способ определения содержания элементов

Классы МПК:G01V5/00 Разведка или обнаружение с использованием ядерных излучений, например естественной или искусственной радиоактивности
G01N23/00 Исследование или анализ материалов радиационными методами, не отнесенными к группе  21/00 или  22/00, например с помощью рентгеновского излучения, нейтронного излучения
Автор(ы):, , ,
Патентообладатель(и):Казанская геофизическая экспедиция,
Акционерное общество открытого типа Научно-производственное предприятие "Научно-исследовательский и проектно- конструкторский институт геофизических исследований геологоразведочных скважин"
Приоритеты:
подача заявки:
1997-03-26
публикация патента:

Изобретение относится к прикладной геофизике и может быть использовано для определения содержаний естественно радиоактивных или наведенных изотопов в горных породах. Способ заключается в регистрации спектров естественного или наведенного способ определения содержания элементов, патент № 2158943-излучения в интервалах квантования по глубине или времени соответственно с шагом способ определения содержания элементов, патент № 2158943h и способ определения содержания элементов, патент № 2158943t, определении интенсивностей в заданных смежных энергетических областях спектров и последующем расчете содержаний элементов путем решения матричной системы уравнений, где используется матрица чувствительности, которая определяется по результатам измерений спектров в k стандартных образцах содержаний элементов в нормальных условиях путем решения уравнений. Техническим результатом изобретения является повышение точности расчета и экономический эффект. 4 з.п. ф-лы, 2 ил., 1 табл.
Рисунок 1, Рисунок 2, Рисунок 3

Формула изобретения

1. Способ определения содержания элементов, заключающийся в регистрации полных спектров естественного или наведенного гамма-излучения в интервалах квантования по глубине или по времени, соответственно с шагом способ определения содержания элементов, патент № 2158943h и способ определения содержания элементов, патент № 2158943t, определении интенсивностей спектральных потоков в n заданных непекрывающихся энергетических интервалах спектров и последующем расчете содержаний элементов (Ci) путем решения переопределенной системы уравнений вида Ci = [ATP-1A] -1ATP-1Ni, где Ni - вектор измеренных спектральных потоков в n энергетических интервалах, Ci - вектор содержаний элементов, А и AT - прямая и транспонированная матрицы чувствительности, P-1 - обратная матрица весовых коэффициентов, причем матрицу чувствительности определяют по результатам предварительных измерений полных спектров в k стандартных образцах содержаний в нормальных условиях при температуре окружающей среды Т = 10 - 20oС путем решения системы уравнений вида А = NiCiT(CiCiT)-1, где CiT - транспонированная матрица содержаний элементов в стандартных образцах, отличающийся тем, что предварительно при значениях энергетического разрешения спектрометра R, равном 8 - 12, 13 - 17, 18 - 22, 22 - 28%, причем Ri = способ определения содержания элементов, патент № 2158943E/Eспособ определения содержания элементов, патент № 2158943100%, где способ определения содержания элементов, патент № 2158943E и E - ширина фотопика изотопа цезий-137 на полумаксимуме и его энергия, регистрируют полные спектры в стандартных образцах содержаний элементов, по результатам обработки спектров для каждого фиксированного значения Ri рассчитывают базовые матрицы чувствительности А, измерения в скважинах одновременно осуществляют с накоплением полных спектров в интервалах глубин Н = i способ определения содержания элементов, патент № 2158943 способ определения содержания элементов, патент № 2158943h или интервалах времени t = i способ определения содержания элементов, патент № 2158943 способ определения содержания элементов, патент № 2158943t, где i = 10 - 100, в накопленных гамма-спектрах выделяют наиболее контрастные фотопики известной энергии Ei или фотопик реперного гамма-источника Cs-137, определяют фактическое энергетическое разрешение Ri для каждого из интервалов измерений по глубине Н или времени t, используя базовые зависимости А = f(Ri), уточняют матрицу чувствительности А для n энергетических интервалов спектров и затем определяют содержание анализируемых элементов в i-х интервалах квантования.

2. Способ по п.1, отличающийся тем, что энергетическое разрешение определяют по любой i-й гамма-линии спектра, используя нижеследующую формулу приведения

способ определения содержания элементов, патент № 2158943

где R(Ei) - энергетическое разрешение по гамма-линии с энергией Ei;

E(Cs) - энергия гамма-линии изотопа Cs-137, равная 662 КэВ.

3. Способ по п.1, отличающийся тем, что изменение энергетического разрешения прибора при измерениях полных спектров в стандартных образцах содержаний элементов осуществляют путем параллельной подачи на вход спектрометрического тракта белого шума различной интенсивности.

4. Способ по п.1, отличающийся тем, что коррекцию спектральных коэффициентов матрицы чувствительности А при фактическом значении энергетического разрешения осуществляют путем интерполяции по базовым зависимостям А = f(Ri), заданным в табличной форме для n энергетических интервалов спектров.

5. Способ по п.1, отличающийся тем, что предварительно перед определением содержаний элементов проводят измерение полных спектров от гамма-изотопа цезий-137 с энергией 662 КэВ при изменении температуры Т окружающей среды от 10 - 20 до 150oС с шагом 10 - 20oС, при каждой фиксированной температуре определяют энергетическое разрешение и затем находят зависимость Ri = f(T), которую используют для контроля состояния спектрометрического тракта измерительной аппаратуры, причем при Ri > R(T) изменение спектральных характеристик спектрометра связывают с аппаратурными факторами, а при R(T1) способ определения содержания элементов, патент № 2158943 Ri способ определения содержания элементов, патент № 2158943 R(T2) - с изменением температуры окружающей среды, где T1 = H1/способ определения содержания элементов, патент № 2158943T и T2 = H2/способ определения содержания элементов, патент № 2158943T - соответственно минимальная и максимальная температуры в интервале глубин исследований от H1 до H2, способ определения содержания элементов, патент № 2158943T - температурный градиент, равный 33 м/1oС.

Описание изобретения к патенту

Изобретение относится к области прикладной ядерной геофизики и может быть использовано для инструментальных недеструктивных определений содержащий естественно радиоактивных или наведенных изотопов в горных породах или искусственных смесях в геологии, геофизике, горной и металлургической промышленности и других отраслях народного хозяйства.

Известны способы определения содержащий элементов, например, естественно радиоактивных (урана, тория, калия), основанные на измерении потоков естественного гамма-излучения минимумом в 3-х энергетических областях с максимальными вкладами гамма-линий соответствующих изотопов. По результатам 3-х измерений в характерных областях спектра определяют содержания естественно радиоактивных изотопов, решая нижеследующую систему линейных уравнений:

N1=a11Cu+a12CTh +a13Cк

N2=a21Cu+a22CTh+ a23Cк

N3=a31Cu+a32CТh+ a33Cк, (1)

где N1, N2, N3 - интенсивности потоков в каналах урана, тория и калия соответственно;

Cu, CTh, Cк - содержания естественно радиоактивных изотопов (элементов урана, тория, калия);

aij - спектральные коэффициенты, определяющие вклады j-го излучателя в i-й канал.

Спектральные коэффициенты определяются на аттестованных отраслевых или государственных образцах содержания элементов из системы уравнений (1) на чистых урановых, ториевых или калиевых рудах либо на смешанных аттестованных образцах с разным соотношением элементов. В последнем случае составляется три системы уравнений вида:

N1(C1)=a11Cu+a12CTh +a13Cк

N1(C2)=a11Cu+a12CTh +a13Cк

N1(C3)=a11Cu+a12CTh +a13Cк, (2)

где N1(Ci) - интенсивность потока в первом канале от стандартных образцов с различным соотношением в содержаниях урана, тория и калия (C1, C2, C3).

Аналогичным образом определяются другие коэффициенты, но система (2) составляется для интенсивностей потока во 2-м и 3-м каналах (1-й аналог. Болотников А. И. , Архангельский С.А. и др. Кн. Методическое руководство по пешеходной, автомобильной и скважинной гамма-спектральным съемкам. М., Мингео СССР, 1975 г.).

Недостатком 1-го аналога главным образом является низкая чувствительность к содержанию элементов в слабоактивных средах из-за неудовлетворительной точности измерения 3-х спектральных потоков.

Известны также способы, использующие для определения содержания элементов (урана, тория, калия) дополнительную информацию в виде интегральной скорости счета или спектральных потоков в областях с менее контрастными гамма-линиями. В частности, для повышения точности определения содержания урана кроме измерения интенсивности основных гамма-линий тория (2,62 МэВ), урана (1,76 МэВ), калия (1,46 МэВ) дополнительно осуществляют регистрацию излучения в области второй достаточно интенсивной гамма-линии радия с энергией 1,12 МэВ. Исходная система уравнений для расчета содержаний элементов в этом случае имеет вид

N1=a11Cu+a12CTh+ a13Cк

N2=a21+Cu+a22CTh+ a23Cк

N3=a31Cu+a32CTh+ a33Cк

N4=a41Cu+a42CTh+ a43Cк, (3)

(Кн. Аэрогамма-спектрометрический метод поисков месторождений урановых руд. Под ред. Г.С. Смирнова и др.- 1967. - 228 с. - аналог).

Второй аналог имеет те же недостатки, что и первый, хотя по урану достигается более высокая точность оценки содержаний.

Наиболее близким по физической сущности и достигаемому результату является способ определения содержаний элементов, заключающийся в регистрации полного спектра естественного или наведенного гамма-излучения в интервалах квантования по глубине или времени соответственно с шагом способ определения содержания элементов, патент № 2158943 h и способ определения содержания элементов, патент № 2158943 t, определении спектральных потоков Niв n неперекрывающихся энергетических интервалах спектров и расчете содержаний элементов путем решения переопределенной системы n линейных уравнений, включающей весь информационный массив по измеренному аппаратурному спектру (прототип). Исходная система уравнений имеет вид

N1=a11Cu+a12CTh+ a13Cк

N2=a21Cu+a22CTh+ a23Cк

...............

...............

Ni=ai1Cu+ai2CTh+ ai3Cк, (3)

Решение системы (3) относительно содержаний Ci в матричной форме выглядит следующим образом:

Ci=(ATP-1A)-1 ATP-1Ni, (4)

где Ni - вектор скоростей счета в n энергетических интервалах размерностью n x 1;

Сi - вектор содержаний элементов (для естественно радиоактивных элементов размерностью 3 x 1);

P-1 - обратная матрица весовых коэффициентов (1/Ni) размерностью (n x n);

A и AT - прямая и транспонированная матрицы чувствительности размерностью соответственно n x 3 и 3 x n.

Матрица чувствительности А определяется по результатам градуировки аппаратуры в аттестованных образцах содержаний, количество которых должно быть равным или больше числа определяемых элементов. При известных содержаниях искомых элементов матрица чувствительности (спектральных коэффициентов) рассчитывается из соотношения

A=NiCiT (CiCiT)-1 (5)

где CiT - транспонированная матрица содержаний элементов в стандартных образцах. (Патент США N 4585939 "Многофункциональный спектрометрический гамма-каротаж". - Заявл. 15.10.1983 г; Опубл. 29.04.1986г.).

В отличие от рассмотренных выше аналогов прототип обеспечивает максимально возможную точность определения содержаний элементов за счет использования всей многомерной информации, содержащейся в исходных спектрах. Решение обратной задачи осуществляется методом взвешенных наименьших квадратов, что позволяет дать несмещенные оценки с максимальным приближением к фактическим распределениям. Точность определения содержаний элементов повышается в 2-3 раза за счет снижения влияния статистических погрешностей в скоростях счета. Основным недостатком способа является возникновение погрешностей в измерениях из-за старения детекторов или нарушения оптического контакта между монокристаллом и фотоэлектронным умножителем, что приводит к изменениям величин спектральных коэффициентов (матрицы чувствительности) во всех энергетических интервалах.

Аналогичного характера погрешности возникают из-за изменения температуры, так как с возрастанием температуры световыход сцинтилляционных детекторов существенно снижается, что проявляется в размывании фотопиков (имеющих вид гауссового распределения), конкретно в уменьшении амплитуды фотопиков и повышении скоростей счета в краевых частях.

Решение задачи достигается на основе регистрации полных спектров естественного или наведенного гамма-излучения в интервалах квантования по глубине или времени соответственно с шагом способ определения содержания элементов, патент № 2158943h и способ определения содержания элементов, патент № 2158943t, определении интенсивностей спектральных потоков в n заданных неперекрывающихся энергетических интервалах спектров и последующем расчете содержаний элементов (Ci) путем решения переопределенной системы уравнений вида Ci=[ATP-1A] -1ATP-1Ni, где Ni - вектор измеренных спектральных потоков в n энергетических интервалах, Ci - вектор содержаний элементов, А и АT- прямая и транспонированная матрицы чувствительности, P-1 - обратная матрица весовых коэффициентов, причем матрицу чувствительности определяют по результатам предварительных измерений полных спектров в k стандартных образцах содержаний в нормальных условиях при температуре окружающей среды 10-20oC, путем решения уравнений вида A= NiCiT(CiCiT)-1, где CiT - транспортируемая матрица содержаний элементов в стандартных образцах.

Способ отличается тем, что предварительно при значениях энергетического разрешения спектрометра R, равных 8-12%; 13-17%; 18-22%; 22-28%, причем Ri= способ определения содержания элементов, патент № 2158943E/E-100%, где способ определения содержания элементов, патент № 2158943E и E - ширина фотопика изотопа цезий-137 на полумаксимуме и его энергия, регистрируют полные спектры в стандартных образцах содержаний элементов. По результатам обработки спектров для каждого фиксированного значения Ri рассчитывают базовые матрицы чувствительности A=f(Ri). Измерения в скважинах одновременно осуществляют с накоплением полных спектров в интервалах глубин H=iспособ определения содержания элементов, патент № 2158943способ определения содержания элементов, патент № 2158943h или интервалах времени t=iспособ определения содержания элементов, патент № 2158943способ определения содержания элементов, патент № 2158943t, где i=10-100, по накопленным гамма-спектрам выделяют наиболее контрастные фотопики известной энергии Ei или фотопик реперного гамма-источника Cs-137, определяют фактическое энергетическое разрешение Ri для каждого из интервалов накопления H или t, используя базовые зависимости A=f(Ri), уточняют матрицу чувствительности А для n энергетических интервалов спектров и затем определяют содержание анализируемых элементов в i-х интервалах квантования.

Способ отличается также тем, что энергетическое разрешение определяют по любой i-й гамма-линии спектра, используя нижеследующую формулу приведения: способ определения содержания элементов, патент № 2158943 где R(Ei) - энергетическое разрешение по гамма-линии с энергией Ei, E(Cs) - энергия гамма-линии изотопа Cs-137, равная 662 КэВ. Изменение энергетического разрешения прибора при измерениях полных спектров в стандартных образцах содержаний элементов осуществляют путем параллельной подачи на вход спектрометрического тракта белого шума различной интенсивности.

Коррекцию спектральных коэффициентов матрицы чувствительности А при фактическом значении энергетического разрешения осуществляют путем интерполяции по базовым зависимостям A=f(Ri), заданным в табличной форме для n энергетических интервалов спектров.

Кроме того, предварительно перед определением элементов проводят измерение полных спектров от гамма-изотопа цезий-137 с энергией 662 КэВ при изменении температуры T окружающей среды от 10-20oC до 120-150oC с шагом 10-20oC. При каждой фиксированной температуре определяют энергетическое разрешение и находят зависимость Ri=f(T). Зависимость R=f(T) используют для контроля состояния спектрометрического тракта измерительной аппаратуры. Причем при Ri > R(T) изменение спектральных характеристик связывают с аппаратурными факторами, а при R(Ti)способ определения содержания элементов, патент № 2158943Riспособ определения содержания элементов, патент № 2158943R(T2) - с изменением температуры окружающей среды, где T1=H1/способ определения содержания элементов, патент № 2158943T и T2=H2/способ определения содержания элементов, патент № 2158943T - соответственно минимальная и максимальная температуры в интервале глубин исследований от H1 до H2, способ определения содержания элементов, патент № 2158943 Т - температурный градиент, равный 33 м/1oC.

Указанные технологические операции не встречены в известных технических решениях, поэтому предполагаемый объект изобретения обладает новизной и оригинальностью. Сущность способа определения содержания элементов может быть понята из фиг.1 и 2, где представлены соответственно зависимость энергетического разрешения от температуры и графики спектральных коэффициентов для урановой модели среды при 2-х значениях энергетического разрешения (R) спектрометра по измерениям в энергетическом диапазоне от 400 до 3000 КэВ.

На фиг.1 и 2 приняты следующие обозначения:

1 - графики спектральных коэффициентов aij для урановой компоненты излучения в энергетическом диапазоне 400-3000 КэВ при разрешении спектрометра по гамма-линии 662 КэВ изотопа цезий-137, равном 10%;

2 - то же, при энергетическом разрешении R=21%.

Стрелки и цифры на фиг. 2 указывают положение и энергию наиболее интенсивных гамма-линий в спектре урановой модели.

Зависимость, представленная на фиг.1, получена в термокамере при постепенном нагревании спектрометрического прибора в диапазоне температур от 20 до 150oC. Как видно, по мере возрастания температуры энергетическое разрешение увеличивается (ухудшается), что приводит к перераспределению спектральных потоков, конкретно проявляющееся в уширении фотопиков, уменьшении интенсивностей отсчетов в максимуме и увеличении на крыльях фотопиков.

Подобная же трансформация спектров наблюдается при ухудшении энергетического разрешения и по другим причинам: нарушении оптического контакта между сцинтилляционным детектором и фотоэлектронным умножителем, старении ФЭУ и монокристаллов из-за потери эмиссии и ухудшения прозрачности и т.д. При неизменных габаритах сцинтилляционного детектора и геометрии измерений все эти причины проявляются абсолютно одинаково, поэтому энергетическое разрешение является универсальной характеристикой, определяющей спектрометрические свойства измерительной аппаратуры в целом.

В случае регистрации полных спектров истинное энергетическое разрешение спектрометра в любой момент времени может быть определено по фотопику реперного источника - цезий-137, высвечивающего гамма-кванты с энергией 662 КэВ.

Нередко измерения выполняются без использования реперных излучателей. При этом определение энергетического разрешения может быть осуществлено по информационным фотопикам, с энергией Ei, наиболее четко проявляющихся в спектрах. Известно, что энергетическое разрешение для любого типа спектрометра следует по закону способ определения содержания элементов, патент № 2158943 где B - постоянный множитель, одинаковый для детекторов данного типа. Отсюда легко определить энергетическое разрешение спектрометра, приведенное к энергетическому разрешению гамма-линии 662 КэВ изотопа цезий-137 R(Cs)

способ определения содержания элементов, патент № 2158943

и

способ определения содержания элементов, патент № 2158943

где R(Ei) - энергетическое разрешение по гамма-линии информационного спектра с энергией Ei;

Ei и E(Cs)- энергии гамма-линий соответственно i-го фотопика в информационном спектре и изотопа Cs-137 - 662 КэВ.

Изменение энергетического разрешения, в свою очередь, вызывает закономерные изменения в скоростях счета в энергетических интервалах спектра. Это хорошо видно на фиг.2, где представлены зависимости спектральных коэффициентов для урановой компоненты гамма-излучения в диапазоне энергии 400-3000 КэВ при двух значениях энергетического разрешения. Спектральные коэффициенты представляют собой приращения скорости счета в соответствующих энергетических интервалах при изменении концентрации элементов на единицу, например, 1% калия, 10-4% урана и 10-4% тория. Зависимость спектральных коэффициентов от энергетического разрешения, отмечающаяся на фиг.2, снижает точность определения содержаний элементов по прототипу вследствие нарушения условий измерений при градуировке в стандартных образцах содержаний и в скважинах. Очевидно, что точность расчетов содержаний элементов может быть повышена, если воспользоваться графиками на фиг.2 для корректировки спектральных коэффициентов и в целом матрицы чувствительности А. При скорректированной матрице чувствительности расчет содержаний осуществляется аналогично, как и в прототипе, на основе решения переопределенной системы n линейных уравнений вида

Ci=[AiTP-1A1]-1 A1TP-1Ni,

где A1 и A1T - прямая и транспонированная скорректированные матрицы чувствительности.

Реально спектральные коэффициенты представляются в табличной форме (таблица) при нескольких значениях энергетического разрешения и записываются в базу данных программы обработки. Расчет спектральных коэффициентов для фактического Ri осуществляется путем интерполяции значений aij между соответствующими базовыми зависимостями A=f(Ri), полученными при фиксированных Ri.

Фактическое энергетическое разрешение в i-м измерении или шаге квантования (при непрерывных исследованиях скважин) определяют по информационным спектрам. При этом для обеспечения высокой точности расчета проводится суммирование нескольких спектров, либо по квантам глубины (способ определения содержания элементов, патент № 2158943 h), либо квантам времени (способ определения содержания элементов, патент № 2158943t). При небольших (кларковых) содержаниях радиоактивных элементов число суммируемых i-х спектров может изменяться от 10 до 100, т.е. интервал суммирования по глубине составляет H=iспособ определения содержания элементов, патент № 2158943способ определения содержания элементов, патент № 2158943h, а по времени t=iспособ определения содержания элементов, патент № 2158943способ определения содержания элементов, патент № 2158943 t. Если время квантования (при обоих режимах измерений) i-х спектров составляет 10 сек, что соответствует скорости измерений 150 м/час при способ определения содержания элементов, патент № 2158943h=40 см, то общее время экспозиции суммарного спектра составит от 100 до 1000 сек (1,7-17 мин). В столь малый промежуток времени влиянием временной и температурной нестабильностью спектрометра можно пренебречь и оценку энергетического разрешения осуществлять для всего данного интервала исследований либо по фотопику реперного источника, либо (при его отсутствии) по любому информационному фотопику, отчетливо проявляющемуся в спектре. При скважинной гамма-спектрометрии в информационных спектрах обычно проявляется один из трех фотопиков: калия с Ei= l, 46 МэВ, урана (радия) с Ei=l,76 МэВ и тория с Ei=2,614 МэВ. Идентификация фотопиков осуществляется по взаимному положению фотопиков и данных предварительных калибровок в переносных образцах содержаний естественно радиоактивных изотопов перед производством измерений. Определяя номер канала, соответствующего максимуму фотопика или его энергию Ei и полуширину фотопика способ определения содержания элементов, патент № 2158943Ei в единицах энергии или номера канала m, легко рассчитать энергетическое разрешение для данной группы спектров: Ri=способ определения содержания элементов, патент № 2158943E/Ei или Ri=способ определения содержания элементов, патент № 2158943m/mi. При известном фактическом значении Ri по базовым зависимостям A=f(Ri) корректируется искомая матрица чувствительности Аi, которая затем используется для расчета содержаний по i-м спектрам в интервале суммирования H=iспособ определения содержания элементов, патент № 2158943способ определения содержания элементов, патент № 2158943h или за время экспозиции t=iспособ определения содержания элементов, патент № 2158943способ определения содержания элементов, патент № 2158943t.

Зависимость Ri= f(T) используется для контроля состояния сцинтилляционного детектора в процессе эксплуатации прибора при измерениях в конкретных скважинах. При нормальном режиме работы спектрометра энергетическое разрешение всегда находится в пределах R(T1)способ определения содержания элементов, патент № 2158943Riспособ определения содержания элементов, патент № 2158943R(T2), где T1 и T2 минимальная и максимальная температуры в интервале исследований. В частности, при исследовании скважин на глубине H температура окружающей среды определяется через нормальный температурный градиент, составляющий 1oC на 33 м. Тогда T1=H1/33 м/1oC и T2= H2/33 м/1oC, где H1 и H2 - верхняя и нижняя глубины интервала исследований. Например, в интервале глубин от 2000 до 3000 м изменение температуры составляет от 66 до 91oC. Соответственно энергетическое разрешение Ri по зависимости, представленной на фиг.1, должно находиться в пределах (10,5-12)%. Превышение указанных пределов однозначно свидетельствует о влиянии на энергетическое разрешение факторов иной природы. Обычно такое сверхнормативное ухудшение энергетического разрешения может быть обусловлено генерацией аппаратурных шумов, ухудшением прозрачности монокристалла, снижением качества работы линейных систем спектрометрического тракта. Таким образом информация о фактическом энергетическом резрешении спектрометра помимо повышения точности расчета содержаний элементов позволяет качественно судить о состоянии спектрометрической аппаратуры и, в частности, сцинтиблока. Благодаря этому представляется возможным своевременно принимать решения о профилактических ремонтах, замене сцинтиблока и корректировать исследования в конкретных скважинах.

Работоспособность способа проверена при двух стандартных режимах работы спектрометра: замене детектора NaJ(T1) размером 50 х 250 мм с разрешением 15% на детектор тех же размеров, но с энергетическим разрешением 22% и изменении температуры окружающей среды от 20 до 100oC с подсветкой блока детектирования излучением урановой, ториевой и калиевой руды. Во втором случае измерялись эквивалентные содержания элементов. По результатам экспериментальных исследований погрешность расчета содержаний элементов в стандартных образцах содержаний урана, тория и калия при смене детектора достигала 25-30% независимо от времени экспозиции. Использование предложенного способа обеспечивает практически одинаковую точность расчета содержаний радиоактивных элементов как с первым, так и со вторым детекторами. Погрешности расчета при этом определялись исключительно статистическими флуктуациями скорости счета и закономерно снижались от 15-20% при времени экспозиции tэ = 30 сек до 5-10% при tэ = 2 мин. Аналогичные результаты получены во втором эксперименте.

Таким образом, предложенный способ по сравнению с прототипом обеспечивает существенное повышение точности расчета содержаний радиоактивных элементов. Благодаря этому представляется возможным повысить достоверность решения геологических задач и обеспечить существенный экономический эффект.

Класс G01V5/00 Разведка или обнаружение с использованием ядерных излучений, например естественной или искусственной радиоактивности

мобильный обнаружитель опасных скрытых веществ (варианты) -  патент 2524754 (10.08.2014)
способ импульсного нейтронного каротажа и устройство для его осуществления -  патент 2523770 (20.07.2014)
способ гамма спектрометрии -  патент 2523081 (20.07.2014)
способ каротажа скважин гамма и нейтронным излучением -  патент 2521278 (27.06.2014)
способ определения плотности подземных пластов, используя измерения нейтронного гамма-каротажа -  патент 2518876 (10.06.2014)
система и способ коррекции влияния диаметра скважины и ее гидродинамического совершенства при измерениях пористости методом нейтронного каротажа -  патент 2518591 (10.06.2014)
способ определения состояния продуктивного пласта импульсным нейтронным методом -  патент 2517824 (27.05.2014)
способ выявления технологических каверн в газоотдающих коллекторах газонаполненных скважин -  патент 2515752 (20.05.2014)
нейтронный скважинный прибор для измерения пористости с увеличенной точностью и уменьшенными литологическими влияниями -  патент 2515111 (10.05.2014)
способ и устройство для обнаружения наличия в грузе подозрительных предметов, содержащих по меньшей мере один материал с заданным атомным весом -  патент 2510521 (27.03.2014)

Класс G01N23/00 Исследование или анализ материалов радиационными методами, не отнесенными к группе  21/00 или  22/00, например с помощью рентгеновского излучения, нейтронного излучения

установка для рентгеновского контроля сварных швов цилиндрических изделий -  патент 2529754 (27.09.2014)
способ определения загрязненности неметаллическими включениями стальных изделий -  патент 2526227 (20.08.2014)
устройство для осуществления контроля шероховатости поверхности -  патент 2524792 (10.08.2014)
мобильный обнаружитель опасных скрытых веществ (варианты) -  патент 2524754 (10.08.2014)
рентгеноспектральный анализ негомогенных материалов -  патент 2524559 (27.07.2014)
способ определения концентрации элемента в веществе сложного химического состава -  патент 2524454 (27.07.2014)
способ измерения поверхностной плотности преимущественно гетерогенных грунтов -  патент 2524042 (27.07.2014)
усовершенствованная система безопасности для досмотра людей -  патент 2523771 (20.07.2014)
способ изготовления эталонов для рентгенофлуоресцентного анализа состава тонких пленок малокомпонентных твердых растворов и сплавов -  патент 2523757 (20.07.2014)
установка для проверки объектов посредством электромагнитных лучей, прежде всего рентгеновских лучей -  патент 2523609 (20.07.2014)
Наверх