рентгеновский дифрактометр

Классы МПК:G01B15/00 Измерительные устройства, отличающиеся использованием волновых излучений или потоков элементарных частиц
G01B15/06 для измерения деформаций твердых тел 
Автор(ы):, , , , , ,
Патентообладатель(и):Войсковая часть 75360
Приоритеты:
подача заявки:
1996-05-14
публикация патента:

Рентгеновский дифрактометр относится к области рентгенографической аппаратуры и может быть использован при определении напряжений, текстуры и фазового состава материалов конструкций и изделий. Рентгеновский дифрактометр состоит из источника рентгеновского излучения и анализатора, при этом по меньшей мере два источника излучения совмещены с анализатором, а также из защитной пластины с диафрагмой, размещенной в экваториальной области анализатора. Источники излучения расположены в отверстиях полусферического анализатора, одно из которых выполнено в зоне полюса по оси симметрии дифрактометра, а другое в области экватора. Рентгеновский дифрактометр представляет собой моноблок-анализатор, в котором источники рентгеновского излучения соединены в единое целое с анализатором. Изобретение позволяет упростить конструкцию рентгеновского дифрактометра при обеспечении возможности его ручного переноса и измерений в реальных условиях параметров материала деталей, узлов и конструкций. 1 ил.
Рисунок 1

Формула изобретения

Рентгеновский дифрактометр, состоящий из источника рентгеновского излучения и анализатора, отличающийся тем, что в него введены по меньшей мере один источник рентгеновского излучения и защитная пластина с диафрагмой, причем анализатор выполнен полусферическим, источники рентгеновского излучения совмещены с анализатором и расположены в отверстиях анализатора, одно из которых выполнено в зоне полюса по оси симметрии дифрактометра, а другое - в области экватора, а защитная пластина с диафрагмой размещена в экваториальной части анализатора.

Описание изобретения к патенту

Изобретение относится к области рентгенографической аппаратуры, к рентгеновским дифрактометрам и может быть использовано при определении напряжений, текстуры и фазового состава конструкции и изделий.

Известен рентгеновский дифрактометр - быстродействующая установка АРД-1 с высоким разрешением для регистрации рентгеновских лучей, состоящая из блока источников питания, рентгеновской трубки, гониометрического устройства, детектора дифрагированного излучения и системы сбора и обработки информации [1].

Наиболее близким к изобретению является рентгеновский дифрактометр, состоящий из источника излучения и анализатора [2].

Оба известных устройства не обеспечивают возможности проведения измерений параметров материалов узлов и деталей машин при наличии наклоняемого гониометра и неподвижного детектора.

Задачей изобретения является упрощение конструкции рентгеновского дифрактометра, при обеспечении возможности его ручного переноса и измерений в реальных условиях параметров материала деталей, узлов и конструкций.

Технический результат достигается тем, что в рентгеновский дифрактометр, состоящий из источника рентгеновского излучения и анализатора, введены, по меньшей мере, один источник рентгеновского излучения и защитная пластина с диафрагмой, причем анализатор выполнен полусферическим, источники рентгеновского излучения совмещены с анализатором и расположены в отверстиях анализатора, одно из которых выполнено в зоне полюса по оси симметрии дифрактометра, а другое - в области экватора, а защитная пластина с диафрагмой размещена в экваториальной части анализатора.

Изобретение поясняется чертежом, на котором представлена структурная схема устройства. На нем 1, 2 - источники излучения, 3 - анализатор, 4, 5- отверстия в анализаторе, 6 - бериллиевое окно анализатора, 7 - деталь, 0 - 0 - ось симметрии дифрактометра, P-P - ось отверстия, расположенного в области экватора, 8 - пластина с диафрагмой.

Рентгеновский дифрактометр состоит из источников излучения 1 и 2, совмещенных с анализатором 3, причем источники излучения 1 и 2 расположены в отверстиях 3 и 4 полусферического анализатора 3, которые выполнены в зоне полюса по оси симметрии 0-0 и в области экватора по оси отверстия P-P. В экваториальной части анализатора размещается защитная пластина с диафрагмой 8.

Нижняя поверхность пластины является плоскостью фокусировки, то есть именно на ней расположен общий центр 0 всех полусферических поверхностей.

Рентгеновский дифрактометр работает следующим образом.

Моноблок-анализатор располагают на излучаемой поверхности так, чтобы диафрагма пластины 8 находилась над исследуемым участком. Первичные пучки рентгеновских лучей от источников излучения 1 и 2 попадают в центр исследуемого участка, совпадающей с точкой 0, дифрагируют на кристаллической решетке материала изделия и регистрируются анализатором. При этом направление первичных и дифрагированных пучков рентгеновских лучей всегда совпадают с радиусами, проведенными из этого центра, поскольку вершины всех конусов дифракций совпадают с центрами сфер Эвальда.

Совместное использование двух источников рентгеновского излучения предполагает последовательное включение каждого из источников и последовательную идентификацию рефлексов. Применение источников с разной жесткостью излучения позволяет получить и обработать наибольшее количество рефлексов с различными индексами, необходимыми для определения напряженного состояния, текстуры и фазового состава материала изделия.

Изобретение по сравнению с известными техническими решениями обеспечивает возможность его ручного переноса и измерений в реальных условиях параметров материала, узлов и конструкций.

Литература

1. Анисимов Ю.С., Заневский Ю.В., Иванов А.Б. и др. Автоматическая быстродействующая установка АРД-1 с высоким разрешением для регистрации рентгена. Кристаллография. - 1981, вып. 26 N 6, с. 1305 - 1311.

2. Могульская Т.Д., Кузев С.В. и др. Измерительная система для рентгеноструктурных исследований на основе многоканальных дифрактометров АРГУС. Кристаллография. - 1982, вып. 27, N 4 c. 775 - 784.

Класс G01B15/00 Измерительные устройства, отличающиеся использованием волновых излучений или потоков элементарных частиц

способ радиолокационного определения толщины льда -  патент 2526222 (20.08.2014)
способ рентгеновской микроскопии для оценки формы отверстий и размеров хирургических игл -  патент 2525318 (10.08.2014)
устройство для осуществления контроля шероховатости поверхности -  патент 2524792 (10.08.2014)
тестовый объект для калибровки просвечивающих электронных микроскопов -  патент 2503080 (27.12.2013)
способ измерения в режиме реального времени толщины пленки не содержащего хром покрытия на поверхности полосовой стали -  патент 2498215 (10.11.2013)
переносной дистанционный измеритель параметров слоя нефти, разлитой на водной поверхности -  патент 2478915 (10.04.2013)
способ определения состояния поверхности дороги -  патент 2473888 (27.01.2013)
способ измерения трехмерной геометрии чурака (варианты) и устройство для его осуществления (варианты) -  патент 2466352 (10.11.2012)
способ синтеза наноструктурной пленки на изделии и устройство для его реализации -  патент 2466207 (10.11.2012)
способ определения высоты снежного покрова на льду акваторий -  патент 2460968 (10.09.2012)

Класс G01B15/06 для измерения деформаций твердых тел 

Наверх