устройство для регистрации ионизирующих излучений

Классы МПК:G01T1/16 измерение интенсивности излучения
G01N21/84 системы, предназначенные для особых целей
Автор(ы):, ,
Патентообладатель(и):Борисов Валерий Федорович
Приоритеты:
подача заявки:
1994-05-20
публикация патента:

Изобретение относится к лазерной регистрации ионизирующих излучений и может быть использовано для контроля плотности потока ИИ. Сущность изобретения: в устройство для регистрации ИИ, содержащее лазер, светоделитель, кювету со стеклом и зеркалом на дне, фотоприемник и анализатор введена дополнительная кювета, причем давление в ней выше, чем в основной, и отражающее зеркало смещено так, чтобы импульсы от основной и дополнительной кюветы не накладывались. 1 ил.
Рисунок 1

Формула изобретения

Устройство для регистрации ионизирующих излучений, содержащее лазерный источник излучения, фотоприемник, соединенный с анализатором, отличающееся тем, что в устройство введены основная кювета, заполненная газом и снабженная отражающим зеркалом, установленным на дне кюветы, дополнительная кювета с массой газа большей, чем в основной, с отражающим зеркалом, смещенным относительно отражающего зеркала основной кюветы вдоль направления излучения для обеспечения формирования регистрирующим устройством двух импульсов излучения с различной амплитудой, и светоделитель.

Описание изобретения к патенту

Изобретение относится к лазерной регистрации ионизирующих излучений (ИИ) и может быть использовано для контроля плотности потока ИИ.

Известен анализатор, содержащий лазер, две кюветы, две цилиндрические линзы, маски и фотоприемник.

Недостатком устройства является его сложность, так как используются два канала регистрации изменения светового потока.

Известно устройство для регистрации ИИ, содержащее лазер или светодиод, пластину из электрооптического материала, расположенную между двумя электродами, соединенными с источником напряжения, анализатор и приемник.

Недостатком устройства является малый динамический диапазон измерения и изменение свойств пластины под действием ИИ.

Целью изобретения является расширение диапазона регистрации ИИ. Это цель достигается тем, что в устройство для регистрации ИИ, содержащее лазерный источник излучения, анализатор и приемник, введены основная кювета, заполненная газом и снабженная отражающим зеркалом, установленным на дне кюветы, и дополнительная кювета, с массой газа большей, чем в основной, с отражающим зеркалом, смещенным относительно отражающего зеркала основной кюветы вдоль направления излучения для обеспечения формирования регистрирующим устройством (анализатором или приемником) двух импульсов с различной амплитудой и светоделитель.

На чертеже представлено устройство регистрации ИИ.

Устройство содержит лазер 1, светоделитель 2, первую кювету 3, вторую кювету 4, регистрирующее устройство 5 и блок обработки и запоминания 6.

Устройство регистрации работает следующим образом.

Импульс лазерного излучения через светоделитель 2 попадает в кюветы 3 и 4. Диаметр пятна лазера охватывает обе кюветы. Отраженный луч через светоделитель 2 попадает в регистрирующее устройство 5 и блок обработки и запоминания 6.

Отраженный луч представляет собой два задержанных между собой импульса, первый от кюветы 3, второй от кюветы 4, зеркало которой смещено относительно зеркала кюветы 3.

При отсутствии ИИ интенсивность отраженных импульсов I снижается для кюветы 3.

I3 I0устройство для регистрации ионизирующих излучений, патент № 2091812lxp(-2K3устройство для регистрации ионизирующих излучений, патент № 2091812l3)

Для кюветы 4

I4 I0устройство для регистрации ионизирующих излучений, патент № 2091812lxp(-2K4устройство для регистрации ионизирующих излучений, патент № 2091812l4),

где K3 и K4 коэффициент поглощения среды в кювете 3 и кювете 4;

l3, l4 длина прохождения луча в кювете 3 и 4;

I0 интенсивность импульса.

На выходе устройства 5 формируются два импульса с различной амплитудой.

Так как давление в кювете 4 значительно большее, то и K3<K пропорционально.

Импульс с кюветы 3 больше импульса с кюветы 4 и проходит первым, вторым будет импульс 4.

При воздействии малого потока ИИ на газ в кюветах коэффициент поглощения в кювете 4 изменится больше, чем в кювете 3, так как масса газа в ней больше.

Следовательно, и изменение первого импульса будет малым, а второго импульса большим.

При многократном увеличении потока ИИ первый заметно уменьшится, изменение амплитуды второго будет меньшим, так как газ в кювете 4 полностью ионизирован.

Использование предлагаемого устройства по сравнению с известным позволяет производить регистрацию ИИ в широком диапазоне изменения потока ИИ.

Класс G01T1/16 измерение интенсивности излучения

мобильный обнаружитель опасных скрытых веществ (варианты) -  патент 2524754 (10.08.2014)
способ и устройство для обнаружения алмазов в кимберлите -  патент 2521723 (10.07.2014)
способ определения параметров ионизирующего воздействия на исследуемый образец импульсного высокоинтенсивного излучения -  патент 2507541 (20.02.2014)
способ регистрации коронального выброса массы -  патент 2506608 (10.02.2014)
способ радиационно-гигиенического контроля качества угля -  патент 2498348 (10.11.2013)
передающая среда для детекторов излучения, расположенная в изометрической плоскости -  патент 2496125 (20.10.2013)
статистическая томографическая реконструкция на основе измерений заряженных частиц -  патент 2468390 (27.11.2012)
способ контроля делящихся материалов -  патент 2435173 (27.11.2011)
способ измерения плотности потока радона с поверхности грунта по бета- и гамма-излучению -  патент 2428715 (10.09.2011)
малогабаритное устройство для визуализации источников гамма-излучения -  патент 2426151 (10.08.2011)

Класс G01N21/84 системы, предназначенные для особых целей

способ определения плотности дефектов поверхности оптической детали -  патент 2515119 (10.05.2014)
система и способ обнаружения местного механического напряжения в интегральных устройствах -  патент 2466381 (10.11.2012)
устройство для управления ростом или свойствами растений -  патент 2462025 (27.09.2012)
способ определения малых немагнитных включений и устройство для его осуществления -  патент 2458337 (10.08.2012)
индикатор контроля степени сухости насыщенного водяного пара -  патент 2376585 (20.12.2009)
устройство идентификации изделий -  патент 2349903 (20.03.2009)
устройство и способ текущего контроля зоны сварки, а также система и способ управления сваркой -  патент 2312745 (20.12.2007)
устройство и способ для обнаружения примесей в материале -  патент 2248736 (27.03.2005)
кодированный микроноситель и способ кодирования микроносителей -  патент 2242746 (20.12.2004)
способ определения характеристик поверхностного слоя жидкости -  патент 2200944 (20.03.2003)
Наверх