измеритель качества поверхности

Классы МПК:G01B11/30 для измерения шероховатости или неровностей поверхностей 
Автор(ы):
Патентообладатель(и):Камский политехнический институт
Приоритеты:
подача заявки:
1992-07-31
публикация патента:

Измеритель качества поверхности, содержащей основание и укрепленные на нем осветительную систему, оптическую приемную систему зеркальной составляющей светового потока, систему измерения интенсивности светового потока, блок отношения диффузной и зеркальной составляющей отраженного светового потока, вход которого связан с выходом системы измерения интенсивности светового потока, отличающийся тем, что он снабжен поляризатором, установленным в осветительной системе так, что его ось пропускания параллельна плоскости основания, рассположенным на входе оптической приемной системы поляризатором-анализатором, связанным с системой поворота его относительно оси и устройством контроля поворота его оси пропускания, а выход последнего соединен с входом блока измерения отношения диффузной и зеркальной составляющих отраженного потока.

Описание изобретения к патенту

Класс G01B11/30 для измерения шероховатости или неровностей поверхностей 

способ неразрушающего контроля механической детали -  патент 2518288 (10.06.2014)
способ визуально-оптического контроля поверхности -  патент 2502954 (27.12.2013)
получение топографии объектов, имеющих произвольную геометрическую форму -  патент 2502953 (27.12.2013)
способ и устройство для оптического измерения поверхности изделия -  патент 2500984 (10.12.2013)
устройство для получения изображения микрорельефа объекта -  патент 2495372 (10.10.2013)
способ определения шероховатости поверхности -  патент 2491505 (27.08.2013)
оптоэлектронное устройство для определения усталости твердых материалов -  патент 2485457 (20.06.2013)
оптическая измерительная система и способ измерения критического размера наноструктур на плоской поверхности -  патент 2481555 (10.05.2013)
устройство для измерения физических параметров прозрачных объектов -  патент 2475701 (20.02.2013)
система и способ для ориентирования множества данных сканирования относительно базовых эталонных данных -  патент 2469263 (10.12.2012)
Наверх