измеритель качества поверхности
Классы МПК: | G01B11/30 для измерения шероховатости или неровностей поверхностей |
Автор(ы): | Сысоев В.В. |
Патентообладатель(и): | Камский политехнический институт |
Приоритеты: |
подача заявки:
1992-07-31 публикация патента:
20.03.1997 |
Измеритель качества поверхности, содержащей основание и укрепленные на нем осветительную систему, оптическую приемную систему зеркальной составляющей светового потока, систему измерения интенсивности светового потока, блок отношения диффузной и зеркальной составляющей отраженного светового потока, вход которого связан с выходом системы измерения интенсивности светового потока, отличающийся тем, что он снабжен поляризатором, установленным в осветительной системе так, что его ось пропускания параллельна плоскости основания, рассположенным на входе оптической приемной системы поляризатором-анализатором, связанным с системой поворота его относительно оси и устройством контроля поворота его оси пропускания, а выход последнего соединен с входом блока измерения отношения диффузной и зеркальной составляющих отраженного потока.
Описание изобретения к патенту
Класс G01B11/30 для измерения шероховатости или неровностей поверхностей