устройство для измерения параметров диэлектриков

Классы МПК:G01R27/26 для измерения индуктивности и(или) емкости; для измерения добротности, например резонансным способом; для измерения коэффициента потерь; для измерения диэлектрических постоянных 
Автор(ы):,
Патентообладатель(и):Ивановский научно-исследовательский экспериментально- конструкторский машиностроительный институт
Приоритеты:
подача заявки:
1991-12-26
публикация патента:

Изобретение относится к измерительной технике, в частности, может быть использовано для измерения диэлектрических характеристик веществ с помощью емкостного или индуктивного датчика. Цель изобретения - повышение точности измерения и быстродействия. Устройство для измерения параметров диэлектриков содержит измерительную цепочку из вакуумного кварцевого резонатора и диэлектрического датчика, первый вывод которого соединен с шиной нулевого потенциала и первым выводом преобразователя сопротивления в электрической сигнал, второй вывод которого соединен с первым выводом вакуумного кварцевого резонатора. Новым является то, что в устройство введен элемент реактивного сопротивления, выполненный в виде переменных конденсатора или катушки индуктивности с возможностью образования совместно с диэлектрическим датчиком последовательного колебательного контура, настроенного на частоту последовательного резонанса вакуумного кварцевого резонатора, второй вывод которого через элемент реактивного сопротивления соединен с вторым выводом диэлектрического датчика. Введен дополнительный элемент реактивного сопротивления, подключенный к последовательному колебательному контуру с возможностью его расстройки от резонансной частоты вакуумного кварцевого резонатора. 1 з.п. ф-лы, 1 ил.
Рисунок 1

Формула изобретения

1. Устройство для измерения параметров диэлектриков, содержащее измерительную цепочку из вакуумного кварцевого резонатора и диэлектрического датчика, первый выход которого соединен с шиной нулевого потенциала и первым выводом преобразователя сопротивления в электрический сигнал, второй вывод которого соединен с первым выводом вакуумного кварцевого резонатора, отличающееся тем, что в него введен элемент реактивного сопротивления, выполненный в виде переменных конденсатора или катушки индуктивности с возможностью образования совместно с диэлектрическим датчиком последовательного колебательного контура, настроенного на частоту последовательного резонанса вакуумного кварцевого резонатора, второй вывод которого через элемент реактивного сопротивления соединен с вторым выводом диэлектрического датчика.

2. Устройство по п.1, отличающееся тем, что в него введен дополнительный элемент реактивного сопротивления, подключенный к последовательному колебательному контуру с возможностью расстройки колебательного контура от резонансной частоты вакуумного кварцевого резонатора.

Описание изобретения к патенту

Изобретение относится к измерительной технике.

Известно устройство для измерения параметров диэлектриков [1], в котором содержится измерительная цепочка из вакуумного кварцевого резонатора с последовательно включенным диэлектрическим датчиком, причем заземленный вывод датчика и вывод резонатора подключен к заземленному и потенциальному преобразователю эквивалентного активного сопротивления резонатора в электрический сигнал.

Недостатком устройства является зависимость чувствительности и точности измерения от параметров диэлектрического датчика. Так, например, с увеличением емкости датчика чувствительность устройства резко снижается, понижая точность применения, и при определенных параметрах диэлектрического датчика применение устройства не представляется возможным.

Целью изобретения является повышение точности измерения благодаря повышению чувствительности устройства вне зависимости от параметров диэлектрического датчика, а также повышение быстродействия.

На чертеже представлена структурная схема устройства.

Устройство для измерения параметров диэлектриков содержит измерительную цепочку из вакуумного кварцевого резонатора 1 и диэлектрического датчика 2, первый вывод которого соединен с шиной нулевого потенциала и первым выводом преобразователя сопротивления в электрический сигнал 3, второй вывод которого соединен с первым выводом вакуумного кварцевого резонатора 1. В измерительную цепочку введен элемент реактивного сопротивления, выполненный в виде переменных конденсатора 4 или катушки индуктивности 5, образующие с диэлектрическим датчиком 2 последовательный колебательный контур 6, настроенный на частоту последовательного резонанса кварцевого резонатора 1, второй вывод которого через элемент реактивного сопротивления 4 и 5 соединен с вторым выводом диэлектрического датчика 2. В измерительную цепочку введен дополнительный элемент реактивного сопротивления 7, подключенный последовательно к колебательному контакту 6 с помощью переключателя 8 для небольшой расстройки колебательного контура от частоты последовательного резонанса кварцевого резонатора. Преобразователь сопротивления содержит указатель 9.

Устройство работает следующим образом.

Колебательный контур 6 настраивается на частоту последовательного резонанса кварцевого резонатора 1 с помощью переменных конденсатора 4 или катушки индуктивности 5 путем нахождения минимума показаний указателя 9. При изменении контролируемого параметра, воздействующего на диэлектрический датчик 2, изменяется общее сопротивление измерительной цепочки в соответствии с выражением

устройство для измерения параметров диэлектриков, патент № 2106648

где

Rо - общее электрическое сопротивление колебательного контура;

R - активная составляющая комплексного сопротивления контура;

устройство для измерения параметров диэлектриков, патент № 2106648 - круговая частота последовательного резонанса кварцевого резонатора;

L, C - индуктивность и емкость колебательного контура;

Rg - эквивалентное активное сопротивление кварцевого резонатора, которое преобразуется преобразователем сопротивления 3 в электрический сигнал, который фиксируется указателем 9.

Шкала указателя может быть отградуирована в единицах контролируемой величины (влажности, концентрации, уровня и т.д.). Для повышения чувствительности устройства после настройки колебательного контура на частоту последовательного резонанса с помощью переключателя 8 к колебательному контуру 6 подключается дополнительный элемент реактивного сопротивления 7 для обеспечения небольшой расстройки частоты контура 2 от резонансной частоты кварцевого резонатора 1, где чувствительность к изменению параметров колебательного контура максимальна, а характеристика преобразования устройства линейна.

Класс G01R27/26 для измерения индуктивности и(или) емкости; для измерения добротности, например резонансным способом; для измерения коэффициента потерь; для измерения диэлектрических постоянных 

резонансное устройство для ближнеполевого свч-контроля параметров материалов -  патент 2529417 (27.09.2014)
устройство для измерения свойства диэлектрического материала -  патент 2528130 (10.09.2014)
микроконтроллерный измерительный преобразователь с уравновешиванием резистивного моста уитстона методом широтно-импульсной модуляции -  патент 2515309 (10.05.2014)
способ измерения комплексной диэлектрической проницаемости жидких и сыпучих веществ -  патент 2509315 (10.03.2014)
микроконтроллерный измерительный преобразователь сопротивления в двоичный код с генератором, управляемым напряжением -  патент 2502076 (20.12.2013)
способ определения коэффициента потерь tg диэлектриков -  патент 2501028 (10.12.2013)
микроконтроллерное устройство диагностики межвитковой изоляции обмотки электродвигателя по эдс самоиндукции -  патент 2498327 (10.11.2013)
способ определения сопротивления и индуктивности рассеяния первичной обмотки трансформатора напряжения -  патент 2491559 (27.08.2013)
сканирующий измеритель параметров cg-двухполюсников -  патент 2488130 (20.07.2013)
способ и устройство для емкостного обнаружения объектов -  патент 2486530 (27.06.2013)
Наверх