способ определения поляризационных характеристик электромагнитного поля

Классы МПК:G01R29/00 Устройства для измерения или индикации электрических величин, не отнесенные к группам  19/00
G01R29/10 диаграммы излучения антенн 
Автор(ы):,
Патентообладатель(и):Ярославский государственный университет
Приоритеты:
подача заявки:
1993-09-30
публикация патента:

Способ определения поляризационных характеристик электромагнитного поля относится к технике антенных измерения. Для повышения оперативности, снижения трудоемкости и упрощения измерений антенну произвольной известной поляризации вращают в системе координат (x, y, z), плоскость апертуры антенны наклонена под некоторым углом способ определения поляризационных характеристик   электромагнитного поля, патент № 2084909a к оси вращения, измеряют при способ определения поляризационных характеристик   электромагнитного поля, патент № 2084909ап углах поворота антенны n = 1,9 значений квадрата модуля комплексной амплитуды напряженности электрического (магнитного) поля E2п , решая систему уравнений определяют полный набор параметров Стокса для плоскостей xy, xz, yz, системы координат (x, y, z), с помощью которого определяют поляризационные характеристики. 1 ил.
Рисунок 1

Формула изобретения

Способ определения поляризационных характеристик электромагнитного поля, включающий пространственные измерения антенной, отличающийся тем, что антенну произвольной известной поляризации вращают в декартовой системе координат в пространстве, причем плоскость апертуры антенны наклонена под некоторым углом способ определения поляризационных характеристик   электромагнитного поля, патент № 2084909a к оси вращения, измеряют при углах способ определения поляризационных характеристик   электромагнитного поля, патент № 2084909an поворота антенны n=1,9 значений квадрата модуля комплексной амплитуды напряженности электрического или магнитного поля E2n, образованный из которых вектор-столбец способ определения поляризационных характеристик   электромагнитного поля, патент № 2084909 связан уравнением

способ определения поляризационных характеристик   электромагнитного поля, патент № 2084909

n=1 9,

с вектором-столбцом искомых величин

способ определения поляризационных характеристик   электромагнитного поля, патент № 2084909

где Апn квадратная матрица порядка n=9, характеризующая преобразования координат плоскости апертуры антенны при вращении и поляризационное преобразование в апертуре;

aij(способ определения поляризационных характеристик   электромагнитного поля, патент № 2084909a, способ определения поляризационных характеристик   электромагнитного поля, патент № 2084909a.n, способ определения поляризационных характеристик   электромагнитного поля, патент № 2084909, способ определения поляризационных характеристик   электромагнитного поля, патент № 2084909) - коэффициенты матрицы Апn функции углов ориентации плоскости апертуры антенны способ определения поляризационных характеристик   электромагнитного поля, патент № 2084909a, способ определения поляризационных характеристик   электромагнитного поля, патент № 2084909a.n, модуля способ определения поляризационных характеристик   электромагнитного поля, патент № 2084909 и фазы r поляризационного коэффициента антенны;

Т символ операции транспонирования матрицы;

U и V параметры Стокса;

i и j номера строки и столбца матрицы;

Мij коэффициенты матрицы;

способ определения поляризационных характеристик   электромагнитного поля, патент № 2084909

затем систему уравнений решают отысканием обратной матрицы A-1пn

способ определения поляризационных характеристик   электромагнитного поля, патент № 2084909

n=1 9,

определяя полный набор параметров Стокса для плоскостей xy, xz, yz, с помощью которого определяют полязационные характеристики электромагнитного поля.

Описание изобретения к патенту

Изобретение относится к технике антенных измерений и предназначено для определения поляризационных характеристик объектов, излучающих и рассеивающих электромагнитные волны.

В технике антенных измерений известны способы определения поляризационных характеристик поля, включающие в себя измерения антенной, известной, как правило, линейной или круговой поляризации, в пространстве (см. Д.Б. Канарейкин, Н.Ф. Павлов, В.А. Потехин "Поляризация радиолокационных сигналов". М. "Сов. радио", 1966 г. стр. 108 145, "Конструкция СВЧ устройств и экранов", под ред. А.М. Чернушенко, М. "Радио и связь", 1985 г. стр. 386 - 387, "Антенны эллиптической поляризации" под ред. А.И. Шпунтова, М. 1961 г. стр. 16 20). Но эти способы малооперативны и ограничены в применении. Это связано с тем, что они производят измерения в плоскости, для которой априорно известно, что в ней лежит поляризационный эллипс. Для пространственных измерений необходимы дополнительные системы ориентации антенны и, вообще говоря, аплитудно-фазовые измерений для получения полной информации о поляризации поля.

Наиболее близким техническим решением является способ определения поляризационных характеристик при априорно неизвестной ориентации поляризационного эллипса в пространстве (см. "Антенны эллиптической поляризации" под ред. А. И. Шпунтова, М. изд. иностранной литературы, 1961 г. стр. 66 71), включающий в себя измерения в пространстве. Определение поляризационных характеристик основано на измерении амплитуд и фаз проекций векторов напряженности электрического (или магнитного) поля для трех взаимно перпендикулярных осей базовой системы координат.

Однако известное техническое решение обладает низкой оперативностью и трудоемкостью, связанными с тем, что в способе необходима сложная система последовательной ориентации антенны в трех взаимно перпендикулярных плоскостях и амплитудно-фазовые измерения для каждой ориентации антенны.

Это приводит к снижению производительности при исследовании сложной поляризационной структуры антенных систем и рассеивающих объектов.

Для повышения оперативности, снижения трудоемкости и упрощения измерений в способе, включающем в себя пространственные измерения с помощью антенны, известной, как правило, линейной или круговой поляризации, антенну произвольной известной поляризации вращают в системе координат (x, y, z), причем плоскость апертуры антенны наклонена под некоторым углом способ определения поляризационных характеристик   электромагнитного поля, патент № 2084909a к оси вращения, измеряют при способ определения поляризационных характеристик   электромагнитного поля, патент № 2084909an углах поворота антенны способ определения поляризационных характеристик   электромагнитного поля, патент № 2084909 значений квадрата модуля комплексной амплитуды напряженности электрического (магнитного) поля E2n, образованный из которых вектор-столбец способ определения поляризационных характеристик   электромагнитного поля, патент № 2084909 связан уравнением

способ определения поляризационных характеристик   электромагнитного поля, патент № 2084909

с вектором-столбцом искомых величин

способ определения поляризационных характеристик   электромагнитного поля, патент № 2084909

где Ann квадратная матрица порядка n 9, характеризующая преобразования координат плоскости апертуры антенны при вращении и поляризационное преобразование в апертуре,

Т коэффициенты матрицы Ann-aij(способ определения поляризационных характеристик   электромагнитного поля, патент № 2084909a, способ определения поляризационных характеристик   электромагнитного поля, патент № 2084909anp, способ определения поляризационных характеристик   электромагнитного поля, патент № 2084909) функции углов ориентации плоскости апертуры антенны способ определения поляризационных характеристик   электромагнитного поля, патент № 2084909a, способ определения поляризационных характеристик   электромагнитного поля, патент № 2084909an, модуля p и способ определения поляризационных характеристик   электромагнитного поля, патент № 2084909 фазы поляризационного коэффициента антенны,

U, V параметры Стокса,

затем систему уравнений (1) решают отысканием обратной матрицы A-1nn

способ определения поляризационных характеристик   электромагнитного поля, патент № 2084909

и, таким образом, определяют полный набор параметров Стокса для плоскостей xy, xz, yz системы координат (x, y, z), с помощью которого полностью определяются основные поляризационные характеристики электромагнитного поля.

Повышение оперативности и снижение трудоемкости заключается в том, что в предложенном способе производится способ определения поляризационных характеристик   электромагнитного поля, патент № 2084909 отсчетов при вращении одной антенны произвольной известной поляризации, причем производятся обычные амплитудные измерения, т. о. исключается необходимость применения сложных систем ориентации антенны и проведения амплитудно-фазовых измерений.

Сопоставительный анализ заявленного решения с прототипом показывает, что заявляемый способ отличается от известного тем, что вместо измерения в трех взаимно перпендикулярных плоскостях амплитуды и фазы напряженности электрического (магнитного) поля при использовании сложной системы ориентации одной антенны или системы взаимно ортогональных антенн, используются амплитудные измерения в способ определения поляризационных характеристик   электромагнитного поля, патент № 2084909 произвольных точках при вращении одной антенны известной поляризации, плоскость апертуры которой наклонена под некоторым углом к оси вращения.

Таким образом, способ соответствует критериям "новизна" и "существенные отличия".

На чертеже представлен графический материал, поясняющий способ.

Выберем систему координат (x, y, z), связанную с фазовым центром измерительной антенны. Исследуемое поле способ определения поляризационных характеристик   электромагнитного поля, патент № 2084909 характеризуется в системе координат (x, y, z) тремя комплексными проекциями

способ определения поляризационных характеристик   электромагнитного поля, патент № 2084909

полностью определяющими комплексный вектор поля. Свяжем с плоскостью А апертуры антенны местную систему координат (способ определения поляризационных характеристик   электромагнитного поля, патент № 2084909, 0, способ определения поляризационных характеристик   электромагнитного поля, патент № 2084909), причем ее центр также совместим с фазовым центром антенны и центром системы (x, y, z) соответственно, а ось способ определения поляризационных характеристик   электромагнитного поля, патент № 2084909 лежит в плоскости x, y.

Предположим, антенна вращается вокруг оси z, т.е. изменяется угол va, а угол способ определения поляризационных характеристик   электромагнитного поля, патент № 2084909a наклона плоскости апертуры к оси z фиксированный. При вращении угол поворота способ определения поляризационных характеристик   электромагнитного поля, патент № 2084909a может принимать способ определения поляризационных характеристик   электромагнитного поля, патент № 2084909 дискретных значений. Поляризацию антенны охарактеризуем комплексным поляризационным коэффициентом

способ определения поляризационных характеристик   электромагнитного поля, патент № 2084909

Исследуемый сигнал Ua на выходе антенны, для углом способ определения поляризационных характеристик   электромагнитного поля, патент № 2084909a и n-го угла поворота способ определения поляризационных характеристик   электромагнитного поля, патент № 2084909an

способ определения поляризационных характеристик   электромагнитного поля, патент № 2084909

пропорционален комплексной амплитуде поля, характеризующий отклик антенны на проекцию вектора исследуемого поля на плоскость апертуры. Для способ определения поляризационных характеристик   электромагнитного поля, патент № 2084909 можно записать

способ определения поляризационных характеристик   электромагнитного поля, патент № 2084909

где способ определения поляризационных характеристик   электромагнитного поля, патент № 2084909 вектор, характеризующий поляризацию антенны,

способ определения поляризационных характеристик   электромагнитного поля, патент № 2084909 комплексные проекции вектора поля в плоскости апертуры антенны для n-го угла поворота.

Проекции способ определения поляризационных характеристик   электромагнитного поля, патент № 2084909 связаны с проекциями способ определения поляризационных характеристик   электромагнитного поля, патент № 2084909 матрицей преобразования координат

способ определения поляризационных характеристик   электромагнитного поля, патент № 2084909

Коэффициенты mij матрицы Мkl представляют собой направляющие косинусы осей способ определения поляризационных характеристик   электромагнитного поля, патент № 2084909,способ определения поляризационных характеристик   электромагнитного поля, патент № 2084909 в системе (x, y, z) и могут быть также выражены через тригонометрические функции углов Эйлера q,способ определения поляризационных характеристик   электромагнитного поля, патент № 2084909 (см. В.Никольский "Электродинамика и распространение радиоволн", М. Наука 1978, стр. 518-519).

способ определения поляризационных характеристик   электромагнитного поля, патент № 2084909

Для n-го положения антенны выражение (8) запишем в следующих обозначениях

способ определения поляризационных характеристик   электромагнитного поля, патент № 2084909

способ определения поляризационных характеристик   электромагнитного поля, патент № 2084909

С учетом (10) получим следующее выражение для отклика антенны (7)

способ определения поляризационных характеристик   электромагнитного поля, патент № 2084909

которое после выполнения операции умножения первых двух сомножителей

способ определения поляризационных характеристик   электромагнитного поля, патент № 2084909

можно записать в виде

способ определения поляризационных характеристик   электромагнитного поля, патент № 2084909

где способ определения поляризационных характеристик   электромагнитного поля, патент № 2084909

комплексный вектор преобразования, учитывающий преобразования координат и поляризацию измерительной антенны. Коэффициенты вектора -

способ определения поляризационных характеристик   электромагнитного поля, патент № 2084909

функции углов поворота апертуры антенны и ее поляризационного коэффициента способ определения поляризационных характеристик   электромагнитного поля, патент № 2084909

Выражение (14) представляет собой уравнение относительно неизвестных значений комплексных проекций способ определения поляризационных характеристик   электромагнитного поля, патент № 2084909

Если на выходе антенны производятся амплитудно-фазовые измерения, позволяющие определить комплексную амплитуду способ определения поляризационных характеристик   электромагнитного поля, патент № 2084909 то, выбирая способ определения поляризационных характеристик   электромагнитного поля, патент № 2084909 углов поворота способ определения поляризационных характеристик   электромагнитного поля, патент № 2084909an, можно образовать вектор-столбец измеренных способ определения поляризационных характеристик   электромагнитного поля, патент № 2084909 и уравнение (14) преобразовать в систему линейных уравнений

способ определения поляризационных характеристик   электромагнитного поля, патент № 2084909

где способ определения поляризационных характеристик   электромагнитного поля, патент № 2084909 квадратная матрица порядка 3 комплексных коэффициентов, которую однозначно разрешить относительно неизвестных проекций

способ определения поляризационных характеристик   электромагнитного поля, патент № 2084909

которые, в свою очередь, полностью определяют вектор исследуемого поля. Углы ориентации выбирают так, чтобы система была совместна.

В случае, когда производятся амплитудные измерения (наиболее предпочтительные на практике), сигнал на выходе схемы измерения (квадратичное детектирование)

способ определения поляризационных характеристик   электромагнитного поля, патент № 2084909

пропорционален квадрату модуля комплексной амплитуды измеряемого вектора поля.

Произведем операцию взятия модуля в квадрате от обеих частей выражения (14). После несложных преобразований получим следующее уравнение

способ определения поляризационных характеристик   электромагнитного поля, патент № 2084909

способ определения поляризационных характеристик   электромагнитного поля, патент № 2084909

вектор неизвестных величин,

способ определения поляризационных характеристик   электромагнитного поля, патент № 2084909

вещественный вектор преоброзования, коэффициенты которого имеют следующий вид:

способ определения поляризационных характеристик   электромагнитного поля, патент № 2084909

Производя измерения квадрата амплитуды E2n при способ определения поляризационных характеристик   электромагнитного поля, патент № 2084909 углах поворота способ определения поляризационных характеристик   электромагнитного поля, патент № 2084909an, образует вектор-столбец значений

способ определения поляризационных характеристик   электромагнитного поля, патент № 2084909

и уравнение (19) преобразуем в систему линейных уравнений

способ определения поляризационных характеристик   электромагнитного поля, патент № 2084909

где Аnn вещественная квадратная матрица порядка 9, которую можно однозначно разрешить относительно 9 неизвестных величин (21)

способ определения поляризационных характеристик   электромагнитного поля, патент № 2084909

Полученные величины

способ определения поляризационных характеристик   электромагнитного поля, патент № 2084909

определяют полный набор параметров Стокса для соответствующих плоскостей системы координат (x, y, z).

С помощью полученных результатов на основании известных соотношений (см. например, С. И. Поздняк, В. А.Мелитицкий "Введение в статистическую теорию поляроизации радиоволн", М. Сов.радио,1974 г.) можно определить поляризационные характеристики электромагнитного поля.

Максимальные и минимальные значения амплитуды напряженности поля определяются как

способ определения поляризационных характеристик   электромагнитного поля, патент № 2084909

где l=E2x+E2y+E2z, (29)

коэффициент эллиптичности

rспособ определения поляризационных характеристик   электромагнитного поля, патент № 2084909 = Emin/Emax. (30)

Не представляет принципиальных трудностей получение выражения для поляризационного коэффициента поля.

Для определения ориентации плоскости поляризационного эллипса в системе координат (x, y, z) можно воспользоваться формулами (см. "Антенны эллиптической поляризации", под ред. А.И.Шпунтова. М. Из-во иностр. лит-ры, 1961 г).

способ определения поляризационных характеристик   электромагнитного поля, патент № 2084909

способ определения поляризационных характеристик   электромагнитного поля, патент № 2084909

В плоскостях системы координат (x, y, z) можно определить коэффициенты эллиптичности r и углы наклона поляризационного эллипса способ определения поляризационных характеристик   электромагнитного поля, патент № 2084909 Например, для плоскости xy

способ определения поляризационных характеристик   электромагнитного поля, патент № 2084909

способ определения поляризационных характеристик   электромагнитного поля, патент № 2084909

Таким образом, параметры Стокса для соответствующих плоскостей системы координат (x, y, z) позволяют полностью определить основные поляризационные характеристики электромагнитного поля.

Предлагаемый способ может быть реализован следующим образом. Выберем в качестве измерительной антенну круговой поляризации с полимеризационным коэффициентом.

способ определения поляризационных характеристик   электромагнитного поля, патент № 2084909

Антенна вращается вокруг оси z системы (x, y, z) и плоскость апертуры антенны ориентирована под фиксированным углом

способ определения поляризационных характеристик   электромагнитного поля, патент № 2084909

Допустим область изменения угла поворота способ определения поляризационных характеристик   электромагнитного поля, патент № 2084909a разбита на 9 равных интервалов. В этом случае угол способ определения поляризационных характеристик   электромагнитного поля, патент № 2084909a будет принимать дискретные значения

способ определения поляризационных характеристик   электромагнитного поля, патент № 2084909

Антенна нагружена на квадратичный детектор, на выходе которого при углах способ определения поляризационных характеристик   электромагнитного поля, патент № 2084909an измеряется сигнал

способ определения поляризационных характеристик   электромагнитного поля, патент № 2084909

пропорциональный квадрату амплитуды напряженности электрического поля. Произведем способ определения поляризационных характеристик   электромагнитного поля, патент № 2084909 измерений E2n и образует вектор вида (24). Используя явный вид коэффициентов матрицы Аnn(23) с учетом (34), (35) и конкретных значений поляризационного коэффициента и углов способ определения поляризационных характеристик   электромагнитного поля, патент № 2084909a и способ определения поляризационных характеристик   электромагнитного поля, патент № 2084909an можно численно определить матрицу преобразования Ann.

Значение определителя способ определения поляризационных характеристик   электромагнитного поля, патент № 2084909способ определения поляризационных характеристик   электромагнитного поля, патент № 2084909 0 отлично от нуля, что в силу теоремы Крамера означает единственность решения (26). Вектор неизвестных величин способ определения поляризационных характеристик   электромагнитного поля, патент № 2084909 определим умножением вектора измеренных значений способ определения поляризационных характеристик   электромагнитного поля, патент № 2084909 на матрицу, обратную (38), т.е. A-1nn, и таким образом получим полный набор параметров Стокса (27) для соответствующих плоскостей системы (x, y, z) и далее поляризационные характеристики электромагнитного поля.

Перед проведением измерений необходимо, вообще говоря, следить за выбором антенны с известным поляризационным коэффициентом p, способ определения поляризационных характеристик   электромагнитного поля, патент № 2084909 и углами qa и способ определения поляризационных характеристик   электромагнитного поля, патент № 2084909an как исходных данных, чтобы система (25) было совместна.

Рассмотрим также в качестве примера случай использования антенны линейной поляризации, например, симметричного вибратора-диполя,

p=0 (39)

В этом случае выражение для отклика антенны (12) упрощается и

способ определения поляризационных характеристик   электромагнитного поля, патент № 2084909

где способ определения поляризационных характеристик   электромагнитного поля, патент № 2084909 вектор-строка преобразования координат антенны линейной поляризации (оси диполя). С учетом (9)

способ определения поляризационных характеристик   электромагнитного поля, патент № 2084909

При амплитудных измерениях вектор преобразования в (19) будет иметь только способ определения поляризационных характеристик   электромагнитного поля, патент № 2084909 коэффициентов

способ определения поляризационных характеристик   электромагнитного поля, патент № 2084909

так как согласовано (23) при p=0

An1=An9=An9=0 (43)

причем выражения для коэффициентов An1 заметно упрощается (см. 23)

способ определения поляризационных характеристик   электромагнитного поля, патент № 2084909

Вектор неизвестных величин примет вид

способ определения поляризационных характеристик   электромагнитного поля, патент № 2084909

Количество неизвестных сократилось до 6 и поэтому потребуется 6 измерений для построения матрицы преобразования порядка 6 в (25). Решая систему уравнений (25) относительно вектора (45), можно на основании известных формул определить параметры Стокса I, Q, U (пример для плоскости xy).

Ixy= E2x+ E2y, Qxy= E2x- E2y, Uxy, (46)

и далее, используя известную связь

I2xy=Q2xy+U2xy+V2xy (47)

доопределить V параметр Стокса, как

Vxy= [I2xy-(Q2xy+U2xy)]1/2 (48)

и, таким образом, определить полный набор параметров Стокса для плоскостей системы (x, y, z), с помощью которого, в свою очередь, вычислим основные поляризационные характеристики поля по формулам, приведенным в тексте. Неопределенность в знаке при извлечении корня в (48) приведет к тому, что с точностью до знака будут определены углы ориентации поляризационного эллипса способ определения поляризационных характеристик   электромагнитного поля, патент № 2084909Э, способ определения поляризационных характеристик   электромагнитного поля, патент № 2084909Э (32) (33).

Неопределенность в знаке в случае необходимости следует устранять или использованием измерительной антенны с поляризацией, отличной от линейной, или с помощью дополнительных априорных данных.

Класс G01R29/00 Устройства для измерения или индикации электрических величин, не отнесенные к группам  19/00

устройство контроля электромагнитного поля вторичных излучателей -  патент 2527315 (27.08.2014)
способ измерения характеристик диаграммы направленности активной/пассивной фазированной антенной решетки -  патент 2526891 (27.08.2014)
автоматизированная система измерений радиотехнических характеристик головок самонаведения ракет -  патент 2526495 (20.08.2014)
способ определения энергетического спектра электронов в электронном пучке -  патент 2523424 (20.07.2014)
цифровой измеритель амплитудно-частотных характеристик -  патент 2520956 (27.06.2014)
способ определения амплитуды нановибраций по спектру частотномодулированного полупроводникового лазерного автодина -  патент 2520945 (27.06.2014)
измерительный модуль селективной оценки отношения мощностей сигнал/помеха в радиоканале -  патент 2520567 (27.06.2014)
способ мониторинга контроллера трехфазного электродвигателя и/или электродвигателя -  патент 2520162 (20.06.2014)
способ и система мониторинга электромагнитных помех во временной области -  патент 2516201 (20.05.2014)
способ встроенного контроля характеристик активной фазированной антенной решетки -  патент 2511032 (10.04.2014)

Класс G01R29/10 диаграммы излучения антенн 

способ измерения характеристик диаграммы направленности активной/пассивной фазированной антенной решетки -  патент 2526891 (27.08.2014)
способ встроенного контроля характеристик активной фазированной антенной решетки -  патент 2511032 (10.04.2014)
способ определения поляризационных характеристик антенн -  патент 2509316 (10.03.2014)
способ измерения пеленгационных ошибок систем антенна-обтекатель самолета с установленной на нем бортовой радиолокационной станцией -  патент 2465611 (27.10.2012)
устройство подвеса радиолокационного объекта -  патент 2456625 (20.07.2012)
измеритель пеленгационных характеристик систем антенна - обтекатель -  патент 2442181 (10.02.2012)

компактный полигон для измерения характеристик различных антенных систем -  патент 2421744 (20.06.2011)
устройство крепления эталонного радиолокационного отражателя в виде металлической сферы -  патент 2400763 (27.09.2010)
способ измерения коэффициента усиления антенны радиолокационной станции -  патент 2382370 (20.02.2010)
способ измерения эффективной площади рассеяния объектов и радиолокационный комплекс для его осуществления -  патент 2371730 (27.10.2009)
Наверх