способ определения места случайного локального ударного воздействия

Классы МПК:G01B11/30 для измерения шероховатости или неровностей поверхностей 
Автор(ы):,
Патентообладатель(и):Челябинский государственный технический университет
Приоритеты:
подача заявки:
1994-04-19
публикация патента:

Способ определения места случайного локального ударного воздействия преимущественно на тонкостенные многослойные композитные конструкции, испытывающие постоянные и/или повторно-переменные нагрузки, заключающийся в том, что покрывают поверхность объекта тонким прозрачным полимерным слоем и после ударного воздействия производят визуальное обнаружение места локального воздействия, отличающийся тем, что полимерный слой выполняют в виде дисперсно наполненного полимера из наполнителя и связующего с прочностью при сжатии наполнителя и/или прочностью границ раздела наполнителя со связующим ниже прочности связующего, а перед обнаружением места локального воздействия на поверхность объекта направляют световой поток.

Описание изобретения к патенту

Класс G01B11/30 для измерения шероховатости или неровностей поверхностей 

способ неразрушающего контроля механической детали -  патент 2518288 (10.06.2014)
способ визуально-оптического контроля поверхности -  патент 2502954 (27.12.2013)
получение топографии объектов, имеющих произвольную геометрическую форму -  патент 2502953 (27.12.2013)
способ и устройство для оптического измерения поверхности изделия -  патент 2500984 (10.12.2013)
устройство для получения изображения микрорельефа объекта -  патент 2495372 (10.10.2013)
способ определения шероховатости поверхности -  патент 2491505 (27.08.2013)
оптоэлектронное устройство для определения усталости твердых материалов -  патент 2485457 (20.06.2013)
оптическая измерительная система и способ измерения критического размера наноструктур на плоской поверхности -  патент 2481555 (10.05.2013)
устройство для измерения физических параметров прозрачных объектов -  патент 2475701 (20.02.2013)
система и способ для ориентирования множества данных сканирования относительно базовых эталонных данных -  патент 2469263 (10.12.2012)
Наверх