сканирующий зондовый микроскоп (варианты), его чувствительный элемент и способ юстировки кантилевера

Классы МПК:G02B21/00 Микроскопы
Автор(ы):, , , , ,
Патентообладатель(и):Исследовательская корпорация "МДТ"
Приоритеты:
подача заявки:
1995-05-25
публикация патента:

1. Сканирующий зондовый микроскоп, содержащий систему подачи и сканирования образца, измерительную головку, включающую платформу, установленные на ней полупроводниковый лазер и фотодатчик отклонения отраженного луча лазера, электронные схемы управления и регистрации, включающие канал сканирующего туннельного микроскопа, канал атомно-силового микроскопа и канал обратной связи, систему акустической, конвекционной и виброзащиты, кантилевер и иглу сканирующего туннельного микроскопа, отличающийся тем, что кантилевер и игла сканирующего туннельного микроскопа закреплены на дополнительно введенном столике, установленном в измерительной головке с возможностью перемещения, а канал обратной связи дополнительно снабжен реле, обеспечивающим подключение канала обратной связи либо к выходу канала сканирующего туннельного микроскопа, либо к выходу канала атомно-силового микроскопа.

2. Сканирующий зондовый микроскоп, содержащий систему подачи и сканирования образца, измерительную головку, включающую платформу, установленные на ней полупроводниковый лазер и фотодатчик отклонения отраженного луча лазера, электронные схемы управления и регистрации, включающие канал сканирующего туннельного микроскопа, канал атомно-силового микроскопа и канал обратной связи, систему акустической, конвекционной и виброзащиты, чувствительные элементы сканирующего туннельного микроскопа и атомно-силового микроскопа, отличающийся тем, что чувствительные элементы сканирующего туннельного микроскопа и атомно-силового микроскопа выполнены в виде комбинированного зонда, включающего держатель кантилевера с закрепленным на нем кантилевером из магнитного или ферромагнитного проводящего материала и электромагнитной катушкой с магнитопроводом, соединяющим электромагнитную катушку и кантилевер, при этом канал обратной связи дополнительно снабжен реле, обеспечивающим подключение входа канала обратной связи либо к выходу канала сканирующего туннельного микроскопа, либо к выходу канала атомно-силового микросокпа.

3. Чувствительный элемент сканирующего зондового микроскопа, содержащий кантилевер, закрепленный на держателе, отличающийся тем, что чувствительный элемент выполнен в виде комбинированного зонда, включающего электромагнитную катушку и магнитопровод, установленные на держателе, при этом магнитопровод соединяет электромагнитную катушку с кантилевером, выполненным из магнитного или ферромагнитного проводящего материала.

4. Способ юстировки кантилевера, включающий подведение кантилевера с помощью двигательных элементов под луч лазера и подведение фотодатчика отклонения отраженного луча лазера, контроль сдвига фотодатчика по электрическому сигналу на основании данных предварительно проведенной калибровки, отличающийся тем, что после наводки луча лазера на кантилевер и перед проведением измерений двигательные элементы отводят от столика, на котором укреплены кантилевер и игла сканирующего туннельного микроскопа, или от столика с комбинированным зондом, оставляя его в ненапряженном состоянии.

Описание изобретения к патенту

Класс G02B21/00 Микроскопы

планапохроматический микрообъектив малого увеличения -  патент 2529051 (27.09.2014)
интерференционный микроскоп -  патент 2527316 (27.08.2014)
способ формирования изображения микрообъекта (варианты) и устройство для его осуществления (варианты) -  патент 2525152 (10.08.2014)
гибкий нелинейный лазерный сканирующий микроскоп для неинвазивного трехмерного детектирования -  патент 2524742 (10.08.2014)
разбиение образца на оптические срезы и регистрация частиц в образце -  патент 2524051 (27.07.2014)
устройство для позиционирования объекта -  патент 2517962 (10.06.2014)
способ подготовки обработанной виртуальной аналитической пластинки -  патент 2515429 (10.05.2014)
двухфотонный сканирующий микроскоп с автоматической точной фокусировкой изображения и способ автоматической точной фокусировки изображения -  патент 2515341 (10.05.2014)
планапохроматический высокоапертурный микрообъектив -  патент 2501048 (10.12.2013)
способ юстировки объектива для микроскопа и объектив для микроскопа -  патент 2497164 (27.10.2013)
Наверх