способ измерения параметров диэлектрической релаксации

Классы МПК:G01N22/00 Исследование или анализ материалов с использованием сверхвысоких частот
Автор(ы):
Патентообладатель(и):Иркутский филиал Института лазерной физики СО РАН
Приоритеты:
подача заявки:
1992-10-08
публикация патента:

Способ измерения параметров диэлектрической релаксации относится к молекулярной физике и основан на определе- нии температурной зависимости диэлектрической проницаемости исследуемого дипольного вещества; для измерения приготавливают бесконечно разбавленный раствор исследуемого дипольного вещества в недипольном растворителе, удовлетворяющем условию малости межмолекулярных взаимодействий, выбирают рабочую частоту анализирующего электромагнитного поля в области дебаевской релаксации, по температурной зависимости мнимой составляющей диэлектрической проницаемости данного раствора определяют температуры максимумов наблюдаемого спектра поглощения энергии электромагнитного поля на выбранной частоте, соответствующих дебаевским трансляционной и вращательной областям релаксации, определяют полосы температур, соответствующих этому спектру контуров полощения на уровне их половинных амплитуд, которые принимают для расчета релаксационных параметров - частот диэлектрического спектра указанных областей релаксации, энергии активации процесса диэлектрической релаксации, коэффициенты трансляционной и вращательной диффузии молекул исследуемого вещества в принятом растворителе.

Формула изобретения

Способ измерения параметров диэлектрической релаксации, основанный на определении температурной зависимости диэлектрической проницаемости исследуемого дипольного вещества, отличающийся тем, что приготавливают бесконечно разбавленный раствор исследуемого дипольного вещества в недипольном растворителе, удовлетворяющем условию малости межмолекулярных взаимодействий, выбирают рабочую частоту анализирующего электромагнитного поля в области дебаевской релаксации, по температурной зависимости мнимой составляющей диэлектрической проницаемости данного раствора определяют температуры максимумов наблюдаемого диэлектрического спектра поглощения энергии электромагнитного поля на выбранной частоте, соответствующих дебаевским трансляционной и вращательной областям релаксации, а также определяют полосы температур, соответствующих этому спектру контуров поглощения на уровне их половинных амплитуд, которые принимают для расчета релаксационных параметров - частот диэлектрического спектра указанных областей релаксации, соответствующие им времена релаксации, энергии активации процесса диэлектрической релаксации, коэффициенты трансляционной и вращательной диффузии молекул исследуемого дипольного вещества в принятом растворителе.

Описание изобретения к патенту

Изобретение относится к молекулярной физике, преимущественно к исследованиям диэлектрических свойств разбавленных растворов дипольных веществ в недипольных растворителях.

Диэлектрические свойства разбавленных растворов описываются в соответствии с релаксационной теорией Дебая. Характерным для них является релаксационное поведение действительной способ измерения параметров диэлектрической релаксации, патент № 2112233способ измерения параметров диэлектрической релаксации, патент № 2112233 и мнимой способ измерения параметров диэлектрической релаксации, патент № 2112233способ измерения параметров диэлектрической релаксации, патент № 2112233 составляющих диэлектрической проницаемости (ДП), проявляющееся в так называемых диэлектрических (дебаевских) спектрах. Они регистрируются в виде зависимостей способ измерения параметров диэлектрической релаксации, патент № 2112233способ измерения параметров диэлектрической релаксации, патент № 2112233 и способ измерения параметров диэлектрической релаксации, патент № 2112233способ измерения параметров диэлектрической релаксации, патент № 2112233 от частоты f анализирующего поля. Зависимости способ измерения параметров диэлектрической релаксации, патент № 2112233способ измерения параметров диэлектрической релаксации, патент № 2112233(f) и способ измерения параметров диэлектрической релаксации, патент № 2112233способ измерения параметров диэлектрической релаксации, патент № 2112233(f) взаимосвязаны и причинно обусловлены в соответствии с соотношениями Крамерса-Кронига [1].

Частотный метод исследования параметров релаксации представлен так называемый нуль - терагерцовой спектроскопией (охватывающей диапазон частот от 0 до 1013 Гц) [1 и 2].

Однако возможности нуль-терагерцовой спектроскопии существенно ограничены в связи с фактическим отсутствием аппаратуры для непрерывной генерации и детектирования сигналов в таком широком диапазоне частот.

Наиболее близким к предлагаемому изобретению является метод измерения времени диэлектрической релаксации, основанный на определении зависимости ДП от температуры [1, c. 209]. Величина ДП в области дисперсии зависит от температуры неявно в соответствии с уравнением Аррениуса. При заданной частоте в зависимости способ измерения параметров диэлектрической релаксации, патент № 2112233способ измерения параметров диэлектрической релаксации, патент № 2112233(T) имеют место максимум при температуре Tm, а сама зависимость способ измерения параметров диэлектрической релаксации, патент № 2112233способ измерения параметров диэлектрической релаксации, патент № 2112233(T) имеет характерный релаксационный контур, подобный частотному контуру способ измерения параметров диэлектрической релаксации, патент № 2112233способ измерения параметров диэлектрической релаксации, патент № 2112233(f) .

Недостатком данного метода измерения параметров релаксации является ограниченность современных средств при постановке измерений времени релаксации в бесконечно разбавленных растворах.

Цель предлагаемого изобретения - преодоление этого недостатка и расширение функциональных возможностей метода диэлектрической релаксации за счет осуществления метода измерений параметров диэлектрической релаксации в бесконечно разбавленных растворах дипольных веществ в недипольных растворителях.

Сущность предлагаемого метода заключается в том, что определяют температурные зависимости способ измерения параметров диэлектрической релаксации, патент № 2112233способ измерения параметров диэлектрической релаксации, патент № 2112233 и способ измерения параметров диэлектрической релаксации, патент № 2112233способ измерения параметров диэлектрической релаксации, патент № 2112233 бесконечно разбавленных растворов исследуемого вещества в недипольном растворителе, которые при соответствующем выборе рабочей частоты представляют собой диэлектрические спектры. В общем случае они содержат дебаевскую область релаксации и более высокочастотную область релаксации, обусловленную продольными колебаниями поляризации.

Причем поведение способ измерения параметров диэлектрической релаксации, патент № 2112233способ измерения параметров диэлектрической релаксации, патент № 2112233(T) имеет вид резонансных контуров с соответствующими температурами их максимумов TD и TН. Эти величины, а также полосы температур на уровне половинных амплитуд способ измерения параметров диэлектрической релаксации, патент № 2112233 принимаются для расчета искомых параметров релаксации - времен релаксации, энергии активации, коэффициентов диффузии и др.

Дисперсионное уравнение ДП можно записать в наиболее общем виде [3, c. 488].

способ измерения параметров диэлектрической релаксации, патент № 2112233 ;

способ измерения параметров диэлектрической релаксации, патент № 2112233 ,

где

способ измерения параметров диэлектрической релаксации, патент № 2112233=1/2способ измерения параметров диэлектрической релаксации, патент № 2112233способ измерения параметров диэлектрической релаксации, патент № 2112233, способ измерения параметров диэлектрической релаксации, патент № 2112233 - частота максимального поглощения способ измерения параметров диэлектрической релаксации, патент № 2112233 ; U - энергия активации; R - газовая постоянная; способ измерения параметров диэлектрической релаксации, патент № 2112233o - предэкспоненциальный множитель способ измерения параметров диэлектрической релаксации, патент № 2112233o=1/2способ измерения параметров диэлектрической релаксации, патент № 2112233способ измерения параметров диэлектрической релаксации, патент № 2112233o. .

Экспоненциальная зависимость времени релаксации от температуры обеспечивает высокую крутизну способ измерения параметров диэлектрической релаксации, патент № 2112233 перестройки частоты релаксационного пика и в этой связи позволяет в доступном диапазоне температур охватить обе области релаксации по (I).

Сделаем оценку "резонансных" температур Tm, соответствующих максимумам спектра соответствующих областей релаксации. Для этого запишем уравнение (2) для области релаксации с центральной частотой способ измерения параметров диэлектрической релаксации, патент № 2112233m , равной рабочей частоте fp, тогда

способ измерения параметров диэлектрической релаксации, патент № 2112233 .

Это уравнение показывает, что частота диэлектрического контура зависит от температуры почти линейно при небольших различиях Tm и T, а также очень сильно зависит от энергии активации U выбранного в эксперименте растворителя. Обычно для недипольных растворителей U способ измерения параметров диэлектрической релаксации, патент № 2112233 1-5 ккал/моль, поэтому в легко доступном для эксперимента диапазоне температур (Tm-Tспособ измерения параметров диэлектрической релаксации, патент № 2112233150 K) коэффициент перекрытия частот лежит в пределах способ измерения параметров диэлектрической релаксации, патент № 2112233 .

Большой выбор в энергиях U растворителей позволяет решать различные исследовательские задачи. Принимая растворители с малыми величинами U, можно тщательно исследовать форму релаксационного поведения зависимостей способ измерения параметров диэлектрической релаксации, патент № 2112233способ измерения параметров диэлектрической релаксации, патент № 2112233(T) и способ измерения параметров диэлектрической релаксации, патент № 2112233способ измерения параметров диэлектрической релаксации, патент № 2112233(T) , растягивания их в широком диапазоне температур. Растворители с большими энергиями активации позволяют регистрировать полный релаксационный спектр, включающий как дебаевскую область релаксации, так и область, соответствующую миллиметровому диапазону частот (область продольных колебаний поляризации). При этом крутизна перестройки релаксационной частоты становится большой, а спектр снижается, уменьшаясь в доступном для эксперимента диапазоне температур.

Выбором соответствующего растворителя удается определять релаксационные характеристики дипольных молекул при температурах, при которых индивидуальные вещества в жидком состоянии не могут находится. Характерный диэлектрический спектр в области температуры представлен на рис. 1. Здесь Tp и Tн - температуры максимумов соответствующих областей релаксации - Дебая и пропорциональных колебаний. Этим температурам соответствуют времена релаксации способ измерения параметров диэлектрической релаксации, патент № 2112233D и способ измерения параметров диэлектрической релаксации, патент № 2112233н или "резонансные" частоты способ измерения параметров диэлектрической релаксации, патент № 2112233D и способ измерения параметров диэлектрической релаксации, патент № 2112233н согласно уравнениям (1) и (3). Эти величины согласно активационной теории диэлектрической поляризации [4] принимаются для расчета коэффициента трансляционной диффузии

D=1/k2способ измерения параметров диэлектрической релаксации, патент № 2112233D (4) ,

где

k - волновой вектор флуктуирующих молекул.

Форма зависимостей способ измерения параметров диэлектрической релаксации, патент № 2112233способ измерения параметров диэлектрической релаксации, патент № 2112233(T) и способ измерения параметров диэлектрической релаксации, патент № 2112233способ измерения параметров диэлектрической релаксации, патент № 2112233(T) несет информацию о распределении времен релаксации и соответственно о структуре и динамике дипольных молекул. Обработка и описание температурных зависимостей способ измерения параметров диэлектрической релаксации, патент № 2112233способ измерения параметров диэлектрической релаксации, патент № 2112233(T) и способ измерения параметров диэлектрической релаксации, патент № 2112233способ измерения параметров диэлектрической релаксации, патент № 2112233(T) достигается аналогично тому как это делается для частотных зависимостей способ измерения параметров диэлектрической релаксации, патент № 2112233способ измерения параметров диэлектрической релаксации, патент № 2112233(способ измерения параметров диэлектрической релаксации, патент № 2112233) и способ измерения параметров диэлектрической релаксации, патент № 2112233способ измерения параметров диэлектрической релаксации, патент № 2112233(способ измерения параметров диэлектрической релаксации, патент № 2112233) [5 и 6] . При этом измеряемыми величинами наряду с температурами TD и Tн являются полосы температур способ измерения параметров диэлектрической релаксации, патент № 2112233TD и способ измерения параметров диэлектрической релаксации, патент № 2112233Tн на уровне половинных амплитуд контуров способ измерения параметров диэлектрической релаксации, патент № 2112233 , которые по (3) пересчитываются к соответствующим полосам частот данных релаксационных контуров.

Последовательность операций для осуществления изобретения такова:

приготавливают бесконечно разбавленный раствор дипольных молекул исследуемого вещества в недипольном растворителе;

выбирают рабочую частоту анализирующего поля близкую к области дебаевской релаксации;

выбирают растворитель с заданной величиной энергии активации;

определяют диэлектрический спектр данного раствора способ измерения параметров диэлектрической релаксации, патент № 2112233способ измерения параметров диэлектрической релаксации, патент № 2112233(T) и способ измерения параметров диэлектрической релаксации, патент № 2112233способ измерения параметров диэлектрической релаксации, патент № 2112233(T);

определяют по диэлектрическому спектру температуры TD и Tн, соответствующие максимумам контуров поглощения способ измерения параметров диэлектрической релаксации, патент № 2112233 , а также их полосы температур способ измерения параметров диэлектрической релаксации, патент № 2112233TD и способ измерения параметров диэлектрической релаксации, патент № 2112233Tн .

По экспериментальным данным TD, Tн, способ измерения параметров диэлектрической релаксации, патент № 2112233TD и способ измерения параметров диэлектрической релаксации, патент № 2112233Tн рассчитывают коэффициенты трансляционной вращательной диффузии и другие параметры теплового движения молекул.

Предлагаемый способ измерения может быть осуществлен с помощью аппаратуры, описанной в [7 и 8].

Предлагаемый способ апробирован на ряде разбавленных полярно-неполярных растворах. Зависимость способ измерения параметров диэлектрической релаксации, патент № 2112233способ измерения параметров диэлектрической релаксации, патент № 2112233(T) раствора ацетонитрил-гексан можно проследить на диэлектрограмме, в которой наблюдаются область релаксации Дебая и область продольных колебаний поляризации и которая наглядно иллюстрирует о возможностях осуществления на практике частотно-температурной инверсии при исследовании процессов диэлектрической релаксации.

К достоинствам предлагаемого способа измерения можно отнести следующие:

возможность регистрации наряду с дебаевской областью релаксации более "высокочастотную" область релаксации, которая для низкомолекулярных веществ при "комнатных" температурах находится в миллиметровом и субмиллиметровом диапазоне частот;

возможность "сжимать" и "растягивать" диэлектрический спектр, выбирая соответствующий растворитель (с заданной энергией активации);

возможность в широком диапазоне температур исследовать недипольные взаимодействия в полярно-неполярных растворах;

возможность измерения коэффициентов трансляционной и вращательной диффузии, а также эффективной энергии межмолекулярного взаимодействия в условиях бесконечного разбавления растворов.

Литература.

1. Потапов А.А. Диэлектрический метод исследования вещества - Иркутск: Изд-во Иркут. ун-та, 1990.

2. Коффи У., Ивенс Н., Григолини П. Молекулярная диффузия и спектры. - М.: Мир. 1987.

3. Madden P., Kivelson P. and Chem. Phys. V. 156, 1984, P.467-566.

4. Потапов А. А. Активационный механизм диэлектрической поляризации. - Хим. физика, 1990, Т.10, N 10. - C. 1410-1417.

5. Поплавко Ю.М. Физика диэлектриков. - Киев: Вища школа, 1980.

6. Потапов А.А., Мецик М.С. Диэлектрическая поляризация. - Иркутск: Изд-во Иркут. ун-та, 1986.

7. Потапов А.А., Войтов С.И. Приборы и техника эксперимента, 1984, N 1, 103 c.

8. Потапов А.А., Ливанцов С.В. СВЧ-диэлектрограф. Рукопись депонирована в ВИНИТИ, N 2190-85, Дсп.

Класс G01N22/00 Исследование или анализ материалов с использованием сверхвысоких частот

резонансное устройство для ближнеполевого свч-контроля параметров материалов -  патент 2529417 (27.09.2014)
устройство для измерения свойства диэлектрического материала -  патент 2528130 (10.09.2014)
контрольное устройство миллиметрового диапазона -  патент 2521781 (10.07.2014)
система и способ досмотра субъекта -  патент 2517779 (27.05.2014)
способ определения электропроводности и толщины полупроводниковых пластин или нанометровых полупроводниковых слоев в структурах "полупроводниковый слой - полупроводниковая подложка" -  патент 2517200 (27.05.2014)
способ определения электропроводности и энергии активации примесных центров полупроводниковых слоев -  патент 2516238 (20.05.2014)
антенна-аппликатор и устройство для определения температурных изменений внутренних тканей биологического объекта путем одновременного неинвазивного измерения яркостной температуры внутренних тканей на разных глубинах -  патент 2510236 (27.03.2014)
способ измерения комплексной диэлектрической проницаемости жидких и сыпучих веществ -  патент 2509315 (10.03.2014)
свч способ обнаружения и оценки неоднородностей в диэлектрических покрытиях на металле -  патент 2507506 (20.02.2014)
способ обнаружения и идентификации взрывчатых и наркотических веществ и устройство для его осуществления -  патент 2507505 (20.02.2014)
Наверх