способ интерференционного контроля оптической системы микроскопа

Классы МПК:G01M11/00 Испытание оптической аппаратуры; испытание конструкций или устройств оптическими способами, не отнесенными к другим классам или подклассам
Патентообладатель(и):Гусев Владимир Георгиевич
Приоритеты:
подача заявки:
1993-12-14
публикация патента:

Способ интерференционного контроля качества оптической системы микроскопа, включающий освещение диффузного рассеивателя излучением с плоской когерентной волной, пропускание диффузно рассеянного излучения через контролируемый объект с известной величиной f фокусного расстояния, запись на светочувствительной среде голограммы с помощью плоской опорной волны, введение взаимных фазовых изменений в световые волны, повторную запись голограммы и регистрацию интерферограммы контроля при проведении пространственной фильтрации в плоскости голограммы, отличающийся тем, что выбирают расстояние от диффузного рассеивателя до главной плоскости объектива l = f1(f1+способ интерференционного контроля оптической системы   микроскопа, патент № 2077177)/способ интерференционного контроля оптической системы   микроскопа, патент № 2077177, где f1 - фокусное расстояние объектива, способ интерференционного контроля оптической системы   микроскопа, патент № 2077177 - оптическая длина тубуса микроскопа, а расстояние от главной плоскости окуляра до светочувствительной среды L= f2(f2+способ интерференционного контроля оптической системы   микроскопа, патент № 2077177)/способ интерференционного контроля оптической системы   микроскопа, патент № 2077177, где f2 - фокусное расстояние окуляра, осуществление взаимных изменений в световых волнах проводят путем смещения светочувствительной среды в плоскости ее размещения и изменения в направлении смещения угла наклона плоской волны освещения диффузного рассеивателя на величину способ интерференционного контроля оптической системы   микроскопа, патент № 2077177 = arcsin a/f, где a - величина смещения светочувствительной среды, f= f1способ интерференционного контроля оптической системы   микроскопа, патент № 2077177f2/способ интерференционного контроля оптической системы   микроскопа, патент № 2077177.п

Описание изобретения к патенту

Класс G01M11/00 Испытание оптической аппаратуры; испытание конструкций или устройств оптическими способами, не отнесенными к другим классам или подклассам

установка для измерения углового поля зрения и контроля величины шага линий миры тест-объекта -  патент 2521152 (27.06.2014)
интерферометр для контроля телескопических систем и объективов -  патент 2518844 (10.06.2014)
волоконно-оптическая система и способ измерения множественных параметров турбомашинной системы -  патент 2513646 (20.04.2014)
способ оценивания очковой линзы, способ проектирования очковой линзы и способ изготовления очковой линзы -  патент 2511711 (10.04.2014)
способ оценивания очковых линз, способ проектирования очковых линз, способ изготовления очковых линз, система изготовления очковых линз и очковая линза -  патент 2511706 (10.04.2014)
устройство контроля, юстировки и сведения оптических осей каналов многоканальных приборов и широкополосный излучатель в видимой и ик-областях спектра -  патент 2511204 (10.04.2014)
способ оценки состояния контролируемого объекта -  патент 2508528 (27.02.2014)
способ контроля параметров оптико-электронных систем в рабочем диапазоне температур -  патент 2507495 (20.02.2014)
мира для настройки и определения параметров оптико-электронных систем с матричными фотоприемными устройствами и способ ее использования -  патент 2507494 (20.02.2014)
способ определения места повреждения оптического волокна -  патент 2503939 (10.01.2014)
Наверх