способ импедансметрического контроля массы кристаллов в сахарсодержащих кристаллизатах
| Классы МПК: | G01N33/02 пищевых продуктов |
| Автор(ы): | Петров С.М. |
| Патентообладатель(и): | Воронежский технологический институт |
| Приоритеты: |
подача заявки:
1994-01-27 публикация патента:
10.03.1997 |
Способ импедансметрического контроля массы кристаллов в сахаросодержащих кристаллизатах, включающий высокочастотное определение величины общего тангенса угла диэлектрических потерь кристаллизата и определение массы кристаллов расчетным путем, отличающийся тем, что дополнительно одновременно с определением величины общего тангенса угла диэлектрических потерь кристаллизата измеряют величину модуля электрического импеданса кристаллизата, а определение массы Mкр кристаллов проводят с использованием зависимости
где
- модуль электрического импеданса;
tg
- общий тангенс угла диэлектрических потерь кристаллизата;
A и B - предварительно экспериментально определенные коэффициенты.
где
- модуль электрического импеданса;tg
- общий тангенс угла диэлектрических потерь кристаллизата;A и B - предварительно экспериментально определенные коэффициенты.
Описание изобретения к патенту
Класс G01N33/02 пищевых продуктов
