рентгенолюминесцентный способ определения концентрации азотных дефектов в алмазах

Классы МПК:G01N23/00 Исследование или анализ материалов радиационными методами, не отнесенными к группе  21/00 или  22/00, например с помощью рентгеновского излучения, нейтронного излучения
Автор(ы):, ,
Патентообладатель(и):Институт геологии Коми научного центра Уральского отделения РАН
Приоритеты:
подача заявки:
2002-03-13
публикация патента:

Изобретение относится к области физических методов определения в кристаллах примесей, необходимых для оценки утилизационного качества и классификации ценных синтетических и природных минералов, таких как алмаз. В способе оценка концентрации N3-дефектов в алмазах производится по величине интенсивности реабсорбции бесфононной компонентой N3-системы в А-полосе люминесценции кристалла, стимулированной рентгеновскими лучами. Использование в качестве зондирующего оптического излучения собственного излучения кристалла снижает требования к качеству его огранки, делает измерение малочувствительным к рассеянию и отражению света поверхностью алмаза, что существенно ограничивает применение для этих целей традиционной спектроскопии оптического поглощения. Техническим результатом изобретения является расширенный диапазон пригодных для измерений кристаллов и высокая экспрессность анализа. 4 ил.
Рисунок 1, Рисунок 2, Рисунок 3, Рисунок 4

Формула изобретения

Способ определения концентрации азотных дефектов в алмазах, в частности N3-центров, базирующийся на измерении коэффициента оптического поглощения рентгенолюминесцентный способ определения концентрации   азотных дефектов в алмазах, патент № 2215285 в бесфононной линии N3-системы (415,3 нм), пропорционального концентрации дефектов CN3(cм-3)=2,0рентгенолюминесцентный способ определения концентрации   азотных дефектов в алмазах, патент № 22152851017рентгенолюминесцентный способ определения концентрации   азотных дефектов в алмазах, патент № 2215285, отличающийся тем, что в качестве зондирующего оптического излучения используется рентгеностимулированное оптическое свечение самого алмаза, а определение коэффициента поглощения производится от базовой линии, восстановленной на А-полосе рентгенолюминесценции по крыльям анализируемой линии на 415,3 нм

рентгенолюминесцентный способ определения концентрации   азотных дефектов в алмазах, патент № 2215285

где рентгенолюминесцентный способ определения концентрации   азотных дефектов в алмазах, патент № 2215285 - плотность алмаза, 3,515 г/см3;

m - его измеренная масса, г;

I - интенсивность свечения при 415,3 нм;

I0 - интерполированное значение ее интенсивности в А-полосе при 415,3 нм; определение концентрации азотных дефектов производится по формуле

CN3(см-3)=(2,0рентгенолюминесцентный способ определения концентрации   азотных дефектов в алмазах, патент № 22152850,3)рентгенолюминесцентный способ определения концентрации   азотных дефектов в алмазах, патент № 22152851017рентгенолюминесцентный способ определения концентрации   азотных дефектов в алмазах, патент № 2215285.

Описание изобретения к патенту

Изобретение относится к области физических методов определения в кристаллах примесей, необходимых для оценки утилизационного качества и классификации ценных синтетических и природных минералов, таких как алмаз.

В современной физической классификации разделение алмазов производится на основе концентрации примесных атомов азота, оцениваемой по характеристикам ИК-поглощения. Отечественная классификация отличается детализацией алмазов на несколько подтипов в зависимости от преобладания того или иного вида азотных дефектов, выявляемых оптическим поглощением и люминесценцией [Природные алмазы России: Научно-справ. изд. / Ред. В.Б. Квасков. - М.: Полярон, 1997, с. 24-37] . К "сквозным ", т.е. присутствующим практически во всех алмазах, оптически-активным дефектам относится агрегат из трех замещающих атомов азота, стабилизированный вакансией углерода (N3-дефекты). N3-центры дают характерную электронно-вибронную структуру в голубой части как поглощения, так и люминесценции, являясь своеобразным диагностическим признаком алмаза.

Известен способ оценки концентрации N3-дeфeктoв по спектрам оптического поглощения алмазов, предложенный Е.В. Соболевым [Природные алмазы России: Научно-справ. изд. / Ред. В.Б. Квасков. - М.: Полярон, 1997, 49 с.]. Согласно этой методике, о наличии в кристалле N3-центров судят по присутствию в спектре оптического поглощения линии с длиной волны 415,3 нм. Концентрация центров рассчитывается по формуле:

CN3(см-3)=2рентгенолюминесцентный способ определения концентрации   азотных дефектов в алмазах, патент № 22152851017рентгенолюминесцентный способ определения концентрации   азотных дефектов в алмазах, патент № 2215285, (1)

где

рентгенолюминесцентный способ определения концентрации   азотных дефектов в алмазах, патент № 2215285

линейный коэффициент поглощения в линии 415,3 нм, I0 и I - интенсивности падающего и прошедшего через кристалл оптического излучения с диной волны 415,3 нм, d - эффективная толщина кристалла в см.

Недостатком способа являются высокие требования к качеству приготовленного образца. В идеале это двусторонне-полированная пластика, но на практике измерения производятся на кристаллах с естественными, неплоскопараллельными гранями, что не позволяет применять метод в случае мелких кристаллов (1-2 мм в поперечнике) и кристаллов с замутненными гранями.

Задачей данного изобретения является разработка альтернативного способа определения концентрации N3-центров в алмазах, расширяющего диапазон пригодных для измерений кристаллов и повышающего экспрессность анализа за счет отказа от какой-либо предварительной обработки образца. Нами предлагается способ определения концентрации N3-дефектов по измерениям спектров рентгенолюминисценции алмаза и наложенного резонансного поглощения бесфононной компонентой N3-системы.

Новый технический результат достигается следующим образом. Как и в прототипе, используется свойство селективного поглощения оптического излучения примесными дефектами, а концентрация дефектов определяется по интенсивности ослабления зондирующего пучка света на длине волны, соответствующей линии поглощения примесным дефектом. В отличие от прототипа, использующего внешний источник зондирующего оптического излучения, предлагается использовать собственное свечение всего объема кристалла под действием рентгеновских лучей. В результате этого существенно снижаются требования к качеству огранки кристалла, делает измерения нечувствительными к рассеянию и отражению света поверхностью алмаза.

Сущность метода базируется на следующих физических принципах. В спектрах ренгенолюминисценции (РЛ) практически всех алмазов присутствует интенсивная широкая А-полоса (400-550 нм) с максимумом в голубой спектральной области (445-455 нм). Диапазон ренттеностимулированного излучения этой полосы перекрывает область поглощения N3-системы в ее бесфононном компоненте. Поэтому на фоне колоколообразной А-полосы появляется узкий провал, в частности, при 415,3 нм, обусловленный реабсорбцией оптического излучения N3-центрами (фиг. 1). На чертеже показаны спектры РЛ природных алмазов (N131, N133 - россыпь Ичетъю, Россия; РК, ЖК -Китай), снятые при комнатной температуре кристаллов. Приводятся также значения концентраций N3-центров в этих кристаллах, определенных методом электронного парамагнитного резонанса (ЭПР), и способ выбора базовой линии и интенсивности реабсобции в линии 415,3 нм. Относительная интенсивность реабсорбции прямо пропорциональна концентрации N3-центров. Так как источником света для выявления поглощения N3-системы служит собственное излучение кристалла, то требования к качеству огранки кристалла существенно снижается, измерения становятся малочувствительными к рассеянию и отражению света поверхностью алмаза.

Для получения спектров РЛ используется рентгеновский аппарат с мощностью излучения, достаточной для возбуждения люминесценции алмаза (фиг.2). Диспергирующая и регистрирующая части аппаратуры должны обеспечивать запись спектра рентгенолюминесценции в диапазоне 400-500 нм и разрешение узких резонансных линий азотных дефектов. Температура образца - комнатная. Эффективная реабсорбция наблюдается при регистрации оптического излучения вдоль или перпендикулярно направлению распространения в кристалле рентгеновского луча. На фиг.2 показана соосная конфигурация аппаратуры.

Процедура измерений обработки полученных спектров включает определение интенсивности реабсорбции на 415,3 нм по отношению к базовой линии, восстановленной на А-полосе по крыльям анализируемой линии (фиг.1). По измерениям рассчитывается коэффициент поглощения, определяемый следующим выражением:

рентгенолюминесцентный способ определения концентрации   азотных дефектов в алмазах, патент № 2215285

где рентгенолюминесцентный способ определения концентрации   азотных дефектов в алмазах, патент № 2215285 - плотность алмаза (3,515 г/см3), m - его измеренная масса (г), I - интенсивность рентгенолюминесценции при 415,3 нм, I0 - интерполированное значение ее интенсивности в А-полосе при 415,3 нм. Концентрация N3-центров в условных единицах пропорциональна рентгенолюминесцентный способ определения концентрации   азотных дефектов в алмазах, патент № 2215285. Независимое измерение концентраций N3-центров произведено с помощью ЭПР методом двойного интегрирования линий образца и эталона с известной концентрацией спинов [Пул Ч. Техника ЭПР спектроскопии. - M: Мир, 1970, с.543-548]. Экспериментально определенное значение коэффициента пропорциональности концентрации дефектов по величине рентгенолюминесцентный способ определения концентрации   азотных дефектов в алмазах, патент № 2215285 составляет (2,0рентгенолюминесцентный способ определения концентрации   азотных дефектов в алмазах, патент № 22152850,3)рентгенолюминесцентный способ определения концентрации   азотных дефектов в алмазах, патент № 22152851017 см-2 (фиг.3). Таким образом, оценка концентрации азотных дефектов может быть произведена по формуле

CN3(см-3)=(2,0рентгенолюминесцентный способ определения концентрации   азотных дефектов в алмазах, патент № 22152850,3)рентгенолюминесцентный способ определения концентрации   азотных дефектов в алмазах, патент № 22152851017рентгенолюминесцентный способ определения концентрации   азотных дефектов в алмазах, патент № 2215285. (3)

Предлагаемый вариант оценки концентраций годится лишь для приближенной оценки концентрации данных дефектов, но он прост в реализации и характеризуется низким порогом обнаружения (1016 см-3). Кроме того, аналогичная калибровка может быть проведена для бесфононных линий других азотных дефектов, проявляющихся на фоне А-полосы РЛ.

Пример.

Примером использования эффекта реабсорбции может быть выявленный нами характер распределения алмазов Ичетью по концентрациям N3-центров, оцененным по спектрам РЛ.

Для получения спектров РЛ используется рентгеновский аппарат УРС-1,0, спектральный состав люминесценции анализируется монохроматором типа AAS-1 (Carl Zeiss, решетка 1300 мм-1), регистрация электронная - ФЭУ-106 и самописец КСПП-4. Направление распространения рентгеновского и оптическая лучей взаимно ортогональные. Кристалл помещается на столик и облучается рентгеновским излучением, возбужденная люминесценция в оптическом диапазоне фокусируется системой линз на входную щель монохроматора. Температура образца - комнатная. Съемка спектра производится 3-5 раз при различных ориентациях кристалла, затем спектр усредняется.

На полученной в результате измерений концентраций азотных дефектов гистограмме проявляются две группы алмазов - с высокими и низкими содержаниями N3-центров (фиг.4). Для первой группы алмазов характерны значения концентрации N3-центров 0,1-2рентгенолюминесцентный способ определения концентрации   азотных дефектов в алмазах, патент № 22152851017 см-3, для второй, более малочисленной - (2-5)рентгенолюминесцентный способ определения концентрации   азотных дефектов в алмазах, патент № 22152851017 см-3.

Класс G01N23/00 Исследование или анализ материалов радиационными методами, не отнесенными к группе  21/00 или  22/00, например с помощью рентгеновского излучения, нейтронного излучения

установка для рентгеновского контроля сварных швов цилиндрических изделий -  патент 2529754 (27.09.2014)
способ определения загрязненности неметаллическими включениями стальных изделий -  патент 2526227 (20.08.2014)
устройство для осуществления контроля шероховатости поверхности -  патент 2524792 (10.08.2014)
мобильный обнаружитель опасных скрытых веществ (варианты) -  патент 2524754 (10.08.2014)
рентгеноспектральный анализ негомогенных материалов -  патент 2524559 (27.07.2014)
способ определения концентрации элемента в веществе сложного химического состава -  патент 2524454 (27.07.2014)
способ измерения поверхностной плотности преимущественно гетерогенных грунтов -  патент 2524042 (27.07.2014)
усовершенствованная система безопасности для досмотра людей -  патент 2523771 (20.07.2014)
способ изготовления эталонов для рентгенофлуоресцентного анализа состава тонких пленок малокомпонентных твердых растворов и сплавов -  патент 2523757 (20.07.2014)
установка для проверки объектов посредством электромагнитных лучей, прежде всего рентгеновских лучей -  патент 2523609 (20.07.2014)
Наверх