способ определения качественного и количественного состава электролитических жидкостей

Классы МПК:G01N21/67 с использованием электрической дуги или разрядов
Автор(ы):, ,
Патентообладатель(и):Зуев Борис Константинович,
Руденко Борис Антонович,
Ягов Владимир Викторович
Приоритеты:
подача заявки:
1998-04-16
публикация патента:

Способ относится к спектрально-эмиссионному анализу. Электрический разряд формируется в области диафрагмы, разделяющей электроды в кювете с электролитом. Кювета и диафрагма выполнены из диэлектрического материала. При напряжении 800 В между электродами в области отверстия диафрагмы диаметром 1 мм создается электрический разряд, эмиссионный спектр которого регистрируется спектральным анализатором. Технический результат - повышение точности анализа. 2 ил.
Рисунок 1, Рисунок 2

Формула изобретения

Способ определения качественного и количественного состава электролитических жидкостей, заключающийся в создании электрического разряда в электролите между электродами и измерении эмиссионных спектров излучения электролита для определения качественного и количественного состава электролита, отличающийся тем, что электрический разряд формируют в электролите в области отверстия диафрагмы, разделяющей электроды в кювете, при этом кювета и диафрагма выполнены из диэлектрического материала.

Описание изобретения к патенту

Изобретение относится к области спектрально-эмиссионного анализа и предназначено для количественного и качественного определения состава жидких электролитов.

Уровень техники

Известен способ для определения качественного и количественного состава электролитических жидкостей (электролитов), заключающийся в создании разряда между электродами и получении эмиссионного спектра исследуемого электролита [1] .

Наиболее близким из известных технических решений является способ получения эмиссионных спектров, заключающийся в создании разряда между электродами и регистрации эмиссионного спектра исследуемого электролита спектральным анализатором [2] .

Недостатком известного способа является влияние воздушного пространства между электродами на эмиссионный спектр исследуемого вещества при создании разряда между анализируемым электролитом и внешним электродом, что сказывается на качестве анализа.

Сущность предложения

Целью предложения является устранение указанного недостатка, а именно повышение точности анализа за счет устранения влияния воздушного промежутка между электродами.

Цель достигается тем, что в предложенном способе для проведения качественного и количественного анализа электролитических жидкостей (электролитов) с помощью электрического напряжения около 800 вольт в локальном объеме электролита создается область повышенной плотности тока, сопровождаемой испарением электролита в этой области и появлением в нем разряда.

Способ определения качественного и количественного состава электролитических жидкостей заключается в создании электролитического разряда в электролите между электродами и измерении эмиссионных спектров электролита для определения качественного и количественного состава электролита.

Новым в нем является то, что электрический разряд формируют в электролите в области отверстия диафрагмы, разделяющей электроды в кювете, при этом кювета и диафрагма выполнены из диэлектрического материала.

Эмиссионный спектр исследуемого образца попадает в спектральный анализатор для определения качественного и количественного состава исследуемого электролита.

На фигуре 1 показана блок схема устройства, реализующая предложенный способ определения качественного и количественного состава электролита. Она содержит кювету 1 с электродами 2 и 3, источник напряжения 4, диафрагму с отверстием 5, оптические окна 6 и 7, спектральный анализатор, содержащий монохроматор 8, фотоэлектронный умножитель 9, блок с интерференционными фильтрами 10 и фотоумножитель 11.

На электроды 2 и 3, расположенные в кювете с электролитом 1, подается напряжение от источника 4. Диафрагма 5 установлена в центре кюветы так, что разделяет электроды и исследуемый электролит. Монохроматор 8 и фотоумножитель 9 установлены на торце кюветы 1 с оптическим окном 6, а блок интерференционных фильтров 10 и фотоумножитель 11 установлены с противоположного торца кюветы 1 напротив оптического окна 7.

Способ определения и работа устройства

Способ определения качественного и количественного состава электролитических жидкостей состоит в методе получения разрядного облака исследуемого вещества, используемого дня проведения эмиссионного анализа. Пропущенный между электродами (через электролит) ток имеет наибольшую плотность в области отверстия диафрагмы. Плотность тока устанавливается такой величины, чтобы вызвать испарение исследуемого электролита и ионизацию его паров. Образующийся светящийся объем паров электролита в области отверстия (диаметром около 1 мм) диафрагмы является источником излучения для проведения эмиссионного анализа.

Устройство работает следующим образом. В кювету 1 через отверстие ввода заливается электролит. На электроды 2 и 3 подается напряжение 800 вольт от источника напряжения 4. В области отверстия диафрагмы 5 возникает разряд, излучение которого попадает через оптические окна кюветы на входную щель монохроматора. На выходе монохроматора регистрируется спектр излучения разряда. Через оптическое окно 7 излучение разряда на отдельных длинах волн выделяется интерференционными фильтрами и регистрируется фотоприемником. В качестве иллюстрации на фигуре 2 представлен градуировочный график для определения натрия в электролите (0,1 М NH4NO5), полученный предложенным способом.

Литература.

1. Journal of analytical atomic spectrometry, 1994, v. 9, N 3, p. 345-349.

2. А. с. СССР N 697889, A.

Класс G01N21/67 с использованием электрической дуги или разрядов

способ выявления примесей в работающем масле и определения степени его загрязненности для оценки технического состояния агрегатов машин -  патент 2519520 (10.06.2014)
способ определения состава электролитических жидкостей -  патент 2518633 (10.06.2014)
способ интегрально-сцинтилляционного исследования вещества с фракционным испарением его в плазму -  патент 2515131 (10.05.2014)
способ эмиссионного анализа элементного состава жидких сред -  патент 2487342 (10.07.2013)
способ интегрально-сцинтилляционного элементно-фазового исследования вещества с фракционным испарением его в плазму -  патент 2467311 (20.11.2012)
способ построения устойчивой градуировочной зависимости при определении количественного состава элементов в цинковых сплавах -  патент 2462701 (27.09.2012)
способ интегрально-сцинтилляционного атомного эмиссионного спектрального анализа вещества -  патент 2424504 (20.07.2011)
способ регистрации сцинтилляционного сигнала в спектральном анализе -  патент 2412431 (20.02.2011)
устройство для спектрального анализа состава вещества -  патент 2408872 (10.01.2011)
устройство для спектрального анализа состава вещества -  патент 2408871 (10.01.2011)
Наверх