способ определения характеристик поверхностного слоя жидкости

Классы МПК:G01N11/00 Исследование свойств текучих сред, например определение вязкости, пластичности; анализ материалов путем определения их текучести
G01N13/02 исследование поверхностного натяжения жидкостей 
G01N21/84 системы, предназначенные для особых целей
G01P3/36 приборы, выполняющие измерения с помощью оптических средств, те инфракрасных, видимых или ультрафиолетовых лучей
Автор(ы):
Патентообладатель(и):Коломиец Сергей Михайлович
Приоритеты:
подача заявки:
2000-12-25
публикация патента:

Использование: в измерительной технике. В способе определения характеристик поверхностного слоя жидкости на поверхности жидкости возбуждают капиллярно-гравитационные волны и определяют их параметры (частота, фаза, амплитуда), по которым судят о характеристиках поверхностного слоя (скорости движения, отношении коэффициента поверхностного натяжения к плотности жидкости, вязкости). Технический результат - уменьшение времени определения характеристик, 2 з.п.ф-лы, 1 ил.
Рисунок 1

Формула изобретения

1. Способ определения характеристик поверхностного слоя жидкости, состоящий в том, что направляют на поверхность световой пучок и регистрируют параметры пучка, отраженного от поверхностного слоя, по которым и судят о характеристиках этого слоя, отличающийся тем, что на поверхности жидкости возбуждают капиллярно-гравитационные волны, длина которых и диаметр светового пучка являются величинами одного порядка, и регистрируют параметры выбранной гармоники переменной составляющей интенсивности отраженного пучка, по сдвигу частоты относительно частоты соответствующей гармоники капиллярно-гравитационной волны судят о скорости движения поверхностного слоя жидкости, по фазе гармоники переменной составляющей интенсивности отраженного пучка по отношению к фазе некоторого опорного сигнала той же частоты судят об отношении коэффициента поверхностного натяжения к плотности жидкости, а по отношению амплитуды гармоники упомянутого отраженного пучка к амплитуде гармоники отраженного второго пучка судят о вязкости жидкости.

2. Способ по п. 1, отличающийся тем, что на поверхности жидкости возбуждают бегущие волны, частота способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944 которых удовлетворяет соотношению

(способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944g3/способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 22009444способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944)1/3способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 22009441,

где способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944, способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944 - плотность и коэффициент поверхностного натяжения жидкости;

g - ускорение силы тяжести.

3. Способ по пп. 1 и 2, отличающийся тем, что второй световой пучок направляют на поверхность жидкости, смещая его относительно первого пучка на заданную величину в направлении распространения волны.

Описание изобретения к патенту

Изобретение относится к измерительной технике и может использоваться в самых разных областях науки и техники для определения некоторых физико-механических характеристик поверхностного слоя жидкостей - скорости движения, коэффициента поверхностного натяжения, вязкости.

Известен способ определения скорости движения жидкости, состоящий в том, что направляют на поверхность жидкости световой пучок и регистрируют параметры отраженного пучка, по которым и судят о скорости движения жидкости. В этом способе регистрируют переменную составляющую сигнала, обусловленную рассеянием света на частицах, взвешенных в жидкости, причем средняя частота сигнала и является мерой скорости [1].

Однако в этом способе достаточно сложной является электронная обработка сигналов. Кроме того, этот способ неприменим для контроля достаточно "чистых" жидкостей (с малой концентрацией взвешенных частиц) и не дает возможности определения каких-то других характеристик, помимо скорости.

Известен способ определения коэффициента поверхностного натяжения жидкости, состоящий в том, что формируют пленку жидкости на рамочном держателе, часть которого выполнена подвижной, и измеряют силу, действующую на подвижную часть, по которой и судят о коэффициенте поверхностного натяжения [2].

Однако этот способ является контактным, предполагает достаточно высокие требования к конструкции держателя и пригоден лишь для достаточно ограниченного класса жидкостей. Кроме того, этот способ не дает возможности определения каких-то других характеристик, помимо коэффициента поверхностного натяжения жидкости.

Известен способ определения вязкости жидкости, состоящий в том, что жидкость выпускают из камеры через капилляр в виде отдельных капель и определяют вязкость расчетным путем [3].

Однако этот способ является контактным, предполагает достаточно высокие требования к конструкции устройства и пригоден лишь для достаточно ограниченного класса жидкостей. Кроме того, он не дает возможности определения каких-то других характеристик, помимо вязкости.

Наиболее близким техническим решением является способ определения скорости движения жидкости, состоящий в том, что направляют на поверхность жидкости световой пучок и регистрируют параметры отраженного пучка, по которым и судят о скорости движения жидкости. В этом способе регистрируют переменную составляющую сигнала, обусловленную рассеянием света на частицах, взвешенных в жидкости, причем средняя частота сигнала и является мерой скорости [4].

Однако в этом способе достаточно сложной является электронная обработка сигналов. Кроме того, этот способ неприменим для контроля достаточно "чистых" жидкостей (с малой концентрацией взвешенных частиц) и не дает возможности определения каких-то других характеристик, помимо скорости.

Технический результат, который может быть получен при осуществлении изобретения, состоит в упрощении реализации измерения характеристик поверхностного слоя жидкости (скорости движения, коэффициента поверхностного натяжения, вязкости), а также в возможности измерения любой из указанных характеристик либо одновременного измерения всех этих характеристик всего лишь одним бесконтактным оптическим устройством (достаточно простым в реализации). При этом собственно измерительная поверхность может быть весьма малой (10-2 см2) и располагаться на значительном расстоянии (единицы и даже десятки сантиметров) от стенок сосуда. Соответственно, существенно снижаются требования к конструкции механических блоков и узлов устройства для реализации способа, и расширяется класс жидкостей, для исследования которых это способ может быть использован (в том числе, и для жидких металлов). Помимо этого, оказывается возможным исследование локальных неоднородностей указанных характеристик. Эти неоднородности, в частности, могут быть обусловлены неоднородностями температуры на поверхности жидкости. Фактически измерения указанных характеристик сводятся к хорошо разработанным измерениям частоты, фазы, амплитуды гармонических электрических сигналов и могут быть достаточно точными. Применительно к измерению только лишь скорости предлагаемый способ дает возможность исследования и гомогенных жидкостей (в которых концентрация взвешенных частиц пренебрежимо мала), а также существенно упростить электронную обработку сигналов.

Этот результат достигается тем, что направляют на поверхность жидкости световой пучок и регистрируют параметры пучка, отраженного от поверхностного слоя, по которым и судят об указанных характеристиках жидкости, причем на поверхности жидкости возбуждают капиллярно-гравитационные волны, длина которых и диаметр светового пучка являются величинами одного порядка, и регистрируют параметры выбранной гармоники переменной составляющей интенсивности отраженного пучка - сдвиг частоты относительно частоты соответствующей гармоники капиллярно-гравитационных волн, или фазу по отношению к фазе некоторого опорного сигнала той же частоты, или амплитуду по отношению к амплитуде некоторого опорного сигнала той же частоты, и по этим параметрам судят соответственно о скорости движения поверхностного слоя жидкости, или о коэффициенте поверхностного натяжения, или о вязкости жидкости.

В частности, на поверхности жидкости возбуждают бегущие волны, частота способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 22009440 которых удовлетворяет соотношению (способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944g3/способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 220094440способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944)1/3способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944 1, где способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944,способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944 - плотность и коэффициент поверхностного натяжения жидкости, g - ускорение силы тяжести.

В частности, направляют на поверхность жидкости второй световой пучок, смещенный относительно первого пучка на заданную величину в направлении распространения капиллярно-гравитационных волн, регистрируют ту же гармонику переменной составляющей интенсивности второго отраженного пучка, что и для первого пучка, и эту гармонику используют в качестве опорного сигнала при определении коэффициента поверхностного натяжения или вязкости жидкости.

По существу суть способа состоит в том, что возбуждают на поверхности жидкости капиллярно-гравитационные волны и определяют их параметры (частоту, фазу, амплитуду), по которым и судят о характеристиках жидкости (скорости движения поверхностного слоя, коэффициенте поверхностного натяжения, вязкости). При этом направляют на поверхность жидкости световой пучок, диаметр которого и длина указанных волн являются величинами одного порядка, и регистрируют параметры выбранной гармоники переменной составляющей интенсивности отраженного пучка (частоту, фазу, амплитуду), по которым и судят о параметрах капиллярно-гравитационных волн, т.е. об указанных характеристиках жидкости.

На чертеже представлена схема устройства для реализации способа.

Устройство содержит сосуд 1, в котором находится исследуемая жидкость 2. К сосуду прикреплен побудитель 3 капиллярно-гравитационных волн 4, подключенный к генератору электрических колебаний 5. Соосно с источником света 6, например полупроводниковым лазером, установлена призма 7 с двумя полупрозрачными гранями 8 и 9, направляющими соответствующие световые пучки на поверхность жидкости (под углом, близким к нормальному). По ходу отраженных от поверхности пучков установлены объективы 10 и 11, в фокальной плоскости которых находятся диафрагмы 12, 13. За диафрагмами установлены фотоприемники 14, 15. Выходы этих фотоприемников подключены к блоку обработки 16. К нему же подключен и генератор 5. Светоловушка 17 предназначена для поглощения светового пучка с "нерабочего" выхода призмы 7. При этом размеры отверстий в диафрагмах 12, 13 в несколько раз меньше диаметра светового пучка в плоскости диафрагм.

Работает устройство по предлагаемому способу следующим образом.

Побудителем 3 (совершающим механические колебания в плоскости XOZ) на свободной поверхности жидкости (обозначенной штриховой линией) возбуждают капиллярно-гравитационную волну 4 с некоторой частотой способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 22009440, задаваемой генератором 5. Масштаб волны для наглядности сильно преувеличен. Эта волна бежит в направлении ОХ, обозначенном стрелкой. Возможное отражение волны от противоположной стенки сосуда устраняется либо соответствующим поглотителем (не показан), либо соответствующим выбором длины сосуда. Тогда за счет вязкости жидкости отраженная волна будет иметь достаточно малую амплитуду. Пучок света от источника 6 полупрозрачными гранями 8 и 9 призмы 7 разделяют на два пучка, и последние направляют на поверхность жидкости. При этом диаметр D световых пучков выбирают таким, что длина способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944 капиллярно-гравитационной волны и диаметр D являются величинами одного порядка (способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944/D способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944 100).Отраженные от поверхности жидкости пучки регистрируются фотоприемниками 14 и 15. Блок обработки 16 производит определение параметров этих отраженных пучков.

При наличии волны поверхность жидкости представляет для света отражающую фазовую решетку с периодом способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944. Как и в случае дифракции света на ультразвуковых волнах, при указанном соотношении между способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944 и D дифракционные максимумы модулированы по интенсивности (Коломиец С.М. Некоторые особенности дифракции света на ультразвуке. Оптический журнал, 2000. - Т. 67, 9. - С. 85-86). При этом частота, фаза, амплитуда переменных составляющих интенсивности каждого отраженного пучка определяются соответствующими параметрами капиллярно-гравитационной волны. То есть по параметрам интенсивности отраженного пучка можно определить параметры волны и, следовательно, некоторые характеристики поверхностного слоя жидкости.

Рассмотрим подробнее принцип действия устройства.

Капиллярно-гравитационная волна, бегущая в некотором направлении ОХ, имеет вид:

H = H0cos(способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 22009440t+Kx+способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944), (1)

где Н - текущая высота жидкости над равновесным положением в точке х в момент времени t;

Н0 - амплитуда волны в точке х;

способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 22009440, К, способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944 - частота, волновое число и начальная фаза волны соответственно;

K = 2способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944/способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944;

способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944 - длина волны.

Фазовая скорость волны С имеет вид C = способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 22009440/K, причем C3[1-g/(Cспособ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 22009440)] = способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 22009440/способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944.

Соотношение (1) соответствует неподвижной жидкости. Если же поверхностный слой движется с некоторой скоростью V0(V0<<С), то за счет эффекта Доплера для неподвижного наблюдателя частота волны изменится и станет равной некоторой величине способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944; способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944 = способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 22009440+KV0cosспособ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944, где способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944 - угол между вектором скорости и волновым вектором волны. В дальнейшем обозначим V = V0cosспособ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944. То есть сдвиг частоты способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944 = способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944-способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 22009440 зависит от величины V проекции скорости жидкости на направление распространения волны. При условии V<< С, очевидно, способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 22009440 способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944 1. Итак,

V = способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944/K(способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 22009440). (2)

Зависимость K(способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 22009440) в общем случае определяется известным соотношением

способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 220094420 = gK+(способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944/способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944)K3, (3)

где g - ускорение силы тяжести; способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944,способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944 - плотность и коэффициент поверхностного натяжения жидкости. Из (3) следует, что

способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944

где p = способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944g3/способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 220094440. В частности, если p1/3<< 1, то K3 способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944 способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 220094420/(способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944/способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944).

То есть, измерив способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944 и способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 22009440 и зная способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944/способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944, по (2), (4) можно найти и V.

Рассмотрим теперь фазу волны способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944 = Kx+способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944, полагая, что V=0. Реально измеряемой величиной является разность фаз способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944 в двух точках пространства (с координатами x1=х; 2 х2=х+L): способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944 = K(x2-x1) = KL, где L=х21. Тогда из (3) получим:

способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944/способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944 = способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 220094420(L/способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944)3-g(L/способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944)2. (5)

То есть, измерив способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944,способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 22009440, L, по (5) можно найти и способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944/способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944 - отношение коэффициента поверхностного натяжения к плотности жидкости.

Рассмотрим теперь амплитуду волны. В (1) зависимость от координаты Y отсутствует, т. е. волна неявно полагается плоской. То есть волна возбуждается по всей "ширине" сосуда (в направлении OY), причем эта "ширина" не зависит от координаты х. Однако и в этом

случае амплитуда Н0, вообще говоря, зависит от х: H0 = H00exp{-способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944x}, где Н00 = Н0(х=0), способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944 - показатель ослабления волны. При этом способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944 = 2способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 22009440/(способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944/способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944), где способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944 - кинематическая вязкость жидкости (Ландау Л.Д., Лифшиц Е.М. Гидродинамика. М.: Наука, 1986. - С. 341-345).

Пусть известны значения амплитуды волны в двух точках с координатами х и х+L. Тогда получим

способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944 = (способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944/способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944)ln[H0(x)/H0(x+L)]/(2способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 22009440L). (6)

Измерив Н0(х)/Н0(х+L), способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 22009440, L, можно по (6) определить и вязкость жидкости способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944.

Итак, по параметрам волны (частоте, фазе, амплитуде) можно определить и характеристики поверхностного слоя жидкости (скорость движения, отношение коэффициента поверхностного натяжения к плотности, кинематическую вязкость).

Рассмотрим теперь вопрос об определении указанных параметров волны по параметрам интенсивности отраженных от поверхности жидкости световых пучков.

Как отмечалось выше, при дифракции света на фазовой дифракционной решетке, период которой сравним с диаметром светового пучка, дифракционные максимумы модулированы по интенсивности. В дальней зоне (зоне Фраунгофера) диаграмма направленности по мощности отраженного пучка содержит постоянную составляющую и набор переменных составляющих с различными гармониками частоты способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944. В частности, для угла регистрации, совпадающего с направлением распространения отраженного пучка, сигнал на выходе каждого фотоприемника содержит лишь четные гармоники. Если соответствующим электрическим фильтром выделить какую-то конкретную гармонику 2m, то выходной электрический сигнал U будет иметь вид:

U = U2mcos[способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944вt+способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944в],

где способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944в = 2mспособ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944; способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944в = 2mФ; способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944 и способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944 - частота и фаза волны (относительно светового пучка);

U2m - амплитуда сигнала. Эта амплитуда зависит как от мощности исходного светового пучка, размеров диафрагмы, установленной перед фотоприемником, чувствительности фотоприемника, так и от величины А=kH0, где k = 2способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944/способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944, где k - волновое число, способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944 - длина волны света; Н0 - амплитуда капиллярно-гравитационной волны.

Итак, измерив параметры выходных сигналов - частоту; разность фаз; отношение амплитуд - можно определить и характеристики поверхностного слоя жидкости по соотношениям, аналогичным (2), (5), (6):

V = способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944/[2mK(способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 22009440)]; (7)

способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944/способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944 = способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 220094420(L/2mспособ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944)3-g(L/2mспособ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944)2; (8)

способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944 = (способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944/способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944)ln[H0(x)/H0(x+L)]/(2способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 22009440L). (9)

Здесь Ho(x)/Н0(х+L) определяется по известной зависимости U2m(x)/U2m(x+L). В общем случае эта зависимость достаточно сложна и выражается через ряды функций Бесселя различных порядков. Если же Аспособ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 22009440,5; то эта зависимость существенно упрощается. Тогда существенна лишь вторая гармоника (m=1), так что Н0(х)/Н0(х+L)([U2(x)/U2(x+L)]1/2. Здесь U2 - амплитуда второй гармоники. Соответственно, (9) принимает вид

способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944 = (способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944/способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944)ln[U2(x)/U2(x+L)]/(4способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 22009440L). (10)

Оценки показывают, что при мощности светового пучка примерно 1 мВт и размере диафрагмы, втрое меньшем диаметра пучка (что обеспечивает уверенное выделение переменных составляющих), и не слишком больших m значения U2m вполне достаточны для их регистрации обычным фотодиодом.

Из (7), (8) видно, что чувствительность измерений увеличивается с увеличением m. Однако это неявно предполагает увеличение А - параметр А может быть большим (А>>1) даже при весьма малых с "обычной" точки зрения значениях Н0способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 22009441. . .10 мкм. При этом, однако, с увеличением А значения U2m уменьшаются. Кроме того, для определения способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944 в общем случае необходимо решение соответствующих трансцендентных уравнений. Поэтому выбор номера гармоники определяется условиями измерений и может быть осуществлен на основе известных соотношений. Для большинства задач, по-видимому, можно выбрать вторую гармонику (m= 1). Если угол регистрации не совпадает с направлением распространения отраженного пучка, то сигнал на выходе каждого фотоприемника содержит также и нечетные гармоники. В этом случае можно выбрать и первую гармонику (при малых А амплитуда первой гармоники существенно превосходит амплитуду второй гармоники).

Следует отметить, что для определения V и способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944/способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944 достаточно регистрации параметров лишь одного отраженного пучка. То есть элементы 9, 11, 13, 15 являются в этом случае излишними. Фазу этого пучка можно измерять по отношению к фазе сигнала генератора 5 (после соответствующего умножения частоты этого генератора). То есть в данном случае х=L. В то же время, для определения способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944 с практической точки зрения необходима регистрация параметров двух отраженных пучков.

В (8)-(10) полагалось, что V=0. Однако можно определить способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944/способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944,, способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944 и при движении жидкости, что позволяет контролировать указанные параметры непосредственно в потоке. В этом случае (8)-(10) остаются в силе при формальной замене переменных: способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 22009440 способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944 способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944.

Рассмотрим возможные погрешности измерения скорости, исходя из (7).

способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944

где способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944V,способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944(способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944f),способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 22009440,способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944g,способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944(способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944/способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944) - абсолютные погрешности измерения соответствующих величин, способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944f = способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944/2способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944; pспособ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944 = способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944g/способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944K2.

Определим нижний предел Vmin измерений по скорости, исходя из условия способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944V/Vmin = 1. Тогда Vmin способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944 способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944(способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944f)/2m. Для воды при способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944=3 мм частота f0 = способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 22009440/2способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944= 132 Гц. Если способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 22009440/способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 22009440 = способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944f0/f0 = 10-6; способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944(способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944f) = 10-4Гц, то при m=1...3 имеем: Vmin= (0,05. ..0,15) мкм/с. Отметим, что для воды скорость термокапиллярного движения поверхностного слоя жидкости, обусловленного градиентом температуры 1 град/см (и соответствующим градиентом коэффициента поверхностного натяжения) составляет примерно 1 мкм/с.

Верхний предел измерений по скорости, с одной стороны, ограничен условием V<< С, (практически Vспособ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 22009441 см/с), а с другой - ламинарностью движения (т. е. зависит от размеров сосуда).

Параметр р" в принципе может меняться от нуля (чисто капиллярная волна) до бесконечности (чисто гравитационная волна). Однако последний случай не представляет интереса с точки зрения рассматриваемой задачи, так что практически 0<p"способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 22009441. Если способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 22009440/способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 22009440 = 10-6; способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944g/g = 10-4 (что соответствует "справочному" значению g); способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944(способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944/способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944)/(способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944/способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944) = 6способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 220094410-4; то для V>>Vmin относительная погрешность способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944V/V имеет вид: способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944V/V способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944 Vmin/V+10-4.

Для погрешности определения способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944/способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944 из (8) получим

способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944

Здесь наиболее интересен случай р"<<1. При этом и параметр р=р"3, так что и р1/3<<1, т.е. (способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944g3/способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 220094440способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944)13способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944 1. Тогда

способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944(способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944/способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944)/(способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944/способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944) = 2способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 22009440/способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 22009440+3[способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944L/L+способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944(способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944в)/(способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944в)].

То есть для определения способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944/способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944 целесообразно использовать случай р1/3= р"<<1. Если способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 22009440/способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 22009440 = 10-6; способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944L/L = способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944(способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944в/(способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944в) = 10-4 то способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944(способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944/способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944)/(способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944/способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944) = 6способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 220094410-4.

Отметим, что для воды при изменении температуры на 1 градус относительное изменение способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944/способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944 составляет примерно 2способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 220094410-3. Предлагаемый способ позволяет обеспечить измерение способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944/способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944 для подавляющего большинства различных жидкостей (в том числе, и расплавленных металлов), поскольку для них способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944/способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944 находится в сравнительно нешироких пределах - (20...400) см32. В частности, для воды способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944/способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944=73 см32.

Для погрешности определения вязкости, исходя из (10), получим

способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944

Если способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944

то

способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944/способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944 = способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 22009440/способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 22009440+способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944(способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944/способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944)/(способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944/способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944)+способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944L/L+2способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944U2/U2. Пусть

способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 22009440/способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 22009440 = 10-6;способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944(способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944/способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944)/(способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944/способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944) = 6способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 220094410-4; способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944L/L = 10-4;способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944U2/U2 = 10-4. Тогда способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944/способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944 = 10-3.

Отметим, что для воды при изменении температуры на 1 градус относительное изменение вязкости составляет примерно способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 220094410-2.

Выше рассматривался режим бегущей волны. Для стоячей волны также возможно определение указанных характеристик жидкости (в частности, при ее движении), однако погрешности измерений в этом случае могут быть существенно выше.

Режим бегущей или стоячей волны может иметь место лишь если способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944<<1.
способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944 способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944 5,6способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 220094410-3[(способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944/способ определения характеристик поверхностного слоя   жидкости, патент № 2200944)3g]1/4.

Практически это означает, что вязкость жидкости не должна заметно превышать вязкость воды.

Итак, предлагаемый способ дает возможность одновременного измерения различных физических характеристик жидкости (скорости движения поверхностного слоя, отношения коэффициента поверхностного натяжения к плотности, вязкости) с помощью достаточно простого в реализации бесконтактного оптического устройства, при относительной погрешности не хуже 10-3. Собственно измерительная поверхность может быть весьма малой (10-2 см2) и располагаться на значительном расстоянии (единицы и даже десятки сантиметров) от стенок сосуда. Соответственно, существенно снижаются требования к конструкции механических блоков и узлов устройства для реализации способа, и расширяется класс жидкостей, для исследования которых это способ может быть использован (в том числе, и для жидких металлов). Помимо этого, оказывается возможным исследование локальных неоднородностей указанных характеристик. Эти неоднородности, в частности, могут быть обусловлены неоднородностями температуры на поверхности жидкости. Применительно к измерению только лишь скорости предлагаемый способ дает возможность исследования и гомогенных жидкостей (в которых концентрация взвешенных частиц пренебрежимо мала), причем нижний предел измерений по скорости может составлять 10-1 мкм/с.

Источники информации

1. Ринкевичус Б. С. Лазерная диагностика потоков. М.: МЭИ, 1990. - С. 126-127.

2. Патент 2024842 РФ, кл. G 01 N 13/02, 1994 г.

3. Патент 2091757 РФ, кл. G 01 N 11/06, 1997 г.

4. Патент 2144194 РФ, кл. G 01 P 3/36, 2000 г.

Класс G01N11/00 Исследование свойств текучих сред, например определение вязкости, пластичности; анализ материалов путем определения их текучести

способ определения точки гелеобразования методом вибрационной вискозиметрии -  патент 2529674 (27.09.2014)
вискозиметры с вибрирующим проводом -  патент 2529656 (27.09.2014)
капиллярный вискозиметр -  патент 2527131 (27.08.2014)
способ измерения вязкости жидких сред -  патент 2525646 (20.08.2014)
способ определения вязкости крови в процессе венепункции -  патент 2522931 (20.07.2014)
инерционный вискозиметр -  патент 2522718 (20.07.2014)
устройство для определения качества нефтепродуктов -  патент 2522207 (10.07.2014)
способы, установки и изделия промышленного производства для обработки измерений струн, вибрирующих в флюидах -  патент 2518861 (10.06.2014)
инерционный способ измерения вязкости -  патент 2517819 (27.05.2014)
способ определения коэффициента вязкости крови с использованием капиллярных трубок -  патент 2517784 (27.05.2014)

Класс G01N13/02 исследование поверхностного натяжения жидкостей 

способ определения дисперсности водогазовой смеси -  патент 2522486 (20.07.2014)
способ определения плотности металлических расплавов -  патент 2517770 (27.05.2014)
прибор для совместного измерения поверхностного натяжения и работы выхода электрона жидкометаллических систем с участием компонентов с высокой упругостью насыщенного пара металлов и сплавов -  патент 2511277 (10.04.2014)
способ оценки состояния легочного сурфактанта -  патент 2500347 (10.12.2013)
способ определения концентрации и идентификации поверхностно-активных веществ в водных растворах -  патент 2469291 (10.12.2012)
способ определения коэффициента поверхностного натяжения и угла смачивания -  патент 2460987 (10.09.2012)
способ определения плотности высокотемпературных металлических расплавов (варианты) -  патент 2459194 (20.08.2012)
способ определения поверхностного натяжения жидкости -  патент 2431822 (20.10.2011)
способ и устройство для измерения поверхностного натяжения жидкостей -  патент 2416090 (10.04.2011)
способ определения физических свойств жидкости -  патент 2391646 (10.06.2010)

Класс G01N21/84 системы, предназначенные для особых целей

способ определения плотности дефектов поверхности оптической детали -  патент 2515119 (10.05.2014)
система и способ обнаружения местного механического напряжения в интегральных устройствах -  патент 2466381 (10.11.2012)
устройство для управления ростом или свойствами растений -  патент 2462025 (27.09.2012)
способ определения малых немагнитных включений и устройство для его осуществления -  патент 2458337 (10.08.2012)
индикатор контроля степени сухости насыщенного водяного пара -  патент 2376585 (20.12.2009)
устройство идентификации изделий -  патент 2349903 (20.03.2009)
устройство и способ текущего контроля зоны сварки, а также система и способ управления сваркой -  патент 2312745 (20.12.2007)
устройство и способ для обнаружения примесей в материале -  патент 2248736 (27.03.2005)
кодированный микроноситель и способ кодирования микроносителей -  патент 2242746 (20.12.2004)
устройство для регистрации ионизирующих излучений -  патент 2091812 (27.09.1997)

Класс G01P3/36 приборы, выполняющие измерения с помощью оптических средств, те инфракрасных, видимых или ультрафиолетовых лучей

устройство для измерения вектора скорости движения изображения объекта со случайным распределением яркостей -  патент 2524441 (27.07.2014)
способ обнаружения объектов, измерения скорости, дальности и угловых координат и устройство для его осуществления -  патент 2521203 (27.06.2014)
устройство доплеровского измерителя скорости на основе интерферометра фабри-перо с волоконным вводом излучения -  патент 2511606 (10.04.2014)
оптический способ измерения скорости тел -  патент 2482500 (20.05.2013)
способ растрового оптического измерения скорости объекта -  патент 2482499 (20.05.2013)
устройство измерения перемещения и устройство измерения скорости -  патент 2467336 (20.11.2012)
детектор и способ определения скорости -  патент 2458352 (10.08.2012)
детектор скорости и способ определения скорости -  патент 2457492 (27.07.2012)
лазерное устройство для измерения скорости потока диализата -  патент 2445606 (20.03.2012)
устройство для определения коэффициента лобового сопротивления перемещающегося тела -  патент 2442172 (10.02.2012)
Наверх