устройство для измерения контактных характеристик гранул дисперсного металлического материала

Классы МПК:G01R27/26 для измерения индуктивности и(или) емкости; для измерения добротности, например резонансным способом; для измерения коэффициента потерь; для измерения диэлектрических постоянных 
Автор(ы):, ,
Патентообладатель(и):Государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования Тверской государственный технический университет
Приоритеты:
подача заявки:
2001-07-30
публикация патента:

Изобретение относится к электротехнической промышленности и может быть использовано при измерении электросопротивления и площади контакта малых сферических металлических частиц. Техническим результатом предложенного устройства является возможность измерения характеристик материала, ранее неизмеряемых на одном устройстве: твердости частиц, электросопротивления в контакте только двух малых сферических металлических частиц. Это достигается за счет того, что система нагружения выполнена в виде верхнего и нижнего съемных зажимов, расположенных симметрично по отношению к плоскости контакта, причем к верхней поверхности нижнего зажима и нижней поверхности верхнего зажима жестко прикреплены упругие пластины, в которых выполнены круглые отверстия, с закрепленным в них образцом в виде двух гранул, верхний зажим имеет возможность возвратно-поступательного перемещения в горизонтальной плоскости, а нижний зажим соединен с системой измерения нагрузки, причем в верхнем и нижнем зажимах по оси приложения нагрузки размещены электроды, электрически контактирующие с образцом. Нормальную нагрузку задают с помощью системы вертикального перемещения тубуса микроскопа. Система измерения нагрузки выполнена в виде тензометрического кольца. 2 з.п. ф-лы, 1 ил.
Рисунок 1

Формула изобретения

1. Устройство для измерения контактных характеристик гранул дисперсного металлического материала, содержащее систему нагружения, образец, источник тока, систему измерения нагрузки, механически соединенную с образцом, измерительное устройство тока и измерительное устройство напряжения, электрически соединенные с образцом, отличающееся тем, что система нагружения выполнена в виде верхнего и нижнего съемных зажимов, расположенных симметрично по отношению к плоскости контакта, причем к верхней поверхности нижнего зажима и нижней поверхности верхнего зажима жестко прикреплены упругие пластины, в которых выполнены круглые отверстия, с закрепленным в них образцом, в виде двух гранул, верхний зажим имеет возможность возвратно-поступательного перемещения в горизонтальной плоскости, а нижний зажим соединен с системой измерения нагрузки, причем в верхнем и нижнем зажимах по оси приложения нагрузки размещены электроды, электрически контактирующие с образцом и электрически соединенные с источником тока и измерительным устройством тока, а упругие пластины электрически соединены с измерительным устройством напряжения.

2. Устройство по п. 1, отличающееся тем, что нормальную нагрузку на образец задают с помощью системы вертикального перемещения тубуса микроскопа.

3. Устройство по п. 1, отличающееся тем, что система измерения нагрузки выполнена в виде тензометрического кольца.

Описание изобретения к патенту

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано при измерении электросопротивления и площади контакта малых сферических металлических частиц.

Наиболее близким к заявляемому является устройство для измерения контактных характеристик гранул дисперсного металлического материала (Кончиц В.В., Мешков В.В., Мышкин Н.К. Триботехника электрических контактов. - Минск: Наука и техника, 1986. - 256 с.), содержащее систему нагружения, образец, источник тока, систему измерения нагрузки, механически соединенную с образцом, измерительное устройство тока и измерительное устройство напряжения, электрически соединенные с образцом.

Недостатками такого устройства являются:

- невозможность измерения на одном устройстве механических и электрических характеристик;

- невозможность измерения электромеханических характеристик контакта двух малых гранул;

- невозможность контролирования факторов (вида упаковки гранул, координационного числа, числа вакансий и т.д.), вносящих неоднозначность в измерение контактных характеристик.

Задачей изобретения явилось расширение функциональных возможностей измерительного устройства и повышение точности измерения.

Технический результат достигается измерением характеристик материала, ранее неизмеряемых на одном устройстве, а именно твердости частиц, электросопротивления в контакте только двух частиц, а не их системы.

Поставленная задача достигается тем, что в устройстве для измерения контактных характеристик гранул дисперсного металлического материала, содержащем систему нагружения, образец, источник тока, систему измерения нагрузки, механически соединенную с образцом, измерительное устройство тока и измерительное устройство напряжения, электрически соединенные с образцом, согласно изобретению система нагружения выполнена в виде верхнего и нижнего съемных зажимов, расположенных симметрично по отношению к плоскости контакта, причем к верхней поверхности нижнего зажима и нижней поверхности верхнего зажима жестко прикреплены упругие пластины, в которых выполнены круглые отверстия, с закрепленным в них образцом в виде двух гранул, верхний зажим имеет возможность возвратно-поступательного перемещения в горизонтальной плоскости, а нижний зажим соединен с системой измерения нагрузки, причем в верхнем и нижнем зажимах по оси приложения нагрузки размещены электроды, электрически контактирующие с образцом и электрически соединенные с источником тока и измерительным устройством тока, а упругие пластины электрически соединены с измерительным устройством напряжения. Нормальную нагрузку на образец задают с помощью системы вертикального перемещения тубуса микроскопа. Система измерения нагрузки выполнена в виде тензометрического кольца.

На чертеже показано устройство для измерения контактных характеристик гранул дисперсного материала.

Исследуемый образец выполнен в виде двух гранул 1 и 2, которые закреплены в системе нагружения, выполненной в виде съемных верхнего и нижнего зажимов 3, 4, расположенных симметрично по отношению к плоскости контакта. К нижней поверхности верхнего зажима 3 жестко прикреплена упругая пластина 5. К верхней поверхности нижнего зажима 4 жестко прикреплена упругая пластина 6. В упругих пластинах 5, 6 выполнены отверстия 7, 8, в которых закреплены гранулы 1, 2. Упругие пластины 5, 6 служат одновременно потенциальными электродами, электрически соединенными с измерительным устройством напряжения в виде милливольтметра 9. В верхнем зажиме 3 и нижнем зажиме 4 по оси приложения нагрузки размещены электроды 10 и 11. Электроды 10, 11 контактируют с образцом в виде гранул 1, 2 и включены в последовательную электрическую цепь, содержащую источник тока 12 и измерительное устройство тока в виде миллиамперметра 13. Верхний зажим 3 с гранулой 1 и электродом 10 установлен в оправе 14 на тубусе микроскопа 15 с возможностью возвратно-поступательного перемещения в горизонтальной плоскости. Нижний зажим 4 с гранулой 2 и электродом 11 механически соединен с системой измерения нагрузки в виде тензометрического кольца 16 посредством шарика 17 и оправки 18, которая размещена во втулке 19 с возможностью свободного вертикального перемещения. Втулка 19 жестко закреплена в столике микроскопа 20. Тензометрическое кольцо 16 через шарик 21 установлено на основании 22. На тензометрическом кольце 16 наклеены тензорезисторы, образующие тензометрический датчик 23. Тензометрический датчик 23 включен в мостовую схему тензоусилителя 24, выходной сигнал которого регистрирует цифровой вольтметр 25.

Устройство работает следующим образом. Образец в виде двух металлических гранул дисперсного материала 1, 2 закрепляют в отверстиях 7, 8 упругих пластин 5, 6 соответственно. С помощью системы вертикального перемещения тубуса микроскопа 15 прикладывают нормальную нагрузку к образцу 1, 2. По показаниям предварительно протарированного вольтметра 25 определяют величину нормальной сжимающей силы. Включают источник тока 12 и пропускают через образец 1,2 постоянный ток. Величину силы тока измеряют миллиамперметром 13, разность потенциалов на образце измеряют милливольтметром 9. По величине разности потенциалов на образце и величине силы тока определяют электрическое сопротивление образца.

С помощью системы вертикального перемещения тубуса микроскопа 15 разгружают образец. С помощью системы вертикального и горизонтального перемещения тубуса микроскопа 15 наводят оптическую систему на поверхность контакта нижней гранулы 2. С помощью оптической системы тубуса микроскопа 15 измеряют диаметр отпечатка на грануле 2. По величинам диаметра отпечатка и сжимающей силы определяют твердость материала в контакте двух гранул 1 и 2.

Данное устройство может найти применение при разработке методов лабораторного контроля сырья и полуфабрикатов для изделий порошковой металлургии. Раннее выявление брака исключает дорогостоящие операции, проводимые на бракованном сырье или полуфабрикате при изготовлении деталей методами порошковой металлургии.

С помощью этого устройства можно контролировать качество исходного сырья - гранул дисперсного материала. По величине электрического сопротивления контакта гранул можно контролировать состояние их поверхности: шероховатость, химическую чистоту, степень окисления, наличие других загрязнений. По величине твердости гранул можно контролировать их механические свойства, искажение кристаллической структуры, наличие внутренних пор и т.п.

Класс G01R27/26 для измерения индуктивности и(или) емкости; для измерения добротности, например резонансным способом; для измерения коэффициента потерь; для измерения диэлектрических постоянных 

резонансное устройство для ближнеполевого свч-контроля параметров материалов -  патент 2529417 (27.09.2014)
устройство для измерения свойства диэлектрического материала -  патент 2528130 (10.09.2014)
микроконтроллерный измерительный преобразователь с уравновешиванием резистивного моста уитстона методом широтно-импульсной модуляции -  патент 2515309 (10.05.2014)
способ измерения комплексной диэлектрической проницаемости жидких и сыпучих веществ -  патент 2509315 (10.03.2014)
микроконтроллерный измерительный преобразователь сопротивления в двоичный код с генератором, управляемым напряжением -  патент 2502076 (20.12.2013)
способ определения коэффициента потерь tg диэлектриков -  патент 2501028 (10.12.2013)
микроконтроллерное устройство диагностики межвитковой изоляции обмотки электродвигателя по эдс самоиндукции -  патент 2498327 (10.11.2013)
способ определения сопротивления и индуктивности рассеяния первичной обмотки трансформатора напряжения -  патент 2491559 (27.08.2013)
сканирующий измеритель параметров cg-двухполюсников -  патент 2488130 (20.07.2013)
способ и устройство для емкостного обнаружения объектов -  патент 2486530 (27.06.2013)
Наверх