметр металлическом листе с площадью ионизации под каждую партию, равной, например, S=0,159 м². Направляют на каждую партию семян огурцов сверху равномерный поток отрицательных ионов на расстоянии 50 см. По амперметру определяют ток ионизации, равный, например, I=3,410^-6 А. Задают время обработки Т для каждой партии семян, равное соответственно 2400 с, 3600 с, 4800 с, 7200 с. Определяют дозу ионизации для каждой партии по формуле



где I - ток ионизации, А;

S - площадь металлического листа, м²;

Т - время ионизации, с.

После обработки семена огурцов высаживают в грунт и при уборке урожая фиксируют их урожайность. Следует отметить, что для сокращения времени ионизации в область ионизации можно подавать кислород.

На чертеже представлена зависимость урожайности огурцов от дозы ионизации в сравнении с контрольным вариантом без ионизации. Испытания показали, что оптимальной дозой ионизации для огурцов, при которой достигается наибольшая их урожайность, является Д=0,103 Ас/м².

По сравнению с известными решениями предлагаемый способ позволяет повысить процент всхожести семенного материала, сократить время всхожести в 1,5-2 раза, а также повысить урожайность в 1,2-1,5 раз. Кроме того, следует отметить, что у растений, выращенных из семенного материала, обработанного предлагаемым способом, проявляется повышенная стойкость к засухе благодаря более развитой корневой системе.