устройство для контроля качества объектива

Классы МПК:G01M11/02 испытание оптических свойств 
Автор(ы):, , ,
Патентообладатель(и):Тимашова Лариса Николаевна
Приоритеты:
подача заявки:
1994-07-20
публикация патента:

Использование: оптическое приборостроение. Устройство для контроля качества объектива содержит последовательно расположенные по оптической оси когерентной осветитель 1, формирующий параллельный пучок излучения, пространственный фильтр 2, расположенный в передней фокальной плоскости фурье-объектива 5, плоскость регистрации 6. Дополнительный объектив 4 расположен между пространственным фильтром 2 и фурье-объективом 5. Пространственный фильтр 2 выполнен фазовым в виде двух отрицательных линз, симметрично срезанных относительно оптической оси устройства и соединенных по линии среза, оптические оси которых параллельны оптической оси устройства, при этом задние фокальные плоскости линз оптически сопряжены с передней фокальной плоскостью фурье-объектива 5, а полевая диафрагма выполнена в виде непрозрачного диска с двумя отверстиями, расположенным без промежутка между ними на линии, соединяющей центры линз пространственного фильтра симметрично относительно оптической оси устройства. 2 ил.
Рисунок 1, Рисунок 2

Формула изобретения

Устройство для контроля качества объектива, содержащее последовательно расположенные по оптической оси когерентный осветитель, формирующий параллельный пучок излучения, и пространственный фильтр, а также фурье-объектив и плоскость регистрации, расположенную в его задней фокальной плоскости, отличающееся тем, что оно снабжено расположенным перед фурье-объективом дополнительным объективом и полевой диафрагмой, расположенной за пространственным фильтром, в непосредственной близости к нему, при этом пространственный фильтр выполнен фазовым в виде двух отрицательных линз, симметрично срезанных относительно оптической оси устройства и соединенных по линии оси среза, оптические оси которых параллельны оптической оси устройства, а задние фокальные плоскости линз оптически сопряжены с помощью дополнительного объектива с передней фокальной плоскостью фурье-объектива, причем полевая диафрагма выполнена в виде непрозрачного диска с двумя отверстиями, расстояние между центрами которых меньше суммы их радиусов и расположенными на линии, соединяющей центры линз пространственного фильтра симметрично относительно оптической оси устройства, причем фокусное расстояние линз пространственного фильтра и расстояние между пространственным фильтром и дополнительным объективом связаны соотношениями

fл= lк/[устройство для контроля качества объектива, патент № 2079830устройство для контроля качества объектива, патент № 2079830(1 + lикмk/l);

a lикм fл k/l,

l расстояние от оптической оси линзы пространственного фильтра до оптической оси устройства;

k отношение фокусных расстояний объектива устройство для контроля качества объектива, патент № 2079830 и фурье-объектива устройство для контроля качества объектива, патент № 2079830

устройство для контроля качества объектива, патент № 2079830 длина волны излучения;

n пространственная частота интерференционной картины;

2lикм размер интерференционной картины в меридиональном сечении, проходящем через линию, соединяющую центры линз пространственного фильтра.

Описание изобретения к патенту

Изобретение относится к области оптического приборостроения, а именно к когерентным устройствам контроля качества объектива, и может быть использовано для контроля фурье-преобразующих свойств объективов, применяемых в голографии, системах пространственной фильтрации и т.п.

Известное устройство, содержащее последовательно расположенные по оптической оси когерентный осветитель, формирующий параллельный пучок излучения, амплитудную решетку, телескопическую систему, вторым компонентом которой является контролируемый фурье-объектив, плоскость регистрации в его задней фокальной плоскости плоскости изображения решетки, по которому оценивается качество фурье-объективы [1]

Недостатком этого устройства является низкий световой КПД. Так, например, при синусоидальной форме амплитудного коэффициента пропускания решетки в первых гармониках интерференционной картины, используемых для последующей электронной обработки, сосредоточено всего лишь 12,5% энергии освещающего пучка.

Наиболее близким по технической сущности к изобретению является устройство, содержащее последовательно расположенные по оптической оси когерентный осветитель, формирующий параллельный пучок излучения, амплитудный пространственный фильтр в виде непрозначного диска с двумя отверстиями, расположенный в передней фокальной плоскости фурье-объектива, плоскость регистрации в задней фокальной плоскости фурье-объектива, в которой формируется интерференционная картина, по распределению освещенности в которой оценивается качество фурье-объектива [2]

Недостатком известного устройства также является низкий световой КПД. Так, например, для получения размера интерференционной картины 21 ик 30 мм при фокусном расстоянии фурье-объектива фо 200 мм диаметр отверстий равен всего лишь 10 мкм, т.е. его световой КПД много меньше, чем у устройства с гармонической амплитудной решеткой.

Устранение указанного недостатка достигается тем, что устройство, содержащее последовательно расположенные по оптической оси когерентный осветитель, формирующий параллельный пучок излучения, пространственный фильтр, расположенный в передней фокальной плоскости фурье-объектива, плоскость регистрации в задней фокальной плоскости фурье-объектива, снабжено дополнительным объективом, расположенным между пространственным фильтром и фурье-объективом, и полевой диафрагмой, расположенной в непосредственной близости за пространственным фильтром, а пространственный фильтр выполнен фазовым в виде двух отрицательных линз, симметрично срезанных относительно оптической оси устройства и соединенных по линии среза, оптические оси которых параллельны оптической оси устройства, при этом задние фокальные плоскости линз оптически сопряжены с передней фокальной плоскостью фурье-объектива, и полевая диафрагма выполнена в виде непрочного диска с двумя отверстиями, расположенными без промежутка между ними на линии, соединяющей центры линз пространственного фильтра симметрично относительно оптической оси устройства, причем фокусное расстояние линз пространственного фильтра и расстояние между пространственным фильтром и дополнительным объективом связаны соотношениями

fл=lk/[устройство для контроля качества объектива, патент № 2079830устройство для контроля качества объектива, патент № 2079830(I+IикМk/1)],

a IикМ fл K/I,

где fл фокусное расстояние линз пространственного фильтра;

I расстояние от оптической оси линзы пространственного фильтра до оптической оси устройства;

k отношение фокусных расстояний дополнительного объектива до и фурье-объектива устройство для контроля качества объектива, патент № 2079830

устройство для контроля качества объектива, патент № 2079830 длина волны излучения;

n пространственная частота интерференционной картины,

2IикМ размер интерференционной картины в меридиональном сечении, проходящем через линию, соединяющую центры линз пространственного фильтра.

На фиг.1 представлена функциональная оптическая схема предлагаемого устройства.

На фиг.2 представлены виды полевой диафрагмы устройства.

Устройство содержит когерентный осветитель 1, пространственный фильтр 2, полевую диафрагму 3, дополнительный объектив 4, фурье-объектива 5, плоскость регистрации 6.

Устройство работает следующим образом. Когерентный осветитель 1 формирует параллельный пучок излучения, освещающий пространственный фильтр 2. Линзы пространственного фильтра 2 фокусируют излучение в своих задних фокальных плоскостях, образуя тем самым на своих параллельных оптических осях два когерентных изображения источника излучения. Дополнительный объектив 4 формирует вторичные изображения источника в передней фокальной плоскости фурье-объектива 5. В плоскости регистрации 6, расположенной в задней фокальной плоскости фурье-объектива, формируется интерференционная картина, по распределению освещенности в которой оценивается качество фурье-объектива 5.

Требуемый размер интерференционной картины в меридиональном сечении IикМ, проходящем через линию, соединяющую центры линз пространственного фильтра, определяется лучом, исходящим из изображения источника, сформированного пространственным фильтром, и проходящим через оптическую ось фильтра Эпунктир на фиг. 1, а). Из фиг. 1 (а) следует

устройство для контроля качества объектива, патент № 2079830

где устройство для контроля качества объектива, патент № 2079830

Тогда

устройство для контроля качества объектива, патент № 2079830

откуда необходимое для получения заданного IикМ расстояние между пространственным фильтром и дополнительным объективом равно

устройство для контроля качества объектива, патент № 2079830

Фокусное расстояние линз fл пространственного фильтра выражается через параметры интерференционной картины устройство для контроля качества объектива, патент № 2079830 и IикМ следующим образом:

устройство для контроля качества объектива, патент № 2079830

Подставляем в это выражение значение a, получим

fл=lk/[устройство для контроля качества объектива, патент № 2079830устройство для контроля качества объектива, патент № 2079830(I+lикМk/l] (5)

Расстояние между фокальными плоскостями дополнительного объектива и фурье-объектива при этом будет равно

устройство для контроля качества объектива, патент № 2079830

В результате интерференции двух параллельных пучков за фурье-объективом сформируется интерференционная картина, распределение освещенности в которой имеет вид

l=4cos2(2устройство для контроля качества объектива, патент № 2079830устройство для контроля качества объектива, патент № 2079830x)=2[I+cos(4устройство для контроля качества объектива, патент № 2079830устройство для контроля качества объектива, патент № 2079830x)] (7)

В первой гармонике этого распределения содержится 50% энергии, т.е. в 4 раза больше, чем в изображении гармонической амплитудной решетки.

Форма кадра интерференционной картины определяется формой полевой диафрагмы на пространственном фильтре. На фиг. 2 показаны пространственный фильтр 2 с полевой диафрагмой 3 или получения круглой формы кадра интерференционной картины (фиг. 2а) и пространственный фильтр для получения кадра прямоугольной формы (рис. 2б).

Размер полевой диафрагмы Iдм в меридиональном сечении определяется, исходя из требуемого расстояния f" фо до интерференционной картины с резкими границами

устройство для контроля качества объектива, патент № 2079830

откуда

устройство для контроля качества объектива, патент № 2079830

Размер интерференционной картины в сагиттальном сечении IикС, проходящем через оптическую ось линзы пространственного фильтра (см. фиг. 1, б), определяется размером полевой диафрагмы Iдс в этом сечении и равен

устройство для контроля качества объектива, патент № 2079830

откуда размер полевой диафрагмы в сагиттальном сечении равен

устройство для контроля качества объектива, патент № 2079830

Реализация устройства иллюстрируется следующим примером.

Для получения интерференционной картины размером 2IикМ 30 мм с пространственной частотой устройство для контроля качества объектива, патент № 2079830=0,5 мм-1 на длине волны устройство для контроля качества объектива, патент № 2079830=0,6 мкм используются дополнительный объектив с фокусным расстоянием устройство для контроля качества объектива, патент № 2079830 10 мм и фурье-объектив с фокусным расстоянием устройство для контроля качества объектива, патент № 2079830 200 мм (k 0,05). Фокусное расстояние отрицательных линз пространственного фильтра находится из (5) и равно fл 33 мм, а расстояние от оптической оси линзы до линии среза выбирается равным I 0,5 мм.

Подставляя полученные величины в (4) и (6), получим расстояние между пространственным фильтром и дополнительным объективом а 49,5 мм, и расстояние между фокальными плоскостями дополнительного объектива и фурье-объектива d 1,2 мм.

Для получения квадратного кадра интерференционной картины 2IикМ х 2IикС 30 х 30 мм2 с резкими границами на расстоянии 5000 мм размер прямоугольных отверстий полевой диафрагмы должен быть равен 2Iдм х 2Iдс 0,4 х 0,6 мм2. При этом, поскольку размеры полевой диафрагмы малы, возможно освещение фильтра непосредственно излучением от лазера, т.е. без использования осветителя.

Класс G01M11/02 испытание оптических свойств 

установка для измерения углового поля зрения и контроля величины шага линий миры тест-объекта -  патент 2521152 (27.06.2014)
интерферометр для контроля телескопических систем и объективов -  патент 2518844 (10.06.2014)
способ оценивания очковой линзы, способ проектирования очковой линзы и способ изготовления очковой линзы -  патент 2511711 (10.04.2014)
способ оценивания очковых линз, способ проектирования очковых линз, способ изготовления очковых линз, система изготовления очковых линз и очковая линза -  патент 2511706 (10.04.2014)
способ контроля параметров оптико-электронных систем в рабочем диапазоне температур -  патент 2507495 (20.02.2014)
мира для настройки и определения параметров оптико-электронных систем с матричными фотоприемными устройствами и способ ее использования -  патент 2507494 (20.02.2014)
способ определения места повреждения оптического волокна -  патент 2503939 (10.01.2014)
способ измерения параметров световозвращения -  патент 2497091 (27.10.2013)
способ отбора многомодового оптического волокна с одномодовым оптическим передатчиком для многомодовой волоконно-оптической линии передачи -  патент 2496236 (20.10.2013)
метод интерферометрического контроля на рабочей длине волны качества изображения и дисторсии оптических систем -  патент 2491525 (27.08.2013)
Наверх